| 序号 | 专利名 | 申请号 | 申请日 | 公开（公告）号 | 公开（公告）日 | 发明人 |
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| 21 | 一种镀膜仪样品架 | CN201511028981.1 | 2015-12-31 | CN105648415A | 2016-06-08 | 杨水源; 张若曦; 蒋少涌; 肖少泉 |
| 本发明公开了一种镀膜仪样品架，为N个相同尺寸的棱侧板围绕固定在一起而成的正棱柱架，其中，每个棱侧板在朝内板面上设置多个放置探针薄片的区域，N为5～13的正整数。在保证了镀膜效果的前提下，解决了现有电子探针薄片镀膜效率低下的技术问题，镀膜效率成倍提高。 | ||||||
| 22 | 用于测定玻璃固态缺陷的玻璃样品的制备方法 | CN201510981373.6 | 2015-12-23 | CN105606416A | 2016-05-25 | 李刚; 张广涛; 李俊峰; 闫冬成; 王丽红; 胡恒广 |
| 本发明公开了一种用于测定玻璃固态缺陷的玻璃样品的制备方法，包括如下步骤：将待测玻璃切割成样品片，所述的样品片含有固态缺陷；固定所述的样品片：将所述的样品片固定在固定装置上；抛光：将固定好的所述样品片放置在抛光垫上，使所述样品片与抛光垫紧密贴合，驱动抛光垫进行运动，对所述的样品片进行抛光，取下所述的样品片并清洗即得所述的玻璃样品；所述抛光的时间为10-20min。本发玻璃样品的制备方法具有操作安全、效率高的优点。 | ||||||
| 23 | 碳纳米管微尖结构的制备方法 | CN201210042273.3 | 2012-02-23 | CN103288033B | 2016-02-17 | 魏洋; 范守善 |
| 本发明提供一种碳纳米管微尖结构的制备方法，其包括：提供一碳纳米管膜结构及一绝缘基底，该绝缘基底具有一表面，该表面具有至少一带状凹部；将该碳纳米管膜结构覆盖于该绝缘基底的表面，并使部分该碳纳米管膜结构覆盖于所述带状凹部，并在该带状凹部处悬空设置；激光刻蚀该碳纳米管膜结构的悬空设置的部分，在该碳纳米管膜结构上形成一第一镂空图案，并形成与该第一镂空图案对应的图案化碳纳米管膜结构，该图案化碳纳米管膜结构包括两个条形臂，该两个条形臂在端部连接形成一尖端，该尖端在该带状凹部处悬空设置。 | ||||||
| 24 | 使用峰值力轻敲模式来测量样本的物理特性的方法和设备 | CN201180064557.6 | 2011-11-29 | CN103328984B | 2015-11-25 | 史建; 胡焰; 胡水清; 马骥; 苏全民 |
| 改进的AFM成像模式（峰值力轻敲（PFT）模式）使用力作为反馈变量来减小尖端-样本相互作用力，同时维持可通过所有现有的AFM操作模式实现的扫描速度。以改进的分辨率和高样本吞吐量实现了样本成像和机械特性映射，其中该模式可在各种环境中工作，包括气体、流体和真空。通过消除对专业用户监测成像的需要，有利于易用性。 | ||||||
| 25 | 用于表面的非接触轮廓分析的传感器 | CN201110373640.3 | 2011-11-22 | CN102662085B | 2015-10-28 | F·J·吉斯布尔 |
| 本发明涉及一种用于采用由压电材料制成的振荡悬臂(12)对表面进行扫描的传感器，该传感器适于横梁的自由端的横向振荡，在横向方向固定导电探针针尖(14)，其中横梁具有第一偏转电极(26A、26B)和相反定相的第二电极(28A、28B、28C)以采集在所述偏转电极的空间内分离的电荷(34、36)。根据本发明，除了所述偏转电极(26A、26B、28A、28B、28C)之外，该悬臂(12)还设有至少一个提供与所述针尖(14)的电接触的电极(30)，其中所述附加电极位于偏转横梁上的区域中，其中由横梁偏转所引起的应变所造成的表面电荷密度(34、36)小于设置偏转电极的区域中的表面电荷密度。 | ||||||
| 26 | 控制扫描探针显微镜的方法及装置 | CN201380072701.X | 2013-12-12 | CN104981700A | 2015-10-14 | 罗德里克·利姆; 马丽亚·普罗迪内克; 马尔科·洛帕里奇; 帕斯卡尔·厄勒; 莱昂·卡门青德 |
