1 |
应用于单端SAR ADC的二进制电容阵列及其冗余校准方法 |
CN201510069640.2 |
2015-02-10 |
CN104639164B |
2017-09-29 |
吴建辉; 林志伦; 杜媛; 陈超; 黄成; 李红; 张萌 |
本发明公开了一种应用于单端SAR ADC的二进制电容阵列冗余校准方法,通过该方法能够校准二进制电容阵列由于建立不完全所导致的动态误差。该方法包括冗余校准的二进制电容阵列,比较器,SAR逻辑控制模块,输出码计算模块,其中冗余校准的二进制电容阵列包括二进制电容阵列以及加法冗余电容和减法冗余电容。该校准方法在二进制电容DAC阵列的基础上插入冗余电容,实现多个数字编码对应一个ADC模拟输入,在冗余位转换的时候检测是否有错误的存在,并根据对应的情况对加法冗余电容或者减法冗余电容进行操作以补偿所产生的误差。 |
2 |
模数转换器和将模拟信号转换为数字信号的方法 |
CN201310340630.9 |
2013-08-06 |
CN104348485B |
2017-09-15 |
不公告发明人 |
本发明涉及电路技术领域,公开一种模数转换器及其方法。该模数转换器包括采样/保持单元、数模转换器、比较单元、以及控制单元。该采样/保持单元采样第一模拟信号。该控制单元包括补偿单元。该补偿单元接收指示信号,并在该指示信号指示该比较结果不能被确定时,补偿现行位和该现行位的所有较低有效位,从而该现行位和该现行位的所有较低有效位的总和接近该现行位的位权重。该补偿单元接着输出补偿的现行位和该现行位所有较低有效位和该现行位的较高有效位。该模数转换器能够在两个输入信号彼此非常接近时,快速做出比较结果。 |
3 |
一种ADC芯片参考电压测试校准方法 |
CN201610143948.1 |
2016-03-14 |
CN105811982A |
2016-07-27 |
万上宏; 叶媲舟; 黎冰; 涂柏生 |
本发明公开了一种ADC芯片参考电压测试校准方法,采用测试电路提供一个准确的标准参考电压信号Vstd,此信号输入到芯片IC内部的比较器,比较器将ADC待校准电压Vref与标准参考电压Vstd进行比较,并将电压比较结果输入到校准值产生模块,校准值产生模块的功能是根据Vref与Vstd偏差的大小,得到电压校准参数trim_para,参考电压产生电路根据电压校准参数trim_para对其输出的参考电压值进行调整。本发明不需要外部测试设备带有电压测量仪器或者电压比较器资源;测试过程中不需要通过测试通信引脚将电压校正参数写入到IC中,而是由IC实现参考电压的内部自校准,相对节省测试时间。 |
4 |
数模转换器的校正装置、方法以及数控系统 |
CN201510072744.9 |
2015-02-11 |
CN104678896A |
2015-06-03 |
唐恒悦 |
本发明公开了一种数模转换器的校正装置、方法以及数控系统,校正装置包括上位机以及与上位机连接的下位处理器,下位处理器进一步连接数模转换器,其中上位机根据数模转换器对测试数字量进行数模转换所获得的多个实际模拟量以及测试数字量所对应的理论模拟量利用最小二乘法进行直线拟合,下位处理器根据上位机所拟合的直线方程对待转换数字量进行校正,并将校正后的待转换数字量发送给数模转换器进行数模转换。通过以上方式,本发明采用软件的方法实现校正,省略了将采样的实际模拟量由上位机逐个发送给下位处理器的过程,能够加快算法的运算速度,节省硬件成本,并可以实现实时校正。 |
5 |
应用于单端SARADC的二进制电容阵列及其冗余校准方法 |
CN201510069640.2 |
2015-02-10 |
CN104639164A |
2015-05-20 |
吴建辉; 林志伦; 杜媛; 陈超; 黄成; 李红; 张萌 |
