技术领域
[0001] 本
申请涉及机械
电子设备技术领域，特别是涉及一种翘曲度测试仪。
背景技术
[0002] 在卡式产品生产中，需要对卡体进行翘曲度检验。相关技术中提供的翘曲度检验方式采用的是将IC卡放到玻璃或其他刚性平台上，参照(GB/T 17554.1-2006)中5.1部分规定的方式使用投影或塞尺进行测量，但该测量方式存在测试速度慢、测量数据不准确、设备采购成本高等问题。
发明内容
[0003] 本申请提供一种翘曲度测试仪，以解决上述问题。
[0004] 一种翘曲度测试仪，包括
基础平台、竖直
支架、滑道、光纤放大组件、第一光纤
传感器以及第二光纤传感器；
[0005] 所述基础平台为长方体
箱体；所述竖直支架设置在所述基础平台的顶部；
[0006] 所述滑道的一端固定在所述基础平台的顶部，所述滑道的另一端固定在所述竖直支架的上部，使得所述滑道倾斜设置在所述基础平台的顶部；
[0007] 所述光纤放大组件设置在所述基础平台的内部；所述第一光纤传感器安装在所述滑道的一个
侧壁的中部，所述第二光纤传感器安装在所述滑道的另一个侧壁的中部，使得所述第一光纤传感器与所述第二光纤传感器相对；
[0008] 所述第一光纤传感器和所述第二光纤传感器均通过传输线分别与所述光纤放大组件连接；其中，所述第一光纤传感器和所述第二光纤传感器发出的光通道与所述滑道的上表面之间的间隔距离为待测卡片的标准厚度，在待测卡片从所述滑道的顶部沿着所述滑道向下滑动的过程中，当待测卡片通过所述第一光纤传感器和所述第二光纤传感器发出的光通道时，检测待测卡片的上表面与所述滑道的上表面之间的距离，将待测卡片的上表面与所述滑道的上表面之间的距离发送至所述光纤放大组件进行放大获得实际距离，当至少一个实际距离大于标准厚度时，则确定待测卡片发生翘曲。
[0009] 进一步地，所述滑道包括第一
挡板、第二挡板以及滑道本体，所述第一挡板、所述第二挡板以及所述滑道本体均为长方体板；
[0010] 所述第一挡板的上部和下部分别通过第一左侧固定件和第二左侧固定件设置在所述滑道本体的左侧；
[0011] 所述第二挡板的上部和下部分别通过第一右侧固定件和第二右侧固定件设置在所述滑道本体的右侧；
[0012] 其中，所述第一左侧固定件和所述第二左侧固定件均通过所述第一挡板上的条形孔实现固定；所述第一右侧固定件和所述第二右侧固定件均通过所述第二挡板上的条形孔实现固定；使得通过调整所述第一左侧固定件、所述第二左侧固定件、所述第一右侧固定件以及所述第二右侧固定件在条形孔中的
位置进而调整所述滑道本体的倾斜
角度和高度。
[0013] 进一步地，还包括第一竖直
固定板和第二竖直固定板，所述第一竖直固定板和所述第二竖直固定板分别设置在所述滑道的两侧；其中，所述第一竖直固定板和所述第二竖直固定板的底部均设置在所述基础平台的顶部，所述第一竖直固定板和所述第二竖直固定板的顶部连接在所述滑道上；其中所述第一竖直固定板和所述第二竖直固定板用于保持所述滑道不偏移。
[0014] 进一步地，所述滑道所处平面与所述基础平台的顶部所处平面之间的倾斜角度为45°。
[0015] 进一步地，所述滑道的宽度为待测卡片的宽度。
[0016] 进一步地，所述基础平台的两侧向内凹陷形成右侧凹槽和左侧凹槽，其中所述右侧凹槽和所述左侧凹槽无侧壁；其中所述右侧凹槽和所述左侧凹槽用于持拿所述基础平台。
[0017] 进一步地，还包括指示灯，所述指示灯安装在所述基础平台的顶部；所述光纤放大组件与所述指示灯通过传输线连接。
[0018] 进一步地，所述指示灯包括左侧指示灯和右侧指示灯；其中，所述左侧指示灯用于指示所述第一光纤传感器的检测结果异常或正常，所述右侧指示灯用于指示所述第二光纤传感器的检测异常或正常。
