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屏体翘曲检测方法

阅读:91发布:2020-05-13

专利汇可以提供屏体翘曲检测方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 提供了一种屏体 翘曲 检测方法,其特征在于,包括:判断所述屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的 变形 ;判断所述屏体的 角 是否存在由屏体翘曲导致的变形;以及当所述屏体的至少一个边存在由屏体翘曲导致的变形或者所述屏体的至少一个角存在由屏体翘曲导致的变形时,判定所述屏体存在翘曲。由此可以准确的判定屏体处于翘曲状态,从而避免将屏体翘曲误判为屏体 缺陷 ,有效降低误判率,减少将良品误判为不良品所引起的物料浪费。,下面是屏体翘曲检测方法专利的具体信息内容。

1.一种屏体翘曲检测方法,其特征在于,包括:
判断所述屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形
判断所述屏体的是否存在由屏体翘曲导致的变形;以及
当所述屏体的至少一个边存在由屏体翘曲导致的变形或者所述屏体的至少一个角存在由屏体翘曲导致的变形时,判定所述屏体存在翘曲。
2.根据权利要求1所述的屏体翘曲检测方法,其特征在于,所述判断所述屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形包括:
在所述屏体的显示区的边上连续选取至少三个点;
根据所述至少三个点中的第一组连续两点计算获得第一斜率;
根据所述至少三个点中的第二组连续两点计算获得第二斜率;
计算所述第一斜率与所述第二斜率的差值的绝对值;以及
当所述第一斜率与所述第二斜率的差值的绝对值大于第一阈值并小于第二阈值,判定所述屏体的边存在由屏体翘曲导致的变形。
3.根据权利要求2所述的屏体翘曲检测方法,其特征在于,所述第一组连续两点间的距离与所述第二组连续两点间的距离相同;所述第二组连续两点中靠近所述第一组连续两点的一点与所述第一组连续两点中靠近所述第二组连续两点的一点的距离为固定长度。
4.根据权利要求2所述的屏体翘曲检测方法,其特征在于,所述第一组连续两点与所述第二组连续两点有一个共同点。
5.根据权利要求1-4任一项所述的屏体翘曲检测方法,其特征在于,所述判断所述屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形包括;
确定所述屏体的显示区的角拐点:
选取与所述角拐点相连接的显示区的边上的一点;
以所述一点为起点构造第一预设区域:
计算在所述第一预设区域内与所述角拐点相对应的角区域的面积;以及当所述面积的值在第一预设范围内,判定所述屏体的角存在由屏体翘曲导致的变形。
6.根据权利要求5所述的屏体翘曲检测方法,其特征在于,当所述屏体的所有边都不存在由屏体翘曲导致的变形时,再判断所述屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形。
7.根据权利要求6所述的屏体翘曲检测方法,其特征在于,所述第一组连续两点与所述第二组连续两点有一个共同点;
其中,所述确定所述屏体的显示区的角拐点包括:
当所述第一斜率与所述第二斜率的差值的绝对值大于或等于第二阈值,确定所述共同点为所述角拐点;
所述选取与所述角拐点相连接的显示区的边上的一点包括:
选取所述第一组连续组两点中非所述角拐点的一点;或
选取所述第二组连续组两点中非所述角拐点的一点。
8.根据权利要求5所述的屏体翘曲检测方法,其特征在于,所述计算在所述第一预设区域内与所述角拐点相对应的角区域的面积;包括:
二值化处理所述第一预设区域内的所述角区域与非角区域:以及
根据二值化结果,计算所述角区域的面积。
9.根据权利要求2-4任一项所述的屏体翘曲检测方法,其特征在于,还包括:获取所述屏体的显示区的边;优选地,包括:
点亮所述屏体;
获取所述屏体的图像:
虚焦处理所述图像获得虚焦处理后图像:
二值化处理所述虚焦处理后图像;以及
根据二值化结果,获取所述屏体的显示区的边。
10.根据权利要求1所述的屏体翘曲检测方法,其特征在于,所述屏体为矩形屏体,所述方法还包括:
获取所述屏体的显示区的参照边长和参照角角度;
根据所述屏体的显示区在平面上的正投影,拟合所述屏体的显示区的边;以及获取所述屏体显示区的拟合边长和拟合角角度;
其中,所述判断所述屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形包括:
计算所述参照边长与所述拟和边长的差值的绝对值以得到第一绝对值;以及当所述第一绝对值大于第三阈值,判定所述屏体的边存在由屏体翘曲导致的变形;
所述判断所述屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形包括:
