1.一种电子设备，包括：
测试电压生成电路，所述测试电压生成电路被配置成根据调节器电压生成测试电压；
开关电路，所述开关电路被配置成接收所述测试电压和图像像素输出信号，并且被配置成在处于测试模式时将所述测试电压作为输出传输；
比较电路，所述比较电路被配置成接收来自所述开关电路的所述输出和模数转换信号，并且被配置成在来自所述开关电路的所述输出和所述模数转换信号的电压相等时断言计数器复位信号；以及
计数器，所述计数器被配置成在所述测试模式内的每个测试循环开始时开始计数，被配置成在断言所述计数器复位信号后停止计数，并且被配置成在停止计数后输出其计数；
其中在处于所述测试模式时，所述计数与所述测试电压成比例。
2.根据权利要求1所述的电子设备，其中所述测试电压生成电路被配置成生成高测试电压和低测试电压，所述高测试电压和所述低测试电压表示所述图像像素输出信号的高预期电压和低预期电压；其中所述测试电压生成电路被配置成响应于复用器选择信号的断言来将所述高测试电压作为所述测试电压传输，并且被配置成响应于所述复用器选择信号的去断言来将所述低测试电压作为所述测试电压传输。
3.根据权利要求2所述的电子设备，其中所述测试电压生成电路包括：
分压器，所述分压器被耦合在所述调节器电压与参考电压之间，其中所述分压器的第一抽头产生所述高测试电压，并且所述分压器的第二抽头产生所述低测试电压；
复用器，所述复用器具有被耦合至所述分压器的所述第一抽头和所述第二抽头的输入，以接收所述高测试电压和所述低测试电压，并且以基于所述复用器选择信号的逻辑电平将所述高测试电压或者所述低测试电压作为输出传输。
4.根据权利要求3所述的电子设备，其中所述测试电压生成电路进一步包括：
与门，所述与门被配置成接收主测试模式使能信号和个体像素测试模式使能信号作为输入，并且被配置成作为所述主测试模式使能信号与所述个体像素测试模式使能信号之间的逻辑与操作的结果，生成测试模式使能信号；
第一开关，所述第一开关响应于所述测试模式使能信号，将所述调节器电压选择性地耦合至所述分压器；
第二开关，所述第二开关响应于所述测试模式使能信号的反相，将所述分压器选择性地向地分流；以及
第三开关，所述第三开关响应于所述测试模式使能信号的所述反相，将所述复用器的所述输出选择性地向地分流。
5.根据权利要求3所述的电子设备，其中所述比较电路包括比较器，所述比较器通过第一电容器在第一端子处接收来自所述开关电路的所述输出，并且通过第二电容器在第二端子处接收来自所述模数转换信号的输出；并且其中所述模数转换信号包括电压斜坡信号，所述电压斜坡信号以按顺序在基础电压、第一电压、所述基础电压与第二电压之间的重复模式斜变，其中所述第一电压与所述第二电压不相等，并且其中所述第一电压和所述第二电压与所述基础电压不相等。
6.根据权利要求5所述的电子设备，其中在所述复用器通过所述复用器选择信号被设置成传输所述高测试电压时，所述电压斜坡信号斜变到所述第一电压，并且在所述复用器通过所述复用器选择信号被设置成传输所述低测试电压时，所述电压斜坡信号斜变到所述第二电压。
7.根据权利要求1所述的电子设备，进一步包括多个附加计数器；所述电子设备进一步包括多个附加比较电路，所述多个附加比较电路各自被配置成选择性地接收来自所述开关电路的所述输出和所述模数转换信号，并且被配置成在来自所述开关电路的所述输出和所述模数转换信号的电压相等时，断言与给定的附加计数器相关联的计数器复位信号；并且其中所述多个附加计数器中的每一个附加计数器被配置成在所述测试模式内的所述每个测试循环开始时开始计数，被配置成在断言与该附加计数器相关联的所述计数器复位信号后停止计数，并且被配置成在停止计数后输出其计数。
8.根据权利要求7所述的电子设备，其中所述开关电路被配置成使其输出耦合至所述多个附加比较电路中的每一个附加比较电路。
9.根据权利要求7所述的电子设备，其中所述开关电路被配置成使其输出耦合至所述多个附加比较电路的子集。
10.一种电子设备，包括：
电压调节器，所述电压调节器被配置成生成调节电压；
像素阵列，所述像素阵列包括具有有源成像像素的多个行和具有测试像素的至少一行；
其中具有有源成像像素的所述多个行和具有测试像素的所述至少一行基于所述调节电压来操作；
其中所述测试像素中的每一个测试像素包括：
测试电压生成电路，所述测试电压生成电路被配置成根据所述调节电压生成测试电压；
