【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は放射線画像情報が蓄積記録されている蓄積性蛍光体シートに励起光を照射し、この蓄積性蛍光体シートから発せられた輝尽発光光を光電的に検出して放射線画像情報を示す画像信号を得る放射線画像情報読取方法および装置に関し、詳細には輝尽発光（ＰＳＬ）残光の影響を補正して、走査点の画像データを正確に得るようにした放射線画像情報読取方法および装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】放射線（Ｘ線、α線、β線、γ線、電子線、紫外線等）を照射すると、この放射線エネルギーの一部が蓄積され、その後可視光等の励起光を照射すると蓄積されたエネルギーに応じて輝尽発光を示す蓄積性蛍光体（輝尽性蛍光体）を利用して、人体等の被写体の放射線画像情報を一旦シート状の蓄積性蛍光体（蓄積性蛍光体シート）に記録し、この蓄積性蛍光体シートにレーザー光を走査して輝尽発光光を生じせしめ、得られた輝尽発光光を光電的に読み取って画像信号を得、この画像信号に基づき写真感光材料等の記録媒体、ＣＲＴ等の表示装置に被写体の放射線画像を可視像として出力させる放射線画像情報記録再生システムがすでに知られている（特開昭55-12429号、同56-11395号、同56-11397号など）。

【０００３】このシステムは、従来の銀塩写真を用いる放射線写真システムと比較して極めて広い放射線露出域にわたって画像を記録しうるという実用的な利点を有している。

【０００４】上記放射線画像情報記録再生システムにおいて、蓄積性蛍光体シートから放射線画像情報を読み取る具体的な方法としては、画像情報が記録された蓄積性蛍光体シートをレーザビーム等の光ビームで２次元的に走査し、そのときシートから発せられた輝尽発光光を、
主走査線に沿って延びる光入射端面を有する集光体を介してフォトマルチプライヤー等の光検出器に伝え、この光検出器によって輝尽発光光を時系列的に検出して画素単位の画像信号を得るようにしている。

【０００５】ところで、蓄積性蛍光体は前述したように励起光を照射すると蛍光体中に蓄積されている放射線エネルギーを輝尽発光光として放出する性質を有するが、
この輝尽発光光は図２に示すように、励起光照射開始時点ｔ０から急速に（例えば数ナノ秒で）ほぼ最高の発光強度ｐ０に達し、その後、発光強度はゆっくりと低下し、励起光照射が終ってもいわゆる残光（輝尽発光残光；単にＰＳＬ残光ということもある）としてその蛍光体特有の応答時間だけ発光が続く。

【０００６】したがって蓄積性蛍光体シートを励起光で走査し、輝尽発光光を前述のような集光体を介して光検出器に送ると、光検出器は励起光照射中の走査点（画素）からの発光成分だけでなく、既に励起光照射が終った画素からの残光成分も励起光照射中の画素の放射線画像情報成分として検出するため、画素間の信号の分離が完全になされず、再生される画像の鮮鋭度が低下するという問題がある。

【０００７】このような、複数の画素間の輝尽発光強度の検出の分解能は、励起光の走査速度と蛍光体の応答時間が大きくなるほど低下する。 したがって、励起に対して応答の遅い（輝尽発光残光の長い）蛍光体を使用した場合、あるいは走査速度を高めた場合は、再生画像の鮮鋭度が低下し、実用上十分に高画質の放射線画像を得ることができないという問題が生じることになる。

【０００８】一方、医療分野等においては短時間に多量の蓄積性蛍光体シートを処理しうる読取装置の出現が望まれている。 このためには励起光走査速度を高めて高速読取りを実現するか、あるいは蛍光体自体を改良してその輝尽発光残光特性を改善することが必要であるが、この残光特性の改善については実在する蛍光体に限りがあるため実質的に限界が存在する。 したがって、上記放射線画像の鮮鋭度低下を防止しつつ励起光の走査速度を高めた読取方法を実現する必要がある。

【０００９】そこで特開昭59-105759 号、同59-232337
号、同62-18536号、特開平3-219229号、同3-245137号、
同7-129764号、同7-225437号等において、得られた画像データからＰＳＬ残光成分を除去する補正を行なうことが提案されている。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】しかしＰＳＬ残光成分を除去する補正処理（以下、単に残光補正処理という）
は一般に、計算処理の負荷が大きいという問題がある。
すなわち、上記放射線画像情報記録再生システムにおいては検出された輝尽発光の光量に対応する画像信号をデジタル画像データ化する場合、まず画像信号をログ変換（対数変換）し、その後にＡ／Ｄ変換を行なうことによって、画像信号の広いダイナミックレンジをデジタル画像データにおいても確保している。 しかし上記残光補正処理は、デジタル画像データをアンチログ変換した領域で行なう必要があるため、デジタル画像データの全体を一旦アンチログ変換し、この変換した領域で補正処理を行ない、再度ログ変換するという計算処理を行なわなければならない。

