| 序号 | 专利名 | 申请号 | 申请日 | 公开（公告）号 | 公开（公告）日 | 发明人 |
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| 1 | 一种表征纤维沿径向不同深度化学结构的方法 | CN201610532183.0 | 2016-07-06 | CN106124549A | 2016-11-16 | 徐志伟; 隋显航; 李晓捷; 李楠; 陈澄; 钱晓明; 赵立环; 邓辉 |
| 本发明公开的是一种表征纤维沿径向不同深度化学结构的方法。其内容包括1)首先对纤维表面特定微区进行X射线光电子能谱测试；2)调整氩离子枪的溅射角度与离子源能量对测试区域进行原位溅射剥离处理；3)重复上述步骤。通过X射线光电子能谱测试与原位氩离子溅射交替进行，实现纤维沿径向不同深度化学结构的分析。本发明的核心是采用X射线光电子能谱‑氩离子枪溅射联用技术，通过X射线光电子能谱测试与原位的氩离子溅射交替进行，获得纤维特定微区沿径向不同深度化学结构信息，即深度剖析。 | ||||||
| 2 | 基于能量色散X射线谱的粉煤灰物相分析方法 | CN201510605117.7 | 2015-09-22 | CN105241904B | 2018-01-16 | 吴丹琳; 王培铭; 刘贤萍; 袁勇 |
| 本发明涉及一种基于能量色散X射线谱的粉煤灰物相分析方法，具体步骤：（1）通过化学分析或X射线荧光光谱分析粉煤灰的化学组成；（2）通过X射线衍射分析粉煤灰的矿物组成；（3）确定需要采集能谱面分布图像的元素种类；（4）采集粉煤灰的背散射电子图像与元素能谱面分布图像，并对主要物相进行能谱点分析；（5）设计物相分析方法，综合处理同一区域各元素的能谱面分布图像，然后，去除分析结果中的噪声，获得粉煤灰的分相伪彩色图以及物相分析结果。本发明所述的物相分析方法对晶态、非晶态物相均有效，对低含量物相也敏感。该方法可用于分析构成粉煤灰的物相种类，计算物相的体积百分含量，观测物相的空间分布。 | ||||||
| 3 | 一种准原位光电子能谱测试装置及其测试方法 | CN202110773779.0 | 2021-07-08 | CN113325022B | 2022-11-04 | 杨帆; 倪兴明; 隆柳柳; 程佩红 |
| 本发明涉及一种准原位光电子能谱测试装置及其测试方法，在无氧反应腔体内进行无氧电催化后的电极被提取安装到样品托上，后密闭转移仓主腔，样品便携式转移仓连接样品制备仓后，通过螺旋推进杆密闭和打开将电极样品从便携式转移仓转移至样品制备仓，X射线光电子能谱分析腔体与样品制备仓连接相通，在X射线光电子能谱分析腔体内进行封闭测试。装置和测试方法可以实现电化学电极在进行电化学反应后进行化学价态测试，能后隔绝大气中的氧气以及水汽的影响，避免对电极价态产生影响，从而解决了电化学反应电极测试X射线光电子能谱由于氧气影响而不能反应真实测试条件的问题。 | ||||||
| 4 | 基于能量色散X射线谱的煤矸石物相分析方法 | CN201510605116.2 | 2015-09-22 | CN105181717B | 2017-12-15 | 吴丹琳; 王培铭; 袁勇; 刘贤萍 |