计算所述参照角角度与所述拟和角角度的差值的绝对值以得到第二绝对值;以及当所述第二绝对值大于第四阈值,判定所述屏体的角存在由屏体翘曲导致的变形。

说明书全文

屏体翘曲检测方法

技术领域

[0001] 本发明涉及显示技术领域,具体涉及屏体翘曲检测方法。

背景技术

[0002] 在FPD(Flat Panel Display,平面显示面板)的制造过程的屏体测试(cell test)工艺段中,由于屏体的玻璃基板翘曲或者屏体未完全吸附在吸附平台上,从而屏体处于翘曲状态,屏体翘曲状态会被误判为屏体缺陷,从而导致屏体被误检为不良品。

发明内容

[0003] 有鉴于此,本发明实施例提供了屏体翘曲检测方法,以解决现有的技术中在屏体缺陷检测时将屏体翘曲误判为屏体缺陷的问题。
[0004] 本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法,包括:判断所述屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形;判断所述屏体的是否存在由屏体翘曲导致的变形;以及当所述屏体的至少一个边存在由屏体翘曲导致的变形或者所述屏体的至少一个角存在由屏体翘曲导致的变形时,判定所述屏体存在翘曲。由此可以准确的判定屏体处于翘曲状态,从而避免将屏体翘曲误判为屏体缺陷,节省人工复检资源,避免物料浪费有效降低误判率,减少将良品误判为不良品所引起的物料浪费。
[0005] 在一个实施例中,所述判断所述屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形包括:在所述屏体的显示区的边上连续选取至少三个点;根据所述至少三个点中的第一组连续两点计算获得第一斜率;根据所述至少三个点中的第二组连续两点计算获得第二斜率;计算所述第一斜率与所述第二斜率的差值的绝对值;以及当所述第一斜率与所述第二斜率的差值的绝对值大于第一阈值并小于第二阈值,判定所述屏体的边存在由屏体翘曲导致的变形。通过此种方式可简单快速的判断出屏体的边是否会存在由屏体翘曲导致的变形。
[0006] 在一个实施例中,所述第一组连续两点间的距离与所述第二组连续两点间的距离相同;所述第二组连续两点中靠近所述第一组连续两点的一点与所述第一组连续两点中靠近所述第二组连续两点的一点的距离为固定长度。进一步提高判断屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形的准确度。
[0007] 在一个实施例中,所述第一组连续两点与所述第二组连续两点有一个共同点。可以提高第一斜率与第二斜率的准确度。从而,进一步提高判断屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形的准确度。
[0008] 在一个实施例中,所述判断所述屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形包括;确定所述屏体的显示区的角拐点:选取与所述角拐点相连接的显示区的边上的一点;以所述一点为起点构造第一预设区域:计算在所述第一预设区域内与所述角拐点相对应的角区域的面积;以及当所述面积的值在所述第一预设范围内,判定所述屏体的角存在由屏体翘曲导致的变形。通过此种方式可简单快速的判断出屏体的角是否会存在由屏体翘曲导致的变形。
[0009] 在一个实施例中,当所述屏体的所有边都不存在由屏体翘曲导致的变形时,再判断所述屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形。提高工作效率且可以避免翘曲的漏检。
[0010] 在一个实施例中,所述第一组连续两点与所述第二组连续两点有一个共同点;其中,所述确定所述屏体的显示区的角拐点包括:当所述第一斜率与所述第二斜率的差值的绝对值大于或等于第二阈值,确定所述共同点为所述角拐点;所述选取与所述角拐点相连接的显示区的边上的一点包括:选取所述第一组连续组两点中非所述角拐点的一点;或选取所述第二组连续组两点中非所述角拐点的一点。
[0011] 在一个实施例中,所述计算在所述第一预设区域内与所述角拐点相对应的角区域的面积;包括:二值化处理所述第一预设区域内的所述角区域与非角区域:以及根据二值化结果,计算所述角区域的面积。通过计算机二值化处理结果计算角区域的面积更准确且更便利。
[0012] 在一个实施例中,还包括:获取所述屏体的显示区的边;优选地,包括:点亮所述屏体;获取所述屏体的图像:虚焦处理所述图像获得虚焦处理后图像:二值化处理所述虚焦处理后图像;以及根据二值化结果,获取所述屏体的显示区的边。判断屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形以及判断屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形,都是需要在获知显示区的边的基础上进行,获取显示区的边进一步可提高判断屏体翘曲的精度