【００１１】つまり補正画像データＱ（ｘ）'を求めるに際して、得られた画像データＱ（ｘ）は対数変換された画像データであるため、まずこれを例えば式（１）にしたがってアンチログ変換し、アンチログ変換された領域のデータｙ（ｘ）、すなわち輝尽発光の光量を表すデータを得る。

【００１２】

【数１】

【００１３】次いで、走査点ｘにおける、輝尽発光残光の影響を補正した補正後光量ｙ（ｘ）'を、輝尽発光残光の光量ｆ（ｎ）と励起光を走査している走査点までの画素数ｎとが予め対応付けられたテーブルを参照しつつ、下記式（２）にしたがって求める。

【００１４】

【数２】

【００１５】この得られた補正後光量ｙ（ｘ）'を式（１）の逆変換、すなわち式（４）に示すログ変換することにより補正画像データＱ（ｘ）'を得る。

【００１６】

【数４】

【００１７】このためアンチログ変換、ログ変換の演算処理の負荷が非常に大きく、処理に時間が掛かるという問題がある。

【００１８】本発明は上記事情に鑑みなされたものであって、従来よりも演算処理時間が短い残光補正処理を可能にした放射線画像情報読取方法および読取装置を提供することを目的とするものである。

【００１９】

【課題を解決するための手段】本発明の第１の放射線画像情報読取方法および読取装置は、残光補正処理の対象となる画像データを間引く等の処理によりまず減少させ、その減少して残った画像データに対して残光補正処理を施すことにより、残光補正処理に係る処理時間の短縮を図ったものである。

【００２０】すなわち本発明の第１の放射線画像情報読取方法は、被写体の放射線画像情報が蓄積記録されている蓄積性蛍光体シートに励起光を走査して前記シートから発光された輝尽発光光を時系列的にかつ光電的に読み取って画像信号を得、該画像信号を、所望とする画素密度よりも高密度となるようにサンプリングして高密度の画像データを得、該高密度の画像データに対して、その画素密度が前記所望とする画素密度となるように画素密度変換処理を施すことにより、所望とする画素密度の画像データを得る放射線画像情報読取方法において、前記画素密度変換処理後の画像データから、前記輝尽発光光の残光に基づく影響を除去するように、該画素密度変換処理後の画像データに対して残光補正処理を施すことを特徴とするものである。

【００２１】ここで所望とする画素密度よりも高密度となるようなサンプリングとしては、サンプリング周期を短縮し、もしくは励起光の走査速度を遅くし、またはこれらを組み合わせるなどの方法を採ることができる。

【００２２】また上記画素密度変換処理が、少なくとも前記励起光の主走査方向についての画素密度を変換する処理である場合において、前記サンプリングの周期および前記励起光の主走査速度とにより定められる画素密度と前記輝尽発光光の残光特性とを対応付けて予めテーブルを作成し、前記画素密度変換処理後の画像データに対する前記残光補正処理を施すに際しては、前記テーブルを参照して、該画素密度変換処理後の画素密度に応じた残光特性に基づいた残光補正処理を施すようにしてもよい。

【００２３】本発明の第１の放射線画像情報読取装置は、被写体の放射線画像情報が蓄積記録されている蓄積性蛍光体シートに励起光を走査して前記シートから発光された輝尽発光光を時系列的にかつ光電的に読み取って画像信号を得、該画像信号を、所望とする画素密度よりも高密度となるようにサンプリングして高密度の画像データを得る画像データ読取手段と、得られた高密度の画像データに対して、その画素密度が前記所望とする画素密度となるように画素密度変換処理を施す画素密度変換処理手段とを備えた放射線画像情報読取装置において、
前記画素密度変換処理手段により画素密度変換処理された後の画像データから前記輝尽発光光の残光に基づく影響を除去するように、該画素密度変換処理後の画像データに対して残光補正処理を施す残光補正処理手段をさらに備えたことを特徴とするものである。