本发明公开了一种应用于单端SAR ADC的二进制电容阵列冗余校准方法,通过该方法能够校准二进制电容阵列由于建立不完全所导致的动态误差。该方法包括冗余校准的二进制电容阵列,比较器,SAR逻辑控制模块,输出码计算模块,其中冗余校准的二进制电容阵列包括二进制电容阵列以及加法冗余电容和减法冗余电容。该校准方法在二进制电容DAC阵列的基础上插入冗余电容,实现多个数字编码对应一个ADC模拟输入,在冗余位转换的时候检测是否有错误的存在,并根据对应的情况对加法冗余电容或者减法冗余电容进行操作以补偿所产生的误差。 |
6 |
具有速率控制的异步模数转换器 |
CN201380044972.4 |
2013-08-30 |
CN104584438A |
2015-04-29 |
V·戈皮纳坦; U·达斯古普塔; G·迪亚加拉占 |
本申请提供一种装置。比较电路(204)被配置为接收模拟信号(AIN)。基准电路(205)被耦合到比较电路并且被配置为将多个基准信号提供给比较电路。转换电路(212)被耦合到比较电路并且被配置为检测比较电路的输出的变化。时间数字转换器(TDC)(210)被耦合到比较电路。定时器(208)被耦合到比较电路。速率控制电路(218)被耦合到转换电路。输出电路(216)被耦合到速率控制电路和TDC,其中输出电路被配置为输出模拟信号的同步数字表现形式和模拟信号的异步数字表现形式中的至少一个。 |
7 |
用于图像传感器的多斜率列并行模/数转换中的校准 |
CN201310086281.2 |
2013-03-18 |
CN103326723A |
2013-09-25 |
杨征; 张光斌; 谷元保 |
本申请案涉及用于图像传感器的多斜率列并行模/数转换中的校准。一方面的方法包含用像素阵列获取模拟图像数据,且从所述像素阵列读出所述模拟图像数据。通过使用多斜率电压斜坡执行模/数A/D转换将所述模拟图像数据转换为数字图像数据。用校准数据调整所述数字图像数据中的至少一些。还揭示其它方法、设备和系统。 |
8 |
一种他励电机控制器外部参数值生成系统及其方法 |
CN201010554589.1 |
2010-11-22 |
CN102064762A |
2011-05-18 |
黄日俊; 苏玉淋; 蔡奔; 叶燕章 |
本实施例公开了一种他励电机控制器外部参数值生成系统及其方法,其中系统包括:数字信号处理器将接收到的电信号由模拟信号转换成数字信号,并对数字信号重新定标处理,生成符合系统数据格式的参数值;外部参数生成模块使用标定系数修正参数值得到外部参数值;标定系数由标定系数生成模块生成并预存于标定系数存储模块中;标定系数生成模块读取数字信号处理器生成的参数值,并同时取得作为基准参数值的实际测量值,计算数字信号处理器中的参数值与基准参数值的差值,当差值超出预设值时,通过基准参数值和该数字信号处理器中获得的参数值的比值生成标定系数。本实施例提高了外部参数值的准确度,降低了成本和电路复杂度。 |
9 |
传感器信号处理装置及传感器装置 |
CN201480006908.1 |
2014-01-21 |
CN104969473B |
2017-12-05 |
谷泽幸彦 |
在传感器信号处理装置(4)中,控制部(9)将温度测定处理和运算处理的至少一方与信号变换处理并行地执行。在上述温度测定处理中,上述控制部使第二A/D变换器(8)执行温度信号的A/D变换。在上述运算处理中,上述控制部基于从上述第二A/D变换器输出的A/D变换值和预先准备的物理量传感器的温度特性数据,运算第一A/D变换器(7)的偏移和变换增益。在上述信号变换处理中,上述控制部对上述第一A/D变换器设定在运算处理中运算出的偏移和变换增益,使其执行传感器信号的A/D变换。 |
10 |
流水线逐次比较模数转换器的自校准方法和装置 |
CN201410140352.7 |
2014-04-09 |
CN103888141B |
2017-10-27 |