| 本发明涉及一种基于能量色散X射线谱的煤矸石物相分析方法，具体步骤：（1）采用化学分析或X射线荧光光谱分析煤矸石的化学组成；（2）采用X射线衍射分析煤矸石的矿物组成；（3）确定需要采集能谱面分布图像的元素种类；（4）拍摄煤矸石的背散射电子图像与元素能谱面分布图像，并用能谱点分析观测主要物相的组成；（5）设计物相分析方法，综合处理同一区域各元素的能谱面分布图像，然后，去除分析结果中的噪声，获得煤矸石的分相伪彩色图以及物相分析结果。本发明所述的物相分析方法可用于煤矸石及活化煤矸石中物相的种类分析、体积百分含量计算及空间分布观测。该方法对晶态、非晶态物相均有效，对低含量物相也敏感。 | ||||||
| 5 | 基于能量色散X射线谱的粉煤灰物相分析方法 | CN201510605117.7 | 2015-09-22 | CN105241904A | 2016-01-13 | 吴丹琳; 王培铭; 刘贤萍; 袁勇 |
| 本发明涉及一种基于能量色散X射线谱的粉煤灰物相分析方法，具体步骤：（1）通过化学分析或X射线荧光光谱分析粉煤灰的化学组成；（2）通过X射线衍射分析粉煤灰的矿物组成；（3）确定需要采集能谱面分布图像的元素种类；（4）采集粉煤灰的背散射电子图像与元素能谱面分布图像，并对主要物相进行能谱点分析；（5）设计物相分析方法，综合处理同一区域各元素的能谱面分布图像，然后，去除分析结果中的噪声，获得粉煤灰的分相伪彩色图以及物相分析结果。本发明所述的物相分析方法对晶态、非晶态物相均有效，对低含量物相也敏感。该方法可用于分析构成粉煤灰的物相种类，计算物相的体积百分含量，观测物相的空间分布。 | ||||||
| 6 | 基于能量色散X射线谱的煤矸石物相分析方法 | CN201510605116.2 | 2015-09-22 | CN105181717A | 2015-12-23 | 吴丹琳; 王培铭; 袁勇; 刘贤萍 |
| 本发明涉及一种基于能量色散X射线谱的煤矸石物相分析方法，具体步骤：（1）采用化学分析或X射线荧光光谱分析煤矸石的化学组成；（2）采用X射线衍射分析煤矸石的矿物组成；（3）确定需要采集能谱面分布图像的元素种类；（4）拍摄煤矸石的背散射电子图像与元素能谱面分布图像，并用能谱点分析观测主要物相的组成；（5）设计物相分析方法，综合处理同一区域各元素的能谱面分布图像，然后，去除分析结果中的噪声，获得煤矸石的分相伪彩色图以及物相分析结果。本发明所述的物相分析方法可用于煤矸石及活化煤矸石中物相的种类分析、体积百分含量计算及空间分布观测。该方法对晶态、非晶态物相均有效，对低含量物相也敏感。 | ||||||
| 7 | 一种准原位光电子能谱测试装置及其测试方法 | CN202110773779.0 | 2021-07-08 | CN113325022A | 2021-08-31 | 杨帆; 倪兴明; 隆柳柳; 程佩红 |
| 本发明涉及一种准原位光电子能谱测试装置及其测试方法，在无氧反应腔体内进行无氧电催化后的电极被提取安装到样品托上，后密闭转移仓主腔，样品便携式转移仓连接样品制备仓后，通过螺旋推进杆密闭和打开将电极样品从便携式转移仓转移至样品制备仓，X射线光电子能谱分析腔体与样品制备仓连接相通，在X射线光电子能谱分析腔体内进行封闭测试。装置和测试方法可以实现电化学电极在进行电化学反应后进行化学价态测试，能后隔绝大气中的氧气以及水汽的影响，避免对电极价态产生影响，从而解决了电化学反应电极测试X射线光电子能谱由于氧气影响而不能反应真实测试条件的问题。 | ||||||
| 8 | 一种纳米薄膜制备及化学状态测试系统 | CN202121325962.6 | 2021-06-15 | CN215297194U | 2021-12-24 | 于泠然; 徐秀兰; 于广华; 冯春; 滕蛟; 李明华; 王学敏 |
