首页 / 专利库 / 专利权 / 专利合作条约 / 第I章 / 受理局 / 形式要求 / 缺陷 / 一种太阳能硅片微观缺陷的在线测试方法

一种太阳能片微观缺陷的在线测试方法

阅读:968发布:2023-01-24

专利汇可以提供一种太阳能片微观缺陷的在线测试方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 涉及一种 太阳能 硅 片 微观 缺陷 的在线测试方法,包括以下步骤:步骤一,将太阳能 硅片 放置于测试 支撑 座上,电容 传感器 的电容量变化并生成 电压 值,磁电式伺服调整电容传感器到太阳能硅片表面的距离;步骤二,应 力 激发器对太阳能硅片上表面进行点击式气流 应力 激发,使得太阳能硅片产生阻尼振荡,电容传感器感应到太阳能硅片产生的阻尼振荡生成电压变化的 信号 ;步骤三, 模数转换 器 将电压变化的信号转换为电压变化的数值,并得到阻尼振荡的 波数 和振幅,根据公式计算出对数减量。本发明若振动的波数越多和幅度差越小则说明缺陷越少、 晶界 结构紧密性越好,若波数少、衰减快则说明缺陷严重,可以有效的对太阳能硅片的微观缺陷进行测试。,下面是一种太阳能片微观缺陷的在线测试方法专利的具体信息内容。

1.一种太阳能片微观缺陷的在线测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一,将太阳能硅片放置于测试支撑座上,电容传感器的电容量变化并生成电压值,利用磁电式伺服调整电容传感器到太阳能硅片表面的距离,使得电压值在设定的电压值范围内;
步骤二,利用应激发器对太阳能硅片上表面进行点击式气流应力激发,使得太阳能硅片产生阻尼振荡,电容传感器感应到太阳能硅片产生的阻尼振荡生成电压变化的信号
步骤三,模数转换器将电压变化的信号转换为电压变化的数值,并得到阻尼振荡的波数和振幅;
步骤四,根据以下公式计算出太阳能硅片阻尼振荡的对数减量σ:
其中,A1为一次振动的振幅,An+1为n+1次振动的振幅;
A1最大为一次振动的最大幅度,A1最小为一次振动的最小幅度,An+1最大为n+1次振动的最大振幅,An+1最小为n+1次振动的最小振幅。
2.根据权利要求1所述的太阳能硅片微观缺陷的在线测试方法,其特征在于,所述步骤一中设定的电压值范围为2.25~2.75V,所述传感器到太阳能硅片表面的距离为0.45~
0.55mm。
3.根据权利要求1所述的太阳能硅片微观缺陷的在线测试方法,其特征在于,所述磁电式伺服包括固定板、环形磁、圆形磁铁和弹性支撑架,所述圆形磁铁设置于所述环形磁铁的内圆中并设置有磁场间隔,所述环形磁铁与所述圆形磁铁为异性磁铁,所述环形磁铁、圆形磁铁和弹性支撑架还分别设置于所述固定板上。
4.根据权利要求3所述的太阳能硅片微观缺陷的在线测试方法,其特征在于,所述电容传感器包括中空圆柱固定架、圆形电极板、环形电极板、电容信号调理电路和线圈,所述圆形电极板设置于所述环形电极板的内圆中并设置有间隔,所述圆形电极板与所述环形电极板的轴心在同一直线上并分别设置于所述中空圆柱固定架的顶部,所述圆形电极板与所述环形电极板还分别与所述电容信号调理电路连接,所述线圈分别与所述圆形电极板、环形电极板连接并设置于所述磁场间隔中,所述线圈还与所述弹性支撑架连接。
5.根据权利要求1所述的太阳能硅片微观缺陷的在线测试方法,其特征在于,所述应力激发器的孔径为1~1.2mm,所述应力激发器的气体压力为0.4~0.6MPa,所述应力激发器的喷气时间为0.1~0.3s。
6.根据权利要求1所述的太阳能硅片微观缺陷的在线测试方法,其特征在于,所述应力激发器与太阳能硅片上表面的距离为30~40mm。