[0013] 在一个实施例中,所述屏体为矩形屏体,所述方法还包括:获取所述屏体的显示区的参照边长和参照角角度;根据所述屏体的显示区在平面上的正投影,拟合所述屏体的显示区的边;以及获取所述屏体显示区的拟合边长和拟合角角度;其中,所述判断所述屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形包括:计算所述参照边长与所述拟和边长的差值的绝对值以得到第一绝对值;以及当所述第一绝对值大于第三阈值,判定所述屏体的边存在由屏体翘曲导致的变形;所述判断所述屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形包括:计算所述参照角角度与所述拟和角角度的差值的绝对值以得到第二绝对值;以及当所述第二绝对值大于第四阈值,判定所述屏体的角存在由屏体翘曲导致的变形。由此可以准确的判定屏体处于翘曲状态,从而避免将屏体翘曲误判为屏体缺陷,节省人工复检资源,避免物料浪费。
[0014] 本发明实施例提供的屏体翘曲检测方法,通过判断屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形,以及判断屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形,从而判定屏体是否存在翘曲。当屏体的至少一个边存在由屏体翘曲导致的变形或者屏体的至少一个角存在由屏体翘曲导致的变形,判定所述屏体存在翘曲。由此可以准确的判定屏体处于翘曲状态,从而避免将屏体翘曲误判为屏体缺陷,有效降低误判率,减少将良品误判为不良品所引起的物料浪费。附图说明
[0015] 图1所示为本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法的流程示意图。
[0016] 图2所示为本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法中判断屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形的流程示意图。
[0017] 图3所示为本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法中连续选取三个点的位置示意图。
[0018] 图4所示为本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法中连续选取四个点的位置示意图。
[0019] 图5所示为图2所示实施例的进一步实施例的流程示意图。
[0020] 图6所示为图5所示实施例的进一步实施例的流程示意图。
[0021] 图7所示为本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法中判断屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形的流程示意图。
[0022] 图8所示为本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法中构造第一预设区域的位置示意图。
[0023] 图9所示为本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法中计算在第一预设区域内与角拐点相对应的角区域的面积的流程示意图。
[0024] 图10所示为本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法的流程示意图。
[0025] 图11所示为本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法中获取屏体的显示区的边的流程示意图。
[0026] 图12所示为本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法的流程示意图。

具体实施方式

[0027] 正如背景技术所述,现有技术中存在的在屏体缺陷检测时将屏体翘曲误判为屏体缺陷的技术问题。发明人研究发现,出现这种问题的原因在于如下:在现有的屏体缺陷检测技术中,点亮屏体之后,在屏体正上方拍照,根据所拍摄的图片判断屏体是否存在缺陷。以下两种情况所拍摄的图片不易区分:屏体的显示区的边四周处于翘曲状态所拍摄的图片,以及屏体的显示区的边四周具有Mura(Mura名称来源于日文单词,特指面板瑕疵,用来表征当面板以恒定亮度显示时,显示区的不均匀)或者暗点等屏体缺陷所拍摄的图片。导致将屏体翘曲误判为屏体缺陷。为了解决上述问题,发明人研究发现,通过判断屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形,以及判断屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形,从而判断屏体是否存在翘曲。当屏体的至少一个边存在由屏体翘曲导致的变形或者屏体的至少一个角存在由屏体翘曲导致的变形,判定屏体存在翘曲。由此可以准确的判定屏体处于翘曲状态,从而避免将屏体翘曲误判为屏体缺陷,有效降低误判率,减少将良品误判为不良品所引起的物料浪费。
