首页 / 专利库 / 纺织设备及加工 / 拉伸比 / 基于ICC编辑的改进瓷砖喷墨印刷色彩对样方法

基于ICC编辑的改进瓷砖喷墨印刷色彩对样方法

阅读:493发布:2023-02-27

专利汇可以提供基于ICC编辑的改进瓷砖喷墨印刷色彩对样方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种基于ICC编辑的改进瓷砖喷墨印刷色彩对样方法,该方法用于后生产的新砖相对于样砖发生色差时优化喷墨印刷的ICC特性文件,当后面批次生产的新砖与样砖出现色差,砖面效果不理想时,可以采用本发明的方法产生新的数据用于喷墨印刷生产中,使后续生产的新砖与样砖色彩保持一致。本发明的第一种方法具有压缩 算法 和裁切算法双重特点,既保证新砖 色域 内大部分 颜色 保持不变,又能尽量保持被映射颜色之间的关系,而且拉伸了图像的 对比度 ,更好的保留图像反差,使瓷砖花色完整,花色色彩与样砖基本一致,视觉效果更好。,下面是基于ICC编辑的改进瓷砖喷墨印刷色彩对样方法专利的具体信息内容。

1.一种基于ICC编辑的改进瓷砖喷墨印刷色彩对样方法,该方法用于后生产的新砖相对于样砖发生色差时优化喷墨印刷的ICC特性文件,其特征在于该方法如下:
步骤1:重新印制新砖的采样色卡,利用分光光度计采集色卡数据,制作当前生产条件下的新砖ICC特性文件;
步骤2:将样砖的ICC特性文件作为目标文件,采用色域映射算法函数,生成新砖ICC特性文件与样砖ICC特性文件的色彩数据映射关系,并将该色彩数据映射关系数据用于后续喷墨印刷生产中;
该算法使用如下公式进行色彩数据映射;
pc=1-((C*3/(C*3+5×105)1/2;
上式中, 是样砖色域亮度, 是新砖色域亮度; 是样砖色域亮度使用S型函数映射后的色域亮度;pc是基于饱和度的权重系数,该系数取决于样砖色域颜色的饱和度C*;
在S型函数的基础上建立样砖色域和新砖色域亮度之间的一维查找表LUT;
上式中,i表示建立一维查找表LUT时所用点的个数,i为0到m的自然数,且m≥100;X0和σ分别表示正态分布的平均值和标准差,其数值由新砖色域的最小亮度Lrmin决定;Si表示当输入个数为i时查找表LUT的值;
对S型函数归一化处理,使其处于[0,100]的亮度范围内,然后再按照下面的公式将其压缩到新砖色域亮度内;
上式中, 和 分别是样砖黑点和白点的亮度值; 通过从SLUT中相应的 和 之
间的m+1个点内插获得,计算公式如下:
上式中, 是样砖色域亮度, 和 分别是已经被归一化处理的[0,100]亮度范围
内黑点的最小亮度值和最大亮度值。
2.根据权利要求1所述的基于ICC编辑的改进瓷砖喷墨印刷色彩对样方法,其特征在于Lrmin=5时,对应的X0=53.7,σ=43.0;当Lrmin=10时,对应的X0=56.8,σ=40.0;当Lrmin=15时,对应的X0=58.2,σ=35.0;当Lrmin=20时,对应的X0=60.6,σ=34.5。
3.一种基于ICC编辑的改进瓷砖喷墨印刷色彩对样方法,该方法用于后生产的新砖相对于样砖发生色差时优化喷墨印刷的ICC特性文件,其特征在于该方法如下:
步骤1:印制新砖的线性色卡,利用分光光度计采集线性色卡C通道、M通道、Y通道、K通道和O通道的3%、5%、7%、10%、15%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、
95%、98%、100%网点色密度数据;
步骤2:将步骤1的测量数据与样砖ICC特性文件中对应通道的密度数据进行对比映射,生成各单色通道色彩调整曲线Si,每个单色通道加载对应的色彩调整曲线Si,将生成的数据用于后续喷墨印刷生产中;
色彩调整曲线Si计算公式如下:
Si=D0i-D*i;
其中,Si表示某单色通道网点百分比为i的色块的调整值;i=3%、5%、7%、10%、15%、
20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%、98%、100%;D0i为样砖ICC特性文件中对应某单色通道的密度数据;D*i为步骤1中测量的新砖对应某单色通道的密度数据。
4.一种基于ICC编辑的改进瓷砖喷墨印刷色彩对样方法,该方法用于后生产的新砖相对于样砖发生色差时优化喷墨印刷的ICC特性文件,其特征在于该方法如下:目测新砖与样砖的色彩偏差情况,手动调整样砖ICC特性文件各单色通道曲线,将生成的数据用于后续喷墨印刷生产中。

