161 |
闪烁器、闪烁器的制造方法以及放射线检测器 |
CN200980116517.4 |
2009-03-13 |
CN102017010B |
2015-02-11 |
森谷隆广; 山下贵司; 挂川诚 |
本发明的放射线检测器,其特征在于:具备包含多个改质区域(21)的闪烁器(2A)以及与闪烁器(2A)的表面进行光学结合的多个光检测器或者位置检测型光检测器。多个改质区域(21)通过将激光照射至成为闪烁器(2A)的结晶块的内部而形成,在闪烁器(2A)的内部具有与周围不同的折射率且以三维进行散布。 |
162 |
用于运输自由基的装置和方法 |
CN201380025372.3 |
2013-03-20 |
CN104321701A |
2015-01-28 |
P.克鲁伊特; M.斯米茨 |
本发明涉及用于运输自由基的装置。该装置包括等离子体发生器和导向体。等离子体发生器包括其中可以形成等离子体的室(2)。该室具有用于接收输入气体的进口(5),和用于排除在室中产生的等离子体和自由基中的至少一者的一个或多个出口(6)。该导向体是中空的,且布置成朝向要除去的污染沉积物所在的区域或空间引导在等离子体中形成的自由基。该室进口连接到压力装置(40),该压力装置用于向室中提供脉动的压力,以便在导向体中产生流。 |
163 |
包括通过投影光学装置的光操纵的依赖图案的邻近匹配/调节 |
CN201110353442.0 |
2011-11-09 |
CN102566299B |
2015-01-21 |
冯函英; 曹宇; 叶军 |
本发明公开了包括通过投影光学装置的光操纵的依赖图案的邻近匹配/调节。此处描述的是匹配光刻投影设备与参考光刻投影设备的特性的方法,其中所述匹配包括优化投影光学装置特性。投影光学装置可以用于对光刻投影设备中的波前成形。根据此处的实施例,所述方法可以通过利用使用传递交叉系数的偏导数的泰勒级数展开或线性拟合算法加快所述方法。 |
164 |
红外线辐射元件 |
CN201380024319.1 |
2013-03-12 |
CN104272086A |
2015-01-07 |
永谷吉祥; 渡部祥文; 辻幸司; 桐原昌男; 吉原孝明; 松浪弘贵 |
本发明涉及一种红外线辐射元件,包括:具有热绝缘性能和电绝缘性能的第一绝缘层;设置在第一绝缘层上并且配置成当被供能时发射红外线辐射的加热元件层;和,设置在加热元件层的与第一绝缘层相反侧上并且具有热绝缘性能和电绝缘性能的第二绝缘层。第二绝缘层传送从加热元件层发射的红外线辐射。该加热元件层具有这样的薄层电阻,即该加热元件层的阻抗匹配与该第二绝缘层接触的空间的阻抗。 |
165 |
沉积物去除、光学元件保护方法、器件制造法和光刻设备 |
CN201210056238.7 |
2005-09-30 |
CN102621817B |
2014-12-31 |
M·M·J·W·范赫彭; V·Y·巴尼内; J·H·J·莫尔斯; C·I·M·A·斯皮; D·J·W·克鲁德; P·C·扎姆 |
本发明提供了一种去除包括光学元件的设备的光学元件上沉积物的方法,该方法包括在该设备的至少一部分内提供含有H2的气体;从含H2气体中的H2产生氢自由基;以及使具有沉积物的光学元件与至少部分氢自由基接触,并且去除沉积物的至少一部分。此外,本发明提供了一种包括光学元件的设备的光学元件的保护方法,该方法包括:通过沉积过程向光学元件提供盖层;和在设备使用期间或使用之后,在如上所述的去除过程中,从光学元件上去除盖层的至少一部分。该方法可用在光刻设备中。 |
166 |
多向非常高电子能量放射治疗系统和过程 |
CN201380021479.0 |
2013-02-12 |
CN104246961A |
2014-12-24 |
B·W·卢; P·G·马克西姆; V·A·道尔格舍夫 |
提供一种紧凑高梯度、非常高能量电子(VHEE)加速器和传递系统(以及相关的过程),其利用全电磁或射频偏转转向能够以很大速度从多个射束方向治疗患者,可足够快地传递高剂量放射治疗的全部剂量或部分以冻结生理运动,并且具有比传统光子治疗更好的剂量适形程度或修饰。除极其快速放射传递的独特物理优点之外,就对于相同物理放射剂量的更好的肿瘤或其他靶区控制效果而言,还可具有放射生物学优点。 |
