专利汇可以提供基于代入法测量平面尺寸的方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 涉及基于代入法测量平面尺寸的方法,该方法在已知待测产品的第一测量点A与第二测量点B之间的理论设计距离X0的 基础 上,将待测产品置于测量系统的 坐标系 中,坐标系划分若干连续的单位值为D的单位测量区,测量A、B到所在的单位测量区边界的相对坐标值;依据公式L=△X1‑△X2+X;将X是理论设计距离X0及X0±D代入计算,得出三个测量值,然后将三个测量值与理论设计距离X0比对,最接近理论设计距离X0的测量值计为待测产品的第一测量点A与第二测量点B之间的实际距离。本发明可采用高 精度 影像攫取器抓取待测产品的测量点,利用代入换算比对,经过电脑进行换算处理后,获得精度较高的待测产品平面尺寸,测量方便、快捷,符合产业利用。,下面是基于代入法测量平面尺寸的方法专利的具体信息内容。
1.基于代入法测量平面尺寸的方法,其特征在于:该方法在已知待测产品的第一测量点A与第二测量点B之间的理论设计距离X0的基础上,将待测产品置于测量系统的坐标系中,坐标系划分若干连续的单位测量区,单位测量区的单位值为D,所述单位测量区是网格、点矩阵或条形码构成,单位测量区的单位值D大于第一测量点A与第二测量点B之间尺寸公差;以及
利用影像攫取器抓取待测产品的第一测量点A和第一测量点A所在的单位测量区图像,通过电脑处理并计算得出第一测量值△X1,该第一测量值△X1是第一测量点A到所在的单位测量区边界的相对坐标值;
利用影像攫取器抓取待测产品的第二测量点B和第二测量点B所在的单位测量区图像,通过电脑处理并计算得出第二测量值△X2,该第二测量值△X2是第二测量点B到所在的单位测量区边界的相对坐标值;
第一测量值△X1和第二测量值△X2的测量方向一致且在第一测量点A与第二测量点B之间测量连线;
待测产品的第一测量点A与第二测量点B之间的实际距离为:
L=△X1-△X2+X;
将X是理论设计距离X0及X0±D代入计算,得出三个测量值,然后将三个测量值与理论设计距离X0比对,最接近理论设计距离X0的测量值计为待测产品的第一测量点A与第二测量点B之间的实际距离。
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