【００２４】ここで上記画素密度変換処理手段が、少なくとも励起光の主走査方向についての画素密度を変換処理する手段であり、上記残光補正処理手段は、サンプリングの周期および励起光の主走査速度とにより定められる画素密度と輝尽発光光の残光特性とが対応付けられて予め作成されたテーブルをさらに備え、このテーブルを参照して、画素密度変換処理後の画素密度に応じた残光特性に基づいた残光補正処理を施すものであってもよい。

【００２５】本発明の第２の放射線画像情報読取方法および読取装置は、残光補正処理の対象となる画像データから代表となる１または２以上の主走査線を選択し、それらの代表の走査線上の画素についての残光補正処理のための補正係数を求め、その代表の主走査線の近傍の主走査線については、各線上の画素についての補正係数を求めず、対応する代表の主走査線上の画素についての補正係数をそのまま適用することにより、補正係数算出に係る処理時間の短縮を図ったものである。

【００２６】すなわち本発明第２の放射線画像情報読取方法は、被写体の放射線画像情報が蓄積記録されている蓄積性蛍光体シートに励起光を走査して前記シートから発光された輝尽発光光を時系列的にかつ光電的に読み取って画像信号を得、該画像信号を所望とする画素密度となるようにサンプリングして画像データを得る放射線画像情報読取方法において、前記励起光の主走査方向と略直交する副走査方向の所定間隔ごとに、該各所定間隔の範囲内に含まれる複数の主走査線を代表する１つの主走査線をそれぞれ選択し、該選択された各主走査線上の各画素ごとに、前記輝尽発光光の残光特性に基づいた残光補正処理のための補正係数を求め、該選択された各主走査線がそれぞれ属する前記各範囲内にそれぞれ含まれるすべての主走査線上の画素についての補正係数を、それぞれ対応する前記選択された主走査線上の画素についての前記補正係数として、前記残光補正処理を施すことを特徴とするものである。

【００２７】すなわち、例えば画像を主走査線１０本ごとの間隔（領域）に分け、これらの各領域のうち１つの主走査線上の各画素に対応する画像データについての残光補正用係数を求め、この係数を他の９本の主走査線能の各画素にも適用することにより、係数の算出負荷を１
／10に低減するものである。

【００２８】また本発明の第２の放射線画像情報読取装置は、被写体の放射線画像情報が蓄積記録されている蓄積性蛍光体シートに励起光を走査して前記シートから発光された輝尽発光光を時系列的にかつ光電的に読み取って画像信号を得、該画像信号を所望とする画素密度となるようにサンプリングして画像データを得る放射線画像情報読取装置において、前記励起光の主走査方向と略直交する副走査方向の所定間隔ごとに、該各所定間隔の範囲内に含まれる複数の主走査線を代表する１つの主走査線をそれぞれ選択する代表主走査線選択手段と、該選択された各主走査線上の各画素ごとに、前記輝尽発光光の残光特性に基づいた残光補正処理のための補正係数を求める補正係数算出手段とをさらに備え、前記代表主走査線選択手段により選択された各主走査線がそれぞれ属する前記各範囲内にそれぞれ含まれるすべての主走査線上の画素についての補正係数を、それぞれ対応する前記選択された主走査線上の画素についての前記補正係数算出手段により算出された前記補正係数として、前記残光補正処理を施すことを特徴とするものである。

【００２９】

【発明の効果】本発明の第１の放射線画像情報読取方法または読取装置によれば、画質向上のために予め、所望の画素密度よりも高密度となるようにサンプリングして得られた画像データに対して残光補正処理を施すのではなく、この高画素密度の画像データを各種信号処理（画像処理）した後に所望の画素密度とされた画像データに対して残光補正処理を施すことにより、係る補正処理の対象となる画像データ数を少なくすることができ、これによって残光補正処理に要する全体の処理時間を短縮させることができる。

【００３０】本発明の第２の放射線画像情報読取方法または読取装置によれば、画像データから選択された代表の主走査線上の画素についてのみ残光補正処理用の補正係数を求め、その代表の主走査線の近傍の主走査線については、各線上の画素についての補正係数を個別に求める必要がないため、補正係数算出に係る処理時間を短縮させることができる。

【００３１】

【発明の実施の形態】以下、本発明の放射線画像情報読取装置の具体的な実施の形態について、図面を用いて説明する。

【００３２】図１は本発明の第１の放射線画像情報読取装置の一実施形態の構成を示すブロック図、図２は図１
に示す放射線画像情報読取装置に用いられる蓄積性蛍光体シートの輝尽発光光の残光特性を示す特性図、図３は図２に示す残光特性を有する蓄積性蛍光体シートを、画素密度を変えてサンプリングしたときの、残光特性を示すグラフと、励起光を走査している走査点ｘよりも以前に走査した走査点による輝尽発光残光の光量ｆi(n)と励起光を走査している走査点までの画素数ｎとを対応付けて予め設定されたテーブルとの一例を示す図である。

