光学膜的制造装置以及贴合系统 |
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| 申请号 | CN201380051092.X | 申请日 | 2013-09-20 | 公开(公告)号 | CN104685391A | 公开(公告)日 | 2015-06-03 |
| 申请人 | 住友化学株式会社; | 发明人 | 池墙卓朗; | ||||
| 摘要 | 光学膜的制造装置包括:输送装置，其输送光学膜；电晕处理装置，其配置在光学膜的输送路径上，在与光学膜的输送万问 正交 的光学膜的宽度万问上产生电晕放电，由此对光学膜的表面实施电晕处理；以及检查装置，其遍及光学膜的整个宽度万问检查通过电晕放电产生的光的光量。 | ||||||
| 权利要求 | 1.一种光学膜的制造装置，包括： |
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| 说明书全文 | 光学膜的制造装置以及贴合系统技术领域[0001] 本发明涉及光学膜的制造装置以及贴合系统。 [0002] 本申请基于2012年10月5日在日本国申请的特愿2012-223299号主张优先权，在此援引其内容。 背景技术[0003] 偏振膜、相位差膜等光学膜是构成液晶显示装置的重要的光学元件。例如，在液晶显示装置中，偏振膜作为矩形状的光学膜片在液晶面板的上下表面各配置有一张。偏振膜例如采用由PVA(聚乙烯醇)等构成的偏振膜体被由TAC(三醋酸纤维素)膜等构成的两张保护膜夹住的构造。对偏振膜体要求高粘接性以避免保护膜从偏振膜体剥离。 [0004] 以往，通过对膜的表面实施电晕处理来对膜的表面进行改质，增大膜的表面的亲水性，从而提高粘接性。在工厂的生产线等中，在电极与处理辊之间的间隙产生电晕放电，使卷绕成辊状的膜形成片状而以规定的速度通过电极与处理辊之间的间隙，对膜的表面实施电晕处理。然后，将实施了电晕处理的膜卷绕成辊状，从而制成坯料辊卷物(例如，参照专利文献1)。 [0005] 坯料辊卷物被导入光学膜的贴合系统。将从坯料辊卷物卷出的膜切割成规定尺寸，并贴合于液晶面板。然后，通过外观检查装置检查光学膜与液晶面板之间的贴合不合格。 [0006] 在先技术文献 [0007] 专利文献 [0008] 专利文献1：日本国特开2001-305052号公报 [0009] 根据电晕处理，通过与膜的种类相对应地将电晕放电的输出值设定成规定的值，从而能够提高膜的表面的粘接性。然而，根据本发明者的知识见解，有时无论是否恰当地控制电晕放电的输出值来实施电晕处理，在外观检查工序中均发现因膜间的粘接力不足而引起的贴合不合格。这样的不合格在将光学膜贴合于液晶面板时的外观检查中被发现。因此，需要从液晶面板剥离光学膜并重新贴合光学膜的修正处理，成为降低生产性的原因。 发明内容[0010] 发明要解决的课题 [0011] 本发明的方案的目的在于提供一种能够预先检测因膜间的粘接力不足而引起的贴合不合格的光学膜的制造装置以及贴合系统。 [0012] 用于解决课题的手段 [0013] 为了实现上述的目的，本发明的方案所涉及的光学膜的制造装置以及贴合系统采用以下的结构。 [0014] (1)本发明的一方案所涉及的光学膜的制造装置包括：输送装置，其输送光学膜；电晕处理装置，其配置在所述光学膜的输送路径上，在与所述光学膜的输送方向正交的所述光学膜的宽度方向上产生电晕放电，由此对所述光学膜的表面实施电晕处理；以及检查装置，其遍及所述光学膜的整个宽度方向检查通过所述电晕放电产生的光的光量。 [0015] (2)在上述(1)所述的光学膜的制造装置的基础上，所述检查装置也可以包括CCD相机，该CCD相机对通过所述电晕放电产生的光进行感光。 [0016] (3)本发明的另一方案所涉及的贴合系统包括：上述(1)或者(2)所述的光学膜的制造装置；判断装置，其判断通过所述电晕放电产生的光的光量是否包含在规定的范围内；切断装置，其将由所述判断装置判断为不包含在所述规定的范围内的部分作为不合格部分而从利用所述光学膜的制造装置制造出的光学膜切去，形成不存在所述不合格部分的光学膜；回收装置，其回收所述不合格部分；以及贴合装置，其将通过所述切断装置形成的不存在所述不合格部分的光学膜贴合于贴合对象物。 [0017] 发明效果 [0019] 图1是示出本发明的一实施方式所涉及的光学膜的制造装置的示意图。 [0020] 图2是光学膜的制造装置的局部立体图。 [0021] 图3是示出CCD相机与处理辊的配置关系的图。 [0022] 图4A是示出将放电输出设定为800W的情况下的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 [0023] 图4B是示出将放电输出设定为800W的情况下的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 [0024] 图5是示出本发明的一实施方式所涉及的贴合系统的简要结构的图。 [0025] 图6是示出液晶面板的一例的俯视图。 [0026] 图7是示出光学片的一例的截面图。 [0027] 图8A是示出将放电输出设定为1200W的情况下的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 [0028] 图8B是示出将放电输出设定为1200W的情况下的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 [0029] 图9A是示出将放电输出设定为1000W的情况下的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 [0030] 图9B是示出将放电输出设定为1000W的情况下的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 [0031] 图10A是示出将放电输出设定为600W的情况下的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 [0032] 图10B是示出将放电输出设定为600W的情况下的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 [0033] 