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用于恢复光盘信号的系统及其方法

阅读:464发布:2020-05-26

专利汇可以提供用于恢复光盘信号的系统及其方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且提供一种用于光盘的恢复系统和方法,通过该系统和方法恢复从光盘上用光学方法拾取的射频 信号 。所述恢复系统包括 限幅 器、 锁 相环、锁存 电路 、3T校正电路和解调器。特别的是,所述3T校正电路包括扩展存储装置、长度测量装置、 相位 检测器和扩展确定器,所述3T校正电路校正从所述扩展存储装置输出的数据。在所述恢复方法中,检测用于确定校正的需要和校正的方向所需的数据,执行用于选择无校正、双向校正、正向校正和反向校正的多个步骤,从而依照所述高 射频信号 的条件来校正所述高射频信号。优选的是,所述恢复系统依照所述恢复方法操作。,下面是用于恢复光盘信号的系统及其方法专利的具体信息内容。

1.一种恢复系统,其从光盘上用光学方法拾取信息并且恢复所述信息,所述恢复系统包括:
用于采样从所述光盘上用光学方法拾取的信号限幅器;
相环,用于接收从所述限幅器输出的信号并产生通道时钟信号
锁存电路,用于接收从所述限幅器输出的信号和所述通道时钟信号,并且响应所述通道时钟信号输出从所述限幅器输出的信号;
3T校正电路,用于接收所述通道时钟信号、从所述限幅器输出的信号和从所述锁存电路输出的信号,并且输出其中校正了3T的信号,其中所述3T校正电路包括:
扩展存储装置,用于响应所述锁相环的通道时钟信号、在预定存储装置中存储从所述锁存电路输出的信号,输出存储状态,并且响应从扩展确定器输出的信号来输出所存储的数据;
长度测量装置,用于接收来自所述扩展存储装置的存储状态,检测所述存储状态的预定脉冲周期,所述长度测量装置分别地测量在所述预定脉冲信号的前后的先前和下一脉冲,并且依照所述周期测量结果输出所述预定脉冲的当前长度,所述先前脉冲的先前长度和所述下一脉冲的下一长度;
相位检测器,用于测量所述通道时钟信号和从所述限幅器输出的信号之间的相位差,并且依照测量结果输出前部相位、后部相位和先前相位;所述前部相位表明当启动所述预定脉冲时、从所述限幅器输出的信号和所述通道时钟信号之间的差;所述后部相位表明当启动所述下一脉冲时、从所述限幅器输出的信号和所述通道时钟信号之间的差;所述先前相位表明当启动所述先前脉冲时、从所述限幅器输出的信号和所述通道时钟信号之间的差;和
扩展确定器,用于接收所述当前长度、所述先前长度、所述下一长度、所述前部相位、所述后部相位和所述先前相位,并且通过下列来确定校正的需要和所述校正的方向:
确定所述当前长度是否小于2T;
如果所述当前长度小于2T选择双向校正或无校正;

