OLED微型显示器性能快速检测装置和检测方法
专利汇可以提供OLED微型显示器性能快速检测装置和检测方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 涉及OLED微型显示器性能快速检测，尤其是一种快速检测高温高湿环境下OLED性能参数检测装置及方法。特别是涉及一种基于数字化视觉读数系统，通过高 精度 直线 导轨 、大视场显微物镜、 亮度 计、图像感应器及 软件 算法 ，实现OLED微型显示器亮度均匀性、 像素 缺陷 等的快速检测的检测装置及其快速检测方法。，下面是OLED微型显示器性能快速检测装置和检测方法专利的具体信息内容。
1.一种OLED微型显示器性能快速检测装置，其特征在于由以下部件组成：用于固定OLED微型显示器的工装支架Ⅰ、放置于OLED微型显示器后方的半透半反分光棱镜、以及与计算机连接的图像感应器、高精度直线导轨Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ以及显示器，其中图像感应器固定在工装支架Ⅱ上，高精度直线导轨Ⅰ上固定大视场显微物镜组件，高精度直线导轨Ⅲ固定在高精度直线导轨Ⅱ上，高精度直线导轨Ⅱ与高精度直线导轨Ⅲ相互垂直，高精度直线导轨Ⅲ上还固定有亮度计，三个高精度直线导轨通过控制器接收计算机指令并按照指令运行。
2.如权利要求1所述的OLED微型显示器性能快速检测装置用于检测的方法，其特征在于包括如下步骤：
对待测OLED微型显示器，通过图像感应器获取OLED微型显示器图像信息，通过亮度计检测OLED微型显示器特定位置的亮度信息，实现OLED微型显示器亮度均匀性、像素缺陷等性能参数的快速检测；
1）OLED微型显示器像素缺陷类型及缺陷数量的测量：大视场显微物镜固定在高精度直线导轨Ⅰ滑块上，控制器Ⅰ接收计算机发送的指令，控制高精度直线导轨Ⅰ前后运动，实现待测OLED微型显示器准确位于大视场显微物镜的焦面上，图像感应器设置在大视场显微物镜后端，大视场显微物镜与图像感应器光轴重合， 通过图像感应器采集OLED微型显示器的图像信息，并将图像信息传送到计算机，由计算机对所获取的图像信息进行处理，获取OLED微型显示器像素缺陷特征数据，并输出OLED微型显示器像素缺陷类型及缺陷数量；
2）OLED微型显示器亮度均匀性的测量：高精度直线导轨Ⅲ固定在高精度直线导轨Ⅱ滑块上，亮度计固定在高精度直线导轨Ⅲ滑块上，高精度直线导轨Ⅱ与高精度直线导轨Ⅲ相互垂直，控制器Ⅱ和Ⅲ接收计算机发送的指令，控制高精度直线导轨Ⅱ、高精度直线导轨Ⅲ运动，实现亮度计在OLED微型显示器的特定位置扫描，获取OLED微型显示器特定位置的亮度信息，并将特定位置亮度信息传送到计算机，由计算机对所获取的特定位置亮度信息进行处理，获取OLED微型显示器亮度均匀性特征数据，并输出OLED微型显示器亮度均匀性。
OLED微型显示器性能快速检测装置和检测方法
技术领域
背景技术
发明内容
1）OLED微型显示器像素缺陷类型及缺陷数量的测量：大视场显微物镜固定在高精度直线导轨Ⅰ滑块上，控制器Ⅰ接收计算机发送的指令，控制高精度直线导轨Ⅰ前后运动，实现待测OLED微型显示器准确位于大视场显微物镜的焦面上，图像感应器设置在大视场显微物镜后端，大视场显微物镜与图像感应器光轴重合， 通过图像感应器采集OLED微型显示器的图像信息，并将图像信息传送到计算机，由计算机对所获取的图像信息进行处理，获取OLED微型显示器像素缺陷特征数据，并输出OLED微型显示器像素缺陷类型及缺陷数量；
2）OLED微型显示器亮度均匀性的测量：高精度直线导轨Ⅲ固定在高精度直线导轨Ⅱ滑块上，亮度计固定在高精度直线导轨Ⅲ滑块上，高精度直线导轨Ⅱ与高精度直线导轨Ⅲ相互垂直，控制器Ⅱ和Ⅲ接收计算机发送的指令，控制高精度直线导轨Ⅱ、高精度直线导轨Ⅲ运动，实现亮度计在OLED微型显示器的特定位置扫描，获取OLED微型显示器特定位置的亮度信息，并将特定位置亮度信息传送到计算机，由计算机对所获取的特定位置亮度信息进行处理，获取OLED微型显示器亮度均匀性特征数据，并输出OLED微型显示器亮度均匀性。