| 本实用新型公开了一种纳米薄膜制备及化学状态测试系统，系统包括制备室以及与制备室连接的分析室，制备室和分析室均为真空，且制备室的真空度小于分析室的真空度；制备室内具有氩离子枪和制备平台；分析室内具有X射线光电子能谱分析仪，X射线光电子能谱分析仪用于对制备室制备得到的薄膜材料的表面原子进行化学状态测试；系统还包括设置在制备室和分析室内的样品输送装置，样品输送装置用于将制备室制备得到的薄膜材料输送至分析室内。本方案中制备的薄膜材料不会经历空气的曝光，不需要用Ar离子枪把薄膜材料表面的氧化层蚀刻掉，从而避免薄膜材料中电子结合能的变化，因此可以提高薄膜材料的表面原子的化学状态的测试的准确度。 | ||||||
| 9 | 可进行原位谱学表征的原子层沉积系统及方法 | CN202311546888.4 | 2023-11-20 | CN117587386A | 2024-02-23 | 龚忠苗; 崔义; 张莹莹; 袁敏; 张珽 |
| 本发明公开了一种可进行原位谱学表征的原子层沉积系统及用该系统进行原位监测原子层沉积的方法，通过在近常压X射线光电子能谱(NAP‑XPS)分析腔体引入交替脉冲气路，以此实现反应气氛下多个脉冲循环下的表面X射线光电子能谱测试，实现原子层沉积(ALD)反应过程的X射线光电子能谱(XPS)原位研究，更直观地监测原子层沉积(ALD)表面化学反应过程，加深对其反应机理的了解，更好地构建基于原子层沉积(ALD)技术新型纳米反应体系。 | ||||||
| 10 | 一种透射电镜能谱超分辨分析方法 | CN202110098977.1 | 2021-01-25 | CN112903733B | 2022-07-29 | 邢介奇; 鲜海洋; 杨宜坪; 谭伟; 朱建喜; 何宏平 |
| 本发明提供一种透射电镜能谱超分辨分析方法，属于矿产资源勘查、微量元素地球化学领域。所述方法包括如下步骤：步骤1.目标样品的选择与分析。步骤2.微区微量元素组成分析样品的准备。步骤3.目标样品的性质与元素组成分析。步骤4.根据需要制备透射电子显微镜观察样品。步骤5.对上一步制备样品，放入透射电子显微镜进行形貌观察，寻找合适的分析位置。本发明能够在纳米尺度下，对样品微量元素检测，极大的提高了透射电镜能谱元素分析的实际应用检出限，也提出了样品中微量元素被主量元素信号干扰的解决办法，并且，本发明也可以应用于电子束敏感样品的能谱分析。 | ||||||
| 11 | 钛材及钛材的制造方法 | CN202180062490.6 | 2021-09-14 | CN116133765A | 2023-05-16 | 松本实菜美; 高桥一浩 |
| 该钛材的特征在于，通过X射线光电子能谱法对表面的化学组成进行分析时，作为表面的组成含有Zn：0.1原子％以上、和Ca：0.5原子％以上，且作为表面氧化覆膜的组成，C：20.0原子％以下、和F：5.0原子％以下。 | ||||||
| 12 | 一种透射电镜能谱超分辨分析方法 | CN202110098977.1 | 2021-01-25 | CN112903733A | 2021-06-04 | 邢介奇; 鲜海洋; 杨宜坪; 谭伟; 朱建喜; 何宏平 |
| 本发明提供一种透射电镜能谱超分辨分析方法，属于矿产资源勘查、微量元素地球化学领域。所述方法包括如下步骤：步骤1.目标样品的选择与分析。步骤2.微区微量元素组成分析样品的准备。步骤3.目标样品的性质与元素组成分析。步骤4.根据需要制备透射电子显微镜观察样品。步骤5.对上一步制备样品，放入透射电子显微镜进行形貌观察，寻找合适的分析位置。本发明能够在纳米尺度下，对样品微量元素检测，极大的提高了透射电镜能谱元素分析的实际应用检出限，也提出了样品中微量元素被主量元素信号干扰的解决办法，并且，本发明也可以应用于电子束敏感样品的能谱分析。 | ||||||