【００３３】図示の放射線画像情報読取装置は、図示しないモータにより回転せしめられるエンドレスベルト19
上に蓄積性蛍光体シート（以下、シートという）50が配置され、シート50の上方には、シート50を励起するレーザ光Ｌを発するレーザ光源11と、そのレーザ光Ｌを反射偏向する回転多面鏡13と、この回転多面鏡13を回転させるモータ12と、回転多面鏡13で反射偏向されたレーザ光Ｌをシート50上に収束し、かつ等速度で走査させる走査レンズ14が配されている。

【００３４】さらに、前記レーザ光Ｌが走査されるシート50の直上には、そのレーザ光Ｌによる励起でシート50
の上面から発せられる輝尽発光光Ｍを上方より集光する光ガイド15が近接して配置されている。 光ガイド15にはそれぞれ、集光した輝尽発光光Ｍを光電的に検出してアナログ画像信号ｙに変換するフォトマルチプライヤ（光電子増倍管）16が接続されている。

【００３５】また、フォトマルチプライヤ16には対数増幅器21が接続され、対数増幅器21はアナログ画像信号ｙ
をログ変換して対数化画像信号ｑを出力する。 対数増幅器21にはさらにアナログ／デジタル変換回路（以下、Ａ
／Ｄ変換回路という）22が接続され、このＡ／Ｄ変換回路22により対数化画像信号ｑは所定のサンプリング周期Ｔでサンプリングされ、デジタル画像データＱ１に変換される。

【００３６】さらにＡ／Ｄ変換回路22には画像処理手段
23が接続され、デジタル画像データＱに対して階調処理、周波数処理等の画像処理を施す。

【００３７】この画像処理手段23には画素密度変換手段
24が接続されている。 この画素密度変換手段24はＡ／Ｄ
変換回路22によるサンプリングの周期Ｔで決定された、
レーザー光Ｌの主走査方向（矢印Ｘ方向）についての画素密度Ｒ１（例えば4000画素／20cm）を、この画素密度Ｒ１以下の所望の画素密度Ｒ２（画素／mm；例えば2000
画素／20cm）まで減少させるように変換処理する。

【００３８】このように主走査方向の画素密度がＲ２まで減少されたデジタル画像データＱ２は残光補正手段25
に入力され、残光補正手段25はデジタル画像データＱ２
から輝尽発光光の残光成分を除去して補正後画像データ（デジタル）Ｑ２′を外部に出力する処理をなす。

【００３９】この残光補正手段25について以下に詳しく説明する。

【００４０】シート50から発せられる輝尽発光光Ｍは図２に示すごとく、レーザー光Ｌの照射開始時点ｔ０から急速に（例えば数ナノ秒で）ほぼ最高の発光強度ｐ０に達し、その後、発光強度は時間の経過とともにゆっくりと低下し、レーザー光Ｌの照射が終っても残光としてその蛍光体特有の応答時間だけ発光が続く。 したがってレーザー光の照射後の時刻ｔ１においては発光強度ｐ１の残光成分、時刻ｔ２においては発光強度ｐ２の残光成分、時刻ｔ３においては発光強度ｐ３の残光成分、…、
というようにレーザー光照射後の経過時間に依存した発光強度の残光が検出される。

【００４１】ここで上述したように、残光の発光強度は励起光照射後の経過時間に依存するため、回転多面鏡13
の回転速度が一定であるとき、すなわち主走査速度が一定であるときは、その主走査方向の画素密度に応じて、
互いに隣接する画素間の走査時間差が変化する。 したがってレーザー光Ｌが現在走査している走査点（画素）よりもｎ画素だけ過去に走査してからの経過時間も画素密度に応じて相違し、当該ｎ画素手前の画素による輝尽発光残光の強度ｆi(n)も変化する。

