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Epitaxial growth method

阅读:340发布:2024-01-04

专利汇可以提供Epitaxial growth method专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且PURPOSE:To epitaxially grow compound semiconductor thin films having different film thicknesses and quantum well structures by one time of growth. CONSTITUTION:A step is formed on a compound semiconductor substrate 6 of GaAs, etc., by etching. A GaAs buffer layer 7, AlxGa1-xAs layer 8 which is a first clad layer, thin-film multilayered area (SQW or MQW layer) 9 formed of an AlyGa1-yAs layer and GaAs layer, AlxGa1-xAs layer 10 which is a second clad layer, and GaAs cap layer 11 are successively formed on the stepped substrate 6 by epitaxial growth. The growing speed of the layers are made slower in the order of the upper flat area, stepped area, and lower flat area and the film thicknesses of the quantum well layers of the compound semiconductor thin films become thinner in this order.,下面是Epitaxial growth method专利的具体信息内容。

【特許請求の範囲】
  • 【請求項1】少なくとも第1の平坦領域と、前記第1の平坦領域より段差領域を介して前記基板寄りに形成した第2の平坦領域とを有する化合物半導体基板に、2元系あるいは3元系以上の組成の異なった2種類以上の化合物半導体薄膜を積層して量子井戸構造になるようエピタキシャル成長させ、前記第1の平坦領域の化合物半導体薄膜の膜厚は、前記第2の平坦領域の化合物半導体薄膜の膜厚とは異なることを特徴とするエピタキシャル成長方法。
  • 【請求項2】段差領域上の化合物半導体薄膜の膜厚は、
    第1の平坦領域の化合物半導体薄膜の膜厚と前記第2の平坦領域の化合物半導体薄膜の膜厚との間であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のエピタキシャル成長方法。
  • 说明书全文

    【発明の詳細な説明】

    【0001】

    【産業上の利用分野】この発明は、段差を有する化合物半導体基板上に量子井戸構造を有する化合物半導体薄膜を積層するエピタキシャル成長方法に関するものである。

    【0002】

    【従来の技術】最近の光情報処理分野において、光ディスク等の光学的記録再生装置が用いられるようになっている。 この光学的記録再生装置には、データの書き込み、読み出し、消去用の半導体レーザが用いられる。 そして、用途により、書き込みの後すぐに読み出したい場合とか、消去しつつその後に書き込み、読み出しを行ないたい場合がある。 この場合、書き込み用の半導体レーザ光の波長(λ Wとする)と読み出し用の半導体レーザ光の波長(λ Rとする)は異なる方がよい(λ W
    λ R )。 何故ならばこれらの半導体レーザは近接して配置されているので、読み出し時に書き込み時の信号が混ざることをさけるためであり、読み出し時の信号を正確にするため、読み出し用レーザ光のスポット径を小さくする(波長を短くする)ためでもある。

    【0003】他には高品位テレビ画像を記録する場合にも、輝度信号とカラー信号を別々の波長の2種類のレーザ光で書き込みたい要望がある。 このような状況において、近年、波長の異なる複数個の半導体レーザを1チップ化したい要望がますます強くなってきている。 又、複数のレーザ光を放射する半導体レーザ装置は、大容量通信を行うための光多重通信の光源としても強く要望されている。

    【0004】従来、複数のレーザ光を放射できる1チップの半導体レーザとして図4に示すような通常のダブルヘテロ構造を2度積層し、上部のダブルヘテロ構造の一部を除去して、下部のダブルヘテロ構造に対する半導体レーザ用の電極を形成したものがある(Shiro Sakai;El
    ectronics Lett. 18 17(1982))。

    【0005】この半導体レーザは、活性層1に対して電極5、活性層3に対して電極4が各々レーザ駆動用の電極となっている。 電極3は共通電極であり、今A領域の半導体レーザを駆動させると発振波長λ 1のレーザ光が出射され、B領域の半導体レーザを駆動させると発振波長λ 2のレーザ光が出射される仕組になっていた(λ 1
    λ 2 )。

    【0006】

    【発明が解決しようとする課題】しかし、このような構造のものではA領域の電極4の材料(例えばAu/S
    n)とB領域の電極2の材料(Au/Zn)とは異なるので少なくとも3度の電極形成工程を必要とし、また各半導体レーザの活性領域が異なるエピタキシャル層で構成される等のプロセスが複雑となる難点があった。

    【0007】そこで、本発明はこれらの難点を解決するエピタキシャル成長方法を提供するものである。

    【0008】

    【課題を解決するための手段】上記問題点を解決する本発明の技術的な手段は、少なくとも第1の平坦領域と、
    前記第1の平坦領域より段差領域を介して前記基板寄りに形成した第2の平坦領域とを有する化合物半導体基板に、2元系あるいは3元系以上の組成の異なった2種類以上の化合物半導体薄膜を積層して量子井戸構造になるようエピタキシャル成長させ、前記第1の平坦領域の化合物半導体薄膜の膜厚は、前記第2の平坦領域の化合物半導体薄膜の膜厚とは異なるエピタキシャル成長方法とする。

