用于图像上采样的方法和系统
阅读：20发布：2020-07-14
专利汇可以提供用于图像上采样的方法和系统专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 的 实施例 包括使用直接内插进行图像上 采样 的系统和方法。本发明的一些实施例提供了一种被设计用于h.264/MPEG-4 AVC的可缩放 视频编码 扩展的上采样过程。，下面是用于图像上采样的方法和系统专利的具体信息内容。
1.一种从包括多个底层图像采样的底层图像进行图像上采样以得到包括多个增强层图像采样的增强层图像的方法，包括：
a)针对所述增强层图像的块的左上采样，定义位置(xP，yP)；
b)产生所述增强层图像采样的块阵列predL[x，y]，其中所述步骤b)包括：
i)形成临时图像采样阵列tempL[x，y]；
ii)导出所述临时图像采样阵列tempL[x，y]中的条目，其中所述步骤ii)包括：
(1)计算所述底层图像中相应的分数采样的y位置yf；
(2)根据yf计算y位置的内插中心yInt；
(3)根据yf计算y位置相位；
(4)获得第一4抽头滤波器的第一组滤波器系数，其中所
述第一组滤波器系数的获得基于所述y位置相位；以
及
(5)根据如下导出所述临时图像采样阵列tempL[x，y]中
的条目：
tempL[x，y]＝
baseL[x，yInt-1]*e[-1]+baseL[x，yInt]*e[0]+
baseL[x，yInt+1]*e[1]+baseL[x，yInt+2]*e[2]，
其中，bas eL[x，y]表示所述底层图像采样阵列，e[-1]、
e[0]、e[1]和e[2]表示所述第一4抽头滤波器的所述
第一组滤波器系数；
所述步骤b)还包括：iii)导出所述增强层图像采样的块阵列predL[x，y]中的条目，其中所述步骤iii)包括：
(1)计算所述底层图像中相应的分数采样的x位置xf；
(2)根据xf计算x位置的内插中心xInt；
(3)根据xf形成x位置相位；
(4)获得第二4抽头滤波器的第二组滤波器系数，其中
所述第二组滤波器系数的获得基于所述x位置相位；以
及
(5)根据如下导出所述增强层图像采样的块阵列
predL[x，y]中的条目：
predL[x，y]＝Clip1Y((
tempL[xInt-1，y]*e[-1]+tempL[xInt，y]*e[0]+
tempL[xInt+1，y]*e[1]+tempL[xInt+2，y]*e[2]+
512)/1024)，
where Clip1Y(x)＝min(max(0，x)，(1＜＜BitDepthY)-1)
其中，e[-1]、e[0]、e[1]和e[2]表示
所述第二4抽头滤波器的所述第二组滤波器系数，
BitDepthY表示图像采样所取的值的比特深度，
其中，所述计算x位置的内插中心的步骤和计算y位置的内插中心的步骤中，利用是图像采样的1/16的内插分辨率。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述底层图像采样包括亮度采样。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述底层图像采样包括色度采样。
4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一组滤波器系数的获得包括访问查找表。
5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第二组滤波器系数的获得包括访问查找表。
6.根据权利要求4所述的方法，其中，所述查找表包括LanczoS加窗sinc函数的采样。
7.根据权利要求5所述的方法，其中，所述查找表包括Lanczos加窗sinc函数的采样。
8.根据权利要求1所述的方法，其中，所述块是尺寸为16乘16的宏块。
9.根据权利要求1所述的方法，其中，所述增强层图像的块的增强层图像采样和所述底层图像中相应的分数采样不具有相同的空间区域。
用于图像上采样的方法和系统
[0001] 相关引用