[0028] 下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
[0029] 图1所示为本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法的流程示意图。如图1所示,该方法包括如下步骤。
[0030] 步骤101:判断屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形;
[0031] 具体而言,当屏体处于翘曲状态,与屏体处于非翘曲状态相比,屏体的边会发生形变。判断屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形可以判断屏体是否处于翘曲状态。
[0032] 应当理解,屏体可以是柔性屏也是硬屏,当屏体是柔性屏时,由于柔性屏自身原因或者吸附平台吸附不足等原因,柔性屏容易处于翘曲状态。当屏体是硬屏时,硬屏玻璃基板可引起屏体翘曲。本发明实施例对屏体是柔性屏还是硬屏不做具体限定。
[0033] 步骤102:判断屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形;
[0034] 具体而言,当屏体处于翘曲状态,与屏体处于非翘曲状态相比,屏体的角会发生形变。判断屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形可以判断屏体是否处于翘曲状态。
[0035] 应当理解,当屏体是具有四个圆角的矩形屏体时,则角为圆角。当屏体是其他异型屏,角也可以是夹角,本发明实施例对角的具体类型不做限定。
[0036] 步骤103:当屏体的至少一个边存在由屏体翘曲导致的变形或者屏体的至少一个角存在由屏体翘曲导致的变形时,判定屏体存在翘曲;
[0037] 具体而言,当屏体的至少一个边存在由屏体翘曲导致的变形,判定屏体存在翘曲。当屏体的至少一个角存在由屏体翘曲导致的变形,判定屏体存在翘曲。当屏体的至少一个边存在由屏体翘曲导致的变形,同时当屏体的至少一个角存在由屏体翘曲导致的变形,判定屏体存在翘曲。
[0038] 应当理解,尽管该方法以图1所示步骤顺序被描述,但这并不应该理解为只能按照图1所示步骤顺序实现该方法。只要步骤103在步骤101和步骤102在之后即可,本发明实施例对步骤101与步骤102的执行顺序不做具体限定。
[0039] 本发明实施例提供的一种屏体翘曲检测方法,通过判断屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形,以及判断屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形,从而判断屏体是否存在翘曲。当屏体的至少一个边存在由屏体翘曲导致的变形或者屏体的至少一个角存在由屏体翘曲导致的变形,判定屏体存在翘曲。由此可以准确的判定屏体处于翘曲状态,从而避免将屏体翘曲误判为屏体缺陷,有效降低误判率,减少将良品误判为不良品所引起的物料浪费。
[0040] 图2所示为本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法中判断屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形的流程示意图。图3所示为本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法中连续选取三个点的位置示意图。图4所示为本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法中连续选取四个点的位置示意图。如图2所示,步骤101:判断屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形,包括如下步骤:
[0041] 步骤1011:在屏体的显示区的边上连续选取至少三个点;
[0042] 具体而言,屏体由AA区(Active Area,显示区)与非AA区(Non-Active Area,非显示区)组成。在Cell test工艺段时,显示区会被点亮。在显示区的边上连续选取至少三个点,是指选取的至少三个点中每两个点之间没有其他的选取点。应当理解,在屏体的边上连续选取至少三个点,可以是3个点,4个点、5个点以及6个点等,只要选取的点是连续的且至少是3个即可,本发明实施例对连续选取至少三个点的点的个数不做具体限定。
[0043] 步骤1012:根据至少三个点中的第一组连续两点计算获得第一斜率;
[0044] 步骤1013:根据至少三个点中的第二组连续两点计算获得第二斜率;
