一种提高恒温晶振频率稳定度的方法
专利汇可以提供一种提高恒温晶振频率稳定度的方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种提高恒温晶振 频率 稳定度的方法，包括步骤：S1.在恒温晶振内部 选定 关键器件 位置 和探测点，将 温度 探测线 电极 粘接在探测点上，其另一端通过 数据采集 器连接至计算机；S2.将恒温晶振安装好放入恒温箱内；S3.设置恒温箱的温度范围和温变斜率，在连续两个循环内，利用计算机记录各探测点的温度数据、对应输出频率和 电流 值。本发明为高稳定度恒温晶振的设计奠定了良好的 基础 ，使得恒温晶振的设计者减少对经验的依赖并使得恒温晶振的设计周期大大缩短，提高恒温晶振的稳定度指标，保证设计 质量 。该方法具有操作简单、灵敏度高、 精度 好、判定准确可靠等特点，为设计者设计高稳定度的恒温晶振提供可靠的数据。，下面是一种提高恒温晶振频率稳定度的方法专利的具体信息内容。
1.一种提高恒温晶振频率稳定度的方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：
S1.在恒温晶振内部选定探测点，将温度探测线一端的电极粘接在探测点上，温度探测线的另一端通过数据采集器连接至计算机上，并按照探测线的序号记录各探测点的名称及位置；
S2.将恒温晶振安装在测试夹具上，并接上数字电流表和频率计数器后，将其放入恒温箱内；
S3.设置恒温箱的测试温度范围及测试温度点，在此温度范围内对恒温晶振各探测点的温度进行采集，录入计算机，同时记录恒温晶振在每个测试温度点相应的输出频率以及电流值。
2.根据权利要求1所述的一种提高恒温晶振频率稳定度的方法，其特征在于：所述步骤S1中，在恒温晶振的上盖上开孔，测试恒温晶振内部探测点的温度探测线从该孔中穿过并做密封处理，其一端的电极粘接在恒温晶振内部的探测点上。
3.根据权利要求1所述的一种提高恒温晶振频率稳定度的方法，其特征在于：所述步骤S1中，恒温晶振内部选定的探测点包括晶体谐振器位置、功率管位置、热敏电阻位置、变容二极管位置及振荡电感位置，并且每个位置选2至3个点。
4.根据权利要求3所述的一种提高恒温晶振频率稳定度的方法，其特征在于：所述步骤S1中，恒温晶振内部选定的探测点的数目根据孔的大小和温度探测线的线径确定。
5.根据权利要求1所述的一种提高恒温晶振频率稳定度的方法，其特征在于：所述步骤S2中，设置恒温箱的初始温度为25℃，恒温晶振在此条件下加电工作1小时后再开始测试。
6.根据权利要求1所述的一种提高恒温晶振频率稳定度的方法，其特征在于：所述步骤S3中，设置恒温箱的测试温度范围为-40℃至85℃，从-40℃开始测试，设定恒温箱的温变速率。
7.根据权利要求6所述的一种提高恒温晶振频率稳定度的方法，其特征在于：所述步骤S3中，在恒温箱的温度首次降为-40℃时保持30分钟才做测试。
8.根据权利要求6所述的一种提高恒温晶振频率稳定度的方法，其特征在于：所述步骤S3中，测试温度点依次为-40℃、-30℃、-20℃、-10℃、0℃、10℃、20℃、30℃、40℃、50℃、
60℃、70℃、80℃和85℃；利用计算机记录恒温晶振在各测试温度点的数据时，将恒温晶振在-40℃保持30分钟，在其它13个温度点各保持15分钟。
9.根据权利要求6所述的一种提高恒温晶振频率稳定度的方法，其特征在于：所述步骤S3中，连续在两个-40℃至85℃测试循环内对恒温晶振进行测试，并且重复测试时可以改变恒温箱的温变速率。
一种提高恒温晶振频率稳定度的方法
技术领域
背景技术
发明内容
S2.将恒温晶振安装在测试夹具上，并接上数字电流表和频率计数器后，将其放入恒温箱内；
S3.设置恒温箱的测试温度范围及测试温度点，在此温度范围内对恒温晶振各探测点的温度进行采集，录入计算机，同时记录恒温晶振在每个测试温度点相应的输出频率以及电流值。
具体实施方式
（2）恒温晶振测试夹具，测试时恒温晶振加电测试；
（3）数字频率计数和数字电流表；
（4）温度探测线15根，每根长2到3米，线长以合适为宜，对每根线进行编号，在线两头做好标记；
（5）数据采集板两块（型号：Agilent 34901A或其他），温度数据采集器一台（型号：
Agilent34970A）；
（6）恒温箱一台，温变速率可控；
（7）计算机以及相应软件；
（8）电源及其他连接线。
从-40℃开始测试，设定恒温箱的温变速率为1℃/min，在恒温箱的温度首次降为-40℃时保持30分钟才做测试；利用计算机采集并记录恒温晶振在各测试温度点的温度、输出频率以及电流值时，将恒温晶振在-40℃保持30分钟，在其它13个温度点各保持15分钟。
高效检索全球专利专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台，是提供专利分析，专利查询，专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。
我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据，免费查、免费专利分析。
专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析，涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度，系统通过AI智能系统对图表进行解读，只需1分钟，一键生成行业专利分析报告。
