专利汇可以提供具有用于温度控制的流体区域的工件支撑专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且公开一种限定 工件 接收表面的工件 支撑 。工件支撑包括多个 流体 区域。诸如气体之类的流体供给到流体区域用于 接触 在工件支撑上的工件。流体可以具有选择的热传导特性,用于在特定的 位置 控制工件的 温度 。根据本公开,至少某些流体区域处在不同的方位 角 位置。以这种方式,工件的温度不仅可以在径向上调节,还可以在角度方向上调节。,下面是具有用于温度控制的流体区域的工件支撑专利的具体信息内容。
1.一种在处理室中保持工件的工件支撑:
限定用于接收和保持工件的工件接收表面的工件支撑;以及
多个在所述工件接收表面上的隔开的流体区域,每一个流体区域与流体供应连通,用于在所述工件接收表面与位于所述工件接收表面上的工件之间产生流体压力,其中,当流体供给至每一个流体区域时,每一个流体区域都被加压,所述多个流体区域分隔开,而且,至少某些流体区域在所述工件接收表面上具有不同的方位角位置。
2.如权利要求1所述的工件支撑,其中,所述工件接收表面具有周边,并包括与所述周边相邻的外周区,所述外周区包括外围带,所述外围带划分出所述具有不同方位角位置的流体区域。
3.如权利要求2所述的工件支撑,其中,至少2个隔开的流体区域位于所述外围带。
4.如权利要求2所述的工件支撑,其中,所述外围带划分成大约3个区域到大约12个区域。
5.如权利要求2所述的工件支撑,其中,所述工件支撑还包括位于所述工件接收表面的中心的流体区域。
6.如权利要求1所述的工件支撑,其中,所述工件支撑包括静电卡盘。
7.如权利要求1所述的工件支撑,其中,具有不同的方位角位置的所述流体区域都具有基本上相同的外形和表面面积。
8.如权利要求2所述的工件支撑,其中,所述外围带平均地划分出各个流体区域。
9.一种包括如权利要求1所述的工件支撑的处理室。
10.如权利要求9所述的处理室,其中,所述处理室具有与能量源或反应物源连通的处理区域。
11.如权利要求9所述的处理室,还包括至少一个温度测量装置,所述至少一个温度测量装置用于测量位于所述工件支撑上的工件的温度,所述处理室还包括与所述温度测量装置和所述流体供应连通的控制器,所述控制器构造成基于从所述温度测量装置接收的信息来控制供给所述流体区域的流体量。
12.如权利要求1所述的工件支撑,其中,所述流体区域由脊条隔开,所述脊条与位于所述工件支撑上的工件形成密封。
13.如权利要求6所述的工件支撑,其中,所述工件支撑包括涂履电介质材料的金属基座或陶瓷基座,而且,所述工件支撑还包括一个或多个位于所述电介质材料内的电极和用于将不同电压施加于每一个嵌入的电极的直流电源。
14.一种用于在处理室中控制工件的温度的处理方法,包括:
将工件放置在处理室内的工件支撑上,所述工件放置在所述工件支撑的工件接收表面上;
使所述工件在所述处理室中经受能量源,使所述工件的温度增加;以及
使流体在所述工件和所述工件接收表面之间流进被加压的流体区域,每一个所述流体区域影响所述工件的对应部分的温度,至少某些所述区域在所述工件上具有不同方位角位置。
15.如权利要求14所述的处理方法,其中,所述工件包括基板,有源电器件或功能形成在所述基板上,而且,所述能量源包括等离子体源、热能源、离子源、反应化学源或它们的组合,而且所述工件通过静电吸力保持在所述工件支撑上。
16.如权利要求14所述的处理方法,其中,在所述流体区域内的压力从大约1托变化到大约800托。
17.如权利要求14所述的处理方法,其中,所述被加压的流体区域包括被所述具有不同方位角位置的流体区域环绕的中心区域。
18.如权利要求17所述的处理方法,其中,所述工件具有外周区,而且,所述具有不同方位角位置的流体区域沿着与所述工件的所述外周区相邻的外围带设置。
19.如权利要求18所述的处理方法,其中,所述外围带划分出大约2个流体区域到大约12个流体区域。
20.如权利要求14所述的处理方法,其中,供给至所述被加压的流体区域的流体包括氦、氢或它们的混合物。
21.一种工件处理系统,包括:
用于处理工件的处理室;
与所述处理室连通的能量源;
包括在所述处理室内的工件支撑,所述工件支撑限定用于接收和保持工件的工件接收表面;