[0045] 具体而言,两点确定一条直线,确定直线后,建立坐标系,根据坐标系中两点的坐标进行计算获得斜率。
[0046] 应当理解,如果连续选取三个点,如图3所示,那么第一组连续两点A1与A2与第二组连续两点A2与A3有一个共同点。如果连续选取的四个点,如图4所示,那么第一组连续两点可以是第1点A1与第2点A2,第一组连续两点也可以是第1点A1与第3点A3。只要在连续选取的至少三个点中可以选择出第一组连续两点以及第二组连续两点即可,本发明实施例对至少三个点中第一组连续两点以及第二组连续两点的选取方式不做具体限定。只要可以建立坐标系并获得每个点的坐标即可,本发明实施例对具体建立坐标系的方法以及获取点的坐标的方法不做限定。
[0047] 步骤1014:计算第一斜率与第二斜率的差值的绝对值;
[0048] 步骤1015:当第一斜率与第二斜率的差值的绝对值大于第一阈值并小于第二阈值,判定屏体的边存在由屏体翘曲导致的变形;
[0049] 具体而言,当第一斜率与第二斜率的差值的绝对值小于等于第一阈值,第一组连续两点与第二组连续两点被认为是共线的,屏体的边不存在由屏体翘曲导致的变形。当第一斜率与第二斜率的差值的绝对值大于第一阈值并小于第二阈值,第一组连续两点与第二组连续两点被认为是不共线的,判定屏体的边存在由屏体翘曲导致的变形。
[0050] 应当理解,第一阈值可以是零,第二阈值可以是0.05。第一阈值与第二阈值确定方式有多种,例如可以根据第一组连续两点与第二组连续两点在屏体显示区的边的具体位置选取不同的值。
[0051] 本发明实施例中,在屏体的边上连续选取至少三个点,通过计算至少三个点中第一组连续两点的坐标获得第一斜率,通过计算至少三个点中第二组连续两点的坐标获得第二斜率。计算第一斜率与第二斜率的差值的绝对值,通过比对绝对值与第一阈值和第二阈值的关系,判断第一组连续两点与第二组连续两点是否共线,从而判断连续选取的至少三个点是否共线,进而判断屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形。
[0052] 图5所示为图2所示实施例的进一步实施例的流程示意图。如图5所示,上述步骤101:判断屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形,还包括:
[0053] 在步骤1015之前的步骤1016:根据第一组连续两点与第二组连续两点在屏体显示区的边的具体位置设定第一阈值与第二阈值。
[0054] 具体而言,屏体显示区的边分为中间段以及两侧段,第一组连续两点与第二组连续两点位于两侧段,与第一组连续两点与第二组连续两点均位于中间段相比,第一阈值变大,第二阈值变大。
[0055] 通过第一组连续两点与第二组连续两点在屏体显示区的边的具体位置设定第一阈值与第二阈值,可以更准确地判断屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形。
[0056] 图6所示为图5所示实施例的进一步实施例的流程示意图。如图6所示,步骤1011:在屏体的显示区的边上连续选取至少三个点,包括以下步骤:
[0057] 步骤10111:在屏体的显示区的边上连续选取3N(N≥1)个点;
[0058] 具体而言,N为整数且N≥1。
[0059] 步骤10112:将3N个点划分为N个分组;
[0060] 步骤1012:包括步骤1012':根据每个分组中3个点中的第一组连续两点计算获得第一斜率;
[0061] 步骤1013:包括步骤1013':根据每个分组中3个点中的第二组连续两点计算获得第二斜率;
[0062] 具体而言,由于每个分组只有三个点,此时,第一组连续两点与第二组连续两点有一个共同点。
[0063] 步骤1014:包括步骤1014':计算每个分组的第一斜率与第二斜率的差值的绝对值;
[0064] 具体而言,分别计算第一组连续两点和第二组连续两点的第一斜率与第二斜率的差值的绝对值。
[0065] 步骤1016包括:步骤1016':根据每个分组中3个点在屏体的显示区的边的具体位置设定每个分组的第一阈值与第二阈值。
[0066] 具体而言,屏体显示区的边可以分为中间段以及两侧段,位于两侧段的每个分组的三个点,与位于中间段的相比,第一阈值变大,第二阈值变大。屏体显示区的边也可以分为M段(M≤N),每一段的第一阈值与第二阈值不同。根据选择的每个分组中3个点在屏体的显示区的边的M段中的具体哪一段,从而设定每个分组的第一阈值与第二阈值。本发明实施例对屏体的显示区的边具体分为多少段不做限定。
[0067] 步骤1015包括:
[0068] 步骤10151:比对每个分组的第一斜率与第二斜率的差值的绝对值和对应的第一阈值与第二阈值;
[0069] 步骤10152:当至少一个分组的第一斜率与第二斜率的差值的绝对值大于对应的第一阈值且小于对应的第二阈值,判定屏体的边存在由屏体翘曲导致的变形。
[0070] 当连续选取的点比较多的时候,可以分组判定,提高计算效率,节省计算时间。