如果所述当前长度等于2T选择正向校正或反向校正,其中双向校正和无校正之一的选择包括:
确定所述当前长度是否等于1T;
如果所述当前长度不等于1T选择所述无校正;并且
如果所述当前长度等于1T,当所述先前长度和所述下一长度都小于或等于3T时选择所述无校正;并且当所述先前长度和所述下一长度都大于3T时选择所述双向校正;和解调器,用于解调从所述3T校正电路输出的信号。
2.如权利要求1所述的恢复系统,其中所述扩展存储装置包括多个移位寄存器。
3.一种恢复方法,用于恢复信号,其中通过使用从用于采样于光盘上用光学方法拾取的信号的限幅器输出的信号,从用于接收从所述限幅器输出的信号的锁相环上输出的通道时钟信号,和从用于接收从所述限幅器输出的信号和通道时钟信号、并将从所述限幅器输出的信号与所述通道时钟信号同步地输出的锁存电路输出的信号来校正3T,所述方法包括:
检测从所述锁存电路输出的信号的当前脉冲的当前长度、在所述当前脉冲之前紧接着的先前脉冲的先前长度、在所述当前脉冲之后紧接着的下一脉冲的下一长度、前部相位、后部相位和先前相位;所述前部相位表明当启动当前脉冲时、所述通道时钟信号和从限幅器输出的信号之间的差;所述后部相位表明当启动所述下一脉冲时、从限幅器输出的信号和所述通道时钟信号之间的差;所述先前相位表明当启动所述先前脉冲时、从限幅器输出的信号和所述通道时钟信号之间的差;
确定(710)所述当前长度是否小于2T;
如果所述当前长度小于2T选择(720)双向校正或无校正;和
如果所述当前长度等于2T选择(730)正向校正或反向校正,其中双向校正和无校正之一的选择(720)包括:
确定所述当前长度是否等于1T;
如果所述当前长度不等于1T选择所述无校正;并且
如果所述当前长度等于1T,当所述先前长度和所述下一长度都小于或等于3T时选择所述无校正;并且当所述先前长度和所述下一长度都大于3T时选择所述双向校正。
4.如权利要求3所述的恢复方法,其中正向校正和反向校正之一的选择包括:
如果所述先前长度大于3T并且所述下一长度小于或等于3T,选择所述正向校正;
如果所述先前长度小于或等于3T并且所述下一长度大于3T,选择所述反向校正;
如果所述前部相位和所述后部相位均有第一相位误差,那么当所述先前长度和所述下一长度都大于3T时,选择所述正向校正;或如果所述先前相位有第二相位误差,那么当所述先前长度和所述下一长度都大于3T时,选择所述正向校正;和
如果所述前部相位和所述后部相位均有第二相位误差,那么当所述先前长度和所述下一长度都大于3T时,选择所述反向校正;或如果所述先前相位有第一相位误差,那么当所述先前长度和所述下一长度都大于3T时,选择所述反向校正。
5.如权利要求4所述的恢复方法,其中第一相位误差表明从所述限幅器输出的信号是快的,而第二相位误差表明从所述限幅器输出的信号是慢的,其中“快的”意思是所述限幅器输出的信号在通道时钟信号之前,“慢的”意思是所述限幅器输出的信号在通道时钟信号之后。
6.一种用于从光盘接收的并经由限幅器采样的信号的信号校正电路,所述信号校正电路包括:
扩展存储装置,用于响应通道时钟信号在预定存储装置中存储从锁存电路输出的信号;
长度测量装置,用于确定源于所述扩展存储装置的预定当前脉冲、在所述当前脉冲之前的先前脉冲和在所述当前脉冲之后的下一脉冲的长度;
相位检测器,用于测量所述通道时钟信号和所述从限幅器输出的信号之间的相位差,所述相位检测器输出前部相位、后部相位和先前相位;和
扩展确定器,接收并利用所述当前脉冲、先前脉冲、下一脉冲、前部相位、后部相位和先前相位的长度,以确定用于所述信号的校正的需要和信号校正的方向,其中当先前长度和下一长度都小于或等于3T时,选择不校正,
其中所述相位检测器当启动所述预定当前脉冲时,输出表示从所述限幅器输出的信号和所述通道时钟信号之间的差的前部相位;并且当启动所述下一脉冲时,输出表示从所述限幅器输出的信号和所述通道时钟信号之间的差的后部相位;当启动所述先前脉冲时,输出表示从所述限幅器输出的信号和所述通道时钟信号之间的差的先前相位。
7.如权利要求6所述的信号校正电路,其中所述扩展存储装置向长度测量装置输出存储状态,所述扩展存储装置响应从所述扩展确定器输出的信号、向长度测量装置输出所存储的数据。
8.如权利要求7所述的信号校正电路,其中所述长度测量装置接收从所述扩展存储装置输出的存储状态,所述长度测量装置检测所述存储状态的预定当前脉冲的2T和1T的至少一个周期,所述长度测量装置测量所述先前脉冲和下一脉冲的周期以确定所述当前脉冲、先前脉冲和下一脉冲的长度。
9.如权利要求6所述的信号校正电路,其中所述扩展存储装置包括:
多个移位寄存器。
10.如权利要求6所述的信号校正电路,还包括:
解调器,用于解调所述信号校正电路的输出,其中所述限幅器采样从光盘用光学方法拾取的信号,所述锁存电路接收从所述限幅器输出的信号和所述通道时钟信号,并且所述锁存电路响应所述通道时钟信号输出从所述限幅器输出的信号。

