测量装置和测量方法
阅读：348发布：2020-05-08
专利汇可以提供测量装置和测量方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且用于测量无线设备的 杂散发射 的测量装置和测量方法。测量装置包括至少两个天线，其中第一天线布置在无线设备附近。在第一步骤中，通过测量由第一天线接收的无线 信号 来确定与杂散发射有关的 频率 。在第二步骤中，通过第二设备测量杂散发射。，下面是测量装置和测量方法专利的具体信息内容。
1.一种用于测量被测设备(100)的杂散发射的测量装置(1)，所述测量装置(1)包括：
第一天线(10)，适于从所述被测设备(100)接收第一无线信号，其中所述第一天线(10)布置在所述被测设备(100)附近；
第二天线(20)，适于从所述被测设备(100)接收第二无线信号；以及
测量设备(30)，耦合到所述第一天线(10)和所述第二天线(20)，并且适于识别所述第一无线信号的预定频率范围内的杂散发射，确定所述第一无线信号中与所识别的杂散发射有关的多个频率，在所述第一无线信号中所识别的杂散发射的所确定的多个频率处测量所述第二无线信号中的杂散发射。
2.根据权利要求1所述的测量装置(1)，其中所述被测设备(100)和所述第一天线(10)之间的距离小于所述被测设备(100)和所述第二天线(20)之间的距离。
3.根据权利要求1或2所述的测量装置(1)，其中所述第一天线(10)布置在所述被测设备(100)的近场中，并且所述第二天线(20)布置在所述被测设备(100)的远场中。
4.根据权利要求1或2所述的测量装置(1)，其中所述第一天线(10)和所述第二天线(20)布置在所述被测设备(100)的近场中。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的测量装置(1)，包括天线定位结构(41)，所述天线定位结构适于承载所述第二天线(20)并且可控制地使所述第二天线(20)围绕所述被测设备(100)移动。
6.根据权利要求1或5中任一项所述的测量装置(1)，其中所述第二天线(20)包括紧凑区域测试范围或平面波转换器。
7.根据权利要求1或6中任一项所述的测量装置(1)，其中所述第二天线(20)包括反射器(21)，并且所述天线定位结构(41)适于承载至少所述反射器(21)以及使所述第二天线(20)的所述反射器(21)围绕所述被测设备(100)移动。
8.根据权利要求1或7中任一项所述的测量装置(1)，包括测试载体(42)，所述测试载体适于承载所述被测设备(100)并且可控制地移动和/或旋转所述被测设备(100)。
9.根据权利要求1或8中任一项所述的测量装置(1)，其中所述第一天线(10)和/或所述第二天线(20)包括链路天线，所述链路天线适于建立到所述被测设备(100)的通信链路。
10.根据权利要求1或9中任一项所述的测量装置(1)，其中所述测量设备(30)适于控制所述被测设备(100)的波束转向。
11.根据权利要求10所述的测量装置(1)，其中所述测量设备(30)适于将所述被测设备(100)的波束方向控制在所需方向，并在测量期间锁定波束转向。
12.根据权利要求1或11中任一项所述的测量装置(1)，包括测量室(50)，所述测量室适于容纳所述第一天线(10)、所述第二天线(20)和所述被测设备(100)。
13.根据权利要求12所述的测量装置(1)，其中所述测量室(50)包括消声室。
14.一种用于测量被测设备(100)的杂散发射的测量方法，所述测量方法包括：
通过布置在所述被测设备(100)附近的第一天线(10)接收(S1)来自所述被测设备(100)的第一无线信号；
识别(S2)所述第一无线信号的预定频率范围内的杂散发射；
确定(S3)与所述第一无线信号中所识别的杂散发射有关的多个频率；