多个在所述工件接收表面上的隔开的流体区域,每一个流体区域与流体供应连通,用于在所述工件接收表面和位于所述工件接收表面上的工件之间产生流体压力,而且,至少某些流体区域在所述工件接收表面上具有不同的方位角位置;以及
与所述流体供应连通的控制器,所述控制器构造成控制所述流体区域中的压力。
22.如权利要求21所述的工件处理系统,还包括多个用于确定包括在所述处理室内的工件的温度的温度测量装置,所述系统包括用于每一个所述流体区域的对应的温度测量装置。
23.如权利要求22所述的系统,其中,所述温度感应装置包括高温计、热电偶、电热调节器、光纤温度传感器或它们的组合,每一个所述温度感应装置与所述控制器连通,所述控制器构造成基于从所述温度测量装置接收的信息来控制所述流体区域中的压力。
24.如权利要求21所述的工件处理系统,其中,所述工件接收表面具有周边并包括与所述周边相邻的外周区,所述外周区包括外围带,所述外围带划分出所述具有不同方位角位置的流体区域。
25.如权利要求24所述的工件处理系统,其中,所述系统还包括位于所述工件接收表面的中心的流体区域,而且,所述工件支撑包括静电卡盘,而且,与所述处理区域连通的所述能量源包括等离子体源、热能源、离子源、反应化学源或它们的组合。
多种类型的处理室可用于处理不同类型的工件。例如,工件可包括玻璃板、薄膜、带、太阳能板、镜子、液晶显示器、半导体晶片等等。例如,许多不同类型的处理室可用于在制造集成电路芯片期间,处理半导体晶片。加工室可用于对晶片退火,实施化学气相沉积、物理气相沉积、等离子蚀刻和化学蚀刻处理、热处理、表面工程和其它处理。这些类型的处理室通常包括用于将工件保持在室内的工件支撑。
在许多处理中,期望在处理期间控制工件的温度。例如,如果工件的温度是一致的,并且以期望的速率增加和降低到期望的最大值和最小值,可以优化处理工艺。
在过去,工件支撑已经用于加热工件、冷却工件、或另外的对工件温度的控制。在都通过参考的方式并入本申请中的美国专利No.5,609,720、美国专利No.5,761,023和公开号为H1-251735的日本专利申请No.S63-78975(1998)中,公开具有限定环形通道的上表面的工件支撑,该环形通道充满在不同压力下的感应气体,该感应气体接触工件的底面,用于控制工件的温度。
例如,美国专利No.5,761,023公开具有多个压力区域的工件支撑,该多个压力区域提供在支撑的上表面。密封区域提供在两个不同的区域之间,以允许在两个区域中的不同气压。更高的气压提供于对应于工件的期望更大的热传递的区域。以这种方式,当工件接受处理时,可以控制工件的温度,其中,处理可以影响工件的温度。
虽然已经做了多种尝试去设计工件支撑,这种工件支撑能够将保持在工件支撑上的工件的温度控制为不一致,但是仍存在多种不足和缺点。因此,需要进一步提高能够在处理室内控制工件的温度的工件支撑。
发明内容
总体上,本公开涉及用于在处理室中保持工件的工件支撑、用于在处理室中控制工件温度的处理方法以及工件处理系统。根据本公开,工件支撑包括多个流体区域,该多个流体区域在工件支撑和工件之间供应流体比如气体,用于在区域内影响工件的温度。根据本公开,至少某些区域不是轴对称的,以这种方式,可以沿着工件的方位角在不同的位置控制工件的温度,其中,例如,由于引发不一致热流量的处理,温度的不规律可以发生。
例如,在一个实施方式中,本公开涉及包括限定工件接收表面的工件支撑的一种工件支撑。工件接收表面用于接收和保持工件,比如半导体晶片。然而,应当理解,任何合适的工件可以保持在根据本公开的工件支撑上。
工件支撑包括分隔成多个流体区域的工件接收表面。每一个流体区域与对应的流体供应连通,用于包括在单个流体区域的工件接收表面和工件的对应的表面部分之间的被加压流体。当流体供给每一个流体区域,每一个流体区域都被加压。流体区域被分开,从而每一个流体区域构造成独立于其它区域被加压。此外,至少某些区域在工件接收表面具有不同的方位角。这个结构可以允许独立地调节在每一个方位角区域的温度,以便通过校正不一致方位角的处理的影响,实现期望的在工件表面上的控制温度分布。
例如,在一个实施方式中,工件接收表面可以包括具有外围带的外周区。外围带可以划分成具有不同方位角位置的流体区域。例如,外围带可以划分成大约2个区域到大约12个区域,比如大约3个区域到大约12个区域。在一个实施方式中,工件支撑还可以包括位于工件接收表面中心的流体区域。位于中心的流体区域可以具有圆形或多边形的外形,并被外围带环绕。
