专利汇可以提供一种短波长AlGaInP红光半导体激光器专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且一种短 波长 AlGaInP红光 半导体 激光器 ,其结构从下至上依次为衬底、下 缓冲层 、下限制层、下 波导 层、 量子阱 层、上波导层、上限制层、上缓冲层和欧姆 接触 层;下缓冲层为AlxIn1-xP组分渐变层,x由0.5线性渐变至0.6;上缓冲层为AlyIn1-yP组分渐变层,y由0.6线性渐变至0.5;下波导层及上波导层均为(AlzGa1-z)0.6In0.4P;下限制层及上限制层均为Al0.6In0.4P。本 发明 通过AlInP组分渐变缓冲层,使得限制层及波导层的In组分降到0.4,限制层材料折射率减小,波导层材料带隙增加,可以更好地限制 光子 和载流子,同时,量子阱层在低应变条件下即可获得590-620nm的短波长的光。,下面是一种短波长AlGaInP红光半导体激光器专利的具体信息内容。
1.一种短波长AlGaInP红光半导体激光器,其结构从下至上依次为衬底、下缓冲层、下限制层、下波导层、量子阱层、上波导层、上限制层、上缓冲层和欧姆接触层;其特征是:下缓冲层为AlxIn1-xP组分渐变层,x由0.5线性渐变至0.6;上缓冲层为AlyIn1-yP组分渐变层,y由0.6线性渐变至0.5;下波导层及上波导层均为(AlzGa1-z)0.6In0.4P;下限制层及上限制层均为Al0.6In0.4P。
2.如权利要求1所述的短波长AlGaInP红光半导体激光器,其特征是:所述下缓冲层的厚度为1-2μm。
3.如权利要求1所述的短波长AlGaInP红光半导体激光器,其特征是:所述上缓冲层AlyIn1-yP的厚度为0.2-0.5μm。
4.如权利要求1所述的短波长AlGaInP红光半导体激光器,其特征是:所述下波导层及上波导层(AlzGa1-z)0.6In0.4P中z的取值为0.5-0.7。
5.如权利要求1所述的短波长AlGaInP红光半导体激光器,其特征是:所述下限制层及上限制层Al0.6In0.4P的厚度为2-3μm。
6.如权利要求1所述的短波长AlGaInP红光半导体激光器,其特征是:所述量子阱层为GauIn1-uP,u取值为0.6-0.7,厚度5-15nm,发光波长为590-620nm。
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