[0071] 在一个实施例中,第一组连续两点间的距离与第二组连续两点间的距离相同;第二组连续两点中靠近第一组连续两点的一点与第一组连续两点中靠近第二组连续两点的一点的距离为固定长度。
[0072] 具体而言,如图3所示,如果连续选取三个点,那么第二点A2为第一点A1与第三点A3的连接线的中点,固定长度为零。如图4所示,如果连续选取四个点,那么第一点A1与第二点A2之间的距离与第三点A3与第四点A4之间的距离相等。第二点A2与第三点A3之间的距离为固定长度。
[0073] 应当理解,当连续选取的至少三个点为大于等于四个点时,固定步长可以为一个子像素的长度,也可以是两个子像素的长度。本发明实施例对固定长度不做具体限定。固定长度的设定可以提高斜率计算的准确度,进一步提高判断屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形的准确度。
[0074] 应该理解,当连续选取的点至少为四个点时,可对这几个点进行多个分组,根据这多个分组确定多个斜率,并同时比较这多个斜率,其任意两个斜率的差值的绝对值是否满足大于对应的第一阈值且小于对应的第二阈值;或者任意选取两组的两个斜率进行差值的绝对值的比较,看其是否满足大于对应的第一阈值且小于对应的第二阈值,从而进行下一步的判断。
[0075] 在一个实施例中,第一组连续两点与第二组连续两点有一个共同点。如图3所示,第一组连续两点A1与A2与第二组连续两点A2与A3有一个共同点A2,如此,可以保证用于计算第一斜率与第二斜率的点有一个共同点,可以提高第一斜率与第二斜率的准确度。从而,进一步提高判断屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形的准确度。图7所示为本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法中判断屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形的流程示意图。图7所示为本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法中构造第一预设区域的位置示意图。如图7所示,上述步骤102:判断屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形,包括如下步骤:
[0076] 步骤1021:确定屏体的显示区的角拐点;
[0077] 具体而言,屏体的显示区存在角,确定角拐点有利于精确定位角区域,从而进行屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形的判断。
[0078] 步骤1022:选取与角拐点相连接的显示区的边上的一点;
[0079] 步骤1023:以一点为起点构造第一预设区域;
[0080] 具体而言,确定了角拐点之后,需要选取与角拐点相连接的显示区的边上的一点作为起点构造第一预设区域。选取与角拐点相连接的显示区的边上的一点,是从显示区的边上选取点开始绘制第一区域,不是从拐点直接开始绘制第一区域,如此选点,第一预设区域更容易包括整个角区域。避免角区域的遗漏,从而提高校测的准确度。
[0081] 应当理解,以一点为起点构造第一预设区域的方法可以是如下所示方法。如图8所示,当A5为拐点,以A6为起点,绘制长度为a,宽度为b的矩形。其中a和b的值可以根据实际需求确定。尽管该第一预设区域以图8所示的位置关系被构造,但这并不应该理解为第一预设区域只能按照图8所示位置关系被构造。只要与角拐点相连接的显示区的边上的一点为起点构造第一预设区域,本发明实施例对第一预设区域的具体构造方式不做限定。
[0082] 步骤1024:计算在第一预设区域内与角拐点相对应的角区域的面积;
[0083] 具体而言,在第一预设区域内存在与角拐点相对应的角区域以及非角区域,可以计算出角区域的面积用于进一步判断。
[0084] 应当理解,计算角区域面积的方法可以是计算机二值化的计算方法,也可以是根据角区域在水平面上的投影拟合多项式的计算方法,只要可以计算出角区域的面积即可,本发明实施例对角区域面积的计算方法不做具体限定。
[0085] 步骤1025:当面积的值在第一预设范围内,判定屏体的角存在由屏体翘曲导致的变形;
[0086] 具体而言,屏体的角不存在由屏体翘曲导致的变形时,无变形的角区域在预设区域内的面积的值为最大值,变形的角区域在预设区域内的面积都小于最大值。第一预设范围可以参考最大值并结合公差等因素,进行设定。当角区域在预设区域内的面积的值在第一预设范围内,判定屏体的角存在由屏体翘曲导致的变形。
[0087] 应当理解,一个屏体包含至少一个角。当屏体为具有四个圆角的矩形屏体时,则具有四个角,那么就有四个第一预设范围,这四个第一预设范围的取值范围可以不同。第一预设范围可以根据角位于屏体的不同位置以及不同屏体类型选取不同的范围。本发明实施例对第一预设范围的值不做具体限定。
