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放射性非晶态球形微粉的制备方法

阅读:448发布:2020-05-11

专利汇可以提供放射性非晶态球形微粉的制备方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且一种低 放射性 非晶态球形 硅 微粉的制备方法,属于无机非金属材料技术领域。该低放射性非晶态球形硅微粉的制备方法包括以下步骤:S1,配置硅烷 水 解 液并采用非极性非 水溶性 有机 溶剂 配置油相溶液;S2,将步骤S1制得的硅烷水解液与油相溶液混合均匀,乳化反应形成微乳液;S3,向微乳液中加入pH调节剂,控制体系pH值大于8;S4,固液分离得到SiO2微球和非极性非水溶性 有机溶剂 ,回收非极性非水溶性有机溶剂,SiO2微球利用溶剂冲洗后干燥,之后高温 煅烧 ,得到非晶态球形硅微粉。本 发明 通过乳化法采用油包水的结构,避免产生空洞,提高了产品良率。,下面是放射性非晶态球形微粉的制备方法专利的具体信息内容。

1.一种低放射性非晶态球形微粉的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1,配置硅烷解液和油相溶液;
硅烷水解液配置:在室温下,按高纯水与有机硅烷摩尔比大于3:1的比例,将精馏提纯后的高纯度有机硅烷与高纯水混合,加入催化剂,水解反应得到硅烷水解液;
油相溶液配置:将乳化剂、添加剂与非极性非水溶性有机溶剂混合均匀,得到油相溶液;
S2,将步骤S1制得的硅烷水解液与油相溶液混合均匀,乳化反应形成微乳液;
S3,向微乳液中加入pH调节剂,控制体系pH值大于8,以稳定微乳液;
S4,固液分离得到SiO2微球和非极性非水溶性有机溶剂,回收非极性非水溶性有机溶剂,SiO2微球利用溶剂冲洗后干燥,之后高温煅烧,得到非晶态球形硅微粉。
2.根据权利要求1所述低放射性非晶态球形硅微粉的制备方法,其特征是,所述高纯水与有机硅烷的摩尔比大于6:1。
3.根据权利要求1所述低放射性非晶态球形硅微粉的制备方法,其特征是,所述有机硅烷为硅酸甲酯、硅酸乙酯、甲基三甲基硅烷中至少一种。
4.根据权利要求1所述低放射性非晶态球形硅微粉的制备方法,其特征是,所述催化剂为盐酸硫酸硝酸羧酸中至少一种。
5.根据权利要求1所述低放射性非晶态球形硅微粉的制备方法,其特征是,所述乳化剂为平平加、Span系列、Tween系列、脂肪醇聚氧乙烯醚、烷基酚聚氧乙烯醚、脂肪胺聚氧乙烯醚中至少一种。
6.根据权利要求1所述低放射性非晶态球形硅微粉的制备方法,其特征是,所述添加剂为聚醚改性硅油或有机硅消泡剂。
7.根据权利要求1所述低放射性非晶态球形硅微粉的制备方法,其特征是,所述非极性非水溶性有机溶剂为环己烷、石蜡油、对二甲苯、乙醚、四氯甲烷、醋酸乙酯中至少一种。
8.根据权利要求1所述低放射性非晶态球形硅微粉的制备方法,其特征是,所述pH调节剂为水和/或有机的水溶液;有机碱为四甲基氢氧化铵、乙二胺、三乙胺、乙醇胺中至少一种。
9.根据权利要求1所述低放射性非晶态球形硅微粉的制备方法,其特征是,步骤S5中溶剂为高纯水、甲醇、乙醇、环己烷中至少一种。

