专利汇可以提供一种纳米探针及纳米探针测试仪专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 涉及一种 纳米探针 及纳米探针测试仪,包括针臂,所述针臂的一端用于连接测试仪,另一端设置有用于同时与待失效分析 半导体 器件同一极性两个以上钨栓 接触 的触头。在待失效分析半导体器件电学特性测试中,此纳米探针可同时接触待失效分析半导体器件同一极性多个钨栓,用多个钨栓共同对应的电学特性表征待失效分析半导体器件的实际电学特性,能够有效避免个别纳米探针触头与钨栓接触不良,或个别钨栓下没有 硅 化物等因素导致的测试误差,从而更精准的反映待失效分析半导体器件的实际电学特性。,下面是一种纳米探针及纳米探针测试仪专利的具体信息内容。
1.一种纳米探针,其特征在于,包括针臂(3),所述针臂(3)的一端用于连接测试仪,另一端设置有用于同时与待失效分析半导体器件(2)同一极性两个以上钨栓(21)接触的触头。
2.根据权利要求1所述一种纳米探针,其特征在于,所述触头为多个用于同时分别与多个钨栓(21)接触的针尖(31)。
3.根据权利要求2所述一种纳米探针,其特征在于,所述针尖(31)为圆台体,所述圆台体的最小半径为20-50nm。
4.根据权利要求2所述一种纳米探针,其特征在于,所述针尖(31)通过滑轨安装于所述针臂(3)上。
5.根据权利要求1所述一种纳米探针,其特征在于,所述触头为用于同时与多个钨栓(21)接触的导电块(32)。
6.根据权利要求1所述一种纳米探针,其特征在于,所述纳米探针的材质为钨合金。
7.一种纳米探针测试仪,其特征在于,所述纳米探针测试仪的探针采用权利要求1至6任一所述一种纳米探针。
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