167 |
台架型粒子射线照射装置及具备该装置的粒子射线治疗装置 |
CN201280072478.4 |
2012-04-19 |
CN104246907A |
2014-12-24 |
菅原贤悟; 花川和之; 本田泰三 |
在从圆形加速器射出的粒子射线的X方向的发射率较小、Y方向的发射率较大、且从照射嘴向照射目标照射该粒子射线的具备台架的台架型粒子射线照射装置中,照射嘴具备脊形过滤器,将以粒子射线射入照射嘴的位置上、圆形加速器的射出位置的X方向的发射率以及Y方向的发射率被分离从而保持各自的发射率的方式对粒子射线进行输送的台架的角度作为台架的基准角度,对脊形过滤器进行设置,使得在台架处于基准角度的状态下,保持了X方向的发射率的方向相对于与脊形过滤器的脊部垂直的方向倾斜规定角度。 |
168 |
CT探测器的散射辐射格栅 |
CN201380020541.4 |
2013-04-16 |
CN104246905A |
2014-12-24 |
M.艾兴泽; A.弗罗因德; S.沃思 |
本发明涉及一种具有多个探测器元件的CT探测器的散射辐射格栅(G),这些探测器元件被多行地布置在CT系统(1)的方向和z方向上,具有多个与探测器元件相适应地布置的自由通路通道(K),并且这些自由通路通道(K)在其纵向面被壁(W)完全包围,其中,根据本发明通过应用三维筛网印刷方法制造散射辐射格栅(G)的壁(W)。 |
169 |
放射线图像转换面板和放射线图像检测器 |
CN201410227833.1 |
2014-05-27 |
CN104217778A |
2014-12-17 |
永田康史; 前田景子; 松本武藏 |
本发明的目的在于获得一种放射线图像转换面板,其能够较高地保持用作闪烁体面板时的亮度和清晰度,并且还能够充分地确保在膜厚方向施加按压时的强度。本发明涉及的放射线图像转换面板具有支承体和形成于该支承体上的闪烁体层,该闪烁体层包含多个含有荧光体的柱状晶体,且该多个柱状晶体以根部彼此相互独立的方式存在。 |
170 |
多层X射线计算机断层扫描系统的探测系统的反散射准直器 |
CN201410233577.7 |
2014-05-29 |
CN104161535A |
2014-11-26 |
应峥嵘 |
本发明公开了一种用于多层X射线计算机断层扫描系统的探测系统。探测系统包括用于探测X射线光子的多个X射线探测器模块;其中每个所述探测器模块被分为以元件行和元件列的矩阵形式组织的单个的探测元件,用以探测X射线光子,行方向为Z轴方向,列方向为X轴方向;所述单个的探测元件被沟槽分隔,所述沟槽为不探测射线的区域,且所述沟槽也由沟槽行和沟槽列构成矩阵形式;以及一反散射准直器,包括多个设置在所述探测模块上并对准X射线源的焦点的反散射板;其中部分或全部所述反散射板被设置在探测元件上方,设置在所述探测元件上方的反散射板阻挡散射的X射线光子以及部分来自所述X射线源的初级X射线光子,使其不能到达所述探测元件。 |
171 |
粒子射线照射装置、粒子射线治疗装置及粒子射线照射方法 |
CN200980160948.0 |
2009-08-27 |
CN102470255B |
2014-11-26 |
岩田高明 |
本发明的目的在于获得可消除扫描电磁铁的磁滞影响且可实现高精度射束照射的粒子射线照射装置。包括:磁场传感器(20),该磁场传感器(20)对扫描电磁铁(3)的磁场进行测定;以及照射控制装置(5),该照射控制装置(5)基于由磁场传感器(20)所测定的测定磁场(Bs)及带电粒子束(1b)的目标照射位置坐标(Pi),对扫描电磁铁(3)进行控制。照射控制装置(5)具有:逆映射运算器(22),该逆映射运算器(22)根据带电粒子束(1b)的目标照射位置坐标(Pi)运算出目标磁场(Bi);以及补偿器(23),该补偿器(23)输出对扫描电磁铁(3)的控制输入(Io),该控制输入(Io)将目标磁场(Bi)与测定磁场(Bs)的磁场误差(Be)控制在规定的阈值以下。 |