说明书全文

用于恢复光盘信号的系统及其方法

[0001] 相关申请的交叉引用
[0002] 本申请要求2003年10月16日在韩国知识产权局申请的韩国专利申请No.2003-72141的优先权,将该篇申请所公开的内容引入于此,以供参考。

技术领域

[0003] 本发明涉及校正在恢复信号中的误差,并且尤其涉及恢复从光盘中用光学方法拾取的射频(RF)信号。

背景技术

[0004] 存储在致密盘(CD)中的数据使用八位到十四位调制(以下称为“EFM”)编码,并且存储在数字化视频光盘(DVD)中的数据使用八位到十六位调制(以下称为“EFM+”)编码。格式化EFM信号,以使相同的逻辑值不能超过预定次数接连出现。做到这点以使在播放期间能移除直流分量并且易于时钟恢复。
[0005] 就CD来说,具有信息的凹坑是串联放置地,并且其中排列所述凹坑的轨道以1.6的轨道间距来同心放置。所述凹坑的长度和所述凹坑的间距根据所述时钟脉冲的宽度被分为九个值,即3T到11T。这里,术语T表示一个时钟脉冲的周期;并且所述术语3T和11T分别表示三个时钟脉冲周期和十一个时钟脉冲周期。
[0006] 由于光盘的材料特性和存在于光盘生产技术中的固有约束,很难制造具有均匀表面的光盘。同样,由于光学拾取设备的机械缺点,不能保持光束投射于其上的光盘表面区域的恒定形状和大小。从而,从光盘中用光学方法拾取的RF信号的波长可能超出特定的范围,结果导致EFM信号中的误差。
[0007] 为了在光盘上记录更多的信息,光盘上的凹坑应该具有高密度。因此,结果在相邻凹坑之间的干扰增加了RF信号中的噪声,使得EFM数据的差错率增加。特别的是,最经常出现的3T最易受到由于来自干扰而产生的噪声带来误差的影响。结果,由于相邻凹坑间的干扰使3T的凹坑长度看来似乎减少,从而3T可能被错误地认为是1T或2T。在这种情况下,所述EFM解调不能正确地执行,结果导致由EFM解调的数据中的误差。
[0008] 在试图解决这个问题的常规设备里,在具有小于3T的长度的EFM信号的脉冲正沿处测量相位误差。在所述正沿比较信号相位。如果确定在所述正沿处出现了1T的损失,该正沿示出了更大的相位,那么校正所测量的相位误差。在这种情况下,为了测量所述相位误差,使用模拟数字转换器(ADC)将光学拾取的RF信号的电平转换为所述相位误差。作为选择,使用具有比正常时钟信号高得多的频率的信号,来测量在所述正常时钟信号和由所述RF信号调制产生的EFM信号之间的相位误差。
[0009] 图1是光盘的常规恢复系统的框图
[0010] 参照图1,所述常规恢复系统包括限幅器110、时钟恢复相环(时钟恢复PLL)120、锁存电路130和解调器140。所述限幅器110采样用光学方法拾取的RF信号。所述时钟恢复PLL120接收来自于所述限幅器110的信号EFMI并且产生通道时钟信号PCLK。所述锁存电路130接收来自于所述限幅器110的信号EFMI和来自于所述时钟恢复PLL120的通道时钟信号PCLK,以输出与所述通道时钟信号PCLK同步的信号EFMNRZI。所述解调器
140解调从所述锁存电路130接收的信号EFMNRZI。
[0011] 为了进行误差校正,所述常规恢复系统必须包括ADC,否则要求具有比正常时钟信号更高频率的信号。然而,并不希望所述恢复系统包括ADC,这是因为需要大尺寸板来容纳所述ADC。同样,从集成电路(IC)芯片外面提供具有比正常时钟信号更高频率的信号,或在板上为这样的信号安装信号发生器是不经济的。还有,这样的处理使所述光盘系统复杂,并且,特别不适合于高速操作。因此,需要用于恢复光盘信号的恢复系统和方法。