| 本发明涉及控制扫描探针显微镜的方法，所述扫描探针显微镜具有探针(2)和纳米扫描器(1)，所述探针(2)具有针尖(21)用于与样品(4)相互作用，所述纳米扫描器(1)用于保持所述样品(4)或所述探针(2)，该方法包括如下步骤：监测压电元件(1)在第一方向(R)上的伸展，在所述第一方向(R)上所述针尖向着所述样品(4)移动；以及当所述纳米扫描器(1)执行的伸展低于或高于阈值时，通过附加执行器的设备沿着所述第一方向(R)来调整所述探针(2)的高度。本发明还涉及控制扫描探针显微镜的装置(100)。 | ||||||
| 27 | 测量极化设备上的表面电势的方法 | CN201380048589.6 | 2013-09-18 | CN104903731A | 2015-09-09 | 路易·吉罗德; 尼古拉·波格丹·贝库; 奥利佛·西摩内提; 让-路易·尼古拉斯; 米歇尔·莫里那利 |
| 本发明涉及一种测量极化样品(2)表面电势的方法，其包括如下步骤：使用连接微杆(4)的锥形尖端(3)扫描样品(2)的表面对所述样品(2)的形貌轮廓(11)进行测量，所述微杆(4)在其共振频率由压电激活器(5)激活；将所述锥形尖端(3)放置在距离之前步骤中获得的表面形貌轮廓(11)的恒定距离(d)；测量所述表面的静电势(13)；所述方法的特征在于，所述样品(2)在测量形貌轮廓(11)的步骤中不被极化，但所述样品(2)在测量电势分布(13)的过程中被极化。 | ||||||
| 28 | 面向细胞机械特性检测的AFM探针快速定位方法 | CN201110373147.1 | 2011-11-21 | CN103123362B | 2015-07-08 | 王越超; 刘连庆; 王智博; 董再励; 袁帅; 张常麟 |
| 本发明涉及纳米操作技术领域，更具体是一种面向细胞机械特性检测的AFM探针快速定位方法。本方法通过在细胞边缘图像中实施霍夫变换检测圆形的方式实现细胞的识别，同时获得各个待测细胞的半径以及中心位置信息，并计算出各个待测细胞与探针悬臂梁在工作空间内的实际距离；通过对待测细胞的快速局部扫描，确定探针针尖与待测细胞的相对位置关系；依次实现AFM针尖对各个待测细胞测量点的快速定位，完成各个细胞机械特性的测量。本发明利用了视觉图像处理技术标定待测细胞和探针悬臂梁在工作空间的相对位置关系，可实现探针运动到待测细胞的编程控制，提高了探针操作效率；还利用了快速局部扫描方法，实现了AFM针尖和细胞相对位置的精确标定，提高了细胞机械特性测量的准确性。 | ||||||
| 29 | 用于扫描探针显微镜的微型悬臂梁探针及其制造方法 | CN201380055701.9 | 2013-08-27 | CN104755942A | 2015-07-01 | 王卫杰; 苏全民 |
| 悬臂梁探针是由多层结构形成的，多层结构包含上基底、下基底、内层、第一分离层和第二分离层，其中第一分离层位于上基底和内层之间，第二分离层位于下基底和内层之间，以及其中第一和第二分离层相对于第一和第二基底、内层有区别地可蚀刻。上基底是第一器件层，探针针尖从此处形成。内层是第二器件层，悬臂从此处形成。下基底是手柄层，手柄或基部从此处形成。任何一层的造型和蚀刻处理通过分离层与其他层隔离。 | ||||||
| 30 | 用于三维（3D）半导体器件的原子探头层析成像样本制备的方法 | CN201410680163.9 | 2014-11-24 | CN104701203A | 2015-06-10 | T·L·卡恩; J·M·沃尔什 |
| 提供了一种用于三维(3D)半导体器件的原子探头层析成像(APT)样本制备的方法。所述方法可以包括测量3D场效应晶体管器件的电容－电压(C-V)特性，并基于测得的电容－电压(C-V)特性，识别出对应于3D场效应晶体管器件的鳍结构。采用纳米操纵器探头顶端使所识别出的鳍结构与3D场效应晶体管器件分离。之后采用具有低于大约1000eV的电压的入射聚焦离子束将分离的鳍焊接到纳米操纵器探头顶端上。向焊接到纳米操纵器探头顶端的鳍的顶端施加具有低于大约1000eV的电压的入射聚焦离子束。之后，可以通过聚焦离子束将鳍的顶端修尖。 | ||||||