李萌; 谷东明; 高洋 |
本发明公开了一种流水线逐次逼近型模数转换器的自校准方法和装置,包括:第一级逐次逼近型模数转换器,用于完成输入信号的数据采集和模数转换,且被施加一个数字量已知的伪随机量;第二级逐次逼近型模数转换器;运算放大器,用于将第一级逐次逼近型模数转换器输出的残余信号放大并传送至第二级逐次逼近型模数转换器以进行模数转换;数字校准控制逻辑电路,用于根据第一级逐次逼近型模数转换器和第二级逐次逼近型模数转换器的输出以及伪随机量进行循环校准以控制运算放大器增益,并得到数据输出。通过上述方式,本发明能够实时调整运算放大器的增益,校准温度、电源电压等因素对增益的影响,从而提高ADC的有效精度。 |
11 |
应用于时间交织模数转换器的校准算法 |
CN201610948338.9 |
2016-10-26 |
CN106385257A |
2017-02-08 |
周磊; 陈莲 |
本发明提供一种应用于时间交织模数转换器的校准算法,包括:通过多路子模数转换器ADC对模拟信号进行采样;通过现场可编程门阵列FPGA(Field-Programmable Gate Array,简称FPGA)对采样后得到的数字信号进行处理,计算误差值;根据计算的误差值进行实时反馈调节;重复上述步骤直至误差值收敛至固定值。本发明采用统计分析与反馈调节的方法,通过FPGA实时处理采样数据,从而得到三项误差值(偏移失配误差、增益失配误差、采样时间间隔失配误差),然后利用误差值进行实时反馈调节,直到误差值收敛,最终完成时间交织ADC的校准,从而有效的降低了校准算法的复杂度,实现了实时校准,同时节省了的硬件资源的损耗。 |
12 |
模数转换器误差估计校正的装置及其方法 |
CN201510401578.2 |
2015-07-08 |
CN104993827A |
2015-10-21 |
蒲杰; 胡刚毅; 沈晓峰; 徐学良; 付东兵; 张瑞涛; 王友华; 王育新; 陈光炳; 李儒章 |
本发明提供一种模数转换器误差估计校正的装置及其方法,该方法包括:根据预先设定的校正参数初始值,生成控制信号微调数控模拟延时单元,调节时延量,校正通道间的时钟相位误差;以及根据校正参数初始值校正通道间的增益误差,生成总体校正信号,将总体校正信号缓存并触发计数单元开始计数,同时,调用缓存中的总体校正信号采用循环相关法生成初步估计结果,当计数到预先设定值时,置位低通滤波器累加单元和校正参数更新单元的使能端,将初步估计结果生成误差估计结果并锁存,根据梯度下降法更新时钟校正参数与增益校正参数,并将其锁存,复位进行循环估计校正。本发明在使用有效样本点数较少情况下,提高了估计精度,加快了估计校正收敛速度。 |
13 |
模数转换器和将模拟信号转换为数字信号的方法 |
CN201310340630.9 |
2013-08-06 |
CN104348485A |
2015-02-11 |
不公告发明人 |
本发明涉及电路技术领域,公开一种模数转换器及其方法。该模数转换器包括采样/保持单元、数模转换器、比较单元、以及控制单元。该采样/保持单元采样第一模拟信号。该控制单元包括补偿单元。该补偿单元接收指示信号,并在该指示信号指示该比较结果不能被确定时,补偿现行位和该现行位的所有较低有效位,从而该现行位和该现行位的所有较低有效位的总和接近该现行位的位权重。该补偿单元接着输出补偿的现行位和该现行位所有较低有效位和该现行位的较高有效位。该模数转换器能够在两个输入信号彼此非常接近时,快速做出比较结果。 |
14 |
具有双线接口的模拟前端装置 |
CN201280066412.4 |
2012-11-09 |
CN104054066A |
2014-09-17 |
文森特·奎奎姆普瓦 |
