专利汇可以提供凸轮轴的凸轮基圆的检测装置专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种 凸轮 轴的凸轮 基圆 的检测装置,包括:校对件,其包括直径为第一标 准直 径的第一标准圆柱和直径为第二标准直径的第二标准圆柱;测量组件,其包括:V型测爪,其包括本体和两个测爪,两个测爪对称布置在本体的下端,且两个测爪成一定的 角 度,本体的中心处设有通孔;测量轴,测量轴的下端穿过通孔;测量套,其中心处设有用于安装测量轴的测量轴容置孔,测量套的下端与本体固定连接;以及百分表,其量杆固定在测量套上,测头与测量轴的顶面抵接。该装置在 凸轮轴 水 平放置时进行测量,测量时 定位 准确,测量误差小,且测量困难较小,重复性好,且检测更加安全、方便。,下面是凸轮轴的凸轮基圆的检测装置专利的具体信息内容。
1.一种凸轮轴的凸轮基圆的检测装置,所述凸轮基圆的标准直径在第一标准直径和第二标准直径之间,其特征在于,所述检测装置包括:
校对件,所述校对件包括直径为第一标准直径的第一标准圆柱和直径为第二标准直径的第二标准圆柱;
测量组件,所述测量组件包括:
V型测爪,所述V型测爪包括本体和两个测爪,两个所述测爪对称布置在所述本体的下端,且两个所述测爪成一定的角度,所述本体的中心处设有通孔;
测量轴,所述测量轴的下端穿过所述通孔;
测量套,所述测量套的中心处设有用于安装所述测量轴的测量轴容置孔,所述测量套的下端与所述本体固定连接;以及
百分表,所述百分表的量杆固定在所述测量套上,所述百分表的测头与所述测量轴的顶面抵接;
其中,校对状态下,两个所述测爪与所述校对件的第一标准圆柱或第二标准圆柱的外圆周面接触,所述测量轴的下端与所述第一标准圆柱或第二标准圆柱的外圆周面抵接;测量状态下,两个所述测爪与所述凸轮基圆的外圆周面接触,所述测量轴的下端与所述凸轮基圆的外圆周面抵接。
2.根据权利要求1所述的凸轮轴的凸轮基圆的检测装置,其特征在于,所述校对件上设有过渡轴,所述第一标准圆柱和第二标准圆柱对称设置在所述过渡轴的两侧;
所述检测装置还包括:
底座,所述底座包括基座和支撑壁,所述支撑壁设置在所述基座的中心处,所述支撑壁的顶面的中心处设有第一圆弧槽,所述第一圆弧槽的直径与所述过渡轴的直径相同;
压盖,所述压盖的底面的中心处设有直径与所述过渡轴的直径相同的第二圆弧槽;安装状态下,所述过渡轴固定在所述第一圆弧槽与所述第二圆弧槽之间。
3.根据权利要求1所述的凸轮轴的凸轮基圆的检测装置,其特征在于,所述测爪上与所述凸轮基圆接触的位置设有镶块,所述镶块由硬质合金制成。
4.根据权利要求3所述的凸轮轴的凸轮基圆的检测装置,其特征在于,所述测量轴上设有轴向的限位槽,所述测量套上设有限位螺钉孔,限位螺钉穿过所述限位螺钉孔,且限位螺钉的端部位于所述限位槽内。
5.根据权利要求4所述的凸轮轴的凸轮基圆的检测装置,其特征在于,所述测量轴的上端的外圆柱面上设有台阶面,所述测量轴容置孔的顶面上设有弹簧容置槽;
所述检测装置还包括弹簧,所述弹簧安装在所述台阶面和所述弹簧容置槽之间。
6.根据权利要求5所述的凸轮轴的凸轮基圆的检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括紧帽,所述测量轴容置孔自所述测量套的顶面延伸至底面,所述紧帽固定在所述测量套的顶面上;所述紧帽的中心处设有安装所述百分表的量杆的中心孔,所述弹簧容置槽设置在所述中心孔的下端;所述紧帽的侧壁上设有锁紧螺钉孔。
7.根据权利要求1所述的凸轮轴的凸轮基圆的检测装置,其特征在于,所述测量轴的下部包括中间轴段和直径小于所述中间轴段的抵接轴段,所述抵接轴段的下端为球端。
8.根据权利要求7所述的凸轮轴的凸轮基圆的检测装置,其特征在于,所述测量套的下端设有限位轴段,所述通孔由上而下包括限位轴段容置孔和直径小于所述抵接轴段容置孔的抵接轴段容置孔。
9.根据权利要求1所述的凸轮轴的凸轮基圆的检测装置,其特征在于,所述测量套的下端面与所述V型测爪的顶面的相应位置处分别对称设有定位销孔。
10.根据权利要求6所述的凸轮轴的凸轮基圆的检测装置,其特征在于,所述百分表的量杆与所述紧帽的中心孔之间设有衬套。
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