一种激光二极管测试设备
专利汇可以提供一种激光二极管测试设备专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本实用新型提出一种激光 二极管 测试设备。所述 激光二极管 测试设备包括， 机架 ；上料部，安装于机架；所述上料部用于放置待测激光二极管芯粒；传料部，安装于机架；所述传料部用于将激光二极管芯粒传输到预定的 位置 ；第一测试部，安装于机架；所述传料部能够将激光二极管芯粒从上料部传输到所述第一测试部，所述第一测试部对激光二极管芯粒进行测试；第二测试部，安装于机架；所述传料部能够将激光二极管芯粒从第一测试部传输到第二测试部，所述第二测试部对激光二极管芯粒进行测试；收料部，安装于机架；所述传料部能够将第二测试部上的激光二极管芯粒传输到收料部。(ESM)同样的 发明 创造已同日 申请 发明 专利，下面是一种激光二极管测试设备专利的具体信息内容。
1.一种激光二极管测试设备，其特征在于：所述激光二极管测试设备（100）包括，机架（20）；
上料部（30），安装于机架（20）；所述上料部（30）用于放置待测激光二极管芯粒；
传料部（40），安装于机架（20）；所述传料部（40）用于将激光二极管芯粒传输到预定的位置；
第一测试部（50），安装于机架（20）；所述传料部（40）能够将激光二极管芯粒从上料部（30）传输到所述第一测试部（50），所述第一测试部（50）对激光二极管芯粒进行测试；
第二测试部（60），安装于机架（20）；所述传料部（40）能够将激光二极管芯粒从第一测试部（50）传输到第二测试部（60），所述第二测试部（60）对激光二极管芯粒进行测试；
收料部（70），安装于机架（20）；所述传料部（40）能够将第二测试部（60）上的激光二极管芯粒传输到收料部（70）。
2.根据权利要求1所述的激光二极管测试设备，其特征在于：
所述上料部（30）、第一测试部（50）、第二测试部（60）和收料部（70）沿第一直线依次排布。
3.根据权利要求1所述的激光二极管测试设备，其特征在于：
所述第一测试部（50）为常温测试结构；所述第二测试部（60）为高温测试结构。
4.根据权利要求2或3所述的激光二极管测试设备，其特征在于：
传料部（40）包括第一支撑部（41）和第一取料部（42），所述第一支撑部（41）连接于机架（20），所述第一取料部（42）通过滑轨水平连接于第一支撑部（41）；所述第一取料部（42）能够用于取放芯粒。
5.根据权利要求2或3所述的激光二极管测试设备，其特征在于：
所述第一测试部（50）包括，
测试承载部（51），连接于机架（20），用于放置待测试的芯粒；
第一探针部（52），连接于机架（20），用于对放置于测试承载部（51）的芯粒电连接；
后端光功率测试部（53），连接于机架（20），用于测试芯粒后端的发光光功率；
第一前端光功率测试部（54），连接于机架（20），用于测试芯粒的前端发光光功率；
光波长测试部（55），连接于于机架（20），用于测试芯粒的前端发光波长。
6.根据权利要求5所述的激光二极管测试设备，其特征在于：
所述测试承载部（51）设置有连接真空的吸附孔，待测试芯粒通过所述吸附孔真空吸附于测试承载部（51）。
7.根据权利要求6所述的激光二极管测试设备，其特征在于：
所述测试承载部（51）包括加热部和温度感应部，所述加热部调节温度使待测试的芯粒处于预设的温度环境，所述温度感应部用于检测待测芯粒所处环境的温度。
8.根据权利要求5所述的激光二极管测试设备，其特征在于：
所述第一前端光功率测试部（54）和光波长测试部（55）均通过滑动安装部（56）连接于机架（20）。
9.根据权利要求5所述的激光二极管测试设备，其特征在于：
所述第一探针部（52）和后端光功率测试部（53）均通过运动安装部（57）连接于机架（20）。
10.根据权利要求9所述的激光二极管测试设备，其特征在于：所述运动安装部（57）通过竖向滑轨连接于机架（20）；
驱动电机固定于机架（20），所述驱动电机连接有凸轮，所述凸轮止抵于运动安装部（57）下端。
一种激光二极管测试设备
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