[0019] 进一步地，还包括显示器，所述显示器固定在所述竖直支架上；所述光纤放大组件与所述显示器通过传输线连接；其中，所述显示器包括第一显示器和第二显示器，其中所述第一显示器用于显示所述第一光纤传感器的检测结果，所述第二显示器用于显示所述第二光纤传感器的检测结果。
[0020] 进一步地，所述光纤放大组件包括光纤
放大器和直流电源，所述光纤放大器通过传输线与所述直流电源连接；所述第一光纤传感器和所述第二光纤传感器均通过传输线分别与所述光纤放大器连接。
[0021] 与
现有技术相比，本申请包括以下优点：
[0022] 本申请通过基础平台、竖直支架、滑道、光纤放大组件、第一光纤传感器以及第二光纤传感器对翘曲度进行自动检测，填补了批量检验IC卡翘曲度设备的空缺，其结构简单、
稳定性好、设备成本低，且检测速率高，能够大大提高待测卡片的翘曲度检验速度；并且通过光纤传感器对IC卡的翘曲进行检测，其数据准确，且能够对翘曲的误差进行调节，能够适应多种不同的检测标准，其灵活性高。
[0023] 应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。
附图说明
[0024] 为了更清楚地说明本申请各个
实施例的技术方案，下面将对本申请各个实施例的描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0025] 图1是本申请中翘曲度测试仪的左侧结构示意图；
[0026] 图2是本申请中翘曲度测试仪的右侧结构示意图；
[0027] 图3是本申请中翘曲度测试仪的俯视结构示意图；
[0028] 图4是本申请中翘曲度测试仪的基础平台的俯视结构示意图；
[0029] 图5是本申请中翘曲度测试仪的基础平台的仰视结构示意图；
[0030] 图6是本申请中翘曲度测试仪的滑道的侧面剖视结构示意图。
[0031] 附图标记：
[0032] 1-基础平台，2-竖直支架，3-滑道，4-光纤放大组件，5-显示器，61-第一光纤传感器，62-第二光纤传感器，7-指示灯；
[0033] 11-右侧凹槽，12-左侧凹槽；21-支架安装件；
[0034] 31-第一挡板，32-第二挡板，33-滑道本体，34-第一左侧固定件，35-第二左侧固定件，36-第一竖直固定板，37-第二竖直固定板，38-第一右侧固定件，39-第二右侧固定件。
具体实施方式
[0035] 为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步详细的说明。
[0036] 在卡式产品生产中，需要对卡体进行翘曲度检验。相关技术中提供的翘曲度检验方式采用的是将IC卡放到玻璃或其他刚性平台上，参照(GB/T 17554.1-2006)中5.1部分规定的方式使用投影或塞尺进行测量，但该测量方式存在测试速度慢、测量数据不准确、设备采购成本高等问题。
[0037] 其中，塞尺测量方式是指，将卡体放置在一
块平板上，例如一块玻璃板上，使用不同厚度的
铁片从卡体的下表面与玻璃板
接触的位置试探性插入，如果不同厚度的铁片能够插入，则说明卡体翘曲，反之则没有翘曲。该方式简单，但是
精度差，效率低。
[0038] 其中，投影测量方式是指，利用CCD相机对卡体进行拍照摄影，通过
图像处理方式分析卡体是否翘曲，但是该方式成本高(例如CCD相机较贵，且图像处理方式需要依赖
软件，软件也需要一定的成本)；并且，由于图像处理
算法，导致一张卡体的测量时间花费大概在50秒左右，效率低。
[0039] 本申请为了解决上述技术问题，提供了如图1和图2所示的一种翘曲度测试仪，包括基础平台1、竖直支架2、滑道3、光纤放大组件4、第一光纤传感器61以及第二光纤传感器62；
[0040] 所述基础平台1为长方体箱体；所述竖直支架2设置在所述基础平台1的顶部；