| 13 | 一种含氧石墨烯还原程度的判定方法 | CN201810213828.3 | 2018-03-15 | CN108490015A | 2018-09-04 | 苗利静; 江柯敏; 李勇; 卢焕明; 李明; 沈璐; 朱丽辉; 韩莹莹 |
| 本发明公开了一种含氧石墨烯还原程度的判定方法，包括：(1)利用X射线光电子能谱对待测样品进行测量，扫描的能量范围为280eV至295eV，得到待测样品C 1s的XPS能谱；(2)将得到的XPS能谱进行分峰拟合，调整半高宽、面积、峰形；(3)通过步骤(2)得到的结果，根据含氧官能团总含量与C-C键含量之比判断含氧石墨烯的还原程度。本发明可实现碳元素的化学结构分析，可通过含氧官能团总含量和C-C键含量作比、含氧官能团结合能位置比较，实现不同样品还原程度的判定。发明具有准确、快速、无损伤的优点。 | ||||||
| 14 | 分离膜及其制备方法以及使用该分离膜的分离膜组件 | CN200980115515.3 | 2009-03-30 | CN102015081B | 2014-04-30 | 上野良之; 藤田雅规; 菅谷博之 |
| 本发明提供一种有机物、蛋白质或血小板等的附着较少的分离膜组件。本发明涉及一种分离膜及内装有该分离膜的分离膜组件，所述分离膜含有聚合物，其特征在于，在膜的一侧表面具有功能层，使用X射线化学分析用电子能谱法(ESCA)测定的该功能层表面的来自酯基的碳的峰面积百分率为0.1(原子数％)以上、10(原子数％)以下，并且，使用X射线化学分析用电子能谱法(ESCA)测定的功能层的相反侧表面的来自酯基的碳的峰面积百分率为10(原子数％)以下。 | ||||||
| 15 | 分离膜及其制备方法以及使用该分离膜的分离膜组件 | CN200980115515.3 | 2009-03-30 | CN102015081A | 2011-04-13 | 上野良之; 藤田雅规; 菅谷博之 |
| 本发明提供一种有机物、蛋白质或血小板等的附着较少的分离膜组件。本发明涉及一种分离膜及内装有该分离膜的分离膜组件，所述分离膜含有聚合物，其特征在于，在膜的一侧表面具有功能层，使用X射线化学分析用电子能谱法(ESCA)测定的该功能层表面的来自酯基的碳的峰面积百分率为0.1(原子数％)以上、10(原子数％)以下，并且，使用X射线化学分析用电子能谱法(ESCA)测定的功能层的相反侧表面的来自酯基的碳的峰面积百分率为10(原子数％)以下。 | ||||||
| 16 | 基于扫描电镜的元素晶界偏析半定量方法 | CN201810292995.1 | 2018-04-03 | CN108572187A | 2018-09-25 | 邢娟娟; 梅静; 顾辉; 胡冬力; 姜颖; 胡添翼 |
| 本发明公开了一种基于扫描电镜的元素晶界偏析半定量方法，该方法包括样品制备、并在晶界处进行能谱分析，根据公示 得到晶界处的偏析量，其中在晶界处和晶粒内的偏析元素固溶值来分别定义 Nrb是参考元素的位密度，用软件Casino模拟蒙特卡洛电子轨迹可得到电子束斑直径d1，可以再根据公示 可以得到偏析元素在晶界处的化学宽度。本发明在扫描电镜的平台下实现了晶界偏析的半定量，还具有制样方便、操作相对容易等优点。本发明方法是通过扫描电镜在晶界上收集能谱，并从晶界能谱中扣除晶粒的贡献后，获得晶界处的化学成分信息，能广泛应用于材料表征技术领域。 | ||||||