通过第二天线(20)从所述被测设备(100)接收(S4)第二无线信号；以及在所述第一无线信号中所识别的杂散发射的所确定的多个频率处测量(S5)所述第二无线信号中的杂散发射。
15.根据权利要求14所述的方法，其中通过所述第二天线(20)测量(S5)杂散发射还包括使所述第二天线(20)或所述第二天线(20)的至少一个反射器(21)围绕所述被测设备(100)移动的步骤。
测量装置和测量方法
技术领域
[0001] 本发明涉及一种测量装置。本发明还涉及一种测量方法。
背景技术
[0002] 虽然原则上适用于任何无线测量装置，但是本发明及其根本问题将在下文中结合无线通信设备的测试进行描述。
[0003] 随着高速无线数据通信的发展，无线通信系统用于电子设备之间的通信的用途不断增加。
[0004] 在开发或生产用于这种通信系统的设备期间，必须彻底测试设备是否符合通信标准和法律规定。
[0005] 为此目的，测试无线通信设备可以包括分析无线通信设备的射频发射。在一些情况下，通信设备不仅可以发射与一个或多个期望频率或频率范围有关的无线信号。而且，由于谐波或任何其他原因，可能会发射更多不需要的射频发射。这种不需要的射频发射可以被认为是杂散发射。例如，ITU-R SM.329-7的建议中讨论了杂散发射。
[0006] 在此背景下，本发明所解决的问题是为无线设备提供通用且简单的杂散发射测量。
发明内容
[0008] 根据第一方面，提供了一种用于测量被测设备的杂散发射的测量装置。测量装置包括第一天线、第二天线和测量设备。第一天线可以布置在被测设备附近。第一天线适于从被测设备接收第一无线信号。第二天线适于从被测设备接收第二无线信号。测量设备耦合到第一天线和第二天线。测量设备适于识别接收的第一无线信号的预定频率范围中的杂散发射。测量设备还适于确定第一无线信号中所识别的杂散发射的若干一个或多个频率。此外，测量设备适于在第一无线信号中所识别的杂散发射的所确定的频率处测量第二无线信号中的杂散发射。
[0009] 根据第二方面，提供了一种用于测量被测设备的杂散发射的测量方法。测量方法包括从被测设备接收第一无线信号。具体地，第一无线信号由布置在被测设备附近的第一天线接收。该方法包括进一步识别第一无线信号的预定频率范围中的杂散发射，以及确定第一无线信号中所识别的杂散发射的多个频率。此外，该方法包括由第二天线从被测设备接收第二无线信号，并在第一无线信号中所识别的杂散发射的所确定的多个频率处测量第二无线信号中的杂散发射。
[0010] 本发明基于以下事实：测量被测设备的杂散发射，特别是测量被测设备的三维环境中的杂散发射，这可能是复杂的，因此是耗时的过程。由于杂散发射的频率通常是未知的，因此三维空间中的杂散发射的传统测量必须测量预定三维空间中的每个空间位置处的整个频率范围。
[0011] 因此，本发明的思想是简化并加速无线设备的杂散发射的测量。具体地，本发明的思想是将杂散发射的测量分成两个任务。在第一个任务中，确定杂散发射的频率，并且随后仅在第一任务中确定的频率处执行杂散发射的详细测量。以这种方式，不再需要在被测设备的三维环境的每个空间位置处执行整个频率范围的测量。
[0012] 本发明还通过第一天线，特别是布置在被测设备的空间附近的天线来执行杂散发射的频率的识别。例如，用于识别杂散发射频率的第一天线可以布置在仅几厘米的距离处，例如小于20厘米、10厘米、5厘米、3厘米、或甚至小于1厘米。因此，甚至可以接收仅具有低信号强度的杂散发射。特别是，当在非常靠近被测设备的地方使用天线时，不需要引起额外干扰的非常高的放大来识别杂散发射。
