图1示出了检查装置ID的实施例,其中相干辐射束1通过光学系统5 引导到物体2,光学系统5构造并布置用以提供辐射束并适当地引导辐射 束1。相干辐射可以通过激光来产生。辐射1在物体2上反射,并且由于 物体表面2上的变化,一小部分辐射3从物体2上被散射。这些变化可以 由衬底表面变化和/或可能存在于表面上的颗粒引起。在相对于衬底平滑度 的颗粒尺寸(
信号)和探测速度(噪声)之间存在折衷(trade off)。通常, 信号-噪声直方图具有正态分布图形。当两个直方图分离时探测可靠性提 高。噪声的一个成因是其通过“散斑”产生,“散斑”是衬底表面纳米结 构所反射的相干光的干涉的结果。即使是最平滑的表面,例如EUV掩模 版,也会产生散斑。最早用以减少散斑的方法是应用非相干光。然而,在 某些情况下,例如由于缺少空间和/或可能因为由于其他用途(例如空间滤 波)而需要相干光,这种方法就不可用。因而,期望在保留相干光作为物 体表面2上的入射光的同时抑制散斑。为了这个目的,根据本发明的一方 面,提出在相对于物体2的入射角上扫描辐射束1。入射角可以相当小, 但是可以在入射平面内或外部的大约40°到大约80°范围内变化。通常, 辐射束可以限定为掠入射辐射束。通过在入射角上扫描辐射束,由于表面 不规则引起的表面变化,尤其是亚-纳米光滑度的变动将会随角度而变化, 因而将会由成像元件7投影到相对不同的
位置上。因而,将会形成散斑分 布,并且这将引起变化,这种变化可能是由具有在100纳米以下范围的尺 寸(例如20到70nm)的颗粒的散射产生的。在一个实施例中,通过应用 扫描束的高于图像
帧速率的扫描速率“记录”这种变化,使得图像被去掉 散斑而被平滑。因此,探测装置4被布置成用于接收一部分被散射的辐射 3。角度扫描元件将在下文参照图4进行讨论,但其通常可以包括振动反 射镜或类似部件。
图2示出检查装置ID的另一实施例。虽然根据本发明实施例的散斑 滤波方法不限于例如掩模版图案结构8的周期结构,但是本发明的实施例 的可能的优点在于,对于周期结构8,反射将会引起周期特性的衍射,使 得周期性图案将会产生固定的傅里叶图案。在这些图案上的颗粒(例如污 染物颗粒)能够通过抑制傅里叶图案来进行探测。如上述的角度扫描元件 6将会引起平移的或加宽的傅里叶图案;这可以削弱信噪比。
在这方面,空间滤波可以用来滤波设置在物体2上的周期结构8的衍 射级。在角度扫描元件6扫描移动的情况下通过空间滤波器9同步空间滤 波能够改善信噪比,以优化光输出和改善信噪比。因而,可以设置振动傅 里叶滤波器9,其与具有变化的入射角α的入射束同步。为此,设置同步 装置10以使空间滤波器9与角度扫描元件6同步。在一个实施例中,空 间滤波器9可以设置为自适应滤波器,其与图案结构8自适应地配合并且 与入射辐射束1同步地平移。滤波器可以设置在多个位置上,但是通常被 放置在成像平面外(例如相对于物体2的共轭平面),并且能够特定地从 接收到的由图案化的光学结构8所衍射的辐射束1中对辐射进行滤波。自 适应滤波器可以是微反射镜装置,例如基于TI-DMD或LCD装置(例如 LCOS(
液晶覆硅)装置或反射装置或LCD透射装置)。因而,可以机械 地或
电子地/光学地或以任何方式设置平移。
图3示意地示出根据本发明一个实施例的光刻设备。该设备包括:照 射系统(照射器)IL,其配置用于调节辐射束B(例如,紫外(UV)辐射 或极紫外(EUV)辐射);支撑结构(例如掩模台)MT,其构造用于支撑 图案形成装置(例如掩模)MA,并与配置用于根据确定的参数精确地定 位图案形成装置MA的第一
定位装置PM相连;衬底台(例如晶片台) WT,其构造用于保持衬底(例如涂覆有抗蚀剂的晶片)W,并与配置用 于根据确定的参数精确地定位衬底W的第二定位装置PW相连;和投影 系统(例如折射式投影透镜系统)PS,其配置用于将由图案形成装置MA 赋予辐射束B的图案投影到衬底W的目标部分C(例如包括一根或多根 管芯)上。
照射系统可以包括各种类型的光学部件,例如折射型、反射型、
