一种电源管理芯片测试装置
专利汇可以提供一种电源管理芯片测试装置专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本实用新型适用于芯片测试的技术领域，提供了一种电源管理芯片测试装置，装置包括：用于装载被测芯片的探针台；对被测芯片的电气参数进行采集的针卡；与针卡连接，根据针卡采集的电气参数进行处理，输出测试结果 信号 的测试单元；分别与测试单元和探针台连接的主控模 块 ，根据测试结果信号并输出 控制信号 ，控制探针台的位移；分别为测试单元和主控模块提供电源的直流稳压电源模块。在本实用新型中，电源管理芯片测试装置是专 门 针对电源管理芯片进行测试的测试装置，这种测试装置对于只生产电源管理芯片的生产商来说，不仅操作简单、方便，而且降低了成本。，下面是一种电源管理芯片测试装置专利的具体信息内容。
1、一种电源管理芯片测试装置，其特征在于，所述装置包括： 用于装载被测芯片的探针台； 对被测芯片的电气参数进行采集的针卡； 与所述针卡连接，根据针卡采集的电气参数进行处理，输出测试结果信号的测试单元； 分别与所述测试单元和探针台连接的主控模块，根据所述测试结果信号并输出控制信号，控制所述探针台的位移； 分别为所述测试单元和主控模块提供电源的直流稳压电源模块； 与所述主控模块连接，为其输入控制信号的输入模块；以及 与所述主控模块连接，显示测试结果的显示模块。
2、 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试单元包括： 根据所述针卡采集的电气参数，输出接触测试结果信号的接触测试模块； 根据所述针卡采集的电气参数，输出电压测试结果信号或电流测试结果信号的电压/电流测试;漠块；根据所述针卡采集的电气参数，输出频率测试结果信号的频率测试模块； 根据所述针卡采集的电气参数，输出基准电压测试结果信号的基准电压测试模块；根据所述针卡釆集的电气参数，输出开关功能测试结果信号的开关功能测 试模块；以及根据所述针卡采集的电气参数，输出脉宽调制频率测试结果信号的脉宽调 制频率测试模块。
3、 如权利要求1或2所述的测试装置，其特征在于，所述装置还包括： 分别与所述直流稳压电源模块、针卡和测试单元连接的修调模块，所述修调模块根据所述测试单元生成的测试结果信号，生成^f交正所述被测芯片的电气 参数的修调信号，并通过针卡输出给所述被测芯片。
4、 如权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述主控模块包括： 分别与所述直流稳压电源模块、测试单元、显示模块和输入模块连接的微处理器；以及分别与所述微处理器和探针台连接的TTL通讯电路。
5、 如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述微处理器为MSP430 单片机。
6、 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述输入模块是键盘输入 模块或触摸屏输入纟莫块。
7、 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述显示模块是LCD显 示模块。
一种电源管理芯片测试装置
技术领域
背景技术
目前，还没有开发出专门针对电源管理芯片进行测试的测试装置，所以现 在都采用通用测试装置对电源管理芯片进行测试，这样对于只生产电源管理芯 片的生产商来说，不仅操作复杂、不方便，而且成本较高。
实用^斤型内容
本实用新型的目的在于提供一种电源管理芯片测试装置，旨在解决现在没 有开发出专门针对电源管理芯片进行测试的测试装置的问题。
本实用新型是这样实现的， 一种电源管理芯片测试装置，所述装置包括： 用于装载被测芯片的探针台； 对被测芯片的电气参数进行釆集的针卡；
与所述针卡连接，根据针卡采集的电气参数进行处理，输出测试结果信号 的测试单元；
分别与所述测试单元和探针台连接的主控模块，根据所述测试结果信号并 输出控制信号，控制所述4果针台的位移；
分别为所述测试单元和主控模块提供电源的直流稳压电源模块； 与所述主控模块连接，为其输入控制信号的输入模块；以及
4与所述主控模块连接，显示测试结果的显示模块； 上述结构中，所述测试单元包括：
根据所述针卡采集的电气参数，输出接触测试结果信号的接触测试模块； 根据所述针卡采集的电气参数，输出电压测试结果信号或电流测试结果信
号的电压/电流测试模块；
根据所述针卡采集的电气参数，输出频率测试结果信号的频率测试模块； 才艮据所述针卡采集的电气参数，输出基准电压测试结果信号的基准电压测
试模块；
冲艮据所述针卡采集的电气参数，输出开关功能测试结果信号的开关功能测 试模块；以及