[0013] 用于识别杂散发射频率的第一天线的测量可以例如通过在预定频率范围内扫描测量频率来执行，例如从第一频率扫描到第二频率。可以连续执行频率扫描。或者，也可以在预定频率范围内执行测量频率的逐步递增或递减。例如，测量频率可以从第一预定频率向上/向下增加或减少到第二预定频率。对于整个频率范围，改变频率的间隔可以是恒定的。或者，可以通过增加/减少测量频率来增加/减小用于增加/减小频率的间隔。例如，用于识别杂散发射的频率范围可以在若干兆赫兹(MHz)到若干千兆赫兹(GHz)之间的范围内。例如，频率范围可以在13MHz和90GHz之间。然而，应理解，任何其他频率范围可用于识别杂散发射。特别地，甚至可以在多于一个频率范围内执行杂散发射的识别。
[0014] 如上所述，杂散发射可以是任何类型的发射，特别是任何类型的射频发射，其与射频信号的期望发射无关。例如，杂散发射可以涉及发射或接收的射频信号的谐波频率。但是，应该理解，任何其他种类的不需要的射频发射也可以被认为是杂散发射。
[0015] 在识别出与杂散发射有关的若干一个或多个频率之后，执行在所识别的一个或多个频率处的杂散发射的详细测量。为此目的，通过另外的第二天线测量杂散发射。为了通过第二天线测量杂散发射，与杂散发射有关的射频信号的测量仅限于单个频率。在以多于一个频率确定杂散发射的情况下，通过第二天线分别对每个频率执行杂散发射的测量。
[0016] 通过第二天线测量杂散发射可以包括测量以下参数中的至少一个：杂散发射的功率、极化、相位、调制或用于表征杂散发射的任何其他种类的参数。
[0017] 第一天线和第二天线可以是足以执行所需测量的任何类型的天线。第一天线和第二天线可以是例如微带天线或喇叭天线。然而，用于测量被测设备发射的信号的任何其他种类的适当天线也是可能的。可以根据相关频率或波长来适配天线的尺寸。
[0018] 第一天线和第二天线可以包括信号连接器，并且可以例如通过测量电缆连接到测量设备。这种测量电缆可以是例如具有适当的射频特性(例如在所需频率范围内的低阻尼系数)的电缆。
[0019] 测量设备可以包括例如具有相应指令的通用处理器。此外，测量设备可以包括耦合到处理器的接口元件，以从第一天线和第二天线接收测量信号，并将接收的信号提供给处理器。这些接口元件可以包括例如模拟-数字转换器，用于将接收的信号转换成数字数据，以便处理器可以处理数字数据。这种专用的模拟-数字转换器可以通过串行或并行数字接口耦合到处理器。此外，可以在测量设备的输入端口和处理器之间提供其他模拟元件，例如包括电阻器、电容器、电感器等的滤波器。
[0020] 应当理解，还可以在可能的实施方式中提供专用测量设备。专用测量设备可以耦合到第一或第二天线，并且可以例如是矢量网络分析仪，示波器等。
[0021] 即使在上面的说明中，对由第一天线提供的信号的测量和对由第二天线提供的信号的测量由单个测量设备处理，但是也可以由第一测量设备执行对由第一天线提供的第一射频信号的测量，而通过第二测量设备执行对由第二天线提供的信号的测量。在这种情况下，第一测量设备和第二测量设备可以通信地耦合，以将识别的来自第一测量设备的杂散发射的频率提供给第二测量设备。
[0023] 在可能的实施例中，被测设备与第一天线之间的距离小于被测设备与第二天线之间的距离。
[0024] 因此，用于识别与杂散发射有关的频率的第一天线可以布置成比第二天线更靠近被测设备，以便在所识别的频率上详细测量杂散发射。通过这种方式，即使仅以低功率发射杂散发射，也可以确定杂散发射的频率。由于被测设备与第一天线之间的紧密空间关系，因此不需要由第一天线测量的信号的高放大率。此外，被测设备与第二天线之间的较大距离使得能够在围绕第二天线移动时具有更高的灵活性，以便执行杂散发射的二维或三维测量。
[0025] 在可能的实施例中，第一天线布置在被测设备的近场中。此外，第二天线可以布置在被测设备的远场中。
[0026] 因此，可以通过扫描预定的频率范围并测量近场(即非常接近被测设备的地方)中的接收信号来识别杂散发射的频率。此外，可以在远场条件下通过第二天线测量被测设备的环境中发射的杂散发射的特性。
[0027] 在可能的实施例中，第一天线和第二天线都被布置在被测设备的近场中。