磁性 型、电磁型、静电型或其它类型的光学部件、或其任意组合,以引导、成 形、或控制辐射。
所述支撑结构MT支撑图案形成装置MA,也就是承载图案形成装置 MA的重量。支撑结构MT以依赖于图案形成装置MA的方向、光刻设备 的设计以及诸如图案形成装置MA是否保持在
真空环境中等其他条件的 方式保持图案形成装置MA。所述支撑结构MT可以采用机械的、真空的、 静电的或其它夹持技术来保持图案形成装置MA。所述支撑结构MT可以 是
框架或台,例如,其可以根据需要成为固定的或可移动的。所述支撑结 构MT可以确保图案形成装置MA位于所需的位置上(例如相对于投影系 统)。在这里任何使用的术语“掩模版”或“掩模”都可以认为与更上位 的术语“图案形成装置”同义。
这里所使用的术语“图案形成装置”应该被广义地理解为表示能够用 于将图案在辐射束的横截面上赋予辐射束、以便在衬底的目标部分上形成 图案的任何装置。应当注意,被赋予辐射束的图案可能不与在衬底的目标 部分上的所需图案完全相符(例如如果该图案包括
相移特征或所谓的辅助 特征)。通常,被赋予辐射束的图案将与在目标部分上形成的器件中的特 定的功能层相对应,例如集成电路。
图案形成装置可以是透射式的或反射式的。图案形成装置的示例包括 掩模、可编程反射镜阵列以及可编程液晶显示(LCD)面板。掩模在光刻 术中是公知的,并且包括诸如二元掩模类型、交替型相移掩模类型、衰减 型相移掩模类型和各种混合掩模类型之类的掩模类型。可编程反射镜阵列 的示例采用小反射镜的矩阵布置,每一个小反射镜可以独立地倾斜,以便 沿不同方向反射入射的辐射束。所述已倾斜的反射镜将图案赋予由所述反 射镜矩阵反射的辐射束。
这里使用的术语“投影系统”应该广义地解释为包括任意类型的投影 系统,包括折射型、反射型、反射折射型、磁性型、电磁型和静电型光学 系统、或其任意组合,如对于所使用的曝光辐射所适合的、或对于诸如使 用浸没液或使用真空之类的其他因素所适合的。这里使用的术语“投影透 镜”可以认为是与更上位的术语“投影系统”同义。
如这里所示的,所述设备是反射型的(例如,采用反射式掩模)。替 代地,所述设备可以是透射型的(例如,采用透射式掩模)。
所述光刻设备可以是具有两个(双台)或更多衬底台(和/或两个或更 多的掩模台)的类型。在这种“多台”机器中,可以并行地使用附加的台, 或可以在一个或更多个台上执行预备步骤的同时,将一个或更多个其它台 用于曝光。
光刻设备也可以是这种类型,其中衬底的至少部分可以由具有相对高 的折射率的液体(例如
水)
覆盖,以便填充投影系统和衬底之间的空间。 浸没液体也可以应用到光刻设备中的其他空间,例如掩模和投影系统之间 的空间。浸没技术在本领域是熟知的,其用于增大投影系统的数值孔径 NA。这里所用的术语“浸没”并不意味着例如衬底的结构必须浸入到液 体中,而只意味着在曝光过程中液体位于投影系统和衬底之间。
参照图3,照射器IL接收来自辐射源SO的辐射束。该源和光刻设备 可以是分离的实体(例如当该源是受激准分子
激光器时)。在这种情况下, 不会将该源SO考虑成形成光刻设备的一部分,并且通过包括例如合适的 定向反射镜和/或扩束器的束传递系统BD的帮助,将所述辐射束从所述源 SO传到所述照射器IL。在其它情况下,所述源SO可以是所述光刻设备 的组成部分(例如当所述源是汞灯时)。可以将所述源SO和所述照射器 IL、以及如果需要时设置的所述束传递系统BD一起称作辐射系统。
所述照射器IL可以包括用于调整所述辐射束的角强度分布的调整器 AD。通常,可以对所述照射器IL的光瞳平面中的强度分布的至少所述外 部和/或内部径向范围(一般分别称为σ-外部和σ-内部)进行调整。此外, 所述照射器IL可以包括各种其它部件,例如积分器IN和聚光器CO。可 以将所述照射器IL用于调节所述辐射束B,以在其横截面中具有所需的 均匀性和强度分布。
所述辐射束B入射到保持在支撑结构(例如,掩模台MT)上的所述 图案形成装置(例如,掩模MA)上,并且通过所述图案形成装置MA来 形成图案。已经穿过掩模MA之后,所述辐射束B通过投影系统PS,所 述投影系统PS将辐射束B聚焦到所述衬底W的目标部分C上。通过第 二定位装置PW和位置