【００４２】本実施形態の放射線画像情報読取装置は、
Ａ／Ｄ回路22によるサンプリング周期により画素密度が一義的に定められるが、その後の画素密度変換手段24による画素密度の変換処理により、入力された画像データの画素密度を任意に変動させることができる。 これは画像処理の段階では、高画素密度で取得した画像データに処理を行なうのが高画質となるからである。 一方、ＣＲ
Ｔ等の画像再生手段、画像再生媒体側の制約から、際限なく高画素密度であればよいというものではなく、所定の画素密度を超えればこれらに再生される画像の画質に変化は認められない。 このためＡ／Ｄ回路22では、最終的に画像再生手段等を考慮した所望の画素密度を超える高密度で画像データを取得して画像処理に供し、最終的に所望とする画素密度の画像データに変換した後に外部に出力する構成を採用している。

【００４３】そして本実施形態の残光補正手段25は、画素密度が互いに異なる例えば２つの、画素密度と残光特性との対応関係をそれぞれ予めテーブル化してメモリ25
a に記憶せしめて備えるとともに、入力された画像データＱ（ｘ）に対応する輝尽発光の光量ｙ（ｘ）（デジタル値）を、その画像データＱ（ｘ）に基づいて下記式（１）にしたがって求める光量算出手段25b と、その画像データＱ（ｘ）に対応する走査点ｘにおける輝尽発光残光の影響を補正した補正後光量ｙ（ｘ）'を、メモリ
25a に記憶せしめられた、画素密度変換処理後の画素密度に対応する一つのテーブルを参照しつつ、下記式（２）にしたがって求める補正後光量算出手段25c と、
走査点ｘにおける、輝尽発光残光の影響を補正した補正後画像データＱ（ｘ）'を下記式（３）にしたがって求める補正後画像データ算出手段25d とを備えている。

【００４４】

【数１】

【００４５】

【数２】

【００４６】

【数３】

【００４７】なお、上記メモリ25に記憶された各テーブルの画素密度はそれぞれ、画素密度変換手段24が変換し得る画素密度に対応したものとなっている。 すなわち図３（１）に示すように画素密度4000画素／20cmの高密度用テーブル、同図（２）に示すように画素密度2000画素／20cmの標準密度用テーブルの２つである。

【００４８】次に本実施形態の放射線画像情報読取装置の作用について説明する。

【００４９】放射線画像情報の蓄積記録された蓄積性蛍光体シート50は、エンドレスベルト19上の所定の位置にセットされる。 この所定位置にセットされたシート50
は、エンドレスベルト19により、矢印Ｙ方向に搬送（副走査）される。

【００５０】一方、レーザ光源11から発せられたレーザー光Ｌは、モータ12により駆動され矢印方向に高速回転する回転多面鏡13によって反射偏向され、この偏向されたレーザー光Ｌは走査レンズ14によりシート50の表面上で収束され、かつ等速度で走査されて、このシート50の表面を矢印Ｘ方向に主走査する。 レーザー光Ｌの主走査とシート50の副走査とにより、シート50は全面に亘ってレーザー光Ｌが照射されることになる。

【００５１】シート50を照射したレーザー光Ｌはシート
50の蓄積性蛍光体を励起し、シート50に蓄積記録されている放射線画像情報に応じた輝尽発光光Ｍを発光せしめる。

【００５２】シート50から発光した輝尽発光光Ｍはシート50の上面に近接して配された光ガイド15によってフォトマルチプライヤ16に導かれ、フォトマルチプライヤ16
によって光電的に検出される。 光ガイド15はアクリル板等の導光性材料を成形して作られたものであり、直線状をなす入射端面が蓄積性蛍光体シート50上の主走査線に沿って延びるように配され、円環状に形成された出射端面に上記フォトマルチプライヤ16の受光面が結合されている。 上記入射端面から光ガイド15内に入射した輝尽発光光Ｍは、該光ガイド15の内部を全反射を繰り返して進み、出射端面から出射してフォトマルチプライヤ16に受光され、放射線画像情報を表わす輝尽発光光Ｍの光量ｐ
がフォトマルチプライヤ16によってアナログ画像信号ｙ
に変換される。

【００５３】フォトマルチプライヤ16から出力されたアナログ信号ｙは対数増幅器21で対数的に増幅されて、対数化画像信号ｑに変換される。

【００５４】このように対数増幅された対数化画像信号ｑはＡ／Ｄ変換回路22に入力され、Ａ／Ｄ変換回路22はレーザ光Ｌの走査に同期してこの対数化画像信号ｑを、
所望の画素密度よりも高密度に対応したサンプリング間隔でサンプリングし量子化により画素ごとのデジタル画像データＱ１に変換する。