[0028] 因此，用于测量被测设备的杂散发射的测量装置仅需要小的空间维度。如果合适，可以在近场条件下通过第二天线执行杂散发射的测量，并且随后，可以将测量转换为远场条件。以这种方式，即使通过小尺寸的测量装置进行测量，也可以在远场条件下确定被测设备的杂散发射。
[0029] 在可能的实施例中，测量装置包括天线定位结构。天线定位结构可以适于承载第二天线。此外，天线定位结构可以可控制地围绕被测设备移动第二天线。
[0030] 天线定位结构可以包括电驱动单元，该电驱动单元围绕被测设备驱动天线定位结构。特别地，天线定位结构可以随后将第二天线移动到多个预定位置。
[0031] 利用天线定位结构，可以完全自动化被测设备环境中的杂散发射的测量。例如，第二天线可以在被测设备周围的三维空间中四处移动。例如，测量天线可以在被测设备周围的预定球体或半球上四处移动。然而，天线定位结构可以在任何其他适当的平坦或弯曲平面上围绕第二天线移动。天线定位结构的移动可以由控制器控制，例如由测量设备的处理器控制。
[0032] 在可能的实施例中，第二天线包括紧凑区域测试范围(CATR)或平面波转换器(PWC)。
[0033] 因此，射频信号的传播，特别是包括杂散发射的射频信号的传播可以通过适当的反射元件等来适配。例如，天线可以包括弯曲的反射器，例如，抛物面镜等。然而，用于反射射频信号或适配发射的电磁波的传播方向的任何其他元件也是可能的。
[0034] 在可能的实施例中，第二天线可以包括反射器，并且天线定位结构可以适于至少承载反射器。因此，天线定位结构可以使第二天线的反射器围绕被测设备移动。
[0035] 通过围绕第二天线的反射器移动，可以将第二天线的其他元件布置在固定位置。因此，即使可以在被测设备周围的二维或三维空间中进行测量，第二天线的接收元件和到测量设备的相关电缆也可以保持在固定位置。
[0036] 在可能的实施例中，测试装置包括测试载体。测试载体可以适于承载被测设备并可控制地移动和/或旋转被测设备。
[0037] 通过用测试载体移动或旋转被测设备，可以可控制地改变被测设备和第二天线之间的空间关系。因此，可以在二维或三维空间中扫描发射，特别是被测设备的杂散发射。
[0038] 因此，为了确定二维或三维空间中被测设备的发射，特别是被测设备的杂散发射，可以仅围绕被测设备移动第二天线，或通过将第二天线保持在固定位置而仅移动被测设备，或通过移动被测设备和第二天线两者。以这种方式，可以实现用于扫描被测设备的环境中的发射的非常灵活的布置。
[0039] 在可能的实施例中，第一天线和/或第二天线包括链路天线。链路天线可以适于建立到被测设备的通信链路。
[0040] 因此，通过使用链路天线，可以将这种链路天线用于两者：测量由被测设备发射的射频信号以及用于与被测设备建立通信。特别地，可以与被测设备建立通信以控制被测设备的操作。例如，可以将被测设备设置为预定的操作模式，修改被测设备的发射特性，控制被测设备的波束转向或打开/关闭或修改被测设备的任何其他特性。
[0042] 在可能的实施例中，测量装置适于将被测设备的波束方向控制到所需方向。此外，测量设备适于在测量期间锁定波束转向。
[0043] 通过将被测设备的波束转向设置为预定方向并在测量期间锁定波束转向，可以在众所周知的预定条件下执行对被测设备的发射的测量，特别是对杂散发射的测量。此外，可以通过应用不同的预定波束转向方向来执行若干两个或更多个后续测量。以这种方式，可以针对多个不同的条件测量被测设备的特性。
[0044] 可移动测试天线载体可以例如包括承载测试天线的引导件或导轨和滑动件。可移动测试天线载体还可以包括带有轮子的滑动件或仅仅是不固定到地面的机械保持设备，并且因此可以被携带到所需位置。
[0045] 第一和第二天线可以是足以执行所需测量的任何类型的天线。这种天线可以是例如微带天线或喇叭天线，并且可以根据相关的信号频率或波长进行尺寸上的适配。