图11A是示出将放电输出设定为400W的情况下的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 [0034] 图11B是示出将放电输出设定为400W的情况下的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 [0035] 图12A是示出将放电输出设定为300W的情况下的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 [0036] 图12B是示出将放电输出设定为300W的情况下的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 [0037] 图13A是示出将放电输出设定为230W的情况下的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 [0038] 图13B是示出将放电输出设定为230W的情况下的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 具体实施方式[0039] 以下，参照附图说明本发明的实施方式，但本发明不限于以下的实施方式。 [0040] 需要说明的是，在以下的全部附图中，为了容易观察附图，使各构成要素的尺寸、比率等适当不同。另外，在以下的说明以及附图中，对相同或者等同的要素标注相同的附图标记，省略重复的说明。 [0041] 在以下的说明中，根据需要设定XYZ正交坐标系，参照该XYZ正交坐标系对各构件的位置关系进行说明。在本实施方式中，将长条的光学膜的宽度方向设为X方向，将在光学膜的平面内与X方向正交的方向(长条的光学膜的输送方向)设为Y方向，将与X方向以及Y方向正交的方向设为Z方向。 [0042] 图1是示出本发明的一实施方式所涉及的光学膜的制造装置的示意图。以下，作为光学膜，说明制造构成偏振膜的偏振膜体的例子，但不局限于此。光学膜除了偏振膜体以外也可以是构成偏振膜的保护膜。另外，可以是相位差膜、增亮膜等，也可以是将相位差膜、偏振膜等多个光学元件层叠而成的膜。 [0043] 偏振膜例如采用由PVA(聚乙烯醇)等构成的偏振膜体被作为保护膜的两张纤维素膜即TAC(三醋酸纤维素)膜夹住的构造。 [0044] 为了遮挡在固定方向上振动的光以外的光，偏振膜体被例如碘、双色染料等双色色素染色。偏振膜体例如通过使利用双色色素染色后的PVA膜在一条轴线上延长而形成。 [0046] 如图1所示，光学膜的制造装置1具备：输送装置2，其输送长条状的光学膜(以下，有时简称为光学膜。)；电晕处理装置3，其配置在光学膜的输送路径上，在与光学膜的输送方向正交的光学膜的宽度方向(以下，有时称为膜宽方向。)上产生电晕放电，对光学膜的表面实施电晕处理；检查装置4，其遍及光学膜的整个宽度方向检查通过电晕放电产生的光的光量；控制装置5，其进行工作线的控制；以及分散型控制系统6(Distributed Control System，以下有时称为DCS。)，其与检查装置4以及控制装置5电连接。 [0047] 输送装置2具备：填装部20，其填装未实施电晕处理的光学膜(以下，有时称为未处理膜。)Fa；输送辊21a、输送辊21b，其将填装于填装部20的未处理膜Fa向下游侧输送；输送辊21c、输送辊21d，其将利用电晕处理装置3实施了电晕处理的光学膜(以下，称为处理完成膜。)Fb向下游侧输送；卷绕部23，其卷绕处理完成膜Fb。 [0048] 电晕处理装置3具备电晕处理部30以及与电晕处理部30对置配置的处理辊31。 [0049] 图2是光学膜的制造装置1的局部立体图。在图2中，放大示出构成光学膜的制造装置1的电晕处理装置3。 [0051] 电极32沿膜宽方向延伸。膜宽方向上的电极32的长度与膜宽方向上的处理辊31的长度实际上相等。在本实施方式中，使用陶瓷作为电极32的形成材料。除此以外，作为电极32的形成材料，例如也能够使用铝、不锈钢等金属材料。 [0052] 臭氧排气通道33具备长方体状的箱构件33a以及与箱构件33a的上表面连接的配管33b。箱构件33a设置成覆盖电极32的周围(电极32的与处理辊31对置的部分以外的部分)。由此，能够将因电晕处理而产生的臭氧向外部排放。 [0053] 处理辊31接地。在本实施方式中，使用不锈钢制品作为处理辊31。除此以外，作为处理辊31，例如也能够使用硅橡胶辊等电介质包层辊。需要说明的是，处理辊31能够根据与电极32的组合相应地使用各种辊。 [0054] 如图1所示，控制装置5统一控制输送装置2、电晕处理装置3以及检查装置4。例如，通过控制装置5的控制，分别设定光学膜的输送速度、电晕放电的输出、处理辊31的进给速度。控制装置5将光学膜的进给速度、电晕放电的输出(包括电晕放电的接通-切断。)、处理辊31的进给速度等信息向DCS6发送。 [0055] 如图1以及图2所示，填装于填装部20中的未处理膜Fa安装成，未处理膜Fa的外周面上的卷绕端呈片状被抽出，由输送辊21a、输送辊21b引导而通过电极32与处理辊31之间，并由输送辊21c、输送辊21d引导而能够卷绕于卷绕部23。当通过控制装置5的控制向在电极32与处理辊31之间施加高频的高电压时，空气发生绝缘破坏而离子化，由此产生电晕放电。通过使未处理膜Fa以规定的速度通过电晕放电内部，从而对未处理膜Fa的电极32侧的表面实施电晕处理。由此，获得处理完成膜Fb(作为光学膜的偏振膜体)。 [0056] 需要说明的是，在电晕处理中，通过改变电极32的种类、电极32与处理辊31之间的间隔、所施加的电压、被处理的光学膜的移动速度以及电晕放电的输出等，而对光学膜的表面实施所希望的表面改质处理即可。例如，光学膜的移动速度也可以设定为3m/分钟以上且50m/分钟以下的范围的速度。 [0057] 在本实施方式中，电极32与处理辊31之间的间隔设定为1mm。电晕放电的输出设定为800W。光学膜的移动速度设定为10m/分钟以上且30m/分钟以下的范围的速度。 [0058] 如图1所示，检查装置4配置在电晕处理装置3的下游侧。 [0059] 检查装置4具备对通过电晕放电产生的光(以下，有时称作电晕放电光。)进行感光的CCD相机40、以及与CCD相机40电连接的计算装置41。检查装置4基于由CCD相机40接收的光的光量而检查电晕放电的放电电流密度的膜宽方向上的偏差。