一种物体表面高度的光学测量方法
专利汇可以提供一种物体表面高度的光学测量方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 涉及一种物体表面高度的光学测量方法，包括以下步骤：步骤S1，将 光源 中的白光通过第一分光设备进行分光；步骤S2，将分光之后的彩色光线投射到被测物体表面上；步骤S3，彩色光线在物体表面被反射后进入第二分光设备；步骤S4，相机获取从第二分光设备过滤后的图像；步骤S5，相机将图像传入PC处理器进行分析处理。本发明既可以检测非玻璃表面的高度特征，也可以检测玻璃表面的高度特征，还可以计算出物体表面的 薄膜 的厚度特征，还可以判断表面是否平整有无凹凸的 缺陷 。本发明检测方法简单，检测 精度 高，检测效率高。，下面是一种物体表面高度的光学测量方法专利的具体信息内容。
1.一种物体表面高度的光学测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤S1，将光源(1)中的白光通过第一分光设备(3)进行分光；
步骤S2，将分光之后的彩色光线投射到被测物体表面(6)上；
步骤S3，彩色光线在物体表面被反射后进入第二分光设备(9)；
步骤S4，相机(10)获取从第二分光设备(9)过滤后的图像；
步骤S5，相机(10)将图像传入PC处理器进行分析处理。
2.如权利要求1所述的一种物体表面高度的光学测量方法，其特征在于，所述步骤S1和步骤S2，所述光源(1)中的白光通过第一分光设备(3)进行分光处理，进而通过第一球面镜(2)的作用经过入射狭缝(4)将分光之后的彩色光线投射到被测物体表面(6)上，所述被测物体表面(6)包括位于上层的塑料膜表面(12)和位于下层的底层(15)，所述底层(15)上设置有凹槽(14)，其中，不同波长的光线聚焦点的位置不一样，红光(13)聚焦在了被测物体表面(6)的凹槽(14)内，蓝光(11)聚焦在了被测物体表面(6)的塑料膜表面(12)上。
3.如权利要求1所述的一种物体表面高度的光学测量方法，其特征在于，所述步骤S3和步骤S4，两条不同波长的光线红光(13)和蓝光(11)经被测物体表面(6)反射后经由出射狭缝(7)再次通过第二球面镜(8)反射，之后通过第二分光设备(9)后被相机(10)成像，通过第二分光设备(9)后就可得知红光(13)和蓝光(11)关系的对应位置并标记相应的被测物体表面(6)的高度信息。
4.如权利要求1所述的一种物体表面高度的光学测量方法，其特征在于，所述步骤S5，线性扫描整个物体表面后将相机(10)获取的信息传入PC处理器中进行分析处理，进行三维建模，然后就可以计算出被测物体表面(6)的各项参数特征。
5.如权利要求4所述的一种物体表面高度的光学测量方法，其特征在于，所述被测物体表面(6)的参数特征包括被测物体表面(6)的塑料膜表面(12)的高度，以及被测物体表面(6)的凹槽(14)的深度。
6.如权利要求1所述的一种物体表面高度的光学测量方法，其特征在于，所述第一分光设备(3)和第二分光设备(9)均为滤光器，所述滤光器内设置有线性可变滤光片。
7.如权利要求1所述的一种物体表面高度的光学测量方法，其特征在于，所述第一分光设备(3)和第二分光设备(9)均利用像差原理进行分光处理。
8.如权利要求1所述的一种物体表面高度的光学测量方法，其特征在于，所述PC处理器内设置有MCU控制芯片，且所述PC处理器上还设置有LED液晶显示屏。
一种物体表面高度的光学测量方法
技术领域
背景技术
发明内容
物体表面上，被测物体表面包括位于上层的塑料膜表面和位于下层的底层，底层上设置有
凹槽，其中，不同波长的光线聚焦点的位置不一样，红光聚焦在了被测物体表面的凹槽内，
蓝光聚焦在了被测物体表面的塑料膜表面上。
相机成像，通过第二分光设备后就可得知红光和蓝光关系的对应位置并标记相应的被测物
体表面的高度信息。
表面是否平整有无凹凸的缺陷，综合检测能力较强，适应性和推广性较强。本发明检测方法
简单，检测精度高，检测效率高。
附图说明
范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这
些附图获得其他相关的附图。
具体实施方式
发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例
的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本发明的实施
例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施
例。基于本发明的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有
其他实施例，都属于本发明保护的范围。
示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此上述术
语不能理解为对本发明的限制。
被测物体表面6包括位于上层的塑料膜表面12和位于下层的底层15，底层15上设置有凹槽
14，其中，不同波长的光线聚焦点的位置不一样，红光13聚焦在了被测物体表面6的凹槽14
内，蓝光11聚焦在了被测物体表面6的塑料膜表面12上。
像，通过第二分光设备9后就可得知红光13和蓝光11关系的对应位置并标记相应的被测物
体表面6的高度信息。
以通过一种线性可变滤光片将白光分成多种波长的不同颜色的单一色光。
而形成一个弥散斑，因此可以利用像差来分光，比如如图2所示将光照射到球面镜上就形成
了分光，分光后就形成了不同波长的光线。
光11聚焦在了被测物体表面6的塑料膜表面12上。两条不同波长的光线蓝光11和红光13经
被测物体表面6反射后通过第二分光设备9后被相机10成像，通过第二分光设备9后就可得
知蓝光11和红光13关系的对应位置并标记相应的被测物体表面6的高度信息，线性扫描整
个被测物体表面6后将相机10获取的信息传入PC处理器处理，进行三维建模，然后就可以计
算出被测物体表面6的各种参数特征，比如可以计算出被测物体表面6的塑料膜表面12的高
度，被测物体表面6的凹槽14的深度等其他特征。
表面是否平整有无凹凸的缺陷，综合检测能力较强，适应性和推广性较强。本发明检测方法
简单，检测精度高，检测效率高。
变型，这些改进和变型也应视为本发明的保护范围。
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