开关电路，所述开关电路被配置成接收所述测试电压和图像像素输出信号，并且被配置成在处于测试模式时将所述测试电压作为输出传输；
比较电路，所述比较电路被配置成接收来自所述开关电路的所述输出和模数转换信号，并且被配置成在来自所述开关电路的所述输出和所述模数转换信号的电压相等时断言计数器复位信号；以及
计数器，所述计数器被配置成在所述测试模式内的每个测试循环开始时开始计数，被配置成在断言所述计数器复位信号后停止计数，并且被配置成在停止计数后输出其计数；
其中在处于所述测试模式时，所述计数与所述测试电压成比例。
11.根据权利要求10所述的电子设备，进一步包括处理器，所述处理器被配置成接收来自所述测试像素的所述计数器的输出，被配置成将那些输出与预期值进行比较，并且被配置成基于不在所述预期值的阈值内的那些输出来执行至少一个动作。
12.根据权利要求11所述的电子设备，其中所述测试电压生成电路被配置成生成高测试电压和低测试电压，所述高测试电压和所述低测试电压表示所述图像像素输出信号的高预期电压和低预期电压；其中所述测试电压生成电路被配置成响应于复用器选择信号的断言来将所述高测试电压作为所述测试电压传输，并且被配置成响应于所述复用器选择信号的去断言来将所述低测试电压作为所述测试电压传输。
13.根据权利要求12所述的电子设备，其中所述测试电压生成电路包括：
分压器，所述分压器被耦合在所述调节电压与参考电压之间，其中所述分压器的第一抽头产生所述高测试电压，并且所述分压器的第二抽头产生所述低测试电压；
复用器，所述复用器具有被耦合至所述分压器的所述第一抽头和所述第二抽头的输入，以接收所述高测试电压和所述低测试电压，并且以基于所述复用器选择信号的逻辑电平将所述高测试电压或者所述低测试电压作为输出传输。
14.根据权利要求13所述的电子设备，其中所述测试电压生成电路进一步包括：
与门，所述与门被配置成接收主测试模式使能信号和个体像素测试模式使能信号作为输入，并且被配置成作为所述主测试模式使能信号与所述个体像素测试模式使能信号之间的逻辑与操作的结果，生成测试模式使能信号；
第一开关，所述第一开关响应于所述测试模式使能信号，将所述调节电压选择性地耦合至所述分压器；
第二开关，所述第二开关响应于所述测试模式使能信号的反相，将所述分压器选择性地向地分流；以及
第三开关，所述第三开关响应于所述测试模式使能信号的所述反相，将所述复用器的所述输出选择性地向地分流。
15.根据权利要求13所述的电子设备，其中所述比较电路包括比较器，所述比较器通过第一电容器在第一端子处接收来自所述开关电路的所述输出，并且通过第二电容器在第二端子处接收来自所述模数转换信号的输出；并且其中所述模数转换信号包括电压斜坡信号，所述电压斜坡信号以按顺序在基础电压、第一电压、所述基础电压与第二电压之间的重复模式斜变，其中所述第一电压与所述第二电压不相等，并且其中所述第一电压和所述第二电压与所述基础电压不相等。
16.根据权利要求15所述的电子设备，其中在所述复用器通过所述复用器选择信号被设置成传输所述高测试电压时，所述斜坡信号斜变到所述第一电压，并且在所述复用器通过所述复用器选择信号被设置成传输所述低测试电压时，所述斜坡信号斜变到所述第二电压。
17.一种方法，包括：
提供图像像素阵列，所述图像像素阵列包括具有有源成像像素的多个行和具有测试像素的至少一行，其中具有有源成像像素的所述多个行和具有测试像素的所述至少一行基于调节电压来操作；以及
通过以下方式来测试所述调节电压：
将具有测试像素的所述至少一行激活成以测试模式操作；
根据所述调节电压生成测试黑电压和测试白电压；
将所述测试黑电压和所述测试白电压二者择一地作为测试电压传输到开关电路；
将所述测试电压从所述开关电路传输到比较电路，所述比较电路在所述测试电压和模数转换信号的电压相等时断言计数器复位信号；以及
使计数器在所述测试模式内的每个测试循环开始时复位和开始，在断言所述计数器复位信号后使所述计数器停止，并且输出所述计数器的计数，在处于所述测试模式时，所述计数与所述测试电压成比例。
18.根据权利要求17所述的方法，其中所述模数转换信号包括电压斜坡信号，所述电压斜坡信号以按顺序在基础电压、第一电压、所述基础电压与第二电压之间的重复模式斜变，其中所述第一电压与所述第二电压不相等，并且其中所述第一电压和所述第二电压与所述基础电压不相等。