【００５５】ここでシート50の蓄積性蛍光体は、レーザー光Ｌの照射開始時点から急速にほぼ最高の発光強度ｐ
０に達し、その後、ＰＳＬ残光としてその蛍光体特有の応答時間だけ発光が続く残光特性を有するため、得られたデジタル画像データＱには、すでにレーザー光Ｌの走査が終了した画素からの残光に起因する画像データΔＱ
１をも包含したものとなっている。

【００５６】しかし本実施形態の放射線画像情報読取装置は、この段階では残光の補正を行なわない。

【００５７】デジタル画像データＱ１は画像処理手段23
に入力され、画像処理手段23はデジタル画像データＱ１
に対して階調処理、周波数処理等の画像処理を施す。

【００５８】画像処理の施された処理後画像データＱ１
は画素密度変換手段24に入力され、画素密度変換手段24
は入力された処理後画像データＱ１（画素密度は例えば図３（３）に示すもの）に対して、画素密度を標準密度（例えば図３（１）参照）まで減少させる処理を施す。
この処理は単純にデータの間引きであってもよいし、他の平滑化処理を伴っての間引きであってもよい。

【００５９】データが間引かれて主走査方向の画素密度が減少されたデジタル画像データＱ２は残光補正手段25
に入力され、残光補正手段25はデジタル画像データＱ２
から輝尽発光光の残光成分を除去して補正後画像データ（デジタル）Ｑ２′を外部に出力する処理をなす。

【００６０】ここで残光補正手段25による具体的な残光補正処理作用について説明する。

【００６１】まず残光補正手段25に画像データＱ２
（ｘ）が入力されると、メモリ25a に記憶された２つの参照テーブルのうち、この画像データＱ２の画素密度に対応する参照テーブル（図３（２））が選択される。

【００６２】ここで画像データＱ２（ｘ）を主走査方向の位置ｘ（主走査方向の第ｘ番目の画素とする）において検出された輝尽発光の光量ｙ（ｘ）に基づくものであるとしたとき、この画像データＱ２（ｘ）には、同一の主走査ライン上であって、既に走査が終わった第ｘ−１
番目の画素（原画像データＱ１においては第ｘ−２番目の画素に相当する），第ｘ−２番目の画素（同第ｘ−４
番目の画素に相当），…，第２番目の画素，第１番目の画素から発せられた輝尽発光光の残光が重畳している。

【００６３】すなわち図２に示すように、例えば第ｘ−
１番目の画素が時刻ｔ０において励起されたとき、励起と略同時の時刻ｔ０において第ｘ−１番目の画素からは発光強度ｐ０の輝尽発光光が発せられるが、その後の時刻ｔ１′においてレーザー光Ｌが第ｘ−１番目の画素の次の画素である第ｘ番目の画素を励起しているときにあっては、その第ｘ番目の画素から発せられる強度ｐ０の輝尽発光光の他に、第ｘ−１番目の画素からの強度ｐ
１′の残光が検出される。

【００６４】そこで、得られた画像データＱ２（ｘ）は光量算出手段25b に入力されて、上記式（１）にしたがったアンチログ変換がなされ、検出された輝尽発光の光量ｙ２（ｘ）に相当するデジタル値が算出される。 なお上記各式を画像データＱ２（ｘ）に適用するにあたっては、Ｑ（ｘ）をＱ２（ｘ）、Ｑ（ｘ）'をＱ２
（ｘ）'、ｙ（ｘ）をｙ２（ｘ）、ｙ（ｘ）'をｙ２
（ｘ）'とそれぞれ置き換えるものとする。

【００６５】次いでこの光量ｙ２（ｘ）に相当するデジタル値は補正後光量算出手段25c に入力され、補正後光量算出手段25c は入力された光量ｙ２（ｘ）を選択された参照テーブルを参照しつつ式（２）にしたがって補正後光量ｙ２（ｘ）'に変換する。

【００６６】すなわちまず画像データＱ２における主走査ライン上で最初に走査する画素である第１画素についての補正後光量ｙ２（１）'は、第１画素よりも以前に走査した同一主走査ライン上の画素は存在しないため、
補正前の光量ｙ２（１）に等しい。 したがって、まず光量ｙ２（１）がそのときの画像データＱ２（１）に基づいて光量算出手段25b により式（１）にしたがって算出され、ｙ２（１）'が求められる。