说明书全文

基于ICC编辑的改进瓷砖喷墨印刷色彩对样方法

技术领域

[0001] 本发明涉及一种瓷砖喷墨印刷对样方法,属于瓷砖印刷领域。

背景技术

[0002] 喷墨印刷是继传统的丝网印花和辊筒印花技术之后,陶瓷行业的第三次技术革命。伴随陶瓷喷墨印刷技术的普及,如何实现个性定制已经成为陶瓷企业实现产品差异化的急迫需求,为了解决色差频现、砖面效果不理想与陶瓷企业追求稳定生产的矛盾,目前市面上出现了一种陶瓷喷墨色彩管理系统。
[0003] 然而,无论任何色彩管理系统,其有效实施的基础是瓷砖生产的稳定化、标准化。根据调研,在瓷砖生产行业要做到生产稳定和标准化非常难,一方面是原材料很难标准化,另一方面是瓷砖要经过窑炉高温烧制,原材料不同,为了得到符合质量的瓷砖(例如符合硬度、成型不卷边等质量要求),窑炉的温度、时长等各参数都会发生变化,颜色亦不可避免也会发生变化,所以,利用色彩管理系统制作的ICC特性文件(数码印刷的颜色特性文件),经第一次分色打样、留样后,后面批次生产时如果出现色差频现,砖面效果不理想等,目前的陶瓷喷墨色彩管理系统起到的作用就不大,还是需要调图人员根据实际的瓷砖烧制颜色情况进行调图,人工调图存在技术要求高,难度大等缺点。