[0046] 第一和第二天线可以包括信号连接器，并且可以耦合到测量装置，例如，通过测量电缆。这种测量电缆可以是例如一种具有所需射频特性(例如在所需频率范围内的低阻尼系数)的电缆。
[0047] 应当理解，还可以在可能的实施方式中提供专用测量设备。专用测量设备可以耦合到测试天线，并且可以例如是矢量网络分析仪、示波器等。
[0048] 参考附图，本发明的其他实施例是进一步的从属权利要求的主题和以下描述。
[0049] 在可能的实施例中，测量装置可以包括测量室，该测量室可以容纳第一天线、第二天线和被测设备。
[0050] 测量室可以包括屏蔽或保护壳体，该屏蔽或保护壳体在测量期间将测试装置与任何外部干扰或噪声隔离。应理解，测量室可以例如是还包括一个门或可密封的开口，用于进入测量室的内部，例如：将被测设备放在测量室中。
[0051] 在可能的实施例中，测量室可包括消声室。
[0052] 消声室是一个测量室，设计用于完全吸收电磁波的反射。消声室的内表面可以覆盖有辐射吸收材料RAM。RAM被设计和成形为尽可能有效地吸收入射的RF辐射。电磁兼容性和天线辐射方向图的测量要求测试装置产生的信号(例如，反射)可以忽略不计，以避免引起测量误差和模糊的风险。
[0053] 利用消声室，因此可以增加利用测试装置执行的测量的质量。
[0055] 因此，利用本发明，现在可以测量被测设备(例如无线通信设备，如移动电话、基站和物联网(IoT)设备或任何其他无线设备)的杂散发射。特别是，可以测量与被测设备周围的二维或三维空间中的多个频率有关的杂散发射。由于与杂散发射相关的频率是在第一步骤中确定的，因此与被测设备周围空间中所有这些频率相关的杂散发射的测量可被限制于这些频率，因此，可以增强对杂散发射的测量。
附图说明
[0057] 图1示出了根据本发明的测量装置的实施例的框图；
[0058] 图2示出了根据本发明的测量装置的另一个实施例的框图；
[0059] 图3示出了根据本发明的测量装置的另一个实施例的框图；以及
[0060] 图4示出了根据本发明的测量方法的实施例的流程图。
[0061] 附图旨在提供对本发明实施例的进一步理解。它们示出了实施例，并且结合说明书，有助于解释本发明的原理和概念。参见附图，其他实施例和所提到的许多优点变得显而易见。附图中的元件不一定按比例示出。
[0062] 在附图中，除非另有说明，否则在每个例子中，在功能上等同且相同操作的元件、特征和部件设置有类似的附图标记。
具体实施方式
[0063] 图1示出了测试装置1的框图。测试装置1包括第一天线10、第二天线20和测量设备30。第一天线10可以布置在被测设备100附近。例如，第一天线10可以布置在被测设备100的近场距离内。第一天线10可以位于例如被测设备100附近，例如距离小于20厘米、10厘米、5厘米、3厘米、甚至不到1厘米的位置。然而，应该理解的是，任何其他距离，特别是与被测设备100的相对紧密接近的任何距离也是可能的。此外，取决于应用和可用空间，甚至可以将第一天线10布置在被测设备100的远场距离中。
[0064] 第二天线20可以布置在与被测设备100的距离大于第一天线10和被测设备100之间的距离的位置处。例如，第二天线20可以布置在被测设备100的远场距离中。然而，也可以将第二天线20布置在被测设备100的近场距离内。在这种情况下，可以在近场条件下进行测量，随后通过应用计算变换将测量数据转换为远场条件。
[0065] 第一天线10可以接收由被测设备100发射的射频信号，并将接收的射频信号转发到测量设备30。相应地，第二天线20也可以接收被测设备100发射的测量信号并将接收的测量信号转发到测量设备30。例如，第一天线10和第二天线20可以通过适当的电缆连接到测量设备30。