【００６７】次いで第２画素以降の補正後光量ｙ２
（２）'、ｙ２（３）'、…、ｙ２（ｘ）'が式（２）
にしたがって順次求められる。

【００６８】このようにして第ｘ画素以前までの画素（第１画素〜第ｘ−１画素）に対応した補正後光量ｙ２
（１）'、ｙ２（２）'、ｙ２（３）'、…、ｙ２（ｘ
−１）'と、第ｘ画素における原画像データＱ２（ｘ）
と、この原画像データＱ２（ｘ）に対応する補正前光量ｙ２（ｘ）とに基づいて、補正後画像データ算出手段25
d が式（３）にしたがって、輝尽発光残光の影響を補正した補正後画像データＱ２（ｘ）'を算出する。

【００６９】以上の作用により算出された補正後画像データＱ２（ｘ）'は、この放射線画像情報読取装置から出力され、ＣＲＴ等の画像再生手段や写真フイルム等に対応する可視像として出力され、診断等に供される。

【００７０】このように本実施形態の放射線画像情報読取装置によれば、画質向上のために予め、所望の画素密度よりも高密度となるようにサンプリングして得られた画像データに対して残光補正処理を施すのではなく、この高画素密度の画像データを各種信号処理（画像処理）
した後に所望の画素密度とされた画像データに対して残光補正処理を施すことにより、係る補正処理の対象となる画像データ数を少なくすることができ、これによって残光補正処理に要する全体の処理時間を短縮させることができる。 また、得られた画像データＱ（ｘ）から計算により求められた補正分を減算するだけで残光補正処理ができる（式（３）参照）ため、演算処理の軽減を図ることもできる。

【００７１】なお本実施形態の放射線画像情報読取装置では、Ａ／Ｄ回路によるサンプリング周期を短くすることにより画素密度を所望のものよりも高密度とした例について説明したが、画素密度の高密度化はこの例に限るものではなく、例えば、Ａ／Ｄ回路によるサンプリング周期はそのままとして回転多面鏡の回転速度を遅くすることによっても、主走査方向の高密度化を図ることができる。

【００７２】また所望とする画素密度が複数種類ある場合には、それぞれの画素密度に対応した残光特性の参照テーブルを準備しておけばよい。

【００７３】図４は本発明の第２の放射線画像情報読取装置の一実施形態の構成を示すブロック図、図５は図４
に示したシート50上のレーザー光Ｌによる主走査線を模式的に表した図である。

【００７４】図示の放射線画像情報読取装置は、図示しないモータにより回転せしめられるエンドレスベルト19
上に蓄積性蛍光体シート50が配置され、シート50の上方には、シート50を励起するレーザ光Ｌを発するレーザ光源11と、そのレーザ光Ｌを反射偏向する回転多面鏡13
と、この回転多面鏡13を回転させるモータ12と、回転多面鏡13で反射偏向されたレーザ光Ｌをシート50上に収束し、かつ等速度で走査させる走査レンズ14が配されている。

【００７５】さらに、前記レーザ光Ｌが走査されるシート50の直上には、そのレーザ光Ｌによる励起でシート50
の上面から発せられる輝尽発光光Ｍを上方より集光する光ガイド15が近接して配置されている。 光ガイド15にはそれぞれ、集光した輝尽発光光Ｍを光電的に検出してアナログ画像信号ｙに変換するフォトマルチプライヤ（光電子増倍管）16が接続されている。

【００７６】また、フォトマルチプライヤ16には対数増幅器21が接続され、対数増幅器21はアナログ画像信号ｙ
をログ変換して対数化画像信号ｑを出力する。 対数増幅器21にはさらにＡ／Ｄ変換回路22が接続され、このＡ／
Ｄ変換回路22により対数化画像信号ｑは所定のサンプリング周期Ｔでサンプリングされ、デジタル画像データＱ
に変換される。

【００７７】さらにＡ／Ｄ変換回路22には残光補正手段
25′が接続され、残光補正手段25はデジタル画像データＱから輝尽発光光の残光成分を除去して補正後画像データ（デジタル）Ｑ′を外部に出力する処理をなす。

【００７８】残光補正手段25′はさらに詳しくは、入力された画像データＱを記憶するメモリ25′a と、レーザー光Ｌの主走査方向Ｘと略直交する副走査方向Ｙの所定間隔ごとに、各所定間隔の範囲内に含まれる複数の主走査線のうち、それらを代表する１つの主走査線（図５参照）をそれぞれ各所定間隔の範囲ごとに選択する代表主走査線選択手段25′b と、選択された各主走査線上の各画素ごとに、輝尽発光光の残光特性に基づいた残光補正処理のための補正係数を求める補正係数算出手段25′c
と、代表主走査線選択手段25′b により選択された各主走査線がそれぞれ属する各範囲内にそれぞれ含まれるすべての主走査線上の画素についての補正係数を、それぞれ対応する選択された主走査線上の画素についての補正係数算出手段25′c により算出された補正係数として残光補正処理を演算手段25′d とを備えた構成である。