发明内容

[0004] 为了克服现有技术的不足,本发明提供一种减少新砖与样砖色差的基于ICC编辑的改进瓷砖喷墨印刷色彩对样方法。
[0005] 本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
[0006] 一种基于ICC编辑的改进瓷砖喷墨印刷色彩对样方法,该方法用于后生产的新砖相对于样砖发生色差时优化喷墨印刷的ICC特性文件。
[0007] 第一种方法如下:
[0008] 步骤1:重新印制新砖的采样色卡,利用分光光度计采集色卡数据,制作当前生产条件下的新砖ICC特性文件。
[0009] 步骤2:将样砖的ICC特性文件作为目标文件,采用色域映射算法函数,生成新砖ICC特性文件与样砖ICC特性文件的色彩数据映射关系,并将该色彩数据映射关系数据用于喷墨印刷生产中,使后续生产的新砖与样砖色彩保持一致。
[0010] 该算法使用如下公式进行色彩数据映射:
[0011]
[0012] pc=1-((C*3/(C*3+5×105)1/2;
[0013] 上式中, 是样砖色域亮度;是新砖色域亮度;是样砖色域亮度使用S型函数*映射后的色域亮度;pc是基于饱和度的权重系数,该系数取决于样砖色域颜色的饱和度C。
[0014] 在S型函数的基础上建立样砖色域和新砖色域亮度之间的一维查找表LUT;
[0015]
[0016] 上式中,i表示建立一维查找表LUT时所用点的个数,i为0到m的自然数,且m≥100;X0和σ分别表示正态分布的平均值和标准差,其数值由新砖色域的最小亮度Lrmin决定;Si表示当输入个数为i时查找表LUT的值。
[0017] 对S型函数归一化处理,使其处于[0,100]的亮度范围内,然后再按照下面的公式将其压缩到新砖色域亮度内;
[0018]
[0019] 上式中, 和 分别是样砖黑点和白点的亮度值;通过从SLUT中相应的 和之间的m+1个点内插获得,计算公式如下:
[0020]
[0021] 上式中, 是样砖色域亮度; 和 分别是已经被归一化处理的[0,100]亮度范围内黑点的最小亮度值和最大亮度值。
[0022] 当Lrmin=5时,对应的X0=53.7,σ=43.0;当Lrmin=10时,对应的X0=56.8,σ=40.0;当Lrmin=15时,对应的X0=58.2,σ=35.0;当Lrmin=20时,对应的X0=60.6,σ=34.5。
[0023] 第二种方法如下:
[0024] 步骤1:印制新砖的线性色卡,利用分光光度计采集线性色卡C通道、M通道、Y通道、K通道和O通道的3%、5%、7%、10%、15%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%、98%、100%网点色密度数据。步骤2:将步骤1的测量数据与样砖ICC特性文件中对应通道的密度数据进行对比映射,生成各单色通道色彩调整曲线Si,每个单色通道加载对应的色彩调整曲线Si,将生成的数据用于后续喷墨印刷生产中。
[0025] 色彩调整曲线Si计算公式如下:
[0026] Si=D0i-D*i;
[0027] 其中,Si表示某单色通道网点百分比为i的色块的调整值;i=3%、5%、7%、10%、15%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%、98%、100%;D0i为样砖ICC特性文件中对应某单色通道的密度数据;D*i为步骤1中测量的新砖对应某单色通道的密度数据。
[0028] 第三种方法如下:
[0029] 目测新砖与样砖的色彩偏差情况,手动调整样砖ICC特性文件中各单色通道曲线,将生成的数据用于后续喷墨印刷生产中。
[0030] 本发明的有益效果是:当后面批次生产的新砖与样砖出现色差,砖面效果不理想时,可以采用本发明的方法产生新的数据用于喷墨印刷生产中,使后续生产的新砖与样砖色彩保持一致。本发明的第一种方法具有压缩算法和裁切算法双重特点,既保证新砖色域内大部分颜色保持不变,又能尽量保持被映射颜色之间的关系,而且拉伸了图像的对比度,更好的保留图像反差,使瓷砖花色完整,花色色彩与样砖基本一致,视觉效果好。