19.根据权利要求18所述的方法，其中在所述测试黑电压正作为所述测试电压被传输到所述开关电路时，所述电压斜坡信号斜变到所述第一电压，并且在所述测试白电压正作为所述测试电压被传输到所述开关电路时，所述电压斜坡信号斜变到所述第二电压。
20.一种电路，包括：
电源电压节点；
由所述电源电压节点供电的至少一个像素，所述至少一个像素包括成像像素和模数转换电路；
测试电压生成电路，所述测试电压生成电路被配置成根据所述电源电压节点处的电压生成测试电压；
其中所述模数转换电路被配置成在正常模式中对来自所述成像像素的输出进行采样，并且将其输出提供为数字数据；并且
其中所述模数转换电路被配置成在测试模式中对所述测试电压进行采样，并且将其输出提供为所述数字数据。
21.根据权利要求20所述的电路，进一步包括处理器，所述处理器被配置成在所述测试模式中接收来自所述模数转换电路的所述数字数据，将所述数字数据与预期值进行比较，并且基于所述数字数据与所述预期值实质上不相等来采取校正动作。
22.根据权利要求20所述的电路，其中所述测试电压生成电路被配置成生成高测试电压和低测试电压，所述高测试电压和所述低测试电压表示所述成像像素的所述输出的高预期电压和低预期电压；其中所述测试电压生成电路被配置成响应于复用器选择信号的断言来将所述高测试电压作为所述测试电压传输，并且被配置成响应于所述复用器选择信号的去断言来将所述低测试电压作为所述测试电压传输。
23.根据权利要求22所述的电路，其中所述测试电压生成电路包括：
分压器，所述分压器被耦合在所述电源电压节点与参考节点之间，其中所述分压器的第一抽头产生所述高测试电压，并且所述分压器的第二抽头产生所述低测试电压；
复用器，所述复用器具有被耦合至所述分压器的所述第一抽头和所述第二抽头的输入，以接收所述高测试电压和所述低测试电压，并且以基于所述复用器选择信号的逻辑电平将所述高测试电压或者所述低测试电压作为输出传输。
24.根据权利要求23所述的电路，其中所述测试电压生成电路进一步包括：
与门，所述与门被配置成接收主测试模式使能信号和个体像素测试模式使能信号作为输入，并且被配置成作为所述主测试模式使能信号与所述个体像素测试模式使能信号之间的逻辑与操作的结果，生成测试模式使能信号；
第一开关，所述第一开关响应于所述测试模式使能信号，将所述电源电压节点选择性地耦合至所述分压器；
第二开关，所述第二开关响应于所述测试模式使能信号的反相，将所述分压器选择性地向地分流；以及
第三开关，所述第三开关响应于所述测试模式使能信号的所述反相，将所述复用器的所述输出选择性地向地分流。
25.根据权利要求23所述的电路，其中所述模数转换电路包括：
开关电路，所述开关电路被配置成接收所述测试电压和来自所述成像像素的输出，并且被配置成在处于所述测试模式时将所述测试电压作为输出传输；
比较电路，所述比较电路被配置成接收来自所述开关电路的所述输出和模数转换信号，并且被配置成在来自所述开关电路的所述输出和所述模数转换信号的电压相等时断言计数器复位信号；以及
计数器，所述计数器被配置成在所述测试模式内的每个测试循环开始时开始计数，被配置成在断言所述计数器复位信号后停止计数，并且被配置成在停止计数后输出其计数。
26.根据权利要求25所述的电路，其中所述比较电路包括比较器，所述比较器通过第一电容器在第一端子处接收来自所述开关电路的所述输出，并且通过第二电容器在第二端子处接收来自所述模数转换信号的输出；并且其中所述模数转换信号包括电压斜坡信号，所述电压斜坡信号以按顺序在基础电压、第一电压、所述基础电压与第二电压之间的重复模式斜变，其中所述第一电压与所述第二电压不相等，并且其中所述第一电压和所述第二电压与所述基础电压不相等。
27.根据权利要求26所述的电路，其中在所述复用器通过所述复用器选择信号被设置成传输所述高测试电压时，所述电压斜坡信号斜变到所述第一电压，并且在所述复用器通过所述复用器选择信号被设置成传输所述低测试电压时，所述电压斜坡信号斜变到所述第二电压。
28.一种电子设备，包括：
像素阵列，所述像素阵列包括具有有源成像像素的多个行和具有测试像素的至少一行；
其中所述测试像素中的每一个测试像素包括：
测试电压生成电路，所述测试电压生成电路被配置成生成测试电压；