| 31 | 利用AFM摩擦力映射的石墨烯区域测量系统及其方法 | CN201280018688.5 | 2012-05-11 | CN103477231B | 2015-06-03 | 朴培昊; 崔进植 |
| 本发明涉及这样的利用AFM摩擦力映射的石墨烯区域测量系统及其方法：使石墨烯样品顺时针旋转的同时进行测量，使得最初测量位置到最终测量位置的旋转角为180°以上，在旋转石墨烯样品期间最少5次测量相同的石墨烯样品，从而分析获得的摩擦力映射图像的明暗差与AFM针尖的行进方向和石墨烯的褶皱方向有关，并获知石墨烯的褶皱方向。为了达到上述目的，本发明包括下列步骤：测量部使用设定为摩擦力模式（Friction Mode）的AFM显微镜测量石墨烯样品；输出部输出摩擦力映射图像，将对比（contrast）范围调整为最小范围以匹配石墨烯样品周边；输出部输出关于横切摩擦力映射图像而获得的特定部分的摩擦力曲线图；利用摩擦力曲线图分析AFM针尖行进方向和石墨烯的褶皱方向的关系；及判断部利用分析出的信息，通过摩擦力映射图像，利用各区域间对比的明暗差，判断石墨烯的褶皱方向。 | ||||||
| 32 | 多量级光谱纳米显微镜 | CN201380048412.6 | 2013-07-18 | CN104661704A | 2015-05-27 | 杨皓; 凯文·韦尔舍 |
| 公开了一种用于非侵入式地追踪样本中的粒子的系统和方法。该系统包括2光子或者共焦激光扫描显微镜(LSM)以及耦接至具有X-Y位置控制和Z位置控制的粒子保持设备。该系统还包括：追踪模块，具有追踪激发激光器；X-Y辐射聚集部件和Z辐射聚集部件，被配置为在X-Y方向上和在Z方向上检测粒子的偏差。该系统还包括耦接至X-Y辐射聚集部件和Z辐射聚集部件的处理器，该处理器生成被配置为驱动载物台的X-Y位置控制和Z位置控制以追踪粒子的移动的控制信号。该系统还可包括：同步模块，被配置为生成标记有载物台位置的LSM像素；以及处理模块，被配置为使用标记有载物台位置的LSM像素生成显示粒子3D轨迹的3D图像。 | ||||||
| 33 | 分析用除电部件 | CN201380044879.3 | 2013-08-21 | CN104583781A | 2015-04-29 | 前野洋平 |
| 本发明提供一种分析用除电部件，在使用原子间力显微镜的分析等的精密分析中，能够充分贴合在分析对象试样周边，不会污染分析对象试样和周边环境，能够抑制分析对象试样周边的带电，即使在分析对象试样周边存在金属，也不会产生火花，能够用腔室覆盖进行分析，在高温环境下、真空环境下的分析也能够没有问题地进行。本发明的分析用除电部件包括具备多个纤维状柱状物的纤维状柱状结构体。 | ||||||
| 34 | 磁力显微镜及高空间分辨率磁场测定方法 | CN201280012040.7 | 2012-03-07 | CN103443632B | 2015-04-15 | 真岛丰; 东康男; 田中杰 |
| 在现有的磁力显微镜中，因为悬臂的一次谐振频率会在探针扫描时发生变动，所以调制频率信号的相位将发生变动，得到带相位信息的磁场分布是困难的。因为励磁频率为低至100Hz左右，所以测定时间将变长。为了测定FM调制信号这样的间接信号而提高S/N比是很困难的。本发明的磁力显微镜具备：带具有磁性体的探针（1）的悬臂（2）；以第一谐振频率激励的第一振荡器（4）；位移检测电路（7）；微动元件（16）；驱动微动元件（16）的z轴驱动部（12）；以第二谐振频率进行励磁的第二振荡器（13）；以及输入位移信号及参考信号的锁相放大器（21）。而且，z轴驱动部（12）基于位移信号及第一谐振频率，使探针（1）相对于磁记录头（8）接近或分开，锁相放大器（21）基于位移信号及参考信号生成磁场数据。 | ||||||
| 35 | 动态探针检测系统 | CN200980154318.2 | 2009-12-11 | CN102272610B | 2015-02-25 | 安德鲁·汉弗里斯 |