[0066] 在被测设备100的操作期间，被测设备100不仅可以发射期望的射频信号。而且，被测设备100可以发射额外的、不需要的射频发射，其将被表示为杂散发射。在第一操作模式中，第一天线10可以接收由被测设备100发射的射频信号，并将所接收的射频信号提供给测量设备30。测量设备30可以从第一天线10接收射频信号，并且分析接收的信号，以确定杂散发射。例如，测量设备30可以扫过预定的频率范围并确定被测设备100已经发射无线电频率信号的所有频率。此外，测量设备30可以确定相应频率的相应接收的射频信号是否与期望的发射或杂散发射有关。在特定频率的射频信号与不需要的杂散发射有关的情况下，确定相应的频率。例如，与杂散发射有关的频率可以存储在测量设备30的存储器中。
[0067] 用于确定杂散发射的分析可以在预定频率范围内执行。例如，频率范围可以覆盖预定的第一频率和预定的第二频率之间的所有频率。然而，也可以确定若干多于一个的频率范围，特别是若干两个或更多个非重叠的频率范围。例如，测量设备30可以分析若干兆赫兹和若干千兆赫兹之间的频率范围。在示例中，测量设备30可以扫描13MHz和90GHz之间的频率范围。然而，应该理解，任何其他频率范围也是可能的。
[0068] 测量设备30可以通过连续或逐步扫过预定频率范围来分析由第一天线提供的信号。此外，用于识别与第一天线接收的杂散发射有关的频率的任何其他方法也是可能的。
[0069] 在测量设备30识别出与杂散发射有关的若干一个或多个频率之后，更详细地测量杂散发射。为此目的，测量设备30通过由第二天线20接收的信号执行杂散发射的详细测量。为此目的，第二测量天线20可以位于相对于被测设备100的适当的距离处和/或相对于被测设备100的一个或多个预定空间位置处。可以理解，即使图1中仅示出了单个第二天线20，也可以应用多于一个的第二天线20。因此，第二天线可以相对于被测设备100位于不同的空间位置处。
[0070] 为了执行由第二天线20接收的杂散发射的测量，测量设备30可以将由第二天线20接收的射频信号的接收和分析限制于仅涉及与杂散发射有关的那些频率，之前已经通过分析由第一天线10接收的信号确定了这些频率。为此目的，连接到第二天线20的接收器可以被调谐到与所识别的杂散发射有关的频率之一。因此，连接到第二天线20的测量设备30的单个接收器可以随后调谐到与杂散发射有关的多个频率。此外，还可以根据相应的频率使用不同的接收器。例如，第一接收器可用于接收与第一频率范围有关的杂散发射，并且第二接收器可用于接收与另一频率范围有关的杂散发射。可以理解，本发明不仅限于一个或两个接收器，用于分析由第二天线20接收的射频信号。此外，用于分析由第二天线20接收的信号的任何数量的射频接收器也可以是可能的。以这种方式，可以根据要分析的频率选择适当的接收器。或者，可以通过可调谐的滤波器等来选择与杂散发射有关的频率。
[0071] 在先前的解释中，基于由第一天线接收的信号和随后通过第二天线接收的信号对杂散发射的分析来识别与杂散发射有关的频率全部由测量设备30执行。然而，应当理解，还可以使用单独的测量单元来分析由第一测量天线10接收的射频信号和由第二测量天线20接收的射频信号。例如，第一测量单元31可以分析由第一天线10接收的射频信号并确定与杂散发射有关的频率，并且第二测量单元32可用于测量由第二天线在与杂散发射有关的识别频率处接收的射频信号。在这种情况下，第一测量单元31和第二测量单元32可以通信地耦合，以便将所识别的与来自第一测量单元31的杂散发射有关的频率转发到第二测量单元32。
[0072] 测量设备30可以与被测设备100通信，以便应用预定设置或调整被测设备100的操作模式。此外，可以在被测设备100和测量设备30之间应用任何其他通信。为此目的，可以应用被测设备100和测量设备30之间的有线通信。例如，光通信链路或通过电缆的通信链路可以用于被测设备100和测量设备30之间的通信。然而，也可以在被测设备100和测量设备30之间应用无线通信。为此目的，第一天线10和/或第二天线20可以用作用于与被测设备100通信的链路天线。在这种情况下，链路天线不仅可以从被测设备100接收无线信号，也可以向被测设备100发射无线信号。