[0002] 本申请要求2005年3月18日提交的、发明人为Shijun Sun、标题为“Extended spatial scalability with picture-level adaptation”的 美 国 临 时 专 利 申 请No.60/663,161的优先权；本申请还要求2005年5月20日提交的、发明人为Shijun Sun、标题为“Direct interpolation for up-sampling in extended spatial scalability”的美国临时专利申请No.60/683,060的优先权；本申请还要求2005年6月1日提交的、发明人为Shi jun Sun、标题为“Deblocking filter method with reduced complexity for spatial scalable video coding”的美国临时专利申请No.60/686,676的优先权。
技术领域
背景技术
[0004] H.264/MPEG-4AVC[Joint Video Team of ITU-T VCEG and ISO/IECMPEG，th“Advanced Video Coding(AVC)-4 Edition，”ITU-T Rec.H.264and ISO/IEC
14496-10(MPEG4-Part 10)，January 2005]是使用宏块预测、之后为了压缩效率而进行残余编码以减小图像序列的时间和空间冗余的视频编解码规范，将其在此引入作为参考。空间可缩放性是指这样的功能：比特流的部分可以被去除，同时维持任意支持的空间分辨率上的比率失真性能。单层H.264/MPEG-4AVC不支持空间可缩放性。H.264/MPEG-4AVC的可缩放视频编码(SVC)扩展支持空间可缩放性。
14496-10(MPEG4-Part 10)，January 2005]是使用宏块预测、之后为了压缩效率而进行残余编码以减小图像序列的时间和空间冗余的视频编解码规范，将其在此引入作为参考。空间可缩放性是指这样的功能：比特流的部分可以被去除，同时维持任意支持的空间分辨率上的比率失真性能。单层H.264/MPEG-4AVC不支持空间可缩放性。H.264/MPEG-4AVC的可缩放视频编码(SVC)扩展支持空间可缩放性。
[0005] 在此引入作为参考的H.264/MPEG-4 AVC的SVC扩展[联合可缩放视频模型(JSVM)的工作文件1.0 (WD-1.0)(MPEG Doc.N6901)]是一种分层的视频编解码方案，其中通过层间预测机制来探寻空间层之间的冗余。H.264/MPEG-4 AVC的SVC扩展的设计中包含有三种层间预测技术：层间运动预测、层间残余预测以及层间内部纹理预测。
[0006] 之前，SVC仅提出了二元空间可缩放性。二元空间可缩放性是指这样的配置：两个连续空间层之间的图像尺度比是2的幂。已经提出了被称作具有剪切窗的非二元缩放的新工具，这些新工具管理如下配置：连续空间层之间的图像尺寸比不是2的幂，而且更高级的图像包含相应的更低级图像中不存在的区域。
[0007] 所有的层间预测方法都包括图像上采样。图像上采样是从较低分辨率图像中产生较高分辨率图像的过程。一些图像上采样过程包括采样内插。SVC设计中使用的先前的上采样过程基于H.264中针对内部预测而规定的四分之一luma采样内插过程。当应用于空间可缩放编码时，先前的方法具有如下两个缺点：内插分辨率被限制为四分之一采样，因而不支持非二元缩放；以及需要半采样内插以获得四分之一采样位置，这使得该方法在计算上是麻烦的。期望一种克服这些限制的图像上采样过程。
发明内容
[0009] 根据本发明的第一方面，提供了一种从包括多个底层图像采样的底层图像进行图像上采样以得到包括多个增强层图像采样的增强层图像的方法，包括：a)针对所述增强层图像的块的左上采样，定义位置(xP，yP)；b)产生所述增强层图像采样的块阵列predL[x，y]，其中所述步骤b)包括：i)形成临时图像采样阵列tempL[x，y]；ii)导出所述临时图像采样阵列tempL[x，y]中的条目，其中所述步骤ii)包括：