发明内容

[0012] 本发明的至少一个实施例提供了一种恢复系统,所述恢复系统在不使用ADC或具有比所述通道时钟信号更高频率的时钟信号的情况下,使用限幅信号和通道时钟信号来执行误差校正。
[0013] 本发明的一方面还提供了一种恢复方法,通过该方法使用限幅信号和通道时钟信号来执行误差校正。
[0014] 依照本发明的一个方面,提供了一种恢复系统,所述恢复系统从光盘中用光学方法拾取信息并且恢复所述信息。所述恢复系统包括限幅器电路、锁相环、锁存电路、3T校正电路和解调器。所述限幅器采样从光盘中用光学方法拾取的信号。所述锁相环接收从所述限幅器输出的信号并且产生通道时钟信号。所述锁存电路接收从所述限幅器输出的信号和所述通道时钟信号;并且所述锁存电路响应所述通道时钟信号来输出从所述限幅器输出的信号。所述3T校正电路接收所述通道时钟信号、从所述限幅器输出的信号和从所述锁存电路输出的信号,并且输出其中校正3T的信号。所述解调器解调从所述3T校正电路输出的信号。
[0015] 所述3T校正电路包括扩展存储装置、长度测量装置、相位检测器和扩展确定器。所述扩展存储装置响应所述锁相环的通道时钟信号、在预定存储装置中存储从所述锁存电路输出的信号,输出存储状态,并且响应从扩展确定器输出的信号输出所存储的数据。所述长度测量装置接收来自于所述扩展存储装置的存储状态,检测所述存储状态的预定脉冲周期(2T/1T),分别测量在预定脉冲信号前后的先前和下一脉冲,并且依照所述周期的测量结果输出所述预定脉冲的当前长度、先前脉冲的先前长度和下一脉冲的下一长度。所述相位检测器测量所述通道时钟信号和从所述限幅器输出的信号之间的相位差
[0016] 此后所述相位检测器依照测量结果输出:前部(leading)相位,其表明当启动预定脉冲时、在从所述限幅器输出的信号和所述通道时钟信号之间的差;后部(trail)相位,其表明当启动下一脉冲时、从所述限幅器输出的信号和所述通道时钟信号之间的差;以及先前相位,其表明当启动先前脉冲时、从所述限幅器输出的信号和所述通道时钟信号之间的差。所述扩展确定器接收当前长度、先前长度、下一长度、前部相位、后部相位和先前相位,并且确定校正的需要和所述校正的方向。
[0017] 所述扩展存储装置包括多个移位寄存器。
[0018] 依照本发明的另一个方面,提供了一种恢复方法。所述方法恢复信号,在所述方法中通过使用以下信号来校正3T,所述信号为:从限幅器输出的信号,所述限幅器用于采样从光盘中用光学方法拾取的信号;从锁相环中输出的通道时钟信号,所述锁相环用于接收从所述限幅器输出的信号;以及从锁存电路输出的信号,所述锁存电路用于接收从所述限幅器输出的信号和所述通道时钟信号,并且将从所述限幅器输出的信号与所述通道时钟信号同步地输出。
