基于同位素比值测量的长寿命放射性核素半衰期测定方法
专利汇可以提供基于同位素比值测量的长寿命放射性核素半衰期测定方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 提供基于同位素比值测量的长寿命 放射性 核素 半衰期 测定方法，包括称取一定量的半衰期大于1年的 放射性核素 溶液；依据粗估的放射性核素含量在放射性核素溶液中增添等量级的该放射性核素的天然稳定元素，采用高 精度 同位素质谱测量溶液中放射性核素与稳定同位素的比值R1；将放射性核素溶液存放一段时间t后，再次采用高精度同位素质谱测量溶液中放射性核素与稳定同位素的比值R2；由其半衰期等步骤：本发明采用质谱的方法，回避了放射性射线分之比、效率校正等过程可能产生的不确定度，结合对母核的准确定量结果，不确定度 水 平可由0.6％以上降至0.3％以下水平。，下面是基于同位素比值测量的长寿命放射性核素半衰期测定方法专利的具体信息内容。
1.基于同位素比值测量的长寿命放射性核素半衰期的测定方法，其特征在于：包括以下步骤：
1)称取一定量的半衰期大于1年的放射性核素溶液，所述放射性核素溶液中放射性核素母体与子体质量数不相等；
2)依据粗估的放射性核素含量在放射性核素溶液中增添等量级的该放射性核素的天然稳定元素，采用高精度同位素质谱测量溶液中放射性核素与稳定同位素的比值R1；
3)将放射性核素溶液存放一段时间t后，再次采用高精度同位素质谱测量溶液中放射性核素与稳定同位素的比值R2；其中的存放时间t大于该放射性核素半衰期的0.3％；
4)由下式计算其半衰期：
2.基于同位素比值测量的长寿命放射性核素半衰期的测定方法，其特征在于：包括以下步骤：
1)称取一定量的半衰期大于1年的放射性核素溶液；所述放射性核素溶液中放射性核素母体与子体质量数相等；
2)依据粗估的放射性核素含量在该放射性核素溶液中增添等量级的该放射性核素的天然稳定元素，进行放化分离去除衰变子体，采用高精度同位素质谱测量溶液中放射性核素与稳定同位素的比值R1；
3)将该溶液存放一段时间t后，再次进行放化分离去除衰变子体，采用高精度同位素质谱测量溶液中放射性核素与稳定同位素的比值R2；其中的存放时间t大于该放射性核素半衰期的0.3％；
4)由下式计算其半衰期：
基于同位素比值测量的长寿命放射性核素半衰期测定方法
技术领域
于1年至1×10年范围内)半衰期及核素测定方法。作为一种核参数的准确测量方法，可拓展应用于长寿命放射性样品活度的准确测量和标准源的制备。
背景技术
发明内容
为1年至10年(有特殊需求情况下，可通过调整存放时间拓展至半衰期为数月或10 年以上)的核素，基于母子体的放化分离和质谱测试技术，通过高精度地测定放射性核素在存放时间内与其它同位素比值的变化，计算核素的半衰期。本发明的解决方案为：
具体实施方式
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