[0088] 本发明实施例中,通过确定角拐点的位置,在与角拐点相连接的显示区的边上的一点构造第一预设区域,计算第一预设区域内的角区域的面积,通过比较第一预设区域内的角区域的面积是否在第一预设范围内,从而判断屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形。
[0089] 在一个实施例中,当屏体的所有边都不存在由屏体翘曲导致的变形时,再判断屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形。
[0090] 具体而言,当屏体的至少一条边存在由屏体翘曲导致的变形时,即可判定屏体存在翘曲,无需在判断屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形。当屏体的所有边都不存在由屏体翘曲导致的变形时,再判断屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形。提高工作效率且可以避免翘曲的漏检。
[0091] 在一个进一步实施例中,第一组连续两点与第二组连续两点有一个共同点;其中,确定屏体的显示区的角拐点包括:当第一斜率与第二斜率的差值的绝对值大于或等于第二阈值,确定共同点为拐点;选取与角拐点相连接的显示区的边上的一点包括:选取第一组连续组两点中非角拐点的一点;或选取第二组连续组两点中非角拐点的一点。
[0092] 具体而言,如图8所示,第一组连续两点A4与A5与第二组连续两点A5与A6有一个共同点A5。根据A4与A5计算获得第一斜率,根据A5与A6计算获得第二斜率。计算第一斜率与第二斜率的差值的绝对值。当第一斜率与第二斜率的差值的绝对值大于第一阈值并小于第二阈值,判定屏体的边存在由屏体翘曲导致的变形。即可判定屏体存在翘曲,无需在判断屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形。当第一斜率与第二斜率的差值的绝对值大于等于第二阈值,则确定共同点A5为角拐点。选取点A4或者A6按照上述步骤1023构造第一预设区域,按照上述步骤1024计算角区域的面积,按照是上述步骤1025判定屏体的角存在由屏体翘曲导致的变形,在此不再赘述。
[0093] 图9所示为本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法中算在第一预设区域内与角拐点相对应的角区域的面积的流程示意图。如图9所示,上述步骤1024:计算在第一预设区域内与角拐点相对应的角区域的面积,包括如下步骤:
[0094] 步骤10241:二值化处理第一预设区域内的角区域与非角区域;
[0095] 具体而言,计算机获得第一预设区域的图像,由于屏体在进行翘曲检测时处于点亮状态,所以角区域为点亮的状态,非角区域为不点亮状态,计算机对第一预设区域二值化处理,将点亮的区域默认值为1,非点亮区域默认值为0。
[0096] 步骤10242:根据二值化结果,计算角区域的面积。
[0097] 具体而言,计算机根据二值化结果,计算默认值为1的面积。
[0098] 应当理解,计算机只要能够实现根据二值化结果,计算默认值为1的面积,本发明实施例对具体计算过程不做限定。通过计算机二值化处理结果计算角区域的面积更准确且更便利。
[0099] 图10所示为本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法的流程示意图。如图10所示,屏体翘曲检测方法还包括:步骤100:获取屏体的显示区的边。
[0100] 屏体有显示区与非显示区,判断屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形以及判断屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形,都是需要在获知显示区的边的基础上进行。
[0101] 图11所示为本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法中获取屏体的显示区的边的流程示意图。如图11所示,上述步骤100:获取屏体的显示区的边,包括如下步骤:
[0102] 步骤1001:点亮屏体;
[0103] 具体而言,当屏体进行翘曲检测或者屏体缺陷检测时,屏体需要被点亮,由于屏体的显示区具有子像素,点亮显示区的子像素,屏体的显示区就被点亮。
[0104] 步骤1002:获取屏体的图像;
[0105] 具体而言,可以通过照相机等设备获取屏体的图像。
[0106] 应当理解,屏体的图像需要可以清晰地看到子像素,只要获取的屏体的图像能够清晰地看到子像素即可,,本发明实施例对获取屏体图像的设备不做具体限定。
[0107] 步骤1003:虚焦处理图像获得虚焦处理后图像;
[0108] 具体而言,屏体显示区可以被点亮是由于显示区中的各个子像素被点亮,各个子像素之间有微小的缝隙,拍摄图像时,各个子像素之间的缝隙会影响显示区的边的获取,因此对图虚化处理,使得各个子像素之间的微小缝隙被虚化掉。