[0019] 所述方法包括检测从所述锁存电路输出的信号的当前脉冲的当前长度;在所述当前脉冲之前紧接着的先前脉冲的先前长度;和在所述当前脉冲之后紧接着的下一脉冲的下一长度。此外,所述方法当启动从所述限幅器输出的信号时,检测表明所述通道时钟信号和从所述限幅器输出的信号之间的差的前部相位;当启动下一脉冲时,输出表明从所述限幅器输出的信号和所述通道时钟信号之间的差的后部相位;以及当启动所述先前相位时,输出表明从所述限幅器输出的信号和所述通道时钟信号之间的差的先前相位。此外,所述方法包括确定当前长度是否小于2T;如果所述当前长度小于2T则选择双向校正或无校正;并且如果所述当前长度等于2T则选择正向校正或反向校正。
[0020] 所述双向校正和无校正中的一个的选择包括确定当前长度是否等于1T;如果所述当前长度不等于1T则选择无校正;并且如果所述当前长度等于1T,当所述先前长度和所述下一长度都小于或等于3T时则选择无校正,当先前长度和下一长度都大于3T时,则选择所述双向校正。
[0021] 如果所述下一长度和先前长度都小于或等于3T,那么无校正、正向校正和反向校正中的一个的选择将是选择无校正。如果所述先前长度大于3T而所述下一长度小于或等于3T,那么选择技术将选择正向校正。此外,如果所述先前长度小于或等于3T而所述下一长度大于3T,那么选择技术将选择反向校正。此外,如果下一相位和后部相位均有第一相位误差或所述先前相位有第二相位误差,那么当先前长度和下一长度都大于3T时,所述技术可以选择正向校正。然而,如果所述下一相位和所述后部相位均有第二相位误差或所述先前相位有第一相位误差,那么当所述先前长度和所述下一长度都大于3T时,选择反向校正。
[0022] 第一相位误差表明从所述限幅器输出的信号是快的,并且第二相位误差表明从所述限幅器输出的信号是慢的。附图说明
[0023] 参考附图描述本发明的优选实施例,其中:
[0024] 图1是光盘的常规恢复系统的框图。
[0025] 图2是依照本发明的示例性实施例的光盘恢复系统的框图。
[0026] 图3是图2的3T校正电路的框图;
[0027] 图4是图3的3T校正电路的内部信号的时序图;
[0028] 图5是当前部相位LP是快的并且后部相位TP是快的时,图3的3T校正电路的内部信号的时序图;
[0029] 图6是当前部相位LP是慢的并且后部相位TP是慢的,图3的3T校正电路的内部信号的时序图;和
[0030] 图7是举例说明图3的扩展确定器257的确定过程的信号流程图

