专利汇可以提供多温度点同步动态高温加速老化测试设备专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本实用新型涉及一种多 温度 点同步动态高温 加速 老化测试设备,包括十六组独立 温度控制 烤箱 ,待测物固定线路板,测试探针 子板 , 隔热 板和测试 主板 以及带有控制 软件 的计算机,所述独立温度控制烤箱上依次设有所述待测物固定线路板、隔热板和测试探针子板,其中,测试探针子板上的探针与所述待测物固定线路板上的探针 接触 点相接触;所述测试探针子板上还设有测试主板,测试主板与计算机相连。本实用新型能有效区隔能耗需求范围,提供一种可同步多种高温环境及实现高于125℃的高温动态测试环境的晶振测试设备。,下面是多温度点同步动态高温加速老化测试设备专利的具体信息内容。
1.一种多温度点同步动态高温加速老化测试设备,包括十六组独立温度控制烤箱,待测物固定线路板(1),测试探针子板(2),隔热板(3)和测试主板(4)以及带有控制软件的计算机,其特征在于,所述独立温度控制烤箱上依次设有所述待测物固定线路板(1)、隔热板(3)和测试探针子板(2),其中,测试探针子板(2)上的探针与所述待测物固定线路板(1)上的探针接触点相接触;所述测试探针子板(2)上还设有测试主板(4),测试主板(4)与计算机相连。
2.根据权利要求1所述的多温度点同步动态高温加速老化测试设备,其特征在于,所述独立温度控制烤箱包括内部加热装置,所述内部加热装置与导热体形成加热盘(5),所述加热盘(5)上具有加热室,加热室的尺寸与待测物外型匹配。
3.根据权利要求1所述的多温度点同步动态高温加速老化测试设备,其特征在于,所述的待测物固定线路板(1)是依据不同类型晶振外型焊接脚垫所制作成的PCB板。
4.根据权利要求1所述的多温度点同步动态高温加速老化测试设备,其特征在于,所述的待测物固定线路板(1)为双面PCB板,一面固定有晶振,另一面固定有探针接触点。
5.根据权利要求1所述的多温度点同步动态高温加速老化测试设备,其特征在于,所述待测物固定线路板(1)与独立温度控制烤箱之间通过螺丝固定。
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