说明书全文

一种太阳能片微观缺陷的在线测试方法

技术领域

[0001] 本发明属于太阳能硅片测试领域,尤其涉及一种太阳能硅片微观缺陷的在线测试方法。

背景技术

[0002] 现有的太阳能硅片缺陷的测试方法,是采用EL测试仪主要是对太阳能硅片裂纹、黑斑、断栅的测试,只能在太阳能电池组件串焊后层压前的进行通电并用CCD相机检测电池片的裂纹,而且只能检测较明显的裂纹,这种裂纹是在硅片时可能已经存在的缺陷经后道工序操作使缺陷成为裂纹。
[0003] 因此,亟需一种有效检测太阳能硅片微观缺陷的测试方法。

发明内容

[0004] 本发明的目的是克服现有技术存在的缺陷,提供一种太阳能硅片微观缺陷的在线测试方法。
[0005] 实现本发明目的的技术方案是:一种太阳能硅片微观缺陷的在线测试方法,包括以下步骤:
[0006] 步骤一,将太阳能硅片放置于测试支撑座上,电容传感器的电容量变化并生成电压值,利用磁电式伺服调整电容传感器到太阳能硅片表面的距离,使得电压值在设定的电压值范围内;
[0007] 步骤二,利用应激发器对太阳能硅片上表面进行点击式气流应力激发,使得太阳能硅片产生阻尼振荡,电容传感器感应到太阳能硅片产生的阻尼振荡生成电压变化的信号
[0008] 步骤三,模数转换器将电压变化的信号转换为电压变化的数值,并得到阻尼振荡的波数和振幅;
[0009] 步骤四,根据以下公式计算出太阳能硅片阻尼振荡的对数减量σ:
[0010]
[0011]
[0012] 其中,A1为一次振动的振幅,An+1为n+1次振动的振幅;
[0013] A1最大为一次振动的最大幅度,A1最小为一次振动的最小幅度,An+1最大为n+1次振动的最大振幅,An+1最小为n+1次振动的最小振幅。
[0014] 进一步的,所述步骤一中设定的电压值范围为2.25~2.75V,所述传感器到太阳能硅片表面的距离为0.45~0.55mm。
[0015] 进一步的,所述磁电式伺服包括固定板、环形磁、圆形磁铁和弹性支撑架,所述圆形磁铁设置于所述环形磁铁的内圆中并设置有磁场间隔,所述环形磁铁与所述圆形磁铁为异性磁铁,所述环形磁铁、圆形磁铁和弹性支撑架还分别设置于所述固定板上。
[0016] 进一步的,所述电容传感器包括中空圆柱固定架、圆形电极板、环形电极板、电容信号调理电路和线圈,所述圆形电极板设置于所述环形电极板的内圆中并设置有间隔,所述圆形电极板与所述环形电极板的轴心在同一直线上并分别设置于所述中空圆柱固定架的顶部,所述圆形电极板与所述环形电极板还分别与所述电容信号调理电路连接,所述线圈分别与所述圆形电极板、环形电极板连接并设置于所述磁场间隔中,所述线圈还与所述弹性支撑架连接。
[0017] 进一步的,所述应力激发器的孔径为1~1.2mm,所述应力激发器的气体压力为0.4~0.6MPa,所述应力激发器的喷气时间为1~3s。
[0018] 进一步的,所述应力激发器与太阳能硅片上表面的距离为30~40mm。
[0019] 本发明具有积极的效果:本发明在太阳能硅片上施加应力,太阳能硅片上呈阻尼衰减性共振,若振动的波数越多和幅度差越小则说明缺陷越少、晶体结构精密性越好,若波数少、衰减快则说明缺陷严重,可以有效的对太阳能硅片的微观缺陷进行测试。附图说明
[0020] 为了使本发明的内容更容易被清楚地理解,下面根据具体实施例并结合附图,对本发明作进一步详细的说明,其中:
[0021] 图1为本发明的结构示意图。
[0022] 其中:1、模数转换器,2、测试支撑座,3、太阳能硅片,4、应力激发器,5、电容传感器,6、磁电式伺服。