[0010] (1)计算所述底层图像中相应的分数采样的y位置yf；(2)根据yf计算y位置的内插中心yInt；(3)根据yf计算y位置相位；(4)获得第一4抽头滤波器的第一组滤波器系数，其中所述第一组滤波器系数的获得基于所述y位置相位；以及(5)根据如下导出所述临时图像采样阵列tempL[x，y]中的条目：
[0011] tempL[x，y]＝
[0012] baseL[x，yInt-1]*e[-1]+baseL[x，yInt]*e[0]+
[0013] baseL[x，yInt+1]*e[1]+baseL[x，yInt+2]*e[2]，
[0014] 其中，baseL[x，y]表示所述底层图像采样阵列，e[-1]、e[0]、e[1]和e[2]表示所述第一4抽头滤波器的所述第一组滤波器系数；所述步骤b)还包括：iii)导出所述增强层图像采样的块阵列predL[x，y]中的条目，其中所述步骤iii)包括：(1)计算所述底层图像中相应的分数采样的x位置xf；(2)根据xf计算x位置的内插中心xInt；(3)根据xf形成x位置相位；(4)获得第二4抽头滤波器的第二组滤波器系数，其中所述第二组滤波器系数的获得基于所述x位置相位；以及(5)根据如下导出所述增强层图像采样的块阵列predL[x，y]中的条目：
[0015] predL[x，y]＝Clip 1Y((
[0016] tempL[xInt-1，y]*e[-1]+tempL[xInt，y]*e[0]+
[0017] tempL[xInt+1，y]*e[1]+tempL[xInt+2，y]*e[2]+
[0018] 512)/1024)，
[0019] where Clip1Y(x)＝min(max(0，x)，(1＜＜BitDepthY)-1)
[0020] 其中，e[-1]、e[0]、e[1]和e[2]表示所述第-4抽头滤波器的所述第二组滤波器系数，BitDepthY表示图像采样所取的值的比特深度，
[0021] 其中，所述计算x位置的内插中心的步骤和计算y位置的内插中心的步骤中，利用是图像采样的1/16的内插分辨率。
[0022] 根据本发明的第二方面，在本发明第一方面的方法中，所述底层图像采样包括亮度采样。
[0024] 根据本发明的第四方面，在本发明第一方面的方法中，所述第一组滤波器系数的获得包括访问查找表。
[0025] 根据本发明的第五方面，在本发明第一方面的方法中，所述第二组滤波器系数的获得包括访问查找表。
[0026] 根据本发明的第六方面，在本发明第四方面的方法中，所述查找表包括Lanczos加窗sinc函数的采样。
[0027] 根据本发明的第七方面，在本发明第五方面的方法中，所述查找表包括Lanczos加窗sinc函数的采样。
[0028] 根据本发明的第八方面，在本发明第一方面的方法中，所述块是尺寸为16乘16的宏块。
[0029] 根据本发明的第九方面，在本发明第一方面的方法中，所述增强层图像的块的增强层图像采样和所述底层图像中相应的分数采样不具有相同的空间区域。
附图说明
[0031] 图1是示出增强层与底层之间的几何关系的示意图；
[0032] 图2是示出增强层与底层中的采样的相对位置的示意图；
[0033] 图3是本发明实施例的包括两个方向上的内插滤波的流程图；
[0034] 图4是示出增强层与底层中的宏块之间的关系的示意图；以及
[0035] 图5是示出增强层与底层中的宏块之间的关系的示意图。
具体实施方式
[0036] 通过参考附图，本发明的实施例可以得到最佳的理解，其中相似的部分由相似的数字来表示。上文列出的图明确地被引入作为这个详细描述的一部分。
[0037] 容易理解的是，附图中大体描述并示出的本发明的组件可以按照各种不同的配置来布置和设计。因此，下面对本发明的方法和系统的实施例的详细描述不意欲限制本发明的范围，而仅仅代表本发明目前的优选实施例。
[0038] 本发明实施例中的组件可以以硬件、固件和/或软件来实现。虽然这里揭示的典型实施例可能仅描述了这些形式之一，然而可以理解的是，本领域的技术人员能够以这些形式中的任意形式来实现这些元件，同时仍落入本发明的范围。