说明书全文

放射性非晶态球形微粉的制备方法

技术领域

[0001] 本发明涉及的是一种无机非金属材料领域的技术,具体是一种低放射性非晶态球形硅微粉的制备方法。

背景技术

[0002] 球形硅微粉主要用于大规模集成电路封装,在航空、航天、光导纤维半导体掩埋绝缘层、光学复合玻璃、精细化工、可擦写光盘、大面积电子基板、特种陶瓷以及日用化妆品等高新技术领域也使用这种产品。尤其是大规模、超大规模集成电路对封装材料的要求越来越高,不仅要求超细、高纯,而且要求放射性元素含量低,特别是对于颗粒形状提出了球形化要求。熔融球形硅微粉与形或异形硅微粉相比由于具有高介电、高耐热、高耐湿、高填充量、低膨胀、低应、低杂质、低摩擦系数等优越性能,在大规模、超大规模集成电路的基板和封装料中,成了不可缺少的优质材料。
[0003] 目前制备球形硅微粉方法较多,但均存在一定问题。以申请号为CN2015100555245的中国专利申请为例,其公开了包油技术制备球形硅微粉的方法,但是水包油技术制成的球体容易产生孔洞,影响产品良率和使用性能。为了解决现有技术存在的上述问题,本发明由此而来。

发明内容

[0004] 本发明针对现有技术存在的上述不足,提出了一种低放射性非晶态球形硅微粉的制备方法,通过乳化法采用油包水的结构,避免产生空洞,提高了产品良率。
[0005] 本发明包括以下步骤:
[0006] S1,配置硅烷水解液和油相溶液;
[0007] 硅烷水解液配置:在室温下,按高纯水与有机硅烷摩尔比大于3:1的比例,将精馏提纯后的高纯度有机硅烷与高纯水混合,加入催化剂,水解反应得到硅烷水解液;
[0008] 油相溶液配置:将乳化剂、添加剂与非极性非水溶性有机溶剂混合均匀,得到油相溶液;
[0009] S2,将步骤S1制得的硅烷水解液与油相溶液混合均匀,乳化反应形成微乳液;
[0010] S3,向微乳液中加入pH调节剂,控制体系pH值大于8,以稳定微乳液;
[0011] S4,固液分离得到SiO2微球和非极性非水溶性有机溶剂,回收非极性非水溶性有机溶剂,SiO2微球利用溶剂冲洗后干燥,之后高温煅烧,得到非晶态球形硅微粉。
[0012] 优选地,高纯水与有机硅烷的摩尔比大于6:1。
[0013] 优选地,有机硅烷为硅酸甲酯、硅酸乙酯、甲基三甲基硅烷中至少一种。
[0014] 优选地,催化剂为盐酸硫酸硝酸羧酸中至少一种。
[0015] 优选地,乳化剂为平平加、Span系列、Tween系列、脂肪醇聚氧乙烯醚、烷基酚聚氧乙烯醚、脂肪胺聚氧乙烯醚中至少一种。
[0016] 优选地,添加剂为聚醚改性硅油或者有机硅消泡剂。
[0017] 优选地,非极性非水溶性有机溶剂为环己烷、石蜡油、对二甲苯、乙醚、四氯甲烷、醋酸乙酯中至少一种。
[0018] 优选地,pH调节剂为水和/或有机的水溶液;进一步优选地,有机碱为四甲基氢氧化铵、乙二胺、三乙胺、乙醇胺中至少一种。
[0019] 优选地,步骤S5中溶剂为高纯水、甲醇、乙醇、环己烷中至少一种。技术效果
[0020] 与现有技术相比,本发明具有如下技术效果:
[0021] 1)制备的非晶态球形硅微粉,各金属杂质含量小于1ppm,特别是和钍含量均小于1ppb,基本无放射性污染,对超大规模集成电路的放射性干扰极低;球体的表面光滑无孔洞,球形率高,不小于95%,粒度分布均匀,分散度高;粒度在2-200μm范围可控,具体地,通过有机硅烷、乳化剂与高纯水的比例,乳化时转速,以及有机硅烷粘度等参数进行控制;
[0022] 2)通过乳化法采用油包水的结构,避免产生孔洞,提高了产品良率;
[0023] 3)油相溶液采用非极性非水溶性有机溶剂,可回收,绿色环保,对人体和环境无危害与污染。附图说明
[0024] 图1为本发明实施例1的非晶态球形硅微粉粒径分布图;
[0025] 图2为本发明实施例1的非晶态球形硅微粉SEM照片;
[0026] 图3为本发明实施例2的非晶态球形硅微粉粒径分布图;
[0027] 图4为本发明实施例2的非晶态球形硅微粉SEM照片。

