一种紫外光线光谱特性的测量方法
专利汇可以提供一种紫外光线光谱特性的测量方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 涉及一种紫外光线 光谱 特性的测量方法，包括以下步骤：对n组紫外发光 二极管 进行编号，并将其特定发光 波长 记为λn；每组紫外 发光二极管 采集波长小于或等于特定发光波长的紫外光线，输出 电流 值至 信号 调理 电路 ；信号调理电路对紫外发光二极管的信号进行放大，形成放大信号反馈到信号采集电路；信号采集电路对放大信号进行A/D转换，输出紫外线的辐照度值至 微处理器 ；微处理器对紫外线辐照度进行处理，获得紫外线光谱谱线，并将该紫外线光谱谱线发送至显示屏显示。本发明的方法可得到 辐射 紫外光线照射到 传感器 处的紫外光谱谱线的特性，能够瞬态宽光谱范围分析紫外线传感器处的紫外光线光谱谱线的特性。，下面是一种紫外光线光谱特性的测量方法专利的具体信息内容。
1.一种紫外光线光谱特性的测量方法，其特征在于，该方法的装置包括紫外线传感器阵列、信号调理电路、信号采集电路、微处理器、通信接口电路、显示屏和电源电路，所述紫外线传感器阵列包括n组紫外线传感器，所述紫外线传感器的信号输出端与信号调理电路的信号输入端相连，所述信号调理电路的信号输出端与信号采集电路的采集输入端相连，所述信号采集电路的采集输出端与微处理器的I/O端口相连，所述微处理器的总线端口与显示屏相连，所述电源电路分别与紫外线传感器、信号调理电路、信号采集电路、微处理器、通信接口电路、显示屏相连；所述紫外线传感器为具有特定发光波长的紫外发光二极管；该方法包括以下步骤：
第一步、对n组紫外发光二极管按照1、2…i…n的顺序进行编号，并相应地将紫外发光二极管的特定发光波长标记为λ1、λ2、…λi…λn；
第二步、每组紫外发光二极管采集波长小于或等于其特定发光波长的紫外光线后，输出相应大小的电流值至信号调理电路的信号输入端；
第三步、信号调理电路对紫外发光二极管提供的信号进行放大处理，形成放大信号反馈到信号采集电路；
第四步、信号采集电路对信号调理电路提供的放大信号进行A/D转换，输出紫外线的辐照度值至微处理器；
第五步、微处理器对第i组紫外发光二极管采集的紫外线辐照度进行处理，获得第i组紫外发光二极管与相邻紫外发光二极管之间的紫外线光谱谱线，并将该紫外线光谱谱线发送至显示屏显示。
2.根据权利要求1所述一种紫外光线光谱特性的测量方法，其特征在于：第二步中，所述紫外发光二极管对于波长大于其特定发光波长的紫外光线没有响应，只对波长小于或等于其特定发光波长的紫外光线有响应。
3.根据权利要求2所述一种紫外光线光谱特性的测量方法，其特征在于：所述紫外发光二极管的特定发光波长为200～400nm。
4.根据权利要求3所述一种紫外光线光谱特性的测量方法，其特征在于，所述紫外发光二极管的特定发光波长符合如下要求：200nm≤λn＜……＜λ2＜λ1≤400nm。
5.根据权利要求1所述一种紫外光线光谱特性的测量方法，其特征在于：第五步中，将第i组紫外发光二极管采集的紫外线辐照度减去第i＋1组紫外发光二极管采集的紫外线辐照度，得到波长λi与λi＋1之间的紫外线辐照度，进而得到紫外光线照射到紫外线传感器处的紫外光谱谱线。
6.根据权利要求1所述一种紫外光线光谱特性的测量方法，其特征在于：所述微处理器的I/O端口还与通信接口电路相连。
7.根据权利要求6所述一种紫外光线光谱特性的测量方法，其特征在于：所述通信接口电路用以将下载的测试数据及相关软件升级程序输送至微处理器。
一种紫外光线光谱特性的测量方法
技术领域
背景技术
发明内容
第二步、每组紫外发光二极管采集波长小于或等于其特定发光波长的紫外光线后，输出相应大小的电流值至信号调理电路的信号输入端；
第三步、信号调理电路对紫外发光二极管提供的信号进行放大处理，形成放大信号反馈到信号采集电路；
第四步、信号采集电路对信号调理电路提供的放大信号进行A/D转换，输出紫外线的辐照度值至微处理器；
第五步、微处理器对第i组紫外发光二极管采集的紫外线辐照度进行处理，获得第i组紫外发光二极管与相邻紫外发光二极管之间的紫外线光谱谱线，并将该紫外线光谱谱线发送至显示屏显示。
具体实施方式
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