专利汇可以提供一种针对系统级单粒子效应的混合仿真分析方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种针对系统级单粒子效应的混合仿真分析方法。该仿真方法包括以下步骤:步骤一:搭建目标系统,并划分功能模 块 ;步骤二:建立对应模块各层次的模型,包括RTL模型、行为级模型和SPICE管级模型;步骤三:组建包含不同层级模块的 电路 系统;步骤四:准备电路的仿真激励文件;步骤五:对电路系统进行混合仿真,同时 指定 的SPICE管级模块进行单粒子故障注入步骤六:完成仿真,根据仿真结果进行数据的比对和 整理 。本发明减少了SPICE级电路模块的规模,电路系统的仿真速度得到有效提高;同时能够实现任意时刻、对随机的电路 节点 注入 故障 电流 源,且故障电流源的峰值与脉宽在一定范围内随机,并自动分析仿真结果。,下面是一种针对系统级单粒子效应的混合仿真分析方法专利的具体信息内容。
1.一种针对系统级单粒子效应的混合仿真分析方法,其特征在于,包括:
步骤一:搭建目标电路系统;根据单粒子故障注入和系统仿真需求,将目标电路系统划分成多种功能模块;
步骤二:建立对应于所述功能模块各层次的模型,包括寄存器传输级(RTL)模型、行为级模型和SPICE管级模型;
步骤三:将目标电路系统中指定单粒子故障注入的功能模块用SPICE管级模型描述,其余模块均用RTL模型或行为级模型描述,构建两个层次模型间的接口将各功能模块连接,完成整个目标电路系统的混合模型的构建;
步骤四:准备目标电路系统的仿真激励文件;
步骤五:基于所述目标电路系统的混合模型,执行所述仿真激励文件对指定的SPICE管级模块进行单粒子故障注入,运行混合仿真;
步骤六:完成仿真,根据仿真结果进行数据的比对和整理,得到单粒子注入指定功能模块对目标电路系统的影响。
2.根据权利要求1所述的针对系统级单粒子效应的混合仿真分析方法,其特征在于:
所述目标电路系统划分为处理器、Flash和SRAM;其中处理器包括整数处理单元、缓存、AHB总线控制器和存储器控制器。
3.根据权利要求2所述的针对系统级单粒子效应的混合仿真分析方法,其特征在于:
对于单粒子注入所述整数处理单元的系统仿真需求,所述整数处理单元采用SPICE管级模型,而处理器的其他单元以及所述Flash和SRAM,均采用Verilog/VHDL的行为级模型;
组建的电路系统中,SPICE管级模型之间用SPICE语法例化连接,行为级模型之间直接例化;
SPICE管级模型与行为级模型的连接按照混合仿真工具的语法,创建对应模拟信号到数字信号的接口。
4.根据权利要求3所述的针对系统级单粒子效应的混合仿真分析方法,其特征在于:所述仿真激励文件是存储在Flash和SRAM中的程序,系统上电之后运行保存在Flash中的初始化程序,然后地址跳转并执行存储于SRAM中的程序。
5.根据权利要求3所述的针对系统级单粒子效应的混合仿真分析方法,其特征在于:所述混合仿真,是调用VCS-MX与Finesim对RTL或行为级模型、SPICE管级模型进行数模混合仿真。
6.根据权利要求3所述的针对系统级单粒子效应的混合仿真分析方法,其特征在于:步骤六中,对于RTL模型以及行为级模型,通过加入数据记录模块,记录仿真过程中需要监测的信号的值;对于SPICE管级模型,通过加入电压测量语句,记录仿真过程中整数处理单元中各敏感节点的电压值。
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