    【0009】また段差領域上の化合物半導体薄膜の膜厚は、第1の平坦領域の化合物半導体薄膜の膜厚と前記第2の平坦領域の化合物半導体薄膜の膜厚との間である。

    【0010】

    【作用】この技術的手段による作用は次のようになる。
    発明者らは、研究の結果、段差構造を有する基板上にエピタキシャル成長した場合、平坦領域および段差領域において成長速度が異なることを見出した。 つまり結果的には、各領域において各成長層の層厚が異なることになるのである。

    【0011】基板上に超薄膜を交互に積み重ねた単一量子井戸(Single-quantum well,SQW)あるいは多重量子井戸(multi-quantum well,MQW)は、超薄膜である量子井戸層の膜厚が異なることになる。 つまり、一回の成長工程で膜厚の異なる、量子井戸構造を有する化合物半導体層をエピタキシャル成長できる。

    【0012】

    【実施例】以下、本発明のエピタキシャル成長方法を用いて、半導体レーザ装置を製造した実施例について図1
    〜図3にもとづき説明する。

    【0013】(実施例1)本発明の第1の実施例を示す図1において、GaAs等化合物半導体基板6をエッチングによって段差を設け、この段差付き半導体基板6上にバッファ層GaAs7、第1のクラッド層であるAl
    x Ga 1-x As(x 0.4)層8と、膜厚が10〜20
    0Åの組成の異なる2種類以上の化合物半導体を交互に3層以上積み重ねた薄膜多層領域、たとえばAl y Ga
    1-y As(y 0.3)層とGaAs層で構成される薄膜多層領域(SQW層またはMQW層)9、第2のクラッド層であるAl x Ga 1-x As(x 0.4)層10、
    キャップ層GaAs11を順次エピタキシャル成長法により形成する。 第1および第2のクラッド層8,10の半導体の禁制帯幅は、薄膜多層領域の最も広い禁制帯幅と同じか、それ以上広いものである。

    【0014】段差領域はプロントン照射あるいはエッチングによる該当領域の除去あるいは前記エッチング除去領域に窒化シリコンあるいは酸化シリコンあるいはポリイミドを埋めることにより電気的絶縁分離領域14とし、平坦領域を半導体レーザの活性領域として用いる。
    平坦領域にはP型金属電極たとえばAu/Zu層12、
    基板側にはn型金属電極たとえばAn/Sn層13をそれぞれ設け段差方向に垂直に劈開して反射面とすることにより図1に示すような半導体レーザ装置となる。

    【0015】前述したようにエピタキシャル成長層の成長速度が上部平坦領域,段差領域,下部平坦領域の順で遅くなり結果的には図3に示すように、この順で量子井戸層の層厚が薄くなるため、発振波長は上部平坦領域における発振波長λ 3 >段差領域における発振波長λ 5 >下部平坦領域における発振波長λ 4なる関係になり、各領域で波長の異なった多波長半導体レーザ装置が得られる。 図1に示す半導体レーザ装置は段差領域を電気的絶縁分離領域として用いているので、発振波長はλ 3 ,λ 4
    の2種類となる。

    【0016】(実施例2)この発明の第2の実施例を図2に基づいて述べる。 エピタキシャル成長層の構成は第1の実施例と同じであるが、平坦領域,段差領域共に半導体レーザの活性領域とし、各領域の境界近傍を第1の実施例と同様な方法で電気的に絶縁分離し、電極を形成する。 この実施例では、単一段差に対して、一回のエピタキシャル成長で3種類の波長の異なった半導体レーザができることになる。 更に複数の段差を形成した基板上に本発明の構成を適用すれば更に多波長の半導体レーザが一度に形成できることは明らかである。

    【0017】第1,第2の実施例に示す半導体レーザ装置はAl x Ga 1-x As/GaAs系はもちろんのことI
    nGaAsP/InP系に対しても適用できる。 第2の実施例において、段差領域における出射パターンは段差の度を自由に変えられるので、例えば、直角段差では平坦領域における出射パターンに対し、段差領域では9
    0゜回転した出射パターンも容易に得られる。 又、薄膜多層領域等は有機金属気相成長法(MOCVD:metal
    organic chemical vopor deposition)で形成してもよいし、他の知られた成長方法、例えばMBE(Molecula
    r Beam Epitaxy)法でも形成可能である。

    【0018】

    【発明の効果】以上のように、本発明によれば、1回のエピタキシャル成長工程で基板上に膜厚の異なった、量子井戸構造を有する化合物半導体薄膜が形成できるので、この方法を用いれば、作製プロセスが簡単でしかも極めて優れた特性のデバイスを再現性よく製造できる。

    【図面の簡単な説明】

    【図1】本発明を用いた一実施例である半導体レーザ装置の構成を示す図

    【図2】本発明を用いた一実施例である半導体レーザ装置の構成を示す図

    【図3】平坦領域、段差領域の各領域における薄膜多層領域の層厚と発振波長との関係を説明するための図

    【図4】従来の多波長半導体レーザ装置の構成を示す図

    【符号の説明】

    6 n型GaAs基板 8 第1のクラッド層 9 SQWまたはMQW層 10 第2のクラッド層 12 電極 13 電極 14 電気的絶縁分離領域

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