具体实施方式

[0031] 参考附图将描述本发明的优选实施例。
[0032] 图2是依照本发明的示例性实施例的光盘恢复系统的框图。
[0033] 参照图2,所述光盘恢复系统包括限幅器210,锁相环220,锁存电路230,3T校正电路250和解调器240。
[0034] 所述限幅器210采样从光盘上光学拾取的模拟信号RF。所述锁相环220接收来自于所述限幅器210的信号EFMI并且产生通道时钟信号PCLK。所述锁存电路230接收来自于所述限幅器210的信号EFMI和所述通道时钟信号PCLK,并且与所述通道时钟信号PCLK同步地输出信号EFMNRZI。所述3T校正电路250接收来自于所述锁存电路230的信号EFMNRZI、来自于所述限幅器210的信号EFMI和来自于所述锁相环220的通道时钟信号PCLK,并且输出其中校正了3T凹坑长度的信号EFMNRZI’。所述解调器240解调从所述3T校正电路250输出的信号EFMNRZI’。
[0035] 图3是图2的3T校正电路250的框图。
[0036] 参照图3,所述3T校正电路250包括扩展存储装置251,长度测量装置253,相位检测器255和扩展确定器257。
[0037] 所述扩展存储装置251响应所述通道时钟信号PLCK在预定的存储装置(未示出)中存储信号EFMNRZI,向长度测量装置253输出所述预定存储装置的存储状态S,并且响应从所述扩展确定器257接收的信号D而输出所存储的数据信号EFMNRZI。优选的是,所述预定存储装置使用移位寄存器实现。
[0038] 所述长度测量装置253接收来自于所述扩展存储装置251的存储状态S,如果其检测到2T/1T凹坑长度,那么在测量于2T/1T凹坑长度的脉冲的前后、测量所述脉冲的长度,并且根据所述测量结果输出当前长度CL、先前长度PL和下一长度NL。
[0039] 所述相位检测器255测量所述通道时钟信号PLCK和所述信号EFMI之间的相位差,并且根据所述测量结果输出前部相位LP、后部相位TP和先前相位PP。所述扩展确定器257接收当前长度CL、先前长度PL、下一长度NL、前部相位LP、后部相位TP和先前相位PP,确定校正的必要性和校正的方向,并且向所述扩展存储装置251输出用于执行校正的信号D。
[0040] 现在参考图4描述所述当前长度CL、先前长度PL、下一长度NL、前部(leading)相位LP、后部(trailing)相位TP和先前相位PP。
[0041] 图4是图3的3T校正电路250的内部信号时序图。
[0042] 参照图4,所述相位检测器255将限幅器210的输出信号EFMI和通道时钟信号PLCK之间的相位误差分类为前部相位误差(LPE)和后部相位误差(TPE),并且按快的或慢的来分类所述LPE和TPE。
[0043] 换句话说,当锁相环220锁定在信号EFMI边沿的通道时钟信号PLCK的低状态时,如果所述通道时钟信号PLCK在所述信号EFMI的边沿是逻辑高(‘1’),那么信号EFMI早于通道时钟信号PCLK并且可以表示为快的。另一方面,当信号EFMI在通道时钟信号PCLK之后时,所述信号EFMI可以表示为慢的。因此,如图4中举例说明的那样,先前相位PP是慢的,前部相位LP是快的,并且后部相位TP是慢的。
[0044] 参照图4,先前长度PL是4T,当前长度CL是2T,并且下一长度NL大于或等于3T。因为CL等于2T,所以响应信号EFMI和通道时钟信号PLCK而从锁存电路230输出的信号EFMNRZI具有误差。当信号EFMI的长度小于3T,并且对应于通道时钟信号PLCK(即对应于P4到P6)的信号EFMI长度大于2T但小于3T时,所述误差就出现了。这里,T表示通道时钟信号PLCK的脉冲周期。如果扩展确定器257确定需要考虑预定条件(如下所述)来校正误差,那么通过正向扩展、反向扩展或双向扩展来校正所述误差。
[0045] 图5是当所述前部相位LP是快的并且所述后部相位TP是快的时,所述3T校正电路250(图3中所示)的内部信号时序图。图6是当所述前部相位LP是慢的并且所述后部相位TP是慢的时,图3的所述3T校正电路250的内部信号时序图。
[0046] 参照附图5和6,可以按照在信号EFMI的两个边沿上的通道时钟信号PLCK的逻辑状态来比较差错率。为了说明,假定当3T降低到2T时,降低两个边沿,应该考虑两种情况。第一种情况为F1,其中在通道时钟信号PCLK的上升沿之前,信号EFMI的前沿出现;并且第二种情况为B1,其中在通道时钟信号PLCK的上升沿之前,信号EFMI的后沿出现。