传感器IF2(例如,干涉仪器件、线性
编码器或电 容传感器)的帮助,可以精确地移动所述衬底台WT,例如以便将不同的 目标部分C定位于所述辐射束B的路径中。类似地,例如在从掩模库的机 械获取之后,或在扫描期间,可以将所述第一定位装置PM和另一个位置 传感器IF1用于相对于所述辐射束B的路径精确地定位掩模MA。通常, 可以通过形成所述第一定位装置PM的一部分的长行程模
块(粗定位)和 短行程模块(精定位)的帮助来实现掩模台MT的移动。类似地,可以采 用形成所述第二定位装置PW的一部分的长行程模块和短行程模块来实现 所述衬底台WT的移动。在步进机的情况下(与扫描器相反),掩模台MT 可以仅与短行程
致动器相连,或者可以是固定的。可以使用掩模对准标记 M1、M2和衬底对准标记P1、P2来对准掩模MA和衬底W。尽管所示的 衬底对准标记占据了专用目标部分,但是它们可以位于目标部分之间的空 间(这些公知为划线对齐标记)中。类似地,在将多于一个的管芯设置在 掩模MA上的情况下,所述掩模对准标记可以位于所述管芯之间。
所示的设备可以用于以下模式中的至少一种中:
1.在步进模式中,在将掩模台MT和衬底台WT保持为基本静止的同 时,将赋予所述辐射束B的整个图案一次投影到目标部分C上(即,单一 的静态曝光)。然后,将所述衬底台WT沿X和/或Y方向移动,使得可以 对不同目标部分C曝光。在步进模式中,曝光场的最大尺寸限制了在单一 的静态曝光中成像的所述目标部分C的尺寸。
2.在扫描模式中,在对掩模台MT和衬底台WT同步地进行扫描的同 时,将赋予所述辐射束B的图案投影到目标部分C上(即,单一的动态曝 光)。衬底台WT相对于掩模台MT的速度和方向可以通过所述投影系统 PS的(缩小)放大率和图像反转特征来确定。在扫描模式中,曝光场的 最大尺寸限制了单一动态曝光中所述目标部分C的宽度(沿非扫描方向), 而所述扫描运动的长度确定了所述目标部分C的高度(沿所述扫描方向)。
3.在另一个模式中,将保持可编程图案形成装置的掩模台MT保持为 基本静止,并且在对所述衬底台WT进行移动或扫描的同时,将赋予所述 辐射束的图案投影到目标部分C上。在这种模式中,通常采用脉冲辐射源, 并且在所述衬底台WT的每一次移动之后、或在扫描期间的连续辐射脉冲 之间,根据需要更新所述可编程图案形成装置。这种操作模式可易于应用 于利用可编程图案形成装置(例如,如上所述类型的可编程反射镜阵列) 的无掩模光刻术中。
也可以采用上述使用模式的组合和/或变体,或完全不同的使用模式。
参照图1和2描述的方法和装置可以应用于多种情形,尤其是用于分 离由不同尺寸的表面结构(例如可以是几纳米量级或甚至十分之几纳米量 级的亚纳米表面变化或污染物)引起的被散射的辐射。
图4具体示出用于检查例如在图3中公开的EUV设备的晶片或掩模 版2的结构设置。相应地,该设备包括支撑结构MT,其构造用于支撑图 案形成装置MA,其中所述图案形成装置MA能够将图案在辐射束B的横 截面上赋予所述辐射束B以形成图案化的辐射束。此外,衬底台WT构造 用以保持衬底W,该衬底在图4中用衬底2表示,其依赖于使用用途可以 是晶片或掩模版。图4中示出的装置可以是检查装置的内部工具,其合并 到图3中示出的装置中(未示出),具体地,该装置是极EUV设备,其中 因为图案形成装置由于没有通过
薄膜保护而易受到污染,因此对图案形成 装置进行检查。图4将检查装置表示为独立的装置,并且其可以用于在所 述设备中使用或运送之前对物体2的检查用途,物体2可以是如图3所示 的掩模MA。作为内部工具的装置,如图3所示,其可以在光刻工艺之前 完成图案形成装置MA和/或衬底W的快速检查。为了这个目的,提供辐 射束1作为引导到物体2的掠入射
激光束1。激光束1的
波长可以是任何 适于检查用途的波长,具体地,不必但不排除其中(EUV-光)。通常,除 非特殊
指定,术语“光”或“辐射”被用来表示任何合适波长的