具体实施方式

[0023] 如图1所示,作为第一优选实施方式,本实施方式提供一种太阳能硅片微观缺陷的在线测试方法,包括以下步骤:
[0024] 步骤一,将太阳能硅片3放置于测试支撑座2上,电容传感器5的电容量变化并生成电压值,利用磁电式伺服6调整电容传感器5到太阳能硅片3表面的距离,使得电压值在设定的电压值范围内;
[0025] 步骤二,利用应力激发器4对太阳能硅片3上表面进行点击式气流应力激发,使得太阳能硅片3产生阻尼振荡,电容传感器6感应到太阳能硅片产生的阻尼振荡生成电压变化的信号;
[0026] 步骤三,模数转换器1将电压变化的信号转换为电压变化的数值,并得到阻尼振荡的波数和振幅;
[0027] 步骤四,根据以下公式计算出太阳能硅片3阻尼振荡的对数减量σ:
[0028]
[0029]
[0030] 其中,A1为一次振动的振幅,An+1为n+1次振动的振幅;
[0031] A1最大为一次振动的最大幅度,A1最小为一次振动的最小幅度,An+1最大为n+1次振动的最大振幅,An+1最小为n+1次振动的最小振幅。
[0032] 本实施方式在太阳能硅片3上施加应力使其呈阻尼衰减性共振,若振动的波数越多和幅度差越小则说明缺陷越少、晶体结构精密性越好,若波数少、衰减快则说明缺陷严重,可以有效的对太阳能硅片的微观缺陷进行测试。
[0033] 本实施方式计算得到的对数减量σ是一个始终小于1的数,其意义是比较一个无缺陷样品的参数来判定另一个大于它的参数来表示缺陷的程度,得数越小,说明太阳能硅片3的结构力学性能越好,太阳能硅片3的缺陷越小。
[0034] 本实施方式提供的设定的电压值范围为2.25~2.75V,相应的,电容传感器5到太阳能硅片3表面的距离为0.45~0.55mm,本实施例优选0.5mm。
[0035] 本实施方式提供的磁电式伺服6包括固定板、环形磁铁、圆形磁铁和弹性支撑架,圆形磁铁设置于环形磁铁的内圆中并设置有磁场间隔,环形磁铁与圆形磁铁为异性磁铁,环形磁铁、圆形磁铁和弹性支撑架还分别设置于固定板上。
[0036] 本实施方式提供的电容传感器5包括中空圆柱固定架、圆形电极板、环形电极板、电容信号调理电路和线圈,圆形电极板设置于环形电极板的内圆中并设置有间隔,圆形电极板与环形电极板的轴心在同一直线上并分别设置于中空圆柱固定架的顶部,圆形电极板与环形电极板还分别与电容信号调理电路连接,线圈分别与圆形电极板、环形电极板连接并设置于磁场间隔中,线圈还与弹性支撑架连接。
[0037] 本实施方式中太阳能硅片3放置到测试支撑座2上,应力激发器4给太阳能硅片3施加压力使其产生阻尼振荡,当太阳能硅片3靠近圆形电极板与环形电极板的外表面时,圆形电极板与环形电极板之间的电容量变大,电容信号调理电路生成电压升高的数值,反之,则生成电压降低的数值,从而得到阻尼振荡的波形
[0038] 本实施方式中线圈设置于磁场中,通过增加线圈的电流使得线圈在中空圆柱固定架的长度方向移动,从而调节圆形电极板和环形电极板到太阳能硅片3下表面的距离。
[0039] 本实施方式提供的应力激发器4的孔径为1~1.2mm,本实施例优选1.1mm,应力激发器4的气体压力为0.4~0.6MPa,本实施例优选0.5MPa,应力激发器4的喷气时间为0.1~0.3s,本实施例优选0.2s,应力激发器4与太阳能硅片3上表面的距离为30~40mm,本实施例优选35mm。
[0040] 以上所述的具体实施例,对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本发明的具体实施例而已,并不用于限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
相关专利内容
标题 发布/更新时间 阅读量
缺陷预测 2020-05-11 835
去除缺陷的方法 2020-05-12 336
色觉缺陷校正 2020-05-13 472
潜在缺陷识别 2020-05-13 240
绝缘缺陷的检测 2020-05-13 268
缺陷检测机 2020-05-11 64
缺陷分析法 2020-05-11 356
缺陷登记方法 2020-05-12 589
出生缺陷细胞库及其构建方法 2020-05-11 819
级联缺陷检查 2020-05-12 164
高效检索全球专利

专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台,是提供专利分析,专利查询,专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。

我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据,免费查、免费专利分析。

申请试用

分析报告

专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析,涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度,系统通过AI智能系统对图表进行解读,只需1分钟,一键生成行业专利分析报告。

申请试用

QQ群二维码
意见反馈