一种模拟前端AFE装置具有:至少一个可编程模/数转换器ADC;以及串行接口,其可切换以在双向串行接口模式中和单向双线串行接口模式中操作,其中所述单向双线串行接口模式仅使用时钟输入和数据输出信号线,其中所述ADC在所述单向双线串行接口模式中与供应到所述时钟输入的时钟同步地操作。 |
15 |
用于验证数模转换器设计的方法 |
CN201210404564.2 |
2012-10-23 |
CN103780259A |
2014-05-07 |
王成; 梁超; 钟耿 |
本发明涉及用于验证数模转换器设计的方法。公开了一种产生数模转换器(DAC)的验证设计的方法,该方法从提供DAC的HDL表示开始。对于数字输入信号的一定范围的数值的根据DAC的表示的模拟输出信号的数值以模拟器来模拟。模型被用来将模拟输出信号的模拟数值转换成数字格式与输入信号相同的等效模型信号的数值。比较器将输入信号的数值与模型信号进行比较,并且确定比所规定的容差大的差。 |
16 |
吨位计的零点补正电路 |
CN200610058963.2 |
2006-03-09 |
CN1831505A |
2006-09-13 |
森谷弘行 |
本发明涉及压力机等中所使用的吨位计的零点补正电路,特别涉及在压力加工结束后、经过了一定时间后进行多次零点补正的测定、计算出该测定值的平均值作为零点补正值的结构,例如,在内部计时器等中计数一定时间,经过一定时间后进行采样处理,算出该采样值的平均值,将该平均值作为零点补正值,因此能得到正确的零点补正值。 |
17 |
具有双线接口的模拟前端装置 |
CN201280066412.4 |
2012-11-09 |
CN104054066B |
2017-09-01 |
文森特·奎奎姆普瓦 |
一种模拟前端AFE装置具有:至少一个可编程模/数转换器ADC;以及串行接口,其可切换以在双向串行接口模式中和单向双线串行接口模式中操作,其中所述单向双线串行接口模式仅使用时钟输入和数据输出信号线,其中所述ADC在所述单向双线串行接口模式中与供应到所述时钟输入的时钟同步地操作。 |
18 |
用于图像传感器的多斜率列并行模/数转换中的校准 |
CN201610671593.3 |
2013-03-18 |
CN106059581A |
2016-10-26 |
杨征; 张光斌; 谷元保 |
本申请案涉及用于图像传感器的多斜率列并行模/数转换中的校准。一方面的方法包含用像素阵列获取模拟图像数据,且从所述像素阵列读出所述模拟图像数据。通过使用多斜率电压斜坡执行模/数A/D转换将所述模拟图像数据转换为数字图像数据。用校准数据调整所述数字图像数据中的至少一些。还揭示其它方法、设备和系统。 |
19 |
用于图像传感器的多斜率列并行模/数转换中的校准 |
CN201310086281.2 |
2013-03-18 |
CN103326723B |
2016-09-07 |
杨征; 张光斌; 谷元保 |
本申请案涉及用于图像传感器的多斜率列并行模/数转换中的校准。一方面的方法包含用像素阵列获取模拟图像数据,且从所述像素阵列读出所述模拟图像数据。通过使用多斜率电压斜坡执行模/数A/D转换将所述模拟图像数据转换为数字图像数据。用校准数据调整所述数字图像数据中的至少一些。还揭示其它方法、设备和系统。 |
20 |
连续近似寄存式模拟数字转换器及其方法 |
CN201210562898.2 |
2012-12-21 |
CN103178847B |
2016-02-10 |
林嘉亮 |
本发明公开了一种连续近似寄存式模拟数字转换器及其方法,该转换器包含:多个电容,由取样信号控制开关,且当取样信号生效时,连接共同端到接地端。由取样信号与多个控制位元控制多个开关网络,多个控制位元分别由一接地位元与一数据位元所组成。一比较器检测共同端的电压极性、输出决策信号、输出准备信号。一计时器接收比较信号与输出超时信号。连续近似寄存逻辑接收决策信号、准备信号、超时信号、输出取样信号、比较信号、多个控制信号和输出数据。 |