[0039] 为了这个说明书和权利要求，术语“图像(picture)”可以包括像素的阵列、数字图像、数字图像的细分、数字图像的数据通道或图像数据的另一种表示。图1示出了与图画图像(image picture)相对应的两个图像：较低空间图像10，也被称作基础空间图像或底层图像；以及较高空间图像100，也被称作增强空间图像或增强层图像。如图1所示，基础空间图像10可能具有比增强空间图像100更低的空间分辨率。如图1所示，基础空间图像10和增强空间图像100可能不包括相同的空间区域。图1中所示的是与从增强空间图像100中剪切的空间区域110相对应的基础空间图像10。
[0041] 增强空间图像100的宽度101和增强空间图像100的高度102可以分别表示为we和he。基础空间图像10的宽度11和高度12可以分别表示为wb和hb。基础空间图像10可以是位于增强空间图像坐标(xorig，yorig)103处的增强空间图像100的子区域110的子采样形式。位置103表示剪切窗110左上角的位置。子区域110的宽度111和高度112可以分别表示为wex和hex。参数(xorig，yorig，wex，hex，wb，hb)定义了较高空间图像100和较低空间图像10之间的关系。
[0042] 图像上采样可以是指从较低空间分辨率图像中产生较高空间分辨率图像。在一些实施例中，上采样可以是指：在不限于空间尺度或时间尺度的任意尺度上增大分辨率。图2示出了较高空间分辨率图像200中的像素位置220。在图2中，像素位置220具有在较低空间分辨率图像20中的相应位置22。位置220可以和较低空间分辨率图像20中的像素位置直接对齐，或不与较低空间分辨率图像20中的像素位置直接对齐。在图2中，所示的位置22位于4个底层像素21、23、24和25之间。
[0043] 本发明的一些实施例包括方法和系统，用于对于给定基础空间图像20，对增强空间图像200的像素进行直接内插，其中尺度比不限于2的幂。本发明的一些实施例包括对基础空间图像20的整个图像进行上采样。本发明的其他实施例包括逐块地对基础空间图像20进行上采样。
[0044] 本发明的一些实施例包括在一个方向上进行上采样，之后在另一个方向上进行上采样。
[0045] 对于以整数采样为单位的增强空间图像中的采样位置(x，y)，以 采样为单位的基础空间图像中的相应位置(px，L(x)，py，L(y))可由下式给出：
[0046]
[0047] 其中参数(xorig，yorig，wex，hex，wb，hb)定义了较高空间图像100和较低空间图像10之间的关系，如图1所示，而且RL是内插分辨率。一些实施例包括十六分之一采样分辨率内插，而且在该实施例中RL是16。
[0048] 在一些实施例中，基础空间图像10中的相应位置(px，L(x)，py，L(y))可以由下式给出：
[0049]
[0050] 其中，如上所述，参数(xorig，yorig，wex，hex，wb，hb)定义了较高空间图像100和较低空间图像10之间的关系，如图1所示，RL是内插分辨率，而且“//”包括计算上简化的除法运算。采样位置可以不限于2的幂，而且采样位置的直接计算允许对该采样位置上的图像值进行直接内插。
[0051] 在一些实施例中，对增强空间图像中的采样位置(x，y)上的增强层图像值进行内插包括滤波过程。该滤波过程还可以包括从查找表中确定内插滤波器系数，其中查找表内的索引可以与(px，L(x)，py，L(y))确定的内插位置有关。
[0052] 在一些实施例中，内插滤波器可以是4抽头滤波器。在一些实施例中，内插滤波器可以是6抽头滤波器。在一些实施例中，滤波器系数可以从二瓣(two-lobed)或三瓣Lanczos加窗sinc函数中导出。
[0053] 表1和表2包括16相位6抽头内插滤波器的典型内插滤波器系数查找表，其中相位与(px，L(x)，py，L(y))确定的内插位置相对应。
[0054] 表1
[0055]
[0056] 表2
[0057]