【００７９】ここで残光補正処理のための補正係数とは具体的には、上記式（３）の第２項のΣ｛ｙ（ｉ）'×
ｆ（ｘ−ｉ）／ｙ（ｘ）｝の部分の演算結果を意味する。 この演算の具体的な方法については前述した本発明の第１の放射線画像情報演算装置の実施形態について説明したため省略するが、残光特性を表す参照テーブル等を備えておくことが必要である。

【００８０】次に本実施形態の放射線画像情報読取装置の作用について説明する。

【００８１】蓄積性蛍光体シート50がエンドレスベルト
19上の所定の位置にセットされてから、対数化画像信号ｑがＡ／Ｄ変換回路22に入力されるまでの作用は前述の実施形態の放射線画像情報読取装置の作用と同様であるので説明を省略する。

【００８２】Ａ／Ｄ変換回路22により対数化画像信号ｑ
は所定のサンプリング周期でデジタル画像データ化される。 そしてこのデジタル画像データＱは残光補正手段2
5′に入力される。

【００８３】残光補正手段25′は、入力された画像データＱをメモリ25′a に記憶するとともに、例えば図５に示す可視像を表す画像データＱを代表主走査線選択手段
25′b が、レーザー光Ｌの副走査方向に複数の領域に分割するとともに、各領域内に含まれる複数の主走査線のうちそれぞれ１本の主走査線を当該領域の代表主走査線として選択する。

【００８４】この代表主走査線選択手段25′b の領域を分割する作用は実際には、先頭の主走査線から例えば１
０本の主走査線ごとに領域を分けることによって行なわれる。 また各領域から代表主走査線を選択する作用は、
各領域ともに例えば先頭の主走査線を選択し、または中央の主走査線を選択する、というように、各領域間で対応する位置の主走査線を選択するのが望ましい。

【００８５】各領域ごとにそれぞれ選択された各代表主走査線上の画素に対応する画像データは補正係数算出手段25′c に入力され、補正係数算出手段25′c は各代表主走査線上の画素ごとに、当該各線上の画素に対応する画像データを用いて式（１），（２），（３）にしたがって、前述した残光補正処理のための補正係数（式（３）の第２項のΣ｛ｙ（ｉ）'×ｆ（ｘ−ｉ）／ｙ
（ｘ）｝）を算出する。

【００８６】この算出された補正係数が、それぞれの領域に含まれる他の主走査線上の各画素にそのまま適用される。 すなわち、演算手段25′d が各領域ごとにメモリ
25′a から画像データを読み出して、各領域の代表主走査線についての補正係数を当該領域内の他の主走査線上の画素についての補正係数として適用して、残光補正処理を施す。

【００８７】そしてこのような補正係数を適用して残光補正処理された後の画像データＱ′が出力される。

【００８８】このように本実施形態の放射線画像情報読取装置によれば、画像データから選択された代表の主走査線上の画素についてのみ残光補正処理用の補正係数を求め、その代表の主走査線の近傍の主走査線については、各線上の画素についての補正係数を個別に求めないため、補正係数算出に係る処理時間を短縮させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の放射線画像情報読取装置の一実施形態を示す図

【図２】輝尽発光光の残光特性を示すグラフ

【図３】画素密度ごとの参照テーブルの例を示す図、
（１）は高密度、（２）は標準密度のものをそれぞれを表す

【図４】本発明の第２の放射線画像情報読取装置の一実施形態を示す図

【図５】図４に示したシート上のレーザー光Ｌによる主走査線を模式的に表した図

【符号の説明】

11 レーザ光源 12 モータ 13 回転多面鏡 14 走査レンズ 15 光ガイド 16 フォトマルチプライヤ 21 対数増幅器 22 Ａ／Ｄ変換回路 23 画像処理手段 24 画素密度変換手段 25 残光補正手段 25a テーブル 25b 光量算出手段 25c 補正後光量算出手段 25d 補正後画像データ算出手段 50 蓄積性蛍光体シート Ｌ レーザー光 Ｍ 輝尽発光光 ｙ アナログ画像信号 ｑ 対数化画像信号 Ｑ１ 原画像データ Ｑ２ 画素密度変換後画像データ Ｑ２′ 残光補正後画像データ