172 |
滤波器及利用该滤波器的X射线成像设备 |
CN200910132511.8 |
2009-03-31 |
CN101853710B |
2014-11-19 |
苑平 |
本发明提供的滤波器,其包括:至少两个滤波板,用以调节X射线能量谱;固定支撑滤波板的一对轨道,所述滤波板分层地设置于该对轨道上的导轨上;两个凸轮,其面上设置有凹槽曲线;和一个驱动轮,用以驱动与其相接触的凸轮;其中,还包括至少两根连杆,每一连杆一端连接于一个滤波板,另一端安装到一轴上,并可绕该轴转动,且每一连杆上还设置有销,用以配合凸轮上的凹槽曲线;连杆根据与其相配合的凸轮的旋转而往复运动来移动与其连接的滤波板进出于X射线通过空间;其中所述的凸轮分设于驱动轮的不同侧边,并使滤波板从不同的方向进入X射线通过空间。本发明减少了驱动系统和马达数,一个驱动系统可以满足四种不同状态的凸轮曲线,减少了部件的数量和结构的复杂度,提高了稳定性,降低了成本。 |
173 |
确定粒子束在材料中的作用的方法 |
CN201080024551.1 |
2010-04-23 |
CN102458576B |
2014-11-05 |
M.肖尔茨; T.埃尔萨泽 |
本发明涉及一种确定粒子束(34a)在至少部分受辐射的材料或待辐射的材料中的作用的方法,其中,根据至少一个表征了粒子束(34a)的参数和根据材料的至少一个性质,至少部分地基于显微破坏相关性,确定所述材料中的粒子束的作用。本发明还涉及一种用于辐射目标体积(44)的相应规划方法以及通过粒子束(34a)辐射目标体积(44)的方法。此外,本发明还涉及具有至少一个射线调节装置(32,70)的辐射装置(30,66),其具有安装用来实施根据本发明的方法(200)的单元,特别是主动型射线调节装置(32)和/或被动型射线调节装置(70)。 |
174 |
闪烁器双阵列的制造方法 |
CN201380009495.8 |
2013-03-07 |
CN104115233A |
2014-10-22 |
新田英雄; 重川祥; 盐田谕; 长友浩之 |
一种闪烁器双阵列的制造方法,其将具有不同的X射线能量检测灵敏度分布且具有相同间隔的多个平行的槽的第一闪烁器条块阵列和第二闪烁器条块阵列以两者的闪烁器条块沿层叠方向排列的方式借助中间层用树脂层接合起来,将所得到的条块阵列接合体沿着与闪烁器条块交差的方向切断,并利用树脂覆盖所得到的条块阵列接合体片的一方的断面。 |
175 |
放射线图像检测装置及放射线图像摄影系统 |
CN201380006771.5 |
2013-03-08 |
CN104081224A |
2014-10-01 |
中津川晴康; 白水豪 |
放射线图像摄影系统具备放射线源和放射线图像检测装置。放射线图像检测装置从放射线的入射侧起依次配置有固体检测器和波长转换层。波长转换层对透过固体检测器而入射的放射线进行检测并转换为可见光。固体检测器对可见光进行检测而生成图像数据。波长转换层是至少将具有第一平均粒径的第一荧光体粒子和具有比第一平均粒径小的第二平均粒径的第二荧光体粒子混合于粘合剂而得到的单层的荧光体层。波长转换层的每单位厚度的第一荧光体粒子的重量朝向离开的方向而逐渐地减小。 |
176 |
多方向相衬X射线成像 |
CN201380006588.5 |
2013-01-22 |
CN104066375A |
2014-09-24 |
E·勒斯尔; T·克勒 |