具体实施方式

[0028] 下面结合附图及具体实施方式对本发明进行详细描述。实施例1
[0029] S1,配置硅烷水解液和油相溶液;
[0030] 硅烷水解液配置:将104g经过提纯的硅酸乙酯、27g高纯水以及少量催化剂醋酸混合均匀,反应3h,即得到硅烷水解液;
[0031] 油相溶液配置:将3gSpan-80、0.1g有机硅消泡剂和100g环己烷混合均匀得到油相溶液;
[0032] S2,将步骤S1配置的硅烷水解液和油相溶液通过搅拌机搅拌均匀后,利用均质乳化机乳化30min,形成微乳液;
[0033] S3,加入浓度10%氨水10g搅拌反应3h;
[0034] S4,真空抽滤,将得到的滤饼加入到浓度8%的氨水溶液中回流1h,过滤后利用高纯水清洗2遍,100℃干燥4h后,再升温至800℃保温2h,烧结得到球形硅微粉。
[0035] 以上步骤制备的球形硅微粉经X射线衍射分析为纯非晶态结构二氧化硅,在800℃下煅烧未产生晶化;粒径分布均匀,如图1所示,硅微粉中位径为5.69μm;球化率95%以上,如图2所示;粉体经过电子级HF酸处理后,通过ICP质谱法测试,杂质含量如下表1所示;
[0036] 表1硅微粉金属杂质含量元素 Al Fe Mg Ca K Na Zn U Th
含量 <0.5ppm <0.5ppm <0.2ppm <1ppm <1ppm <1ppm <0.5ppm <1ppb <1ppb[0037] 其它的金属杂质含量也在0.5ppm以下。
实施例2
[0038] S1,配置硅烷水解液和油相溶液;
[0039] 硅烷水解液配置:将136g经过提纯的甲基三甲氧基硅烷、108g高纯水以及少量催化剂盐酸混合均匀,反应3h,即得到硅烷水解液;
[0040] 油相溶液配置:将4g平平加、0.2g聚醚改性硅油和100g环己烷混合均匀得到油相溶液;
[0041] S2,将步骤S1配置的硅烷水解液和油相溶液通过搅拌机搅拌均匀后,利用均质乳化机乳化30min,形成微乳液;
[0042] S3,加入浓度10%氨水10g搅拌反应3h;
[0043] S4,真空抽滤,将得到的滤饼加入到浓度8%的氨水溶液中回流1h,过滤后利用高纯水清洗2遍,70℃干燥4h后,再升温至900℃保温2h,烧结得到球形硅微粉。
[0044] 以上步骤制备的球形硅微粉经X射线衍射分析为纯非晶态结构二氧化硅,在900℃下煅烧未产生晶化;粒径分布均匀,如图3所示,硅微粉中位径为2.8μm;球化率95%以上,如图4所示;粉体经过电子级HF酸处理后,通过ICP质谱法测试,杂质含量如下表2所示;
[0045] 表2硅微粉金属杂质含量元素 Al Fe Mg Ca K Na Zn U Th
含量 <0.5ppm <0.5ppm <0.2ppm <1ppm <1ppm <1ppm <0.5ppm <1ppb <1ppb[0046] 其它的金属杂质也在0.5ppm以下。
[0047] 需要强调的是:以上仅是本发明的较佳实施例而已,并非对本发明作任何形式上的限制,凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本发明技术方案的范围内。
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