开关电路，所述开关电路被配置成接收所述测试电压和图像像素输出信号，并且被配置成在处于测试模式时将所述测试电压作为输出传输；
比较电路，所述比较电路被配置成接收来自所述开关电路的所述输出和模数转换信号，并且被配置成在来自所述开关电路的所述输出和所述模数转换信号的电压相等时断言计数器复位信号；以及
计数器，所述计数器被配置成在所述测试模式内的每个测试循环开始时开始计数，被配置成在断言所述计数器复位信号后停止计数，并且被配置成在停止计数后输出其计数；
其中在处于所述测试模式时，所述计数与所述测试电压成比例。
29.根据权利要求28所述的电子设备，进一步包括处理器，所述处理器被配置成接收来自所述测试像素的所述计数器的输出，被配置成将那些输出与预期值进行比较，并且被配置成基于那些输出不在所述预期值的阈值内来执行至少一个动作。
30.根据权利要求29所述的电子设备，其中所述测试电压生成电路被配置成生成高测试电压和低测试电压，所述高测试电压和所述低测试电压表示所述图像像素输出信号的高预期电压和低预期电压；其中所述测试电压生成电路被配置成响应于复用器选择信号的断言来将所述高测试电压作为所述测试电压传输，并且被配置成响应于所述复用器选择信号的去断言来将所述低测试电压作为所述测试电压传输。
31.根据权利要求30所述的电子设备，其中所述测试电压生成电路包括：
分压器，所述分压器被耦合至参考电压，其中所述分压器的第一抽头产生所述高测试电压，并且所述分压器的第二抽头产生所述低测试电压；
复用器，所述复用器具有被耦合至所述分压器的所述第一抽头和所述第二抽头的输入，以接收所述高测试电压和所述低测试电压，并且以基于所述复用器选择信号的逻辑电平将所述高测试电压或者所述低测试电压作为输出传输。
32.根据权利要求31所述的电子设备，其中所述测试电压生成电路进一步包括：
与门，所述与门被配置成接收主测试模式使能信号和个体像素测试模式使能信号作为输入，并且被配置成作为所述主测试模式使能信号与所述个体像素测试模式使能信号之间的逻辑与操作的结果，生成测试模式使能信号；
第一开关，所述第一开关响应于所述测试模式使能信号，将调节电压选择性地耦合至所述分压器；
第二开关，所述第二开关响应于所述测试模式使能信号的反相，将所述分压器选择性地向地分流；以及
第三开关，所述第三开关响应于所述测试模式使能信号的所述反相，将所述复用器的所述输出选择性地向地分流。
33.根据权利要求31所述的电子设备，其中所述比较电路包括比较器，所述比较器通过第一电容器在第一端子处接收来自所述开关电路的所述输出，并且通过第二电容器在第二端子处接收来自所述模数转换信号的输出；并且其中所述模数转换信号包括电压斜坡信号，所述电压斜坡信号以按顺序在基础电压、第一电压、所述基础电压和第二电压之间的重复模式斜变，其中所述第一电压与所述第二电压不相等，并且其中所述第一电压和所述第二电压与所述基础电压不相等。
34.根据权利要求33所述的电子设备，其中在所述复用器通过所述复用器选择信号被设置成传输所述高测试电压时，所述电压斜坡信号斜变到所述第一电压，并且在所述复用器通过所述复用器选择信号被设置成传输所述低测试电压时，所述电压斜坡信号斜变到所述第二电压。
35.一种用于测试调节电压的方法，包括：
将测试像素激活成以测试模式操作；
根据所述调节电压生成测试黑电压和测试白电压；
将所述测试黑电压和所述测试白电压二者择一地作为测试电压传输到开关电路；
将所述测试电压从所述开关电路传输到比较电路，所述比较电路在所述测试电压和模数转换信号的电压相等时断言计数器复位信号；以及
使计数器在所述测试模式内的每个测试循环开始时复位和开始，在断言所述计数器复位信号后使所述计数器停止，并且输出所述计数器的计数，在处于所述测试模式时，所述计数与所述测试电压成比例。
36.根据权利要求35所述的方法，其中所述模数转换信号包括电压斜坡信号，所述电压斜坡信号以按顺序在基础电压、第一电压、所述基础电压与第二电压之间的重复模式斜变，其中所述第一电压与所述第二电压不相等，并且其中所述第一电压和所述第二电压与所述基础电压不相等。
37.根据权利要求36所述的方法，其中在所述测试黑电压正作为所述测试电压被传输到所述开关电路时，所述电压斜坡信号斜变到所述第一电压，并且在所述测试白电压正作为所述测试电压被传输到所述开关电路时，所述电压斜坡信号斜变到所述第二电压。