[0073] 例如，测量设备30可以控制被测设备100的波束转向。因此，可以在开始测量之前将被测设备100的波束转向设置为预定条件。特别地，在整个杂散发射测量期间，被测设备100的波束转向可以被锁定到预定的设置。以这种方式，可以确保在测量期间被测设备100的辐射特性可以保持恒定。
[0074] 此外，可以基于不同的设置，特别是被测设备100的波束转向的不同设置，执行杂散发射的多次测量。
[0075] 如在图1中可以进一步看到的，测试装置还可以包括测量室，该测量室容纳至少第一天线、第二天线和被测设备100。然而，应该理解的是，任何其他部件，特别是天线定位结构41和/或测试载体42也可以容纳在测试室50中。特别地，测试室50可以包括消声室。
[0076] 图2示出了根据一个实施例的测量装置1的另一实施例。由于该测量装置1基于上面结合图1描述的测量装置1，所以结合图1的所有解释也适用于该实施例和以下实施例。
[0077] 根据图2的实施例可以进一步包括天线定位结构41。天线定位结构41可以承载第二天线20并且围绕被测设备100移动第二天线20。例如，天线定位结构41可以在预定的二维平面上使第二天线20围绕被测设备100移动。特别地，天线定位结构41可以在圆形、椭圆形或线性路径上围绕第二天线20移动。然而，用于围绕第二天线20移动的任何其他路径也是可能的。此外，天线定位结构41还可以在被测设备100周围的三维空间中围绕第二天线20移动。例如，第二天线20可以在围绕被测设备100的球形或半球形平面上移动。然而，用于围绕第二天线20移动的任何其他平坦或弯曲平面也是可能的。以这种方式，可以扫描发射，特别是在二维或三维空间中由被测设备100发射的杂散发射。
[0078] 为了确定被测设备100的杂散发射，天线定位结构41可以围绕第二天线20移动，同时，测量设备30可以测量所识别频率的杂散发射。例如，可以将测量设备30设置为在与杂散发射有关的第一识别频率下执行测量，并且在该配置中，由天线定位结构41将第二天线20四处移动。在与杂散发射有关的第一识别频率处扫描被测设备100的环境之后，可以将测量设备30设置到与杂散发射有关的下一频率，并且通过围绕第二天线移动来执行对环境的扫描。
[0079] 或者，当第二天线移动到预定位置时，还可以执行与杂散发射有关的所有识别频率的测量。在通过测量设备30测量了与杂散发射有关的所有频率之后，天线定位结构41可以将第二天线20移动到另一位置。以这种方式，对每个期望的空间位置执行与杂散发射有关的所有频率的测量。
[0080] 此外，测量装置1还可以包括用于承载被测设备100的测试载体42。被测设备100可以安装在测试载体42上。测试载体42可以可控地围绕被测设备100移动或者围绕一个或多个预定轴线旋转被测设备100。因此，通过由测试载体42移动或旋转被测设备100，也可以改变被测设备100和第二天线20之间的空间关系。以这种方式，可以针对被测设备100和第二测量天线20之间的不同空间角度测量被测设备100的空间发射。因此，还可以通过借助于测试载体42移动和/或旋转被测设备100来对杂散发射执行二维或三维扫描。如上所述，可以通过将测量设备30设置到与所识别的与杂散发射有关的预定频率之一来执行被测设备100的移动，或者备选地，测量与杂散发射有关的所有识别频率，同时保持被测设备100的恒定位置。
[0081] 此外，甚至可以组合由测试载体42对被测设备100的移动和通过天线定位结构41对第二天线20的移动。例如，被测设备100可以沿着预定轴线旋转并且另外测试天线20可以在预定的二维平面上四处移动。然而，用于移动第二天线20和被测设备100的任何其他组合也是可能的。