检查装置4作为用于逐次知晓电晕放电的放电电流密度的变化的监视系统(电晕监视系统)而发挥功能。 [0060] DCS6向检查装置4发送电晕监视的指示(包括检查装置4的接通-切断。)、监视条件的指示(包括方法No.。)等信息。检查装置4向DCS6发送光学膜的宽度方向的位置与光量等级、有无产生异常等信息。 [0062] 例如，作为在CCD相机40中使用的透镜，使用焦距为24mm(f24)、光圈值(F值)为2.8、光圈为4(一级光圈)的透镜。光圈4(一级光圈)表示，将光圈值为2.8的透镜缩小一级光圈时，光圈值成为4。 [0063] CCD相机40的视野宽度为约760mm。CCD相机40的感光距离为约930mm。CCD相机40的扫描速度为999.9微秒。 [0064] 计算装置41基于CCD相机40的感光数据计算光量等级，求出光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系。需要说明的是，“光量等级”以及“光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系”在后说明。 [0065] 以下，说明DCS6。 [0066] DCS6通过串行通信(RS-422)从控制装置5接收工作线的状态，在满足固定的条件时，通过以太网通信(IEEE802.310BASE-T)对检查装置4发出电晕监视的指示。 [0067] 具体地说，固定的条件为，(1)工作线的速度为固定值以上(膜在流动)；(2)电晕放电的指示为ON(为电晕处理中)；(3)通过DCS6上的操作人员操作发出了电晕监视指示。在上述(1)～(3)全部满足时，发出电晕监视指示。即，只要(1)～(3)中有一个不满足条件时，就停止电晕监视指示。 [0068] 检查装置4接受来自DCS6的电晕监视指示，开始进行电晕监视，将光学膜的宽度方向的位置与光量等级的数据向DCS6发送。该数据实时更新(约每隔3秒)。DCS6始终监视光量等级在预先设定的阈值的范围内推移的情况，在脱离了范围的情况下，显示于DCS6内的监视器，并使外部警报装置(警告灯、蜂鸣器等)动作。由此，使操作人员意识到异常。另外，不仅使操作人员意识到光量等级的异常，同样使操作人员意识到检查装置4的异常。 DCS6保存光量等级的推移的历史数据。 [0069] 图3是示出CCD相机40(第一相机40a、第二相机40b)与处理辊31的配置关系的图。在以下的说明中，举出在膜宽方向上配置有两个CCD相机40a、CCD相机40b的例子进行说明，但CCD相机的配置数不限于此。 [0070] CCD相机的配置数能够根据CCD相机的视野宽度、膜宽度的大小相应地适当变更。例如，在想要提高分辨率的情况下，也可以增加CCD相机的配置数，并通过改变CCD相机中使用的透镜来缩小视野宽度。 [0071] 需要说明的是，在进行电晕处理的情况下，也可以使CCD相机的膜宽方向的分辨率为100μm/pixel左右。 [0072] 在图3中，附图标记AR1是处理辊31中的输送光学膜的区域(以下，有时称作膜输送区域。)。附图标记AR2是在处理辊31的两端部不输送光学膜的区域、即处理辊31的表面露出的区域(以下，有时称作辊露出区域。)。附图标记W1是膜宽方向上的膜输送区域AR1的长度、即光学膜的宽度(以下，有时简称为膜宽度。)。附图标记W2是膜宽方向上的辊露出区域AR2的长度。附图标记W3是膜宽方向上的处理辊31的长度、即处理辊31的全长。附图标记Wa是两个CCD相机40中的第一相机40a的视野宽度。附图标记Wb是第二相机40b的视野宽度。附图标记CL是膜宽方向上的处理辊31的中心线(以下，有时简称为中心线。)。 [0073] 在本实施方式中，膜宽度W1为1500mm，处理辊31的全长W3为1800mm，CCD相机40a的视野宽度Wa以及CCD相机40b的视野宽度Wb分别为760mm。 [0074] 两个CCD相机40a、CCD相机40b考虑膜蜿蜒幅度而配置成拍摄膜宽度整体。在本实施方式中，第一相机40a配置成拍摄处理辊31的-X方向侧(左侧)的膜输送区域AR1，第二相机40b配置成拍摄处理辊31的+X方向侧(右侧)的膜输送区域AR1。 [0075] 具体地说，第一相机40a配置成视野宽度Wa的+X方向侧的边缘(右侧的边缘)位于中心线CL。第二相机40b配置成视野宽度Wb的-X方向侧的边缘(左侧的边缘)位于中心线CL。需要说明的是，第一相机40a的视野宽度Wa的+X方向侧的端部(右侧的端部)和第二相机40b的视野宽度Wb的-X方向侧的端部(左侧的端部)也可以在中心线CL附近局部重合。 [0076] 由此，即使光学膜蜿蜒前进(蜿蜒幅度10mm)，也能够使光学膜的整体宽度(1500mm)在CCD相机40a、CCD相机40b的视野宽度(将第一相机40a的视野宽度760mm和第二相机40b的视野宽度760mm相加所得的宽度1520mm)的范围内。 [0077] 另外，若能够使光学膜的整体宽度处于CCD相机40a、CCD相机40b的视野宽度的范围内，则能够遍及光学膜的整个宽度方向准确地检测电晕放电的放电光的光量。 [0078] 根据本发明人的研究，明确可知，在放电电流密度与膜间的粘接力的强度之间存在高相关性。另外，还明确了，放电电流密度与放电光的光量之间存在高相关性，尤其是能够使用CCD相机高精度地检测放电光的光量的偏差。其理由虽不明，但认为是，CCD相机将光转换成电信号，由于放电光的光量根据放电电流密度而发生变化，因此对于双方，产生上述相关性的机制相似。由此，若使用CCD相机检测光学膜的面内的放电光的光量的分布，则能够以高精度预测因膜间的粘接力不足而引起的贴合不合格的产生部位，能够有助于制造成品率的提高。 [0079] 以下，说明放电电流密度以及放电光。 [0080] 放电光通过从放电电极放出的荷电粒子与气体分子碰撞而产生。 [0082] 能量平衡实际上以如下方式表示：放电的能量＝每个荷电粒子的能量(动能与内部能量之和)×荷电粒子数+放射+热传导。 [0083] 由于电流越大则电力越大，因此，即使每个荷电粒子的平均能量( 温度)固定，由于能量较大的荷电粒子增加，因此放射增加。实际上，当电流增大时，温度因加热而变化，因而荷电粒子的内部能量变化。由此，放射增大，同时热传导也增大。 [0084] 存在来自物质的放射能量密度与温度的4次方成比例的斯蒂芬·玻尔兹曼定律。