[0058] 表3包括16相位4抽头内插滤波器的内插滤波器系数查找表，其中相位与(px，L(x)，py，L(y))确定的内插位置相对应。
[0059] 表3
[0060]
[0061] 图3示出了本发明的一些实施例。x和y方向上的内插可以分别在单独的过程300和30中完成。在一些实施例中，每一个过程可以在图像的宏块或另一个细分中执行。在其他实施例中，每一个过程可以在整个图像内执行。
[0062] 在301处，对于增强层31中的采样位置，即增强层像素的位置，可以确定底层32中的相应位置。在302和303处，根据增强层像素位置31的相应底层像素位置32，可以分别确定底层中采样在每一个方向上与整数底层像素位置的偏移或相位(即y位置相位33和x位置相位34)。可以以内插分辨率为单位来确定偏移或相位。例如，对于十六分之一内插分辨率，相位0可以和与底层像素位置无偏移相对应。相位8可以和在一个尺度上落在底层像素位置中间的增强层像素相对应。
[0063] 内插滤波器系数可以由查找表来确定，其中当在y方向上内插时y位置的相位33可以是索引，或者当在x方向上内插时x位置的相位34可以是索引。对于给定的方向，位置内插中心是底层中可以对其位置相位进行测量的像素位置。在本发明的一些实施例中，位置内插中心是被定为滤波器中心的像素位置。
[0064] 图4示出了与图1所示相同的几何图形，宏块发生了覆盖。增强空间层100中的典型宏块可以由140表示。基础空间层10中的典型宏块可以由40表示。增强空间层100中的宏块142可以整个处于剪切区域110中。增强空间层100中的宏块144可以整个处于剪切区域110之外。增强空间层100中的宏块146一部分在剪切区域110内，一部分在剪切区域110之外。
[0065] 图5示出了上采样后的基础空间层50的宏块覆盖在增强空间层100上的典型情况。虚线表示上采样后的基础空间层宏块。块51是从基础空间层上采样后的典型宏块。增强空间层100中的一些宏块，例如块52，不具有与基础空间层相对应的块。增强空间层100中的其他宏块具有一个至若干个相应的基础空间层宏块。增强空间层100中的块53具有基础空间层中的一个相应的块54。增强空间层100中的块55具有基础空间层中的4个相应的块，即基础空间层块56、57、58和59。
[0066] 在以下步骤中描述与H.264/MPEG-4 AVC的SVC扩展相兼容的内插过程的典型实施例：
[0067] 针对增强图像中的宏块的左上luma采样，定义位置(xP，yP)。当chroma_format_idc不等于0时，即存在色度通道时，针对相同宏块的左上色度采样，定义位置(xC，yC)。
[0068] 使用如下公式导出luma底层图像中的luma宏块的相对位置(px，L，py，L)：
[0069]
[0070]
[0071] 其中
[0072]
[0073] 如上文所述，RL＝16。当chroma_format_idc不等于0时，使用如下公式导出色度底层图像中色度宏块的相对位置(px，C，pyCL)
[0074]
[0075]
[0076] 其中MbWidthC和MbHeightC分别表示水平和垂直方向上每宏块(MB)的色度采样个数。给定在增强图像中以单色度采样为单位的色度采样位置(xc，yc)，其在基础图像中以基础图像的十六分之一色度采样为单位的相应位置(px，c，py，c)可以根据如下而导出：
[0077]
[0078] 其中RC＝16，(xorig，c，yorig，c)表示剪切窗的左上角在当前图像中的位置，其单位是当前图像的单色度采样；(wb，c，hb，c)是基础图像的分辨率，其单位是基础图像的单色度采样；(Wex，c，hex，c)是剪切窗的分辨率，其单位是当前图像的单色度采样；(pbase，x，Pbase，y)表示基础图像的相对色度相移，其单位是基础图像的四分之一色度采样；而(Penh，x，penh，y)表示当前图像的相对色度相移，其单位是当前图像的四分之一色度采样。
[0079] 纹理内插过程：预测
[0080] 这个过程的输入包括：
[0081] ●基础图像中的整数luma采样位置(xB，yB)和(xB1，yB1)，