[0041] 所述滑道3的一端固定在所述基础平台1的顶部，所述滑道3的另一端固定在所述竖直支架2的上部，使得所述滑道3倾斜设置在所述基础平台1的顶部；
[0042] 所述光纤放大组件4设置在所述基础平台1的内部；所述第一光纤传感器61安装在所述滑道3的一个侧壁的中部，所述第二光纤传感器62安装在所述滑道3的另一个侧壁的中部，使得所述第一光纤传感器61与所述第二光纤传感器62相对；
[0043] 所述第一光纤传感器61和所述第二光纤传感器62均通过传输线分别与所述光纤放大组件4连接；其中，所述第一光纤传感器61和所述第二光纤传感器62发出的光通道与所述滑道3的上表面之间的间隔距离为待测卡片的标准厚度，在待测卡片从所述滑道3的顶部沿着所述滑道3向下滑动的过程中，当待测卡片通过所述第一光纤传感器61和所述第二光纤传感器62发出的光通道时，检测待测卡片的上表面与所述滑道3的上表面之间的距离，将待测卡片的上表面与所述滑道3的上表面之间的距离发送至所述光纤放大组件4进行放大获得实际距离，当至少一个实际距离大于标准厚度时，则确定待测卡片发生翘曲。
[0044] 本申请基于长方体箱体的基础平台1，在基础平台1的顶部依靠竖直支架2和滑道3搭建一个能够使待测卡片自动滑落的装置。其中，竖直支架2竖直设置在基础平台1的顶部，滑道3是一个横截面为工字型的滑槽，滑道3的上半部分连接在竖直支架2的上部分，滑道3的下端连接在基础平台1的顶部，且滑道3的下端的出口略微超出基础平台1的顶部，使得待测卡片从滑道3中由上至下滑落时，不会在滑道3的下端的出口堵塞或者停滞，能够直接滑出。本申请中的待测卡片可以是IC卡。
[0045] 如图1、图2、图5所示，将光纤放大组件4放置在基础平台1的内部，一方面可以节约空间，另一方面也可以保护光纤放大组件4，减少灰尘的沉积等。
[0046] 本申请所使用的第一光纤传感器61和第二光纤传感器62的光通道的距离较短，约为待测卡片的宽度的一半，因此采用两个光纤传感器对待测卡片进行检测。
[0047] 如图3所示，第一光纤传感器61和第二光纤传感器62分别设置在滑道3的中部的两端，且第一光纤传感器61和第二光纤传感器62均朝向滑道3内部，且两者处于同一
水平面上。
[0048] 第一光纤传感器61和第二光纤传感器62发出的光通道与滑道3的上表面的最近距离为一张待测卡片的标准厚度。
[0049] 所述第一光纤传感器61和所述第二光纤传感器62均通过传输线分别与所述光纤放大组件4连接；
[0050] 将待测卡片放置在滑道3的顶部，沿着滑道3的上表面向下滑动，当待测卡片通过第一光纤传感器61和第二光纤传感器62发出的光通道时，如果待测卡片未发生翘曲，则待测卡片整个下表面会与滑道3的上表面完全贴合，第一光纤传感器61和第二光纤传感器62的光通道也就检测不到待测卡片通过，或者待测卡片发生了符合相关误差的微型翘曲，该翘曲度符合第一光纤传感器61和第二光纤传感器62中设置的数据。例如，当标准厚度是1.5mm，允许误差可以是±0.1mm，也可以是±0.05mm；其中，允许误差可以在光纤传感器中根据具体情况进行设定。
[0051] 如果待测卡片发生翘曲，且翘曲度超过了允许误差，则待测卡片会挡住第一光纤传感器61和第二光纤传感器62的光通道，则第一光纤传感器61和第二光纤传感器62则会检测到待测卡片的上表面与滑道3的下表面之间的距离，将该距离发送至所述光纤放大组件4进行放大获得实际距离。由于待测卡片发生翘曲，则会形成弧形，则整个待测卡片的上表面与滑道3的上表面之间的距离是变化的，则获得的实际距离也是连续的。但是，只要有一个实际距离超过了标准厚度，则证明待测卡片发生翘曲，因此，只需要确定其中一个实际距离大于标准厚度，就能证明该待测卡片是翘曲的。