本发明涉及对象的相衬X射线成像。为了提供在多于一个方向的相衬信息,提供一种X射线成像系统,所述X射线成像系统包括X射线源(12)、X射线探测器装置(16)、以及具有相位-光栅结构(46)和分析器-光栅结构(48)的光栅装置(18)。所述X射线探测器装置包括在第一方向平行于彼此的至少八个线探测器单元(40),所述至少八个线探测器单元在垂直于所述第一方向的方向(44)线性延伸。所述X射线源、所述X射线探测器装置和所述光栅装置适于在平行于所述第一方向的扫描方向执行相对于对象的采集移动。所述相位-光栅结构具有若干线性相位-光栅,它们中的每个被布置为与所述至少八个线探测器单元中指定的线固定关联;第一部分作为在所述第一方向具有狭缝的第一相位-光栅,并且第二部分作为在不同于所述第一方向的第二方向具有狭缝的第二相位-光栅。所述分析器-光栅结构具有若干线性分析器-光栅,它们中的每个被布置为与所述至少八个线探测器单元中指定的线固定关联;第一部分作为在所述第一方向具有狭缝的第一分析器-光栅,并且第二部分作为在所述第二方向具有狭缝的第二分析器-光栅。所述线探测器单元中的至少四个毗邻的线与所述第一相位-光栅和所述第一分析器-光栅关联,并且所述线探测器单元中的至少四个毗邻的线与所述第二相位-光栅和所述第二分析器-光栅关联。所述光栅装置可以包括被布置在所述X射线源与所述相位-光栅结构之间的源-光栅结构,用于为经过所述源-光栅结构的所述X射线束提供足够的相干性,使得在经过所述相位-光栅结构之后,可以在所述分析器-光栅结构的位置处观察到干涉。 |
177 |
放射线图像检测装置及放射线图像摄影系统 |
CN201380005165.1 |
2013-02-05 |
CN104040373A |
2014-09-10 |
细井雄一; 中津雅治; 弘中孝史; 能村英幸; 中津川晴康 |
放射线图像摄影系统具备放射线源和放射线图像检测装置。放射线图像检测装置从放射线的入射侧起依次配置有固体检测器和波长转换层。波长转换层具有:第一荧光体粒子分散于粘合剂而得到的第一荧光体层及平均粒径比第一荧光体粒子小的第二荧光体粒子分散于粘合剂而得到的第二荧光体层。第一荧光体层配置于比第二荧光体层靠固体检测器侧,并且接合或压靠于固体检测器。第一及第二荧光体层每单位厚度的粘合剂的重量以朝向固体检测器侧逐渐地变小的方式分布。 |
178 |
传输具有小束斑尺寸的粒子束的粒子束传输设备和方法 |
CN200880116751.2 |
2008-09-26 |
CN101896980B |
2014-08-06 |
M·阿布斯; S·扎雷姆巴; W·克里文 |
本发明涉及一种用于传输带电粒子束的设备(10)。该设备包括:用于在靶(3)上扫描带电粒子束的装置(12)、被布置在用于扫描的装置上游的偶极磁体(15)、布置在偶极磁体与用于扫描的装置之间的至少三个四极透镜(17)和用于根据带电粒子束的扫描角来调整所述至少三个四极透镜的场强度的装置。可以使所述设备至少单消色差。 |
179 |
带电粒子束照射系统 |
CN201280056763.7 |
2012-12-18 |
CN103957996A |
2014-07-30 |
矢岛晓 |
本发明提供一种带电粒子束照射系统。本发明的带电粒子束照射系统具备:加速器(2),其使带电粒子加速并射出带电粒子束;机架(4),其配置有对被照射体照射带电粒子束的照射部(3);传输线路(6),其具有从由加速器(2)射出的具有第1能量宽度的带电粒子束取出比第1能量宽度小的第2能量宽度的带电粒子束的能量选择系统(8)、并从加速器(2)向照射部(3)传输带电粒子束;及建筑物(100),其具有配置有机架(4)的照射室(A)、及配置有传输线路(6)的一部分的传输室(B),加速器(2)配置于照射室(A)内,传输线路(6)中能量选择系统(8)配置于传输室(B),建筑物(100)具有将照射室(A)与传输室(B)隔开,并且屏蔽从能量选择系统(8)放出的放射线的间壁墙(101)。 |
180 |
X射线成像装置和X射线成像的方法 |
CN201080004293.0 |
2010-01-15 |
CN102272861B |
2014-07-30 |
向出大平; 高田一广; 福田一德; 渡边壮俊 |
一种尺寸减小的X射线成像装置和方法,能够获得考虑被检物的X射线吸收效果的微分相位图像或相位图像。X射线在空间上被分离,并且,使用其中X射线的透过量根据X射线穿过被检物时的位移而连续变化的第一衰减元件。通过使用第一衰减元件和第二衰减元件来计算透过率,第二衰减元件关于X射线的透过量在X射线的位移方向上的变化量或变化特性与第一衰减元件不同。使用透过率来计算被检物的微分相位图像等。 |