[0082] ●基础图像的luma采样阵列baseL[x，y]，x＝-2+xB...(xB1+2)以
[0083] 及y＝-2+yB...(yB1+2)，
[0084] ●当chroma_format_idc不等于0时，
[0085] ○基础图像中的整数色度采样位置(xCB，yCB)以及(xCB1，
[0086] yCB1)，
[0087] ○基础图像的两个色度采样阵列baseCb[x，y]和baseCr[x，y]，
[0088] x＝-2+xCB...(xCB1+2)以及y＝-2+yCB...(yCB1+2)。
[0089] 这个过程的输出包括：
[0090] ●luma采样宏块阵列predL[x，y]，x＝0...15且y＝0...15，
[0091] ●当chroma_format_idc不等于0时，两个色度采样宏块阵列
[0092] predCb[x，y]和predCr[x，y]，x＝0...MbWidthC-1且
[0093] y＝0...MbHeightC-1。
[0094] 按照如下导出x＝0...15且y＝0...15时的luma采样predL[x，y]。
[0095] ●使x＝-2+xB...(xB1+2)且y＝0...15的tempL[x，y]成为临时luma
[0096] 采样阵列。
[0097] ●按照如下导出x＝-2+xB...(xB1+2)且y＝0...15的每一个tempL[x，
[0098] y]：
[0099] ○按照如下导出底层中相应的分数采样(fractional
[0100] sample)位置yf：
[0101] yf＝py，L(y+yP)。
[0102] ○设yInt和yFrac被定义为：
[0103] yInt＝(yf＞＞4)且
[0104] yFrac＝yf％16。
[0105] ○使用yFrac作为相位从表1中选择j＝-2...3的6抽头滤波器
[0106] e[j]，并导出tempL[x，y]为：
[0107] tempL[x，y]＝
[0108] baseL[x，yInt-2]*e[-2]+baseL[x，yInt-1]*e[1]+baseL[x，yInt]*e[0]+
[0109] baseL[x，yInt+1]*e[1]+baseL[x，yInt+2]*e[2]+baseL[x，yInt+3]*[3].[0110] ●按照如下导出x＝0...15且y＝0...15的每一个采样predL[x，y]：
[0111] ○按照如下导出底层中相应的分数采样位置x：
[0112] xf＝px，L(x+xP)。
[0113] ○设xInt和xFrac被定义为：
[0114] xInt＝(xf＞＞4)且
[0115] xFrac＝xf％16。
[0116] ○使用yFrac作为相位从表1中选择j＝-2...3的6抽头滤波器
[0117] e[j]，并导出predL[x，y]为：
[0118] predL[x，y]＝Clip1Y((
[0119] tempL[xInt-2，y]*e[-2]+tempL[xInt-1，y]*e[1]+tempL[xInt，y]*e[0]+
[0120] tempL[xInt+1，y]*e[1]+tempL[xInt+2，y]*e[2]+tempL[xInt+3，y]*e[3]
[0121] +
[0122] 512)/1024)，
[0123] 其中Clip1Y(x)＝min(max(0，x)，(1＜＜BitDepthY)-1)
[0124] BitDepthY表示luma通道数据的比特深度。
[0125] 当chroma_format_idc不等于0时，按照如下导出色度采样predC[x，y](C表示每一个Cb和Cr)，x＝0...MbWidthC-1且y＝0...MbHeightC-1。
[0126] ●设tmp1Cb[x，y]和tmp1Cr[x，y]为临时色度采样阵列，x＝-2+xCB...
[0127] (xCB1+2)且y＝0...MbHeightC-1。
[0128] ●按照如下导出每一个tempC[x，y]，C作为Cb和Cr，xz＝-2+xCB...