具有不同的方位角位置的流体区域可以都具有基本上相同的外形和表面面积。例如,当沿着外围带定位时,外围带可以划分成相等的部分。然而,在其它的实施方式中,具有不同的方位角位置的流体区域可以有不同的尺寸和外形。
如上所述,流体区域可以独立地运行。例如,在一个实施方式中,流体区域可以由脊条分开,脊条与位于工件支撑上的工件形成密封。
在一个实施方式中,工件支撑可以包括形成对工件的静电吸力的静电卡盘。在这个实施方式中,例如,工件支撑可以包括至少一个嵌入合适的电介质材料中的金属电极。每一个电极被封装在电介质材料内,而且,工件支撑可以与直流电源连通,用于将电压应用于封装电极。
根据本公开制成的工件支撑可以与任何合适的处理室配合使用。在一个实施方式中,例如,工件支撑可以位于处理室中,该处理室与等离子体供应连通以供应等离子体给室。例如,等离子体供应可以用于在处理室内在工件上进行等离子体增强化学气相沉积。然而,应当理解,工件支撑可以用在处理室中,在该处理室中,实施其它的处理,比如退火、离子蚀刻、等离子蚀刻,等等。
为了更好地控制工件的温度,处理室可以包括一个或多个温度测量装置,该一个或多个温度测量装置测量位于工件支撑上的工件的温度。处理室还可以包括与温度测量装置连通的控制器和用于每一个流体区域的流体供应。控制器可以构造成基于从温度测量装置接收的信息,控制在每一个流体区域中的压力,该控制器可以是任何合适的可编程序逻辑单元或微处理器。
在一个实施方式中,控制器可以构造成以从基于模型的控制接收的信息为基础,来控制每一个流体区域中的压力,该控制器可以是任何合适的可编程序逻辑单元或微处理器,其中,由基于模型的控制算法预测每一个区域的能量流量。
在一个实施方式中,处理室可以包括多个温度测量装置。例如,温度测量装置可以用于在工件上的对应于每一个流体区域的位置监控工件的温度。例如,温度测量装置可以包括高温计。
供给每一个流体区域的流体可以基于特定的应用变化。例如,可以选择不与工件反应的流体。例如,在一个实施方式中,不反应的气体比如氦可以供给每一个流体区域。气体施加在工件上的压力量也可以基于期望的结果变化。通常,增加作用在工件上的气体压力,将增加气体在发生接触的特定区域中控制工件温度的能力。通常,气体压力可以从大约1托到大约800托(133千帕)。
除了涉及工件支撑和处理室之外,本公开也涉及用于控制工件温度的处理方法。例如,处理方法包括在处理室中将工件放在工件支撑上的步骤。一旦放在工件支撑上,工件在处理室中经受能量源,使工件温度增加。例如,能量源可以包括等离子体源、热能源,等等。为了在加热期间控制工件的温度,流体在工件和工件支撑的工件接收表面之间供给至独立的、被加压的流体区域。每一个流体区域影响工件对应部分的温度。根据本公开,至少某些区域在工件上具有不同的方位角位置。
下面更详细地讨论本发明的其它特征和方面。
附图说明
接下来将参照附图更具体地阐述本发明的完全且能够实现的公开内容,该公开内容包括对于本领域普通技术人员而言本发明的最好的模型,其中:
图1是根据本公开制成的工件处理系统的一个实施方式的横截面图;
图2是根据本公开制成的工件支撑的一个实施方式的横截面图;
图3是根据本公开制成的用于工件支撑的工件接收表面的一个实施方式的横截面图;
图4是根据本公开的可以使用的流体供应系统的一个实施方式的图;
图5(a)和图5(b)是图2中阐明的工件支撑的横截面图,在图5(b)中示出位于工件接收表面上的晶片;
图6是双极电极装置的一个实施方式的平面图,该双极电极装置可以并入本公开的工件支撑;
图7是可以并入根据本公开制成的工件支撑的流体冷却通道的立体图;
图8是根据本公开制成的工件支撑的另一个实施方式的立体图;
图9是根据本公开制成的工件支撑的另一个实施方式的平面图;
图10是根据本公开制成的工件支撑的另一个实施方式的平面图;
图11是根据本公开制成的工件支撑的另一个实施方式的平面图;以及
图12是根据本公开制成的工件支撑的另一个实施方式的平面图;
在说明书和附图中的附图标记的重复使用意在代表相同或相似的本公开的特征或元件。
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