[0109] 应当理解,只要实现虚焦处理图像即可,本发明实施例对具体虚化方法不做限定。
[0110] 步骤1004:二值化处理虚焦处理后图像;
[0111] 具体而言,对虚焦处理后图像进行二值化处理,将显示区的边区域默认值为1,非边区域默认值为0。
[0112] 步骤1005:根据二值化结果,获取屏体的显示区的边。
[0113] 具体而言,计算机根据二值化结果,获取默认值为1的显示区的边。
[0114] 应当理解,计算机只要能够实现根据二值化结果,获取默认值为1的显示区的边即可,本发明实施例对具体获取过程不做限定。
[0115] 本发明实施例中,通过虚化处理图像,虚化掉各个像素之间的微小缝隙,可以更清晰的呈现屏体的显示区与非显示区。通过二值化虚焦处理后图像以获取屏体的显示区的边,可以准确的描绘屏体的显示区的边,提高屏体翘曲检测的准确度。图12所示为本发明一实施例提供的一种屏体翘曲检测方法的流程示意图。如图12所示,该屏体翘曲检测方法还包括以下步骤:
[0116] 步骤201:获取屏体的显示区的参照边长和参照角角度;
[0117] 具体而言,屏体显示区的参照边长是屏体不存在翘曲时显示区的边长。屏体显示区的参照角角度是屏体不存在翘曲时显示区的角角度。
[0118] 应当理解,屏体的显示区的参照边长和参照角角度的获得方法可以是如下方法:同批次屏体中经人工检验筛选出无翘曲的参照屏,点亮参照屏,获取参照屏的参照边长和参照角角度。屏体的显示区的参照边长和参照角角度的获得方法也可以如下方法:在制造屏体时,获取屏体的显示区的设计参数,将显示区的设计边长作为参照边长,将显示区的设计角角度作为参加角角度。只要可以获取屏体的显示区的参照边长和参照角角度即可,本发明实施例对具体获取方法不做限定。
[0119] 步骤202:根据屏体的显示区在水平面上的正投影,拟合屏体的显示区的边;
[0120] 具体而言,屏体进行翘曲检测时,会将屏体平放在水平的吸附平台上,根据屏体的显示区在水平面的正投影,拟合屏体的显示区的边。
[0121] 应当理解,拟合屏体的显示区的边的方法可以是多项式拟合等,只要可以实现拟合屏体的显示区的边即可,本发明实施例对具体拟合方法不做限定。
[0122] 步骤203:获取屏体显示区的拟合边长和拟合角角度;
[0123] 具体而言,根据屏体的显示区的拟合边,获取屏体显示区的拟合边长和拟合角角度。
[0124] 应当理解,根据拟合边获取拟合边长和拟合角角度可以是手动测量也可以是机器测量,只要可以获取拟合边长和拟合角角度即可,本发明实施例对获取方法不做具体限定。
[0125] 步骤101:判断屏体的边是否存在由屏体翘曲导致的变形,包括如下步骤:
[0126] 步骤1011":计算参照边长与拟和边长的差值的绝对值以得到第一绝对值;以及[0127] 步骤1012":当第一绝对值大于第三阈值,判定屏体的边存在由屏体翘曲导致的变形;
[0128] 具体而言,当参照边长与拟和边长的差值的绝对值大于第三阈值,判定屏体的边判定屏体的边存在由屏体翘曲导致的变形。
[0129] 应当理解,第三阈值可以是零,也可以是其他的值。第三阈值是人为设定,可以根据不同屏体选取不同的值。
[0130] 步骤102:判断屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形,包括如下步骤:
[0131] 步骤1021":计算参照角角度与拟和角角度的差值的绝对值以得到第二绝对值;以及
[0132] 步骤1022":当第二绝对值大于第四阈值,判定屏体的角存在由屏体翘曲导致的变形。
[0133] 具体而言,当参照角角度与拟和角角度的差值的绝对值大于第四阈值,判定屏体的角存在由屏体翘曲导致的变形。
[0134] 应当理解,第四阈值可以是零,也可以是其他的值。第四阈值可以根据不同屏体选取不同的值。
[0135] 本发明实施例提供的一种屏体翘曲检测方法,通过拟合屏体的显示区的边获得拟合边长和拟合角角度。通过分别比对参照边长与拟和边长,从而判断屏体的边存在由屏体翘曲导致的变形。通过比对参照角角度与拟和角角度从而判断屏体的角是否存在由屏体翘曲导致的变形。进而判断屏体是否存在翘曲。
[0136] 当参照边长与拟和边长的差值的绝对值大于第三阈值,判定屏体的边判定屏体的边存在由屏体翘曲导致的变形。当参照角角度与拟和角角度的差值的绝对值大于第四阈值,判定屏体的角存在由屏体翘曲导致的变形。当屏体的至少一个边存在由屏体翘曲导致的变形或者屏体的至少一个角存在由屏体翘曲导致的变形时,判定所述屏体存在翘曲。由此可以准确的判定屏体处于翘曲状态,从而避免将屏体翘曲误判为屏体缺陷,节省人工复检资源,避免物料浪费。
[0137] 以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换等,均应包含在本发明的保护范围之内。
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