半轴齿轮位置公差检具
阅读：786发布：2023-01-12
专利汇可以提供半轴齿轮位置公差检具专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种半轴 齿轮 位置 公差检具，它由芯轴、量棒组成。所述量棒为一组三根细长圆柱棒，三根量棒直径相等且公差等级相同。所述芯轴为锥度轴结构，量棒近似三等分安装在半轴齿轮的内 花键 中，芯轴以小尺寸端插进其中并以外壁与量棒 接触 配合构成 定位 结构，在此定位条件下作半轴齿轮的位置公差检测。本发明采用微锥芯轴配合量棒定位半轴齿轮，结构简单，定位可靠，便于检测。由于量棒在微锥芯轴外壁上轴向位移可微调配合尺寸，所以也适应作公差范围大的 工件 检测。本发明特别适合大批量检验使用。，下面是半轴齿轮位置公差检具专利的具体信息内容。
半轴齿轮位置公差检具
技术领域
背景技术
[0002] 汽车差速器半轴齿轮是一种设有内花键的锥齿轮，该类齿轮在高速旋转中传递扭矩，所以对半轴齿轮的设计精度和制造精度要求都很高。半轴齿轮的位置公差优劣对传动质量影响很大，制造过程中必须通过位置公差检验来判别其质量是否符合设计要求。半轴齿轮位置公差检验基准是内花键的分度圆，现有技术用相配套的外花键齿侧定位芯轴插入内花键孔中，以花键齿侧预留锥度作定位。该结构简单，基本满足检测定位条件，检测操作方便，在行业中已被大量应用。但是，目前所用的外花键齿侧定位芯轴不仅制作难度大、成本高，而且应用有一定局限性。例如，待检的半轴齿轮尺寸公差范围较大，所备的外花键齿侧定位芯轴不配套，则需配备多根不同尺寸公差范围的外花键齿侧定位芯轴才能满足检测定位要求。
发明内容
[0003] 本发明主要针对现有外花键齿侧定位芯轴用于半轴齿轮位置公差检测的不足，提出一种结构简单、制作容易、定位准确、检测方便的半轴齿轮位置公差检具。
[0004] 本发明通过下述技术方案实现技术目标。
[0005] 半轴齿轮位置公差检具，它由芯轴、量棒组成。所述量棒为一组三根细长圆柱棒，三根量棒直径相等且公差等级相同。其改进之处在于：所述芯轴为锥度轴结构。所述量棒近似三等分安装在半轴齿轮的内花键槽中，芯轴以小尺寸端插进其中并以外壁与量棒接触配合构成定位结构。
[0006] 上述结构中的芯轴锥度比为200mm﹕0.08mm～0.10mm，量棒公差为±0.001mm。
[0007] 本发明与现有技术相比，具有以下积极效果：1、芯轴为圆锥轴，结构简单，制作容易；
2、微锥芯轴，定位可靠、准确，便于检测；
3、代替成本很高，采购周期长的花键锥度芯轴，缩短新产品开发周期。
附图说明
2、微锥芯轴，定位可靠、准确，便于检测；
3、代替成本很高，采购周期长的花键锥度芯轴，缩短新产品开发周期。
附图说明
[0008] 图1是本发明结构立体示意图。
[0009] 图2是图1左视图。
具体实施方式
[0010] 下面根据附图对本发明作进一步说明。
[0011] 图1所示的半轴齿轮位置公差检具，它由芯轴1、量棒2组成，所述量棒2为一组三根细长圆柱棒，三根量棒2直径相等且公差等级相同。本发明中的芯轴1为锥度轴结构，其锥度比为200mm﹕0.08mm～0.10mm，本实施例中芯轴1的锥度比为200mm﹕0.08mm。所述量棒2规格根据待检测的半轴齿轮内花键分度圆接触点直径位置确定，量棒2的公差为±0.001mm，市场有标准件供应。将选定的量棒2近似三等分安装在半轴齿轮3的内花键中，芯轴1以小尺寸端插进其中并作轴向位移，直至外壁与量棒2接触配合构成定位结构。在此定位条件下作半轴齿轮3的有关径向跳动、端面跳动及球面跳动检验。本发明采用微锥芯轴1配合量棒2定位半轴齿轮3，结构简单，定位可靠，便于检测。
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