由于放射是将包含人类感知为光的可见光区域的全部光谱相加得到的全放射能量，因此放射不会全部转换成仅人类感知的可见光或CCD元件的分光灵敏度区域的发光。由于是能量密度，因此放射的总量与发光体的表面积成比例。 [0085] 因而，能量不全部转换为发光，故而发光量与电流或电流密度成比例、或者与平方成比例等不能用关系式唯一地表示。 [0086] 放电光的光量的信息与光学膜的长边方向以及宽度方向的位置信息相关，例如作为图像映射，分别存储于DCS6的存储部以及检查装置4。由此，容易在后述的贴合系统中去除放电光的光量未控制在适当的范围内的部分(电晕放电中产生异常，未适当地进行表面改质的部分：异常部分)，将放电光的光量控制在适当的范围内的部分(电晕放电中未产生异常，适当地进行了表面改质的部分：无异常部分)使用于产品。 [0087] 需要说明的是，也可以在后述的贴合系统中不去除放电光的光量未控制在适当的范围的部分(异常部分)，即使存在异常部分也暂且不认定为不合格，而是重点检查最终产品来确认质量方面是否存在问题。 [0088] 接下来，说明由本实施方式的检查装置4进行的电晕放电的放电光的光量的检查。 [0089] 图4A、图4B是示出将放电输出设定为800W的情况下的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 [0090] 图4A是每隔999.9微秒实施一次扫描(数据的获取)并将一分钟的光量数据、即1000次/秒×60秒＝60000次光量数据连续地绘制于同一图表(重复写入)而成的图。 [0091] 图4B是示出未重复写入的一次扫描的数据的图。 [0092] 在图4A、图4B中，横轴表示光学膜的宽度方向的位置，纵轴示出光量等级作为CCD相机40接收到的电晕放电光的感光光量。 [0093] 在此，光量等级以256灰阶示出电晕放电光的感光光量。需要说明的是，不以CCD相机接收到的电晕放电光的感光光量的数据、即所谓的原始数据为基础表示光量等级，而以对原始数据去除了照明光等噪声的影响后的数据(合理化数据)为基础表示光量等级。 [0094] 图4A、图4B的横轴与两个CCD相机40中一个CCD相机的视野宽度(760mm)对应，若以像素表示则相当于4096pixel。图4A、图4B的纵轴示出256灰阶，在图4A中，使光量等级的下限值为0、上限值为255示出。 [0095] 如图4A、图4B所示，将放电输出设定为800W的情况下的光量等级的平均值为127，是256灰阶的大致一半。光量等级在光学膜的宽度方向整个区域中以一定程度变动。 当观察光学膜的宽度方向整个区域时，光量等级的变动范围为97～156。如图4A所示，光量等级的变动范围在光学膜的宽度方向整个区域内呈带状扩展。 [0096] 但是，根据光学膜的宽度方向的位置的不同，光量等级的变动范围不同。例如，在光学膜的宽度方向上相当于像素600pixel的位置处，光量等级的下限值比其他位置低。即，在光学膜的宽度方向上，电晕放电的放电电流密度变小，可能未充分进行光学膜的表面改质。 [0097] 在本实施方式中，通过在将放电输出设定为800W的情况下的光量等级的上下设定阈值，从而能够在光量等级包含在由上下的阈值规定的范围内的情况下判断为正常，在光量等级未包含在由上下的阈值规定的范围内的情况下判断为异常。例如，将比光量等级的平均值127低50的值即77设定为阈值，若在光学膜的宽度方向上，光量等级的变动范围的下限值包含在以阈值为下限的范围内(与阈值相同或高于阈值的情况)，则将与阈值相同或高于阈值的部分判断为正常，在未包含于以阈值为下限的范围内的情况(低于阈值的情况)下，将低于阈值的部分判断为异常。 [0098] 需要说明的是，也可以是，不仅是在光学膜的宽度方向上光量等级的变动范围的下限值低于阈值的情况，在光学膜的宽度方向上光量等级的变动范围的上限值或者平均值低于阈值的情况下，也将低于阈值的部分判断为异常。 [0099] 与放电光的光量相关的信息以与光学膜的长边方向以及宽度方向的位置相关的信息建立关联的方式存储于DCS6的存储部。并且，在后述的贴合系统中，从存储部读取这些信息，将判断为光量等级异常的部分的光学膜作为不合格部位切除，通过回收装置回收。由此，因电晕处理引起的贴合不合格(膜间的粘接力不足所引起的贴合不合格)的产生得以抑制，能提供成品率高的制造系统。 [0100] 如以上说明，根据本实施方式的光学膜的制造装置1，能够通过检查装置4检查光学膜的面内的电晕放电的放电光的分布。根据本发明的发明人的研究，放电光的分布与放电电流密度的分布之间存在高相关性，并且，放电电流密度与表面改质的强度(膜间的粘接力)之间存在高相关性。因此，通过求出放电光的分布，能够在向液晶面板贴合光学膜前预测因膜间的粘接力不足而引起的贴合不合格的产生部位，能够有助于提高制造成品率。 [0101] 另外，由于检查装置4具备对电晕放电光进行感光的CCD相机40，因此，能够实时地对电晕放电的放电光的光量进行检查。另外，根据该结构，无需另行检查实施过电晕处理的光学膜的表面的润湿性。因此，能够简单且迅速地确认是否在光学膜的表面均匀地实施了电晕处理。 [0102] 需要说明的是，在本实施方式中，作为一例对将放电输出设定为800W的情况下的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系进行了说明，但不限于此。例如，放电输出除此以外还可以根据适当需要而设定为1200W、1000W、600W、400W、300W、230W等。如此，在变更了放电输出的设定值的情况下，也能够应用本发明。 [0103] (贴合系统) [0104] 以下，参照附图说明本发明的一实施方式所涉及的贴合系统。 [0105] 图5是示出本发明的一实施方式所涉及的贴合系统100的简要结构的图。 [0106] 如图5所示，贴合系统100具备：上述实施方式所涉及的光学膜的制造装置1(省略图示)；判断装置110，其判断电晕放电的放电光的光量是否包含在规定的范围内；切断装置106，其将由判断装置110判断为未包含在规定的范围内的部分作为不合格部分从光学膜切去，形成不存在不合格部分的光学膜；回收装置107，其回收不合格部分；以及贴合装置108，其将利用切断装置106形成的不存在不合格部分的光学膜贴合于贴合对象物。 [0107] 需要说明的是，在贴合系统100中，以与光学膜的长边方向以及宽度方向的位置相关的信息建立关联的方式存储于DCS6(参照图1)的存储部、检查装置4的、与放电光的光量相关的信息(例如图像映射)能够由判断装置110读取。 [0108] 贴合系统100能够在贴合区域A1向例如液晶面板、有机EL面板等贴合对象物贴合偏振板、防反射膜、光漫射膜等光学构件。由此，贴合系统100能够制造含有贴合对象物以及光学构件的设备。贴合系统100也可以是制造上述的设备的制造系统的一部分或者全部。 [0109] 本实施方式的回收装置107能够将包含光学构件的光学片中的、含有缺陷的部分的光学构件从朝向贴合区域A1的路径排除并回收。即，贴合系统100能够将不含有缺陷的光学构件贴合于贴合对象物。在贴合系统100的详细说明之前，首先说明光学片的结构例以及液晶面板的结构例。 [0110] 图6是示出液晶面板的结构例的俯视图。在图6中图示出从液晶层的厚度方向俯视时的液晶面板。图6所示的液晶面板P具备第一基板P1、与第一基板P1对置配置的第二基板P2、以及封入第一基板P1与第二基板P2之间的液晶层P3。在液晶面板P中，收容在俯视时的液晶层P3的外周的内侧的范围成为显示区域P4。 [0111] 图7是示出光学片的结构例的截面图。本例的光学片为长条的带状，在图7中图示出与光学片的长边方向正交的剖面。在以下的说明中，有时将光学片的长边方向简称为长边方向。 [0112] 图7所示的光学片F具备：膜状的光学构件F1、设置在光学构件F1的一面上的粘结层F2、隔着粘结层F2以能够与光学构件F1分离的方式层叠的隔离层F3、以及设置在光学构件F1的另一面上的表面保护膜F4。 [0113] 本例的光学片F的光学构件F1作为偏振板而发挥功能，遍及液晶面板P的显示区域P4的整个区域和显示区域P4的周边区域进行贴合。 [0114] 光学构件F1在光学构件F1的表面上残留有粘结层F2且隔离层F3从粘结层F2分离的状态下隔着粘结层F2贴合于贴合对象物。隔离层F3在从粘结层F2分离之前的期间保护粘结层F2以及光学构件F1。表面保护膜F4与光学构件F1一起贴合于贴合对象物，相对于光学构件F1配置在与贴合对象物相反的一侧。本例的表面保护膜F4在酌情选择的时刻从光学构件F1分离。表面保护膜F4在从光学构件F1分离之前的期间保护光学构件F1。 [0115] 需要说明的是，光学构件F1也可以不包含表面保护膜F4。另外，表面保护膜F4也可以不从光学构件F1分离。在以下的说明中，有时将从光学片F去除隔离层F3而得到的部分称作贴合片F5。 [0116] 光学构件F1具有偏振膜体F6、通过粘接剂等接合于偏振膜体F6的一面的第一膜F7、以及通过粘接剂等接合于偏振膜体F6的另一面的第二膜F8。本实施方式的偏振膜体F6相当于对由上述的光学膜的制造装置1制造出的处理完成膜Fb进一步在膜背面实施了电晕处理的膜、即向膜表背面实施了电晕处理的膜。第一膜F7与第二膜F8是保护偏振膜体F6的保护膜。 [0117] 需要说明的是，光学构件F1可以是由一层光学层构成的单层构造，也可以是多个光学层相互层叠而成的层叠构造。除了上述的偏振膜体F6以外，光学层也可以是相位差膜、增亮膜等。第一膜F7与第二膜F8的至少一方也可以实施包括保护液晶显示元件的最外表面的硬化涂层处理或防炫目处理在内的、可获得防眩等效果的表面处理。另外，也可以不设置第一膜F7与第二膜F8的至少一方。例如，光学片F也可以省略第一膜F7，采用隔离层F3隔着粘结层F2贴合于光学构件F1的一面的构造。 [0118] 接下来，详细说明本实施方式的贴合系统100。 [0119] 图5所示的贴合系统100一边输送光学片F一边检测光学构件F1的缺陷，通过对光学片F进行半切割而在长边方向的多个位置形成切入线，能够通过切入线形成沿长边方向划分的多个单片。 [0120] 需要说明的是，对于电晕放电的放电光的光量未包含在规定的范围内的不合格部分，基于以上述实施方式说明的图像映射进行检测。 [0121] 贴合系统100能够在贴合区域A1将多个单片中的光学构件F1不含有缺陷的合格单片F10的贴合片、以及从液晶显示元件的生产线的上游输送来的各液晶面板P贴合。贴合系统100能够将多个单片中的光学构件F1含有缺陷的不合格单片F13回收，而不使不合格单片13的贴合片与液晶面板P贴合。 [0122] 在本实施方式中，液晶面板P一边沿与显示区域P4的长边平行的方向输送，一边与平行于液晶面板P输送的光学构件F1贴合。光学片的与长边方向正交的宽度方向的尺寸例如设定为在液晶面板P的显示区域P4的短边的长度以上、且与显示区域P4的短边平行的方向上的液晶面板P的外部尺寸以下。与液晶面板贴合的单片的长边方向的长度(以下，有时称作单位长度。)例如设定为在液晶面板P的显示区域P4的长边的尺寸以上、且与显示区域P4的长边平行的方向上的液晶面板P的外部尺寸以下。 [0123] 需要说明的是，贴合系统100也可以采用如下方式：液晶面板P沿与显示区域P4的短边平行的方向输送，与平行于液晶面板P输送的光学构件F1贴合。在该方式中，光学片F的宽度方向的尺寸以及上述的单位长度根据液晶面板P的显示区域P4的短边的尺寸、长边的尺寸等适当地变更。 [0124] 贴合系统100具备输送装置101，该输送装置101能够从卷绕有光学片F的辊卷物R抽出光学片F，将光学片F中的至少隔离层F3沿长边方向输送。输送装置101以隔离层F3为载体将贴合片F5与隔离层F3一起输送。 [0125] 输送装置101具备：光学片供给部102，其相当于隔离层F3的输送路径(以下，有时简称输送路径。)的起点的；卷取机103，其相当于输送路径的终点；多个辊，其在光学片供给部102与卷取机103之间形成隔离层F3的输送路径；以及长度测量器104，其设置在多个辊的至少一个上。在以下的说明中，有时将相对于输送路径上的任意位置接近输送路径的起点(光学片供给部102)的一侧称为上游侧，将接近输送路径的终点(卷取机103)的一侧称为下游侧。 [0126] 本实施方式的贴合系统100具备配置在输送路径上并对输送中的光学片F实施处理的多个装置。贴合系统100具备：检测装置105，其配置在比光学片供给部102靠输送路径的下游侧的位置，检测光学构件F1的缺陷；切断装置106，其配置在比检测装置105靠输送路径的下游侧的位置，对光学片F实施半切割；回收装置107，其配置在比切断装置106靠输送路径的下游侧的位置；贴合装置108，其配置在贴合区域A1；以及控制装置109，其控制贴合系统100的各部分。需要说明的是，控制装置109包括判断装置110。 [0127] 输送装置101的光学片供给部102包括抽出机构，该抽出机构能够保持辊卷物R并使其旋转，且从辊卷物R向输送路径抽出光学片F。卷取机103在光学构件F1与隔离层F3分离的情况下，实际上仅回收隔离层F3。卷取机103在光学构件F1未与隔离层F3分离的情况下，回收隔离层F3以及贴合片F5。 [0128] 多个辊通过架设光学片F中的至少隔离层F3而形成输送路径。多个辊由从改变输送中的光学片F的行进方向的辊、能够调整输送中的光学片F的张力的辊等中选择的辊构成。 [0129] 长度测量器104能够根据安装有长度测量器104的辊的旋转角以及外周的长度测定光学片F输送的距离(输送距离)。长度测量器104的测定结果向控制装置109输出。控制装置109根据长度测量器104的测定结果，生成片位置信息，该片位置信息表示在光学片F输送期间的任意时刻，光学片F的长边方向的各点存在于输送路径上的哪一位置。 [0130] 需要说明的是，输送装置101能够适当地变更，以便能够按照规定的输送路径输送光学片。另外，也可以是，长度测量器104能够根据输送距离的测定结果生成上述的片位置信息，并能够将生成的片位置信息向控制装置109输出。也可以是，长度测量器104生成片位置信息，控制装置109不生成片位置信息。 [0131] 检测装置105能够检测存在于输送中的光学片F的光学构件F1内的缺陷。本实施方式的检测装置105能够通过对输送中的光学片F执行反射检查、透过检查、斜透过检查、正交尼科耳透过检查等检查处理来检测光学构件F1的缺陷。 [0132] 检测装置105具备：照明部111，其能够向光学片F照射光；以及光检测器112，其能够检测从照明部111照射并经过(反射和透过中的一方或者双方)光学构件F1后的光的、因光学构件F1中有无缺陷而发生的变化。光学构件F1的缺陷例如是：在光学构件F1的内部存在由固体、液体、气体的至少一者构成的异物的部分；在光学构件F1的表面存在凹凸或划痕的部分；以及因光学构件F1的变形或材质的偏斜等而成为亮点的部分等。 [0133] 照明部111能够照射根据由上述的检测装置105进行的检查的种类而相应地调整了光强度、波长、偏振光状态等的光。本实施方式的光检测器112由CCD等拍摄元件构成，能够拍摄被照明部111照射光的部分的光学片F。光检测器112的检测结果(拍摄结果)向控制装置109输出。控制装置109解析由光检测器112拍摄的图像，能够判断缺陷的有无。控制装置109在判断为光学构件F1中存在缺陷时，参照长度测量器104的测定结果生成表示缺陷的光学片F上的位置的缺陷位置信息。需要说明的是，在缺陷位置信息中包括由控制装置109参照判断装置110的判断结果而生成的异常位置信息，该异常位置信息表示电晕放电的放电光的光量不包含在规定的范围内的不合格部分(异常)在光学片F上的位置。 [0134] 切断装置106遍及光学片F的与长边方向正交的宽度方向的整个宽度将光学片F的厚度方向的一部分沿着整个宽度方向切断(有时也称作半切割。)，形成切入线。切入线形成在光学片F的长边方向的多个位置。光学片F在长边方向上被多个切入划分，被长边方向上相邻的一对切入线夹在中间的划分区域分别成为一个单片。 [0135] 控制装置109参照上述的缺陷位置信息，判断距离由切断装置106形成的第一切入线相当于光学构件F1的长边方向的单位长度的区间(以下，有时称为下一单片的区间。)中，是否存在光学构件F1的缺陷。控制装置109根据下一单片的区间中是否存在缺陷来决定接下来形成的切入线的位置，生成表示切入线在光学片F上的形成位置的切入线位置信息。 [0136] 控制装置109在判断为下一单片的区间内不存在缺陷时，以使从前次形成的切入线(以下，有时称为第一切入线L1。)到接下来形成的切入线(以下，有时称为第二切入线L2。)的光学片F上的距离成为上述的单位长度的方式，决定第二切入线L2的形成位置。控制装置109以下述方式控制切断装置106：在从形成有第一切入线L1的位置将光学片F输送单位长度的时刻，切断装置106形成第二切入线L2。 [0137] 从第一切入线L1到第二切入线L2的区间内的光学片F成为具有隔离层F3和合格贴合片的合格单片F10，所述合格贴合片包括不含有缺陷的光学构件F1(合格光学构件)。 [0138] 控制装置109在判断为下一单片的区间内存在光学构件F1的缺陷时，在比缺陷靠输送路径的上游侧的位置决定切入线(以下，有时称作第三切入线L3。)的形成位置。控制装置109以使切断装置106在比缺陷靠输送路径的上游侧的位置形成第三切入线L3的方式控制切断装置106。 [0139] 从第一切入线L1到第三切入线L3的区间内的光学片F成为具有隔离层F3和不合格贴合片的不合格单片F13，所述不合格单片F13包括含有缺陷的光学构件F1(不合格光学构件)。 [0140] 本实施方式的贴合系统100具备能够将与合格贴合片贴合的液晶面板P向贴合区域A1输送的面板输送装置113。面板输送装置113具备：面板保持部114，其能够保持液晶面板P；面板移动部115，其能够使面板保持部114从向贴合系统100搬入液晶面板P的搬入区域移动到贴合区域A1的；以及输送设备116，其能够在贴合区域A1将液晶面板P向规定的方向输送。在本实施方式中，面板输送装置113的各部分的动作时刻由控制装置109控制。 [0141] 面板保持部114由控制装置109控制，通过真空吸附等以可装卸的方式保持通过输送设备等从液晶显示元件的生产线的上游向搬入区域运来的液晶面板P。面板移动部115能够使面板保持部114相对于输送设备116在垂直方向以及水平方向上移动。面板移动部115在面板保持部114上保持有液晶面板P的状态下，使面板保持部114从搬入区域移动至贴合区域A1，实际上能够将液晶面板P移动至贴合区域A1。 [0142] 面板保持部114被控制装置109控制，能够在贴合区域A1解除液晶面板P的吸附，并将液晶面板P向输送设备116交接。输送设备116能够以使输送至贴合区域A1的液晶面板P和输送至贴合区域A1并与液晶面板P贴合的合格贴合片相互对准位置的方式，向贴合装置108供给液晶面板P。面板移动部115以及输送设备116被控制装置109以下述方式控制：使液晶面板P在由切断装置106形成的合格单片F10被输送至贴合区域A1的时刻到达贴合区域A1。 [0143] 本实施方式的回收装置107将合格单片F10中的合格贴合片与隔离层F3相互分离。