[0129] (xCB1+2)，且y＝0...MbHeightC-1：
[0130] ○按照如下导出底层中相应的分数采样位置yfC：
[0131] yfC＝py，C(y+yC)。
[0132] ○设yIntC和yFracC被定义为：
[0133] yIntC＝(yfC＞＞4)且
[0134] yFracC＝yfC％16。
[0135] ○使用yFracC作为相位从表1中选择j＝-2...3的6抽头滤
[0136] 波器e[j]，并导出tempC[x，y]为：
[0137] tempC[x，y]＝
[0138] baseC[x，yIntC-2]*e[-2]+baseC[x，yIntC-1]*e[-1]+baseC[x，yIntC]*e[0]
[0139] +
[0140] baseC[x，yIntC+1]*e[1]+baseC[x，yIntC+2]*e[2]+
[0141] baseC[x，yIntC+3]*e[3].
[0142] ●按照以下导出每一个采样predC[x，y]，其中C作为Cb和Cr，
[0143] x＝0...MbWidthC-1且y＝0...MbHeightC-1：
[0144] ○按照如下导出底层中相应的分数采样位置xfC：
[0145] xfC＝px，C(x+xC)。
[0146] ○设xIntC和xFracC被定义为
[0147] xIntC＝(xfC＞＞4)且
[0148] xFracC＝xfC％16。
[0149] ○使用xFracC作为相位从表1中选择j＝-2...3的6抽头滤
[0150] 波器e[j]，并导出predC[x，y]为：
[0151] predC[x，y]＝Clip1C((
[0152] tempC[xIntC-2，y]*e[-2]+tempC[xIntC-1，y]*e[-1]+tempC[xIntC，y]*e[[0153] 0]+tempC[xIntC+1，y]*e[1]+tempC[xIntC+2，y]*e[2]+
[0154] tempC[xIntC+3，y]*e[3]+512)/1024)，
[0155] 其中CliP1C(x)＝min(max(0，x)，(1＜＜BitDepthC)-1)，BitDepthC表示色度通道数据的比特深度。
[0156] 纹理内插过程：残余
[0157] 这个过程的输入包括：
[0158] ●基础图像basePic中的整数luma采样位置(xB，yB)和
[0159] (xB1，yB1)，
[0160] ●luma残余采样阵列resBaseL[x，y]，x＝-xB...xB1且y＝yB...yB1，
[0161] ●当chroma_format_idc不等于0时，
[0162] ○基础图像basePic中的整数色度采样位置(xCB，yCB)和
[0163] (xCB1，yCB1)，
[0164] ○两个色度残余采样阵列resBaseCb[x，y]和resBaseCr[x，y]，
[0165] 其中
[0166] x＝xCB...xCB1且y＝yCB...yCB1。
[0167] 这个过程的输出包括：
[0168] ●luma采样阵列resPredL[x，y]，其中x＝0...15且y＝0...15。
[0169] ●当chroma_format_idc不等于0时，两个色度采样阵列
[0170] resPredCb[x，y]和resPredCr[x，y]，其中x＝0...MbWidthC-1且
[0171] y＝0...MbHeightC-1。
[0172] 按照如下导出luma残余采样resPredL[x，y]，x＝0...15且y＝0...15。
[0173] ●使tempL[x，y]成为临时luma采样阵列，x＝xB...xB1且y＝0...15。
[0174] ●按照如下导出每一个tempL[x，y]，x＝xB...xB1且y＝0...15：
[0175] ○按照如下导出底层的相应分数采样位置yf：
[0176] yf＝py，L(y+yP)。
[0177] ○设yInt和yFrac被定义为：
[0178] yInt＝(yf＞＞4)且
[0179] yFrac＝yf％16。
[0180] ○导出tempL[x，y]为：
[0181] tempL[x，y]＝resBaseL[x，yInt]*(16-yFrac)+resBaseL[x，yInt+1]*yFrac.[0182] ●按照如下导出每一个残余采样resPredL[x，y]，x＝0...15且
[0183] y＝0...15：
[0184] ○按照如下导出底层中的相应分数采样位置xf：
[0185] xf＝px，L(x+xP)。
[0186] ○设xInt和xFrac被定义为：
[0187] xInt＝(xf＞＞4)且