具体实施方式

[0031] 一种基于ICC编辑的改进瓷砖喷墨印刷色彩对样方法,该方法用于后生产的新砖相对于样砖发生色差时优化喷墨印刷的ICC特性文件,根据对样的精度要求、用户经验以及方法复杂程度,用户可根据需求选择以下三种方法之一进行对样。
[0032] 第一种方法:精准对样
[0033] 步骤1:重新印制新砖的采样色卡,利用分光光度计采集色卡数据,采用ProfileMaker等具有色彩管理功能的流程软件,制作当前生产条件下的新砖ICC特性文件。
采样色卡的制作及采集色卡数据属于现有技术,可参见CN104890376B、CN104908440B等专利文献。
[0034] 步骤2:将样砖的ICC特性文件作为目标文件,采用色域映射算法函数,生成新砖ICC特性文件与样砖ICC特性文件的色彩数据映射关系,并将该色彩数据映射关系数据用于喷墨印刷生产中,使后续生产的新砖与样砖色彩保持一致。
[0035] 该算法使用如下公式进行色彩数据映射:
[0036]
[0037] pc=1-((C*3/(C*3+5×105)1/2;
[0038] 上式中, 是样砖色域亮度, 是新砖色域亮度; 是样砖色域亮度使用S型函数映射后的色域亮度;pc是基于饱和度的权重系数,该系数取决于样砖色域颜色的饱和度C*。
[0039] 在S型函数的基础上建立样砖色域和新砖色域亮度之间的一维查找表LUT;
[0040]
[0041] 上式中,i表示建立一维查找表LUT时所用点的个数,i为0到m的自然数,且m≥100;X0和σ分别表示正态分布的平均值和标准差,其数值由新砖色域的最小亮度Lrmin决定;Si表示当输入个数为i时查找表的值。
[0042] S型函数的参数值如下表:
[0043]Lrmin 5 10 15 20
X0 53.7 56.8 58.2 60.6
σ 43.0 40.0 35.0 34.5
[0044] 对S型函数归一化处理,使其处于[0,100]的亮度范围内,然后再按照下面的公式将其压缩到新砖色域亮度(动态范围)内;
[0045]
[0046] 上式中, 和 分别是样砖黑点和白点的亮度值; 通过从SLUT中相应的 和之间的m+1个点内插获得,计算公式如下:
[0047]
[0048] 上式中, 是样砖色域亮度; 和 分别是已经被归一化处理的S型函数[0,100]亮度范围内黑点的最小亮度值和最大亮度值。
[0049] 本方法具有压缩算法和裁切算法双重特点,既保证新砖色域内大部分颜色保持不变,又能尽量保持被映射颜色之间的关系,而且拉伸了图像的对比度,更好的保留图像反差,使瓷砖花色完整,花色色彩与样砖基本一致,视觉效果更好。
[0050] 第二种方法:色通道调整对样
[0051] 步骤1:印制新砖的线性色卡,利用分光光度计采集线性色卡C通道(青色通道)、M通道(品红色通道)、Y通道(黄色通道)、K通道(黑色通道)和O通道(橙色通道)的3%、5%、7%、10%、15%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%、98%、100%网点色块的密度数据。
[0052] 步骤2:将步骤1中测量数据与样砖ICC特性文件中对应通道的密度数据进行对比映射,生成各单色通道色彩调整曲线Si,每个单色通道加载对应的色彩调整曲线Si,将生成的数据用于后续喷墨印刷生产中。
[0053] 色彩调整曲线Si计算公式如下:
[0054] Si=D0i-D*i;
[0055] 其中,Si表示某单色通道网点百分比为i的色块的调整值;i=3%、5%、7%、10%、15%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%、98%、100%;D0i为样砖ICC特性文件中对应某单色通道的密度数据;D*i为步骤1中测量的新砖对应某单色通道的密度数据。
[0056] 上述方法对样的程序较精确,对样方式简单,但是精度不如精确对样高,基本达到人工调图的效果,且对调图经验没有要求。
[0057] (3)、目测对样
[0058] 目测新砖与样砖的色彩偏差情况,手动调整样砖ICC特性文件中各单色通道曲线,将生成的数据用于后续喷墨印刷生产中。
[0059] 目测对样调色质量精度与人的经验非常相关,通常经验丰富的调图人员能够快速高质量的调整,而没有经验的人就无法选择该方式,只能选择上述的精确对样或色通道调整对样的方式。
[0060] 假设新砖ICC的C、M、Y、K通道值分别为:20、30、40、50,通过上述三种方法调整以后,C、M、Y、K、O通道值分别变为:18、25、45、52,将该值用于瓷砖后续生产的喷墨印刷中,使后续生产的新砖与样砖色彩保持一致,实现稳定化生产。
高效检索全球专利

专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台,是提供专利分析,专利查询,专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。

我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据,免费查、免费专利分析。

申请试用

分析报告

专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析,涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度,系统通过AI智能系统对图表进行解读,只需1分钟,一键生成行业专利分析报告。

申请试用

QQ群二维码
意见反馈