电磁辐射。 为了应用用途,在实施例中,可见光或近可见光可以用于检查用途。
在计算机12中存在可用的预定图像或预定数据的情况下,通过比较 散射光3的成像部分以便识别表示污染物颗粒的被散射的辐射能够探测污 染物。在图4示出的实施例中,由透镜13和14结合偏振元件15设置光 学系统7。角度扫描元件6设置为振动反射镜,并且以适当的方式振动以 在相对于物体2的入射角上扫描辐射束1。作为可选的方式,角度扫描元 件6可以包括可移动的光学元件,该可移动的光学元件具有变化的折射表 面(例如“摇摆”元件),也可以具有变化的反射表面。优选地,探测装 置4由
珀耳帖元件进行编码以进一步抑制噪音。
图5显示直方图的示例,上面图5A(没有使用本发明散斑抑制的方 法)和下图5B(使用本发明散斑抑制的方法)。可以清楚地看到,信噪比 显著地提高了。通过改变入射角,即使在μrad(微弧度)的范围内,散 斑抑制的所带来的改变可以相当可观地显现出来。振动角在每个CCD积 分周期振动几圈,因而在对表面粗糙度诱发的散斑求平均的同时,保留了 颗粒散射。信噪比的改进可以达10倍,并且计算显示100-500倍是可以实 现的。
因此,在周期图案或非周期图案的情况下更快、更可靠地探测衬底上 的更小的颗粒(在30nm以下范围内)在实际光刻处理条件下是可行的。
虽然在本文中详述了光刻设备用在制造ICs(集成电路),但是应该理 解到这里所述的光刻设备可以有其他的应用,例如制造集成光学系统、磁 畴
存储器的引导和检测图案、平板显示器、
液晶显示器(LCDs)、薄膜磁 头等。本领域技术人员应该认识到,在这种替代应用的情况中,可以将其 中使用的任意术语“晶片”或“管芯”分别认为是与更上位的术语“衬底” 或“目标部分”同义。这里所指的衬底可以在曝光之前或之后进行处理, 例如在轨道(一种典型地将抗蚀剂层涂到衬底上,并且对已曝光的抗蚀剂 进行显影的工具)、量测工具和/或检验工具中。在可应用的情况下,可 以将所述公开内容应用于这种和其他衬底处理工具中。另外,所述衬底可 以处理一次以上,例如为产生多层IC,使得这里使用的所述术语“衬底” 也可以表示已经包含多个已处理层的衬底。
虽然以上已经做出了具体的参考,在光学光刻术的情况中使用本发明 的实施例,但应该理解的是,本发明可以有其它的应用,例如压印光刻术, 并且只要情况允许,不局限于光学光刻术。在压印光刻术中,图案形成装 置中的拓扑限定了在衬底上产生的图案。可以将所述图案形成装置的拓扑 压印到提供给所述衬底的抗蚀剂层中,在其上通过施加电磁辐射、热、压
力或其组合来使所述抗蚀剂
固化。在所述抗蚀剂固化之后,所述图案形成 装置从所述抗蚀剂上移走,并在抗蚀剂中留下图案。
虽然已经介绍了本发明用于在
极紫外光刻处理用途中进行颗粒探测 的情形,但是本领域技术人员应该清楚,所述方法并不限于此,而是可以 用于任何存在减少散斑的需求,同时在成像系统的至少一部分保留辐射束 的相干性的情形。
此外,在其它角度扫描元件位置处,例如具有围绕检查焦点旋转的入 射束角度的多于一个反射镜或布置的情况中,可以应用本发明的方法。
这里使用的术语“辐射”和“束”包含全部类型的电磁辐射,包括: 紫外(UV)辐射(例如具有约365、355、248、193、157或126nm的波长) 和极紫外(EUV)辐射(例如具有5-20nm范围的波长),以及
粒子束, 例如离子束或电子束。
这里使用的术语“透镜”可以认为是一个光学部件或多种类型的光学 部件的组合体,包括折射型、反射型、磁性型、电磁型和静电型光学部件。
尽管以上已经描述了本发明的具体实施例,但应该认识到,本发明可 以以与上述不同的方式来实现。例如,本发明可以采用包含用于描述一种 如上面公开的方法的至少一个机器可读指令序列的
计算机程序的形式,或 具有存储其中的所述的计算机程序的数据存储介质(例如
半导体存储器、 磁盘或光盘)的形式。
上面描述的内容是例证性的,而不是限定性的。因而,应该认识到, 本领域的技术人员在不脱离以下所述
权利要求的范围的情况下,可以对上 述本发明进行
修改。