[0047] 参照图5,当前部相位LP和后部相位TP是快的时,如果在正向上降低1T,那么从0.5T到1T范围内的相位误差出现在所述情况F1中。如果在反向上降低1T,那么从1T到
1.5T范围内的相位误差出现在所述情况B1中。因此,在情况F1中误差出现的概率大于在情况B1中的。从而,将正向扩展用于错误校正。
[0048] 参照图6,当LP和TP都是慢的时,如果在反向上降低1T,从0.5T到1T的相位误差出现在情况B2中。如果在正向上降低1T,从1T到1.5T的相位误差出现在情况F2中。因此,确定在情况B2中的误差出现的概率比情况F2中的误差要高。从而,将反向扩展用于误差校正。
[0049] 在附图5和6中,LP和TP都是快的或慢的。然而,当LP和TP具有不同的值时,如果PP是慢的,那么在通道时钟信号PLCK的上升沿之前,存在出现信号EFMI的前沿的概率高。另一方面,如果PP是快的,那么在通道时钟信号PLCK上升沿之前,出现信号EMI后沿的概率高。从而,将正向扩展和反向扩展分别地用于所述两种情况。
[0050] 图7是举例说明图3的扩展确定器257的确定过程的信号流程图。
[0051] 参照图7,所述扩展确定器257的确定过程可以被分为检测步骤(未示出)、第一确定步骤710、第二确定步骤720、第三确定步骤730、无校正740、双向扩展校正750、正向扩展校正760和反向扩展校正770。
[0052] 所述检测步骤包括检测在信号EFMNRZI的预定周期期间的当前长度CL,在具有当前长度CL的脉冲之前紧接着的脉冲的先前长度PL;检测在具有当前长度CL的脉冲之后紧接着的脉冲的下一长度NL;当启动所述信号EFMNRZI时,检测表明信号EFMI和当前时钟信号PLCK之间误差的前部相位LP;当启动在具有当前长度CL的脉冲之后紧接着的脉冲时,检测表明信号EFMI和通道时钟信号PLCK之间误差的后部相位TP;检测表明信号EFMI之间误差的先前相位PP;和当启动在具有当前长度CL的脉冲之后紧接着的脉冲时检测通道时钟信号PLCK。
[0053] 在第一确定步骤710里,确定当前长度CL是否小于2T。如果当前长度CL是3T,那么执行正常操作并且不要求错误校正。只有当当前长度CL小于3T时才考虑误差校正。
[0054] 在第二确定步骤720,如果当前长度CL不等于1T,那么选择无校正(子确定步骤721)。如果当前长度CL等于1T,并且此外如果下一长度NL和先前长度PL都大于3T,那么选择双向校正。但是如果下一长度NL和先前长度PL中的其中一个小于或等于3T,那么选择无校正(子确定步骤723)。
[0055] 在第三确定步骤730,当前长度CL等于2T。如果下一长度NL和先前长度PL都小于或等于3T(731),那么选择无校正(740)。如果先前长度PL大于3T并且下一长度NL小于或等于3T(732),那么选择正向扩展(760)。如果先前长度PL小于或等于3T并且下一长度NL大于3T(733),那么选择反向扩展(770)。
[0056] 当先前长度PL和下一长度NL都大于3T时,如果前部相位LP和后部相位TP都有第一相位误差(734)或锁相环有第二相位误差(736),那么选择正向扩展(760)。然而,如果前部相位LP和后部相位TP都有第二相位误差(735)或先前相位PP有第一相位误差(736),那么选择反向扩展(770)。
[0057] 优选的是,第一相位误差表明信号EFMI是快的,并且第二相位误差表明通道时钟信号PCLK是慢的。
[0058] 本领域技术人员将理解的是,图3的框图和图7的信号流程图是为了说明和理解目的而仅作为例子示出的,并且可以在不同的条件下变化。
[0059] 如上所述,依照本发明至少一个实施例的用于光盘的所述恢复系统和方法在没有使用模数转换器或具有比通道时钟信号更高频率的时钟信号的情况下,使用通常被用于系统的限幅信号(EFMI)和通道时钟信号(PLCK)来执行误差校正。结果达到改善在光盘系统中的恢复可靠性的目的。
[0060] 虽然已经参考其示例性实施例详细地示出并描述了本发明,但本领域普通技术人员可以理解的是,在不脱离由所附权利要求及其等效形式所定义的本发明的精神和范围的情况下,可以在形式和细节上进行各种变化。
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