专利汇可以提供离子荧光超分辨成像方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 涉及一种离子 荧光 超分辨成像方法,该方法包括以下步骤:⑴制作待辐照样品;⑵将待辐照样品固定于样品台上,并在待辐照样品后方紧贴该待辐照样品放置荧光靶;⑶将离子束流辐照样品兴趣区随机 位置 ;⑷单个离子入射后依次透射待辐照样品和荧光靶,在所述荧光靶中产生离子激发荧光,荧光经过高倍物镜后由成像设备收集,产生单离子荧光显微图像;⑸将单离子荧光显微图像与同时段获得的状态变化 信号 关联映射,输出并存储;⑹保持待辐照样品处于离子辐照下,使离子辐照遍历所述样品兴趣区达到成像数据量要求;⑺获得单离子辐照高 精度 位置坐标,以单离子高精度坐标和状态变化信号关联映射绘图即可。本发明可提高成像 分辨率 。,下面是离子荧光超分辨成像方法专利的具体信息内容。
1.离子荧光超分辨成像方法,包括以下步骤:
⑴制作待辐照样品(3);
⑵将所述待辐照样品(3)固定于样品台上,使所述待辐照样品(3)的平面与离子束流垂直,并在所述待辐照样品(3)后方紧贴该待辐照样品(3)放置荧光靶(4);
⑶将离子束流以随机辐照方式或单离子控制方式辐照样品兴趣区(2)内随机位置(8);
⑷单个离子(1)入射后依次透射所述待辐照样品(3)和所述荧光靶(4),在所述荧光靶(4)中产生离子激发荧光(5),荧光经过高倍物镜(6)后由成像设备(7)收集,产生单离子荧光显微图像;
⑸将所述单离子荧光显微图像与同时段获得的所述待辐照样品(3)的状态变化信号(9)关联映射,输出并存储;
⑹保持所述待辐照样品(3)处于离子辐照下,使离子辐照遍历所述样品兴趣区(2)达到成像数据量要求;
⑺利用荧光定位算法,根据所述单离子荧光显微图像获得单离子辐照高精度位置坐标,该坐标的分辨率反比于 ,其中N为成像系统探测到的单离子荧光光子数;以所述单离子辐照高精度位置坐标和所述状态变化信号(9)关联映射绘图,即得到所述样品兴趣区(2)的离子辐照效应高分辨成像。
2.如权利要求1所述的离子荧光超分辨成像方法,其特征在于:所述步骤⑴中待辐照样品(3)的厚度与入射离子在其中的射程相匹配。
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