[0082] 图3示出了测量装置1的另一实施例。该实施例与前述实施例的不同之处在于，反射器21用于将被测设备100的发射反射在被测设备100和第二天线20之间的信号路径中。例如，反射器可以是抛物面、球面或平面反射器。在一个实施例中，反射器21可以是紧凑区域测试范围(CATR)的反射器、平面波转换器等。在这种情况下，反射器21可以布置在天线定位结构41上。因此，反射器21可以围绕被测设备100的环境移动。因此，即使通过将第二天线20布置在固定的空间位置，也可以在围绕被测设备100的二维或三维空间中扫描发射，特别是被测设备100的杂散发射。然而，也可以将反射器21和第二天线20的组合布置在天线定位结构41处。
[0083] 为了清楚起见，在以下基于图4的方法的描述中，将保留以上在基于图1-3的装置的描述中使用的附图标记。
[0084] 图4示出了被测设备100的杂散发射的测试方法的流程图。该测量方法包括通过布置在被测设备100附近的第一天线10从被测设备100接收S1第一无线信号；识别S2第一无线信号的预定频率范围内的杂散发射；并且确定S3在第一无线信号中识别的杂散发射的多个频率。该方法还包括由第二天线20从被测设备100接收S4第二无线信号；并且在第一无线信号中识别的杂散发射的所确定的多个频率处测量S5第二无线信号中的杂散发射。
[0085] 此外，通过第二天线测量S5杂散发射可以包括使第二天线或至少第二天线的反射器围绕被测设备移动的步骤。
[0086] 总之，本发明涉及用于测量无线设备的杂散发射的测量装置和测量方法。测量装置包括至少两个天线，其中第一天线布置在无线设备附近。在第一步骤中，通过测量由第一天线接收的无线信号来确定与杂散发射有关的频率。在第二步骤中，由第二设备测量杂散发射。
[0087] 尽管本文已说明和描述了特定实施例，但所属领域的技术人员将了解，存在各种替代和/或等效实施方案。应当理解，一个或多个示例性实施例仅是示例，并不旨在以任何方式限制范围、适用性或配置。相反，前述发明内容和详细描述将为本领域技术人员提供用于实现至少一个示例性实施例的便利路线图，应当理解，可以对示例性实施例中描述的元件的功能和布置进行各种改变，而不脱离所附权利要求及其合法等同物所阐述的范围。通常，本申请旨在涵盖本文所讨论的具体实施例的任何适配或变化。
[0088] 在前面的详细描述中，出于简化本公开的目的，在一个或多个示例或多个示例中将各种特征组合在一起。应理解，以上描述旨在是说明性的而非限制性的。旨在涵盖可包括在本发明范围内的所有替代、修改和等同物。在阅读以上说明书后，许多其他示例对于本领域技术人员而言将是显而易见的。
[0089] 在前述说明书中使用的具体术语用于提供对本发明的透彻理解。然而，对于本领域技术人员来说，根据本文提供的说明书将显而易见的是，为了实践本发明，不需要具体细节。因此，出于说明和描述的目的给出了本发明的特定实施例的前述描述。它们并非旨在穷举或将本发明限制于所公开的精确形式；显然，鉴于上述教导，许多修改和变化都是可能的。选择和描述实施例是为了最好地解释本发明的原理及其实际应用，从而使得本领域的其他技术人员能够最好地利用本发明和具有适合于预期的特定用途的各种修改的各种实施例。在整个说明书中，术语“包括”和“在其中”分别用作相应术语“包括”和“其中”的普通英语等同物。此外，术语“第一”、“第二”和“第三”等仅仅用作标签，并不旨在对其对象的重要性施加数字要求或建立某种等级的重要性。
[0090] 附图标记清单
[0091] 1 测量装置
[0092] 10 第一天线
[0093] 20 第二天线
[0094] 21 反射器
[0095] 30 测量设备
[0096] 31 第一测量单元
[0097] 32 第二测量单元
[0098] 41 天线定位结构
[0099] 42 测试载体
[0100] 50 测量室
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