专利汇可以提供一种数控设备电极放电时间的计算方法及装置专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 提供了一种数控设备 电极 放电时间的计算方法,获取加工零件的基准坐标、加工坐标、电极加工面积、电极材质、 工件 材质的放电需要的参数;根据放电所需要的参数建立 数据库 ,从数据库中匹配到工件材质比重d、电火花参数的加工效率及加工倍率参数;根据数据库获取的参数计算 放电加工 零件的体积V;根据加工零件体积V及匹配得到参数的工件材质比重d、加工效率及加工倍率参数来计算数控电火花加工设备电极放电时间数控电火花加工设备电极放电时间精确预估的系统具有效率高、精确性高的优点。,下面是一种数控设备电极放电时间的计算方法及装置专利的具体信息内容。
1.一种数控设备电极放电时间的计算方法,其特征在于:包括步骤,
获取加工零件的基准坐标、加工坐标、电极加工面积、电极材质、工件材质的放电需要的参数;
根据放电所需要的参数建立数据库,从数据库中匹配到工件材质比重d、电火花参数的加工效率及加工倍率参数;
根据数据库获取的参数计算放电加工零件的体积V;
根据加工零件体积V及匹配得到参数的工件材质比重d、加工效率及加工倍率参数来计算数控电火花加工设备电极放电时间。
2.如权利要求1所述的数控设备电极放电时间的计算方法,其特征在于:所述放电所需要的参数具体步骤包括:
所述放电所需要的参数是由使用NX软件进行电极设计,电极设计完成后获得;
将所述NX软件自动保存基准坐标、加工坐标、电极加工面积、电极材质、工件材质的信息;
将所述电极加工面积及电极材质的XYZ尺寸等信息在电极的属性中保存,对NX软件进行二次开发,将电极的属性信息内容抓取并上传到系统中。
3.如权利要求1所述的数控设备电极放电时间的计算方法,其特征在于:所述匹配具体步骤包括:
所述建立数据库是在系统上建立工件材质、加工条件、加工效率及加工倍率形成,加工倍率包括加工速度及转速;
所述工件材质匹配到工件材质的比重d;
NX软件获取的电极基准坐标、加工坐标、电极加工面积、电极材质、工件材质、电极粗加工及精加工信息,从数据库自动配置找到该电极放电时的加工条件;
所述据电极的粗加工及精加工信息,可从数据库中匹配到加工倍率,得出粗加工及精加工的的速度。
4.如权利要求1到3任意一项所述的数控设备电极放电时间的计算方法,其特征在于:
所述加工零件体积具体步骤包括:
所述电极加工面积及电极材质的XYZ尺寸等信息在电极的属性中保存,即可获得加工零件坐标参数,得出X、Y及Z的大小,得出体积V=X*Y*Z,表面积S=XY+2(XZ+YZ)。
5.如权利要求1到4任意一项所述的数控设备电极放电时间的计算方法,其特征在于:
所述电极放电时间具体步骤包括:
所述加工条件的速度保存在参数数据库中,每个加工条件均保存了加工速度;
不同的电极放电使用的加工条件,有对应加不同的加工条件速度;
所述体积V的大小已知,所述比重d大小已知,从数据库中取至少一组粗加工数据,所述粗加工数据分别为金属加工速度及非金属加工速度,得出粗加工的速度v,所述粗加工安全系数1.2,所述粗加工电极放电时间t1=V*d/v;
所述数据库中取至少四组精加工数据,即加工效率G、精加工平均速度V1;
所述工平均速度V1已知,加工效率G已知,所述精加工重量g=S*G*d,所述精加工时间t2=g/V1,所述精加工安全系数1.5,电极放电时间T=t2*1.5+t1*1.2。
6.一种数控设备电极放电时间计算的装置,其特征在于:包括:
模型及基础数据获取模块,用于获得基准坐标、加工坐标、电极加工面积、电极材质、工件材质等电极放电需要的参数;
基础数据模块,用来匹配工件材质密度、电火花参数加工效率、加工倍率等参数,获得对应的参数;
放电加工体积计算功能模块,用来计算数控加工设备放电加工体积;
数据计算模块,用于计算数控电火花加工设备电极放电时间。
7.如权利要求6所述的数控设备电极放电时间计算的装置,其特征在于:包括:
数据修正模块,不同品牌数控电火花设备及相同品牌不同版本控制器的数控电火花设备放电的效率不一样,需要整合数据库进行自动数据修正。
数据展示模块,用于将计算的数控电火花加工设备电极放电时间在系统网页显示并可输出《加工时间预估表》给APS排产使用。
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