2）数据采集的自动化，消除了人为干扰和误差，提高了测量的准确度，也大大提高了测量效率，降低了劳动强度，提高了测量效率和测量精度，从根本上克服了传统测量方法的缺陷，给出OLED微型显示器性能参数定量指标，为OLED微型显示器性能参数现场检测提供了有效可靠的依据。
附图说明
6-2是高精度直线导轨Ⅱ，6-3是高精度直线导轨Ⅲ，7-1是控制器Ⅰ，7-2是控制器Ⅱ，7-3是控制器Ⅲ，8是亮度计，9是大视场显微物镜组件，10是显示器
图3是像素缺陷类型及缺陷数量测试软件流程图；
图4是亮度均匀性测试软件流程图。
具体实施方式
1)将待测OLED微型显示器固定在工装支架Ⅰ上,通过高精度直线导轨Ⅰ运动，使待测OLED微型显示器位于大视场显微物镜的焦面上，图像感应器采集OLED微型显示器的图像信息，并将图像信息传送到计算机，由计算机对所获取的图像信息进行处理，获取OLED微型显示器像素缺陷特征数据，并输出OLED微型显示器像素缺陷类型及缺陷数量；
2)将OLED微型显示器固定在工装支架Ⅱ上，高精度直线导轨依据OLED微型显示器类型选择扫描策略，高精度直线导轨Ⅱ、高精度直线导轨Ⅲ依据扫描策略移动，实现亮度计在OLED微型显示器的特定位置扫描，获取OLED微型显示器特定位置的亮度信息，并将特定位置亮度信息传送到计算机，由计算机对所获取的特定位置亮度信息进行处理，获取OLED微型显示器亮度均匀性特征数据，并输出OLED微型显示器亮度均匀性。
b)发送图像感应器调焦变倍信息数据及高精度直线导轨移动状态信息数据；
c)显示图像感应器调焦变倍信息、高精度直线导轨移动状态信息及亮度计获取的OLED微型显示器特定位置亮度信息；
d)计算机对图像感应器及亮度计的采集信息进行处理，输出OLED微型显示器像素缺陷类型、缺陷数量及亮度均匀性。像素缺陷类型及缺陷数量测试软件流程图如图2所示，亮度均匀性测试软件流程图如图3所示。
| 标题 | 发布/更新时间 | 阅读量 |
|---|---|---|
| 投影系统 | 2020-05-08 | 426 |
| 基于载波调制的激光雷达测距系统及测距方法 | 2020-05-11 | 169 |
| 微透镜阵列的成像方法与成像装置 | 2020-05-12 | 477 |
| 一种激光频率测量装置和激光频率稳定装置 | 2020-05-12 | 420 |
| OLED微型显示器性能快速检测装置和检测方法 | 2020-05-08 | 544 |
| 用于分析荧光免疫斑点测定的方法和系统 | 2020-05-08 | 352 |
| 用于评估单光子-探测器信号的方法 | 2020-05-11 | 126 |
| 一种太赫兹强度关联探测装置 | 2020-05-11 | 337 |
| 微型投影机 | 2020-05-08 | 174 |
| 一种荧光测试设备及系统 | 2020-05-08 | 704 |
高效检索全球专利专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台，是提供专利分析，专利查询，专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。
我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据，免费查、免费专利分析。
专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析，涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度，系统通过AI智能系统对图表进行解读，只需1分钟，一键生成行业专利分析报告。