[0052] 本申请通过基础平台1、竖直支架2、滑道3、光纤放大组件4、第一光纤传感器61以及第二光纤传感器62对翘曲度进行自动检测，其结构简单、设备成本低，且检测速率高，能够大大提高待测卡片的翘曲度检验速度；并且通过光纤传感器对待测卡片的翘曲进行检测，其数据准确，且能够对翘曲的误差进行调节，能够适应多种不同的检测标准，其灵活性高。
[0053] 优选地，如图3和图6所示，本申请提供的所述滑道3包括第一挡板31、第二挡板32以及滑道本体33，所述第一挡板31、所述第二挡板32以及所述滑道本体33均为长方体板；
[0054] 所述第一挡板31的上部和下部分别通过第一左侧固定件34和第二左侧固定件35设置在所述滑道本体33的左侧；
[0055] 所述第二挡板32的上部和下部分别通过第一右侧固定件38和第二右侧固定件39设置在所述滑道本体33的右侧；
[0056] 其中，所述第一左侧固定件34和所述第二左侧固定件35均通过所述第一挡板31上的条形孔实现固定；所述第一右侧固定件38和所述第二右侧固定件39均通过所述第二挡板32上的条形孔实现固定；使得通过调整所述第一左侧固定件34、所述第二左侧固定件35、所述第一右侧固定件38以及所述第二右侧固定件39在条形孔中的位置进而调整所述滑道本体33的倾斜角度和高度。
[0057] 如图3所示，本申请提供的滑道3是由第一挡板31、第二挡板32和滑道本体33构成的，第一挡板31和第二挡板32分别设置在滑道本体33的两侧，通过将第一挡板31和第二挡板32设置在滑道本体33的两侧形成滑道3的滑槽。
[0058] 其中，所述滑道3的宽度为待测卡片的宽度。即滑道本体33的宽度为待测卡片的宽度。
[0059] 如图6所示，为了能够调整滑道3的最高高度以及倾斜角度，在第一挡板31和第二挡板32与滑道本体33之间的固定通过固定件和条形孔进行固定，其中固定件可以为
螺栓，将螺栓插入条形孔中将第一挡板31和第二挡板32固定在滑道本体33上。
[0060] 具体的，以第一挡板31为例，在第一挡板31上的上半部分和下半部分分别设置有一个条形孔，通过第一左侧固定件34和第二左侧固定件35插入相应的条形孔中将第一挡板31固定在滑道本体33的左侧，通过调节第一左侧固定件34和第二左侧固定件35在各自条形孔中的位置，进而调整滑道本体33的倾斜角度。优选地，所述滑道3所处平面与所述基础平台1的顶部所处平面之间的倾斜角度为45°。
[0061] 优选地，一种翘曲度测试仪，如图1、图2、图3所示，还包括第一竖直固定板36和第二竖直固定板37，所述第一竖直固定板36和所述第二竖直固定板37分别设置在所述滑道3的两侧；其中，所述第一竖直固定板36和所述第二竖直固定板37的底部均设置在所述基础平台1的顶部，所述第一竖直固定板36和所述第二竖直固定板37的顶部连接在所述滑道3上；其中，所述第一竖直固定板36和所述第二竖直固定板37用于保持所述滑道3不偏移。
[0062] 在长期使用的过程中，如果只依靠竖直挡板
支撑滑道3，滑道3很有可能会倾斜，因此设置第一竖直固定板36和第二竖直固定板37。其中第一竖直固定板36设置在第二挡板32的下半部分，第二竖直固定板37设置在第一挡板31的下半部分。第一挡板31的上半部分通过支架安装件21与竖直支架2固定连接。
[0063] 第一竖直固定板36和第二竖直固定板37能够稳固滑道3，使得滑道3在长期使用的过程中不倾斜。
[0064] 其中滑道本体33的对角为10°，其中，对角是按照如下方式形成的：第一挡板31的上端与第二挡板32的上端不处于同一水平面上，且第一挡板31的上端比第二挡板32的上端高；第一挡板31的下端与第二挡板32的下端不处于同一水平面上，且第一挡板31的下端比第二挡板32的下端低，因此滑道3的上表面为一个倾斜面，该倾斜面的角度为10°。