贴合装置108将与隔离层F3分离后的合格贴合片与输送至贴合区域A1的液晶面板P贴合。回收装置107回收与合格贴合片分离后的隔离层F3。回收装置107将不合格单片F13中的不合格贴合片与隔离层F3一起回收。 [0144] 回收装置107具备：移送部，其以隔离层F3为载体，将单片卷绕并移送(输送)至刀尖117；以及判断部，其判断向刀尖117移送的单片是不合格单片F13还是合格单片F10。 [0145] 本实施方式的移送部构成为包括刀尖117以及辊，该辊是构成输送装置101的多个输送辊中的与刀尖117一起架设隔离层F3的辊。与刀尖117一起架设隔离层F3的辊中的一个辊是配置在比刀尖117靠输送路径的下游侧的位置的引导辊118。 [0146] 本实施方式的判断部包含于控制装置109。本实施方式的判断部(控制装置109)根据上述的片位置信息、缺陷位置信息和切入线位置信息，判断向刀尖117输送来的单片是不合格单片F13还是合格单片F10。 [0147] 在本实施方式中，输送至回收装置107的光学片F一边使其一面与刀尖117的一面对置一边朝向前端部输送。隔离层F3架设于前端部和引导辊118，通过向相对于比前端部靠输送路径的下游侧的部分的光学构件F1形成锐角的方向输送，而以前端部为支点弯曲。由此，隔离层F3从长边方向上的输送路径的下游侧(第一切入线L1侧)朝向上游侧(第二切入线L两侧)依次从合格贴合片分离。与合格贴合片分离的隔离层F3经由引导辊118向卷取机103卷绕而被回收。 [0148] 本实施方式的贴合装置108具备一对贴合辊119。向贴合区域A1输送来的液晶面板P通过输送设备116输送至一对贴合辊119之间。 [0149] 相互贴合的液晶面板P以及合格贴合片以使贴合后相互接触的各自的面相互平行、且相对于一对贴合辊119的旋转轴平行的方式，输送至一对贴合辊119之间。一对贴合辊119在贴合处理中将输送至一对贴合辊119之间的液晶面板P以及合格贴合片夹住，使其相互按压而贴合。合格贴合片与贴合后的液晶面板P向液晶显示元件的生产线的下游输送。通过这样来执行贴合处理。 [0150] 需要说明的是，经过刀尖117的前端部19后的不合格贴合片与隔离层F3一起经过引导辊118而卷绕于卷取机103，与隔离层F3同样地回收。 [0151] 本实施方式的控制装置109构成为包括计算机系统。该计算机系统具备CPU等计算处理部、存储器和硬盘等存储部。本实施方式的控制装置109包括能够执行与计算机系统的外部的装置之间的通信的接口。也可以在控制装置109上连接能够将输入信号输入的输入装置。上述的输入装置包括键盘、鼠标等输入设备、或者能够输入来自计算机系统的外部的装置的数据的通信装置等。控制装置109也可以包括表示贴合系统100的各部分的动作状况的液晶显示器等显示装置，也可以与显示装置连接。 [0152] 在控制装置109的存储部安装有控制计算机系统的操作系统(OS)。在控制装置109的存储部中存储有程序，该程序通过使计算处理部控制贴合系统100的各部分而使贴合系统100的各部分执行用于排除不合格单片F13的处理。控制装置109的计算处理部能够读取包括存储于存储部的程序在内的各种信息。控制装置109也可以包括执行贴合系统 100的各部分的控制所需要的各种处理的ASIC等逻辑电路。 [0153] 存储部在概念上包括RAM(随机存取存储器)、ROM(只读存储器)等半导体存储器、硬盘、CD-ROM读取装置、光盘型存储介质等外部存储装置等。从功能上来说，存储部设定有存储记载有输送装置101、检测装置105、切断装置106、回收装置107、判断装置110、贴合装置108的动作的控制顺序的程序软件的存储区域、以及其它各种存储区域。 [0154] 如上所述，本实施方式的回收装置107能够有效地去除光学构件F1的缺陷。另外，本实施方式的贴合系统100能够有效地去除光学构件F1的缺陷，并将不含有缺陷的光学构件F1(合格贴合片)与贴合对象物贴合。另外，本实施方式的回收方法即使不使用隔离层F3以外的去除用膜等，也能够去除不合格贴合片，因此能够有效地去除光学构件F1的缺陷。 [0155] 需要说明的是，本发明的技术范围不限于上述的实施方式。在不脱离本发明的主旨的范围内能够进行多种变形。 [0156] 上述的贴合系统100通过检测装置105检测光学构件F1的缺陷，但也可以使用在输送前预先检查过的光学片F，并且由控制装置109使用该检查结果来判断是否为合格单片F10。上述的检查结果既可以用符号等形态形成在光学片F上，也可以作为表示缺陷距离例如辊卷物R的长边方向的端部的位置的数据而向控制装置输入。如此，在使用预先检查过的光学片F的情况下，也可以省略检测装置105。 [0157] 另外，上述的贴合系统100从卷绕光学片F而成的辊卷物R抽出光学片F，但输送装置101的光学片供给部102也可以是光学片F的制造装置。该光学片F的制造装置既可以是贴合系统100的一部分，也可以是贴合系统100的外部的装置。 [0158] 以上，参照附图对本实施方式所涉及的优选的实施方式例进行了说明，但本发明不局限于所述示例是不言而喻的。在上述的示例中示出的各构成构件的各形状、组合等是一个例子，在不脱离本发明的主旨的范围内可以根据设计要求等进行各种变更。 [0159] 以下，基于实施例进一步具体说明本发明，但本发明不局限于以下的实施例。 [0160] (电晕处理装置) [0161] 电晕处理装置中的电极与处理辊之间的间隔设定为1mm。作为处理辊，使用全长为1800mm的辊。 [0162] (检查装置) [0163] 检查装置中的CCD相机使用CCD线型传感器相机。作为CCD相机使用如下相机：所使用的透镜的焦距为24mm(f24)，光圈值(F值)为2.8，光圈为4(一级光圈)，视野宽度为约760mm，感光距离为约930mm，扫描速度为999.9微秒。 [0164] 需要说明的是，CCD相机沿膜宽方向配置有两个。另外，CCD相机使用膜宽方向的分辨率为100μm/pixel的相机。 [0165] (光学膜) [0166] 作为成为检查对象的光学膜，使用由PVA等构成的偏振膜体。作为光学膜，使用膜宽度为1500mm的膜。 [0167] (实施例) [0168] 如图4A、图4B所示，实施例1的放电输出设定为800W。实施例2的放电输出设定为1200W。实施例3的放电输出设定为1000W。实施例4的放电输出设定为600W。