专利汇可以提供陶瓷晶界层电容器制备方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 提供了一种陶瓷 晶界 层电容器的制备方法,即选用六方 碳 化 硅 或具有半导性的驰豫 铁 电材料作为陶瓷基体材料,选用 氧 化 铜 、氧化 铝 、氧化镁、氧化硅等组成的低共熔混合物作为高绝缘晶界相,通过颗粒包裹技术实现结构和相分布均匀化,采用一次烧成方式制备晶界层陶瓷电容器。本发明工艺简单,成本低廉,制备的陶瓷电容器体积小、结构均匀、 介电常数 高(大于20000)、使用可靠性好、抗老化性能优良、实用性强,易于推广。,下面是陶瓷晶界层电容器制备方法专利的具体信息内容。
1、晶界层陶瓷电容器制备方法,包括选择陶瓷基体材料、包裹工艺、烧成 工艺,其特征是:
a、选用六方碳化硅或具有半导性的驰豫铁电材料作为陶瓷基体材料,选用 一种或几种低共熔混合物组成晶界相物质;
b、采用颗粒包裹技术,将陶瓷基体材料和晶界相物质按照65-80∶35- 20的比例进行包裹混合,使晶界相物质均匀分布在陶瓷基体材料颗粒周围,形 成晶界相物质层;
c、采用一次烧成工艺烧制b所包裹后的材料,烧成温度是650-1650℃, 升温速率为300℃-700℃/小时,保温时间为0.5-4小时。
2、依照权利要求1所述的晶界层陶瓷电容器制备方法,其特征在于:所说 的具有半导性的驰豫铁电材料为钛酸钡、钛酸铅、钛酸锶中的一种,粒度为1 -50微米。
3、依照权利要求1所述的晶界层陶瓷电容器制备方法,其特征在于:所说 的低共熔混合物为氧化铜、氧化铝、氧化镁、氧化硅中的一种或几种,晶界相 含量为5-35%重量比。
4、依照权利要求1所述的晶界层陶瓷电容器制备方法,其特征在于:所说 的包裹工艺方法为溶胶凝胶方法或溶液反应方法。
5、依照权利要求1所述的晶界层陶瓷电容器制备方法,其特征在于:所说 的一次烧成工艺为常压烧结或热压烧结,对于碳化硅用热压烧结工艺,对于驰 豫铁电体用常压烧结工艺。
本发明涉及陶瓷电容器制备工艺,具体涉及一种陶瓷晶界层电容器制备方 法。
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