| 17 | 超微弱发光探测装置 | CN88200674 | 1988-01-28 | CN2031518U | 1989-01-25 | 刘亚宁 |
| 本实用新型涉及一种超微弱发光探测，包括生物自发发光和低水平的化学发光探测的装置。本实用新型设计了正交归一化的光路系统，垂直喷淋式的加样系统，采用单光电子计数的工作方式，具有精密度和灵敏度高的优点，并可进行多层次多参量的测量，可插入任意波段的滤光片进行光谱分析，可测体表任何部位的发光，亦可进行能谱扫描和划出发光动力曲线。 | ||||||
| 18 | 纳米级高分辨应力测量方法 | CN200510078721.5 | 2005-06-03 | CN100538349C | 2009-09-09 | 蔡端俊; 徐富春; 康俊勇 |
| 纳米级高分辨应力测量方法，涉及一种应力测量方法，提供一种基于俄歇电子能谱仪，以电子作为测量的激发源，可获得高空间分辨的应力分布值的微区应力测量方法。其步骤为确定元素分析和零应力点，用俄歇能谱确定样品的化学元素成分和比例，并以样品的1个本质元素选择一个零应力点搜取其标准谱，作为应力零点标定；利用搜取的零应力点标准谱确定拟合参数得优化拟合理论俄歇谱；建立应力标定曲线后，根据确立的俄歇移动和应力的标定曲线得微区应力值。灵活性强，可根据样品需要建立特殊的模型进行计算，也可建立所有化合物元素的应力变化标定曲线的数据库。得到的空间分辨率和采用的俄歇电子能谱仪一致，可达到纳米量级。 | ||||||
| 19 | 纳米级高分辨应力测量方法 | CN200510078721.5 | 2005-06-03 | CN1699979A | 2005-11-23 | 蔡端俊; 徐富春; 康俊勇 |
| 纳米级高分辨应力测量方法，涉及一种应力测量方法，提供一种基于俄歇电子能谱仪，以电子作为测量的激发源，可获得高空间分辨的应力分布值的微区应力测量方法。其步骤为确定元素分析和零应力点，用俄歇能谱确定样品的化学元素成分和比例，并以样品的1个本质元素选择一个零应力点搜取其标准谱，作为应力零点标定；利用搜取的零应力点标准谱确定拟合参数得优化拟合理论俄歇谱；建立应力标定曲线后，根据确立的俄歇移动和应力的标定曲线得微区应力值。灵活性强，可根据样品需要建立特殊的模型进行计算，也可建立所有化合物元素的应力变化标定曲线的数据库。得到的空间分辨率和采用的俄歇电子能谱仪一致，可达到纳米量级。 | ||||||
| 20 | 具有时空分辨功能的光催化反应原位表征系统 | CN202210886339.0 | 2022-07-26 | CN117517375A | 2024-02-06 | 赵进才; 籍宏伟; 马万红; 陈春城; 宋文静; 盛桦; 章宇超; 李骥堃; 张一帆 |
| 本发明公开了一种具有时空分辨功能的光催化反应原位表征系统，包括互联互通的第一、第二和第三真空腔；第一真空腔配置有原位低温扫描探针显微分析模块；第二真空腔配置有原位样品制备模块、原位X射线光电子能谱分析模块、原位紫外光电子能谱分析模块、原位质谱模块、样品清洁及刻蚀模块；第三真空腔有时间分辨原位反射红外光谱模块；真空腔均有原位光源模块及气路控制系统；水平方向上设有多维样品操纵台，各真空腔配置有传样杆。本发明可从纳秒至秒时间尺度研究光催化反应过程中表界面电荷产生、电子转移及界面光化学反应过程，并可从原子尺度研究光催化剂表面原子的电子状态、吸附在表面物质的原子和固体表面的键合状态等表面元素化学状态等。 | ||||||
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