[0065] 优选地，如图4所示，所述基础平台1的两侧向内凹陷形成右侧凹槽11和左侧凹槽12，其中所述右侧凹槽11和所述左侧凹槽12无侧壁；其中所述右侧凹槽11和所述左侧凹槽
12用于持拿所述基础平台1。
[0066] 通过在基础平台1的两侧设置右侧凹槽11和左侧凹槽12，能够方便使用者持拿移动翘曲度测试仪，进一步提高便利性。
[0067] 优选地，一种翘曲度测试仪，还包括指示灯7，所述指示灯7安装在所述基础平台1的顶部；所述光纤放大组件4与所述指示灯7通过传输线连接。
[0068] 所述指示灯7包括左侧指示灯和右侧指示灯；其中，所述左侧指示灯用于指示所述第一光纤传感器61的检测结果异常或正常，所述右侧指示灯用于指示所述第二光纤传感器62的检测异常或正常。
[0069] 指示灯7用于指示相应的光纤传感器检测到的待测卡片的上表面与滑道3的上表面之间的距离是否超过设定的标准厚度；当正常时，即不超过时，指示灯7可显示为绿色，当异常时，即超过时，指示灯7可显示为红色。
[0070] 优选地，一种翘曲度测试仪，如图1、图2、图3所示，还包括显示器5，所述显示器5固定在所述竖直支架2上；所述光纤放大组件4与所述显示器5通过传输线连接；其中，所述显示器5包括第一显示器5和第二显示器5，其中所述第一显示器5用于显示所述第一光纤传感器61的检测结果，所述第二显示器5用于显示所述第二光纤传感器62的检测结果。
[0071] 通过显示器5显示测量的检测结果，即通过显示器5显示通过光纤传感器检测的待测卡片的上表面与滑道3的上表面之间的距离，可以便于使用者记录相关数据，也可以直观的判断检测到的距离是否超过标准厚度。
[0072] 优选地，本申请中的所述光纤放大组件4包括光纤放大器和直流电源，所述光纤放大器通过传输线与所述直流电源连接；所述第一光纤传感器61和所述第二光纤传感器62均通过传输线分别与所述光纤放大器连接。
[0073] 本申请中直流电源的
电压为24V，指示灯的电压为24V。在本申请通电后在待测卡片经过光纤传感器时，光纤放大器所连接的显示器5的显示的数值大小及指示灯7的状态来确定待测卡片翘曲是否符合标准，标准参照(GB/T 14916-2006)中规定待测卡片卡体凸起最高位置加上卡体厚度不超过1.5mm。
[0074] 本申请为了满足不同厂标、客户标准、特殊产品的标准，设计滑道3角度可调节，滑道3高度可调节，指示灯7报警值可调节。
[0075] 本申请采用的是220V电压供电，待机功率8W，待测卡片触发两个传感器时，整机功率为12W，最大整机功率为20W。
[0076] 本申请整体
框架采用亚克
力材料制成，且安装大部分采用插拔式组件固定，小部分采用螺丝固定；
[0077] 本申请校准采用塞尺测量，将1.4mm和1.5mm的塞尺分别放到滑道3检测位置，放入1.4mm塞尺时指示灯7不亮，放入1.5mm塞尺指示灯7亮为正常。通过调整滑道3与光纤传感器距离和传感器报警数值来实现调整测试精度。
[0078] 本申请通过基础平台1、竖直支架2、滑道3、光纤放大组件4、第一光纤传感器61以及第二光纤传感器62对翘曲度进行自动检测，其结构简单、设备成本低，且检测速率高，能够大大提高待测卡片的翘曲度检验速度；并且通过光纤传感器对待测卡片的翘曲进行检测，其数据准确，且能够对翘曲的误差进行调节，能够适应多种不同的检测标准，其灵活性高。
[0079] 本
说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。
[0080] 以上对本申请所提供的一种翘曲度测试仪，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。