| 动态探针检测系统(29、32)用于包括探针(18)的类型的扫描探针显微镜，该探针(18)重复地向样品表面和远离样品表面地移动。当扫描样品表面时，干涉仪(88)产生用于指示在从探针(80a、80b、80c)反射的光和高度基准光束之间的路径差的输出高度信号。信号处理设备监控高度信号，并且导出用于指示探针的高度的每一个振荡周期的度量。这使得能够提取用于表示样品的高度的度量，而不依靠平均或滤波，该度量可以用于形成样品的图像。检测系统也可以包括反馈机构，该反馈机构可用于将反馈参数的平均值保持在设定的水平。 | ||||||
| 36 | 无机纤维、制造方法、保持密封材料以及废气净化装置 | CN201410290755.X | 2014-06-25 | CN104279024A | 2015-01-14 | 西章人; 北村阳儿 |
| 本发明提供无机纤维、无机纤维集合体的制造方法、保持密封材料以及废气净化装置。其中，提供了构成具有较高表面压力的无机纤维集合体(保持密封材料)的无机纤维。该无机纤维是构成废气净化装置中使用的保持密封材料的无机纤维，其特征在于，使用扫描型探针显微镜计测出的上述无机纤维的表面摩擦系数为0.5以上。 | ||||||
| 37 | 原子力显微镜用试样固定部件 | CN201380007659.3 | 2013-01-29 | CN104105972A | 2014-10-15 | 前野洋平 |
| 本发明提供一种原子力显微镜用试样固定部件，其能够减少测定中的试样的漂移量。本发明的原子力显微镜用试样固定部件包含具备多个长度200μm以上的纤维状柱状物的纤维状柱状结构体。 | ||||||
| 38 | 磁性存储装置 | CN201280068868.4 | 2012-12-04 | CN104094349A | 2014-10-08 | 法兰克·辛克莱; 艾立克斯恩德·C·刚特司; 拉杰许·都蕾 |
| 磁性存储装置的写入头包含写入尖端，写入尖端包括磁性材料；写入脉冲发生器，写入脉冲发生器经配置以产生包括在磁性存储装置与写入尖端之间的变化的偏压的写入脉冲信号。写入脉冲信号包括一个或多个写入脉冲，写入脉冲有效地使电子从写入尖端隧穿到磁性存储装置中。数据流发生器经配置以向写入尖端提供数据流信号，其中数据流信号可操作以将电子中的自旋极性从第一极性改变成第二极性。 | ||||||
| 39 | 一种超敏的免疫电镜标记方法 | CN201410036229.0 | 2014-01-24 | CN103777001A | 2014-05-07 | 甘光明 |
| 本发明公开了一种超敏的免疫电镜标记方法，包括以下步骤：把生物样品待测抗原用体积百分比为0.1-2.5%的戊二醛溶液和质量百分比为1.5-5%多聚甲醛溶液固定后，经过脱水程序后，经过亲水性树脂包埋，切成超薄切片后，分别用特定的第一抗体标记生物样品待测抗原，再以吸附超微金颗粒的第二抗体标记第一抗体，然后利用银加强放大试剂在超微金颗粒周围形成直径较大的银颗粒，然后在电镜下即可敏感地检测待测抗原在生物样品中的表位。本发明具有灵敏高的优势，兼有阳性信号颗粒相对均匀，便于研判的优势，也同时具有可以检测生物样品内部抗原的优势。本发明适合检测位于生物医学标本内部的微量抗原的检测。 | ||||||
| 40 | 利用AFM摩擦力映射的石墨烯区域测量系统及其方法 | CN201280018688.5 | 2012-05-11 | CN103477231A | 2013-12-25 | 朴培昊; 崔进植 |
| 本发明涉及这样的利用AFM摩擦力映射的石墨烯区域测量系统及其方法：使石墨烯样品顺时针旋转的同时进行测量，使得最初测量位置到最终测量位置的旋转角为180°以上，在旋转石墨烯样品期间最少5次测量相同的石墨烯样品，从而分析获得的摩擦力映射图像的明暗差与AFM针尖的行进方向和石墨烯的褶皱方向有关，并获知石墨烯的褶皱方向。为了达到上述目的，本发明包括下列步骤：测量部使用设定为摩擦力模式（Friction Mode）的AFM显微镜测量石墨烯样品；输出部输出摩擦力映射图像，将对比（contrast）范围调整为最小范围以匹配石墨烯样品周边；输出部输出关于横切摩擦力映射图像而获得的特定部分的摩擦力曲线图；利用摩擦力曲线图分析AFM针尖行进方向和石墨烯的褶皱方向的关系；及判断部利用分析出的信息，通过摩擦力映射图像，利用各区域间对比的明暗差，判断石墨烯的褶皱方向。 | ||||||
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