根据所述针卡采集的电气参数，输出脉宽调制频率测试结果信号的脉宽调 制频率测试才莫块；
上述结构中，所述装置还包括：
分别与所述直流稳压电源模块、针卡和测试单元连接的修调模块，所述修 调模块根据所述测试单元生成的测试结果信号，生成校正所述被测芯片的电气 参数的修调信号，并通过针卡输出给所述被测芯片；
上述结构中，所述主控模块包括：
分别与所述直流稳压电源模块、测试单元、显示模块和输入模块连接的微 处理器；以及
分别与所述微处理器和探针台连接的TTL通讯电路； 上述结构中，所述孩史处理器为MSP430单片机； 上述结构中，所述输入模块是4建盘输入才莫块或触摸屏输入模块； 上述结构中，所述显示模块是LCD显示模块。
在本实用新型中，电源管理芯片测试装置是专门针对电源管理芯片进行测 试的测试装置，这种测试装置对于只生产电源管理芯片的生产商来说，不仅操 作简单、方便，而且降低了成本。附图说明
图1是本实用新型实施例提供的电源管理芯片测试装置的结构图。 具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图 及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体 实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
图1示出了本实用新型实施例提供的电源管理芯片测试装置的结构，为了便 于说明，仅示出了与本实用新型相关的部分。
电源管理芯片测试装置包括用于装载被测芯片的探针台100;对被测芯片 的电气参数进行采集的针卡200;与针卡200连接，根据针卡200采集的电气 参数进行处理，输出测试结果信号的测试单元300,作为本实用新型一实施例， 测试单元300包括：根据针卡200釆集的电气参数，输出接触测试结果信号的 接触测试模块301;根据针卡200采集的电气参数，输出电压测试结果信号或 电流测试结果信号的电压/电流测试模块302;根据针卡200采集的电气参数， 输出频率测试结果信号的频率测试模块303;根据针卡200采集的电气参数， 输出基准电压测试结果信号的基准电压测试模块304;根据针卡200采集的电 气参数，输出开关功能测试结果信号的开关功能测试模块305;以及根据针卡 200采集的电气参it,输出脉宽调制频率测试结果信号的脉宽调制频率测试冲莫 块306。
电源管理芯片测试装置还包括：分别与测试单元300和探针台100连接的 主控模块400，根据测试结果信号并输出控制信号，控制探针台100的位移； 分别为测试单元300和主控模块400提供电源的直流稳压电源模块500;与主 控模块400连接，为其输入控制信号的输入模块600;与主控模块400连接， 显示测试结果的显示模块700。其中，主控模块400包括分别与直流稳压电源模块500、测试单元300、显 示模块700和输入模块600连接的微处理器401,以及分别与微处理器401和 探针台IOO连接的TTL通讯电路402。作为本实用新型一实施例，微处理器401 为MSP430单片机，输入模块600是键盘输入模块或触摸屏输入模块，显示模 块700是LCD显示模块。
作为本实用新型 一 实施例，电源管理芯片测试装置还包括分别与直流稳压 电源才莫块500、针卡200和测试单元300连接的1^调才莫块800,修调冲莫块800 根据测试单元300生成的测试结果信号，生成校正^皮测芯片的电气参数的^"调 信号，并通过针卡200输出给被测芯片。
该电源管理芯片测试装置的工作过程为：针卡200通过接触被测芯片的管 脚，对被测芯片的电气参数进行采集，测试单元300根据针卡200采集的电气 参数进行处理，输出测试结果信号，主控模块400根据测试单元300输出的测 试结果信号进行运算，输出控制信号，控制显示模块700显示测试结果，修调 模块800根据测试单元300生成的测试结果信号，生成才交正被测芯片的电气参 数的修调信号，并通过针卡200输出给被测芯片。
通过输入模块600为主控模块400输入控制信号，可以选择测试模式，主 控模块400控制探针台IOO的移动，使得电源管理芯片测试装置可连续对不同 的#皮测芯片进4亍测试。
在本实用新型实施例中，电源管理芯片测试装置是专门针对电源管理芯片 进行测试的测试装置，这种测试装置对于只生产电源管理芯片的生产商来iJL, 不仅操作简单、方便，而且降低了成本。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型， 凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应 包含在本实用新型的保护范围之内。
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