[0188] xFrac＝xf％16。
[0189] ○导出resPredL[x，y]为：
[0190] resPredL[x，y]＝
[0191] (tempL[xInt，y]*(16-xFrac)+tempL[xInt+1，y]*xFrac)/256.[0192] 当chroma_format_idc不等于0时，按照如下导出色度残余采样resPredC[x，y](C为Cb或Cr)，x＝0...MbWidthC-1且y＝0...MbHeightC-1。
[0193] ●使tmp1Cb[x，y]和tmp1Cr[x，y]成为临时色度采样阵列，
[0194] x＝xCB...xCB1且y＝0...MbHeightC-1。
[0195] ●按照如下导出每一个tempC[x，y]，C作为Cb和Cr，x＝-xCB...xCB1
[0196] 且y＝0...MbHeightC-1：
[0197] ○按照如下导出底层中相应的分数采样位置yfC：
[0198] yfC＝py，C(y+yC)。
[0199] ○设yIntC和yFracC被定义为：
[0200] yIntC＝(yfC＞＞4)且
[0201] yFracC＝yfC％16。
[0202] ○导出tempC[x，y]为：
[0203] tempC[x，y]＝
[0204] resBaseC[x，yIntC]*(16-yFracC)+resBaseC[x，yIntC+1]*yFracC.[0205] ●按照以下导出每一个采样resPredC[x，y]，其中C作为Cb和Cr，
[0206] x＝0...MbWidthC-1且y＝0...MbHeightC-1：
[0207] ○按照如下导出底层中相应的分数采样位置xfC：
[0208] xfC＝px，C(x+xC)。
[0209] ○设xIntC和xFracC被定义为
[0210] xIntC＝(xfC＞＞4)且
[0211] xFracC＝xfC％16。
[0212] ○导出resPredC[x，y]为
[0213] resPredC[x，y]＝
[0214] (tempC[xIntC，y]*(16-xFracC)+tempC[xIntC+1，y]*xFracC)/256.[0215] 上文描述中使用的术语和表达仅用作描述性而非限制性术语，而且不打算在这些术语和表达的使用中排除所示和所述特征或其部分的等同物，可以理解的是，本发明的范围仅由所附权利要求来定义和限定。
| 标题 | 发布/更新时间 | 阅读量 |
|---|---|---|
| 用于生产铁矿石球团的炉料（实施例） | 2020-05-11 | 387 |
| 例实施方式中，可以基于概率算法来确定第一玩用于奖品发现游戏的系统和方法 家是否获胜。 | 2020-05-12 | 241 |
| 长的中空制品的形成方法及实施上述方法的装置(多种变形例) | 2020-05-11 | 727 |
| 无菌液体纸板包装中具有切割箔纸并折向内部的装置的螺纹盖子实施例 | 2020-05-12 | 92 |
| 在试验设备上以图形方式输出对纺织物例如纱线，粗纱和纱条测试结果的方法与实施该方法的设备 | 2020-05-12 | 482 |
| 一种机械设计制实施例辅助系统 | 2020-05-11 | 1034 |
| 的用途，包括但不限于癌症、狼疮、过敏性疾病、生产具有BTK抑制活性的嘧啶和吡啶化合物 Sjogren氏病和类风湿关节炎。在优选实施例中，的组合物和方法 本发明描述了不可逆激酶抑制剂，包括但不限于 | 2020-05-12 | 667 |
| 利用经过调节的气流处理例如待孵化蛋的产品的方法以及用于实施该方法的气候室 | 2020-05-12 | 130 |
| 用于改进的间隙填充、可靠性以及减小的电容的双金属互连 | 2020-05-13 | 780 |
| 改变激发次序 | 2020-05-13 | 864 |
高效检索全球专利专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台，是提供专利分析，专利查询，专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。
我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据，免费查、免费专利分析。
分析报告
专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析，涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度，系统通过AI智能系统对图表进行解读，只需1分钟，一键生成行业专利分析报告。
QQ群二维码
意见反馈
意见反馈