实施例5的放电输出设定为400W。实施例6的放电输出设定为300W。实施例7的放电输出设定为 230W。 [0169] (电晕放电的膜宽方向上的偏差的检查) [0170] 对实施例2～7分别调查了光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系。对实施例2～7分别确认了相对于实施例1的放电输出设定值是否具有显著差异。 [0171] 图8A、图8B是示出实施例2的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 [0172] 图9A、图9B是示出实施例3的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 [0173] 图10A、图10B是示出实施例4的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 [0174] 图11A、图11B是示出实施例5的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 [0175] 图12A、图12B是示出实施例6的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 [0176] 图13A、图13B是示出实施例7的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的图。 [0177] 图8A)～图13A是每隔999.9微秒实施一次扫描(数据的获取)并将一分钟的光量数据、即1000次/秒×60秒＝60000次光量数据连续地绘制于同一图表(重复写入)而成的图。 [0178] 图8B)～图13B是示出未重复写入的一次扫描的数据的图。 [0179] 图8B)～图13B所示的图表相当于图8A～图13A所示的实线部分。 [0180] 需要说明的是，在图8A以及图9A中，为了方便，将实施例1(放电输出800W)中的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系一并图示。 [0181] 在图8A、图8B～图13A、图13B中，与图4A、图4B同样地，不使用原始数据，使用合理化数据。 [0182] 在图8A、图8B～图13A、图13B中，横轴表示光学膜的宽度方向的位置，纵轴表示光量等级。需要说明的是，横轴与CCD相机的视野宽度(760mm)对应，若以像素来表示，则相当于4096pixel。纵轴以光量等级的下限值为0、上限值为255的方式示出。在各图中，横轴以及纵轴的范围一致。 [0183] 如图8A、图8B～图13A、图13B所示，光量等级的平均值随着放电输出增大而增大。另外，光量等级的变动范围在光学膜的宽度方向整个区域内呈带状扩展。 [0184] 但是，根据光学膜的宽度方向的位置的不同，光量等级的变动范围不同。例如，在光学膜的宽度方向上的像素0pixel～600pixel的范围的位置，光量等级比像素600pixel～4096pixel的范围的位置处的光量等级高。 [0185] 认为其理由在于，像素0pixel～600pixel的范围相当于辊露出区域，像素600pixel～4096pixel的范围相当于膜输送区域，因此辊露出区域与膜输送区域的放电特性的差异产生影响。换句话说，认为原因在于，在膜输送区域中，由于存在作为绝缘体的光学膜，因此电晕放电变弱，放电电流密度降低。 [0186] 表1是整理了实施例1～7的光学膜的宽度方向的位置与光量等级的关系的表。 [0187] 在表1中，“光量等级的平均值”是以实施例1的通常时的放电输出为基准时的、即将放电输出设定为800W的情况下的光量等级的平均值设为256灰阶的大致一半的127时的、分别设定成实施例2～7的放电输出的情况下的光量等级的平均值。 [0188] “(变动范围)”是光学膜的宽度方向整个区域上的光量等级的变动范围。需要说明的是，实施例2以及实施例3的变动范围的下限值未能计算出，因此未进行记载。 [0189] “与变动范围之差”是实施例2～7的各自的光量等级的平均值与实施例1的光量等级的变动范围(97～156)之差(较小的一方的差)。具体地说，在实施例2～7中分别记载有光量等级的平均值与实施例1的光量等级的变动范围的下限值(97)之差、以及光量等级的平均值与实施例1的光量等级的变动范围的上限值(156)之差中的任一较小一方的差。需要说明的是，若“与变动范围之差”为10以上，则判断为相对于实施例1的放电输出设定值具有显著差异。 [0190] “检测结果”示出在实施例2～7各自之中，光量等级的变动范围是否包含在实施例1的光量等级的变动范围(97～156)内。在实施例2～7各自之中，将光量等级的变动范围不包含于实施例1的光量等级的变动范围(97～156)的情况以“○(good)”表示。光量等级的变动范围的一部分包含于实施例1的光量等级的变动范围(97～156)的情况以“△(fair)”表示。 [0191] 【表1】 [0192] [0193] 如表1所示，在实施例3中，由于光量等级的变动范围的一部分包含于实施例1的光量等级的变动范围(97～156)，因此，略不足以说明其相对于实施例1的放电输出设定值具有显著差异。但是，通过在光量等级的上下设定阈值，将光量等级包含在由上下的阈值规定的范围的情况判断为正常，将光量等级不包含在由上下的阈值规定的范围内的情况判断为异常，由此能够检测有无电晕放电的异常，确定是否对光学膜的表面均匀地进行了电晕处理。 [0194] 另一方面，在实施例2、实施例4～7中，由于光量等级的变动范围不包含于实施例1的光量等级的变动范围(97～156)，因此可以视为相对于实施例1的放电输出设定值具有显著差异。因此，能够稳定地检测有无电晕放电的异常，能够高精度地确认是否对光学膜的表面均匀地进行了电晕处理。 [0195] 此外，根据实施例4～7的结果可知，在放电输出为230W～600W的范围内，即使放电输出发生100W左右的变化，相对于其他实施例的放电输出设定值也获得足够的显著差异。 [0196] 附图标记说明 [0197] 1...光学膜的制造装置；3...电晕处理装置；4...检查装置；40...CCD相机；40a...第一相机(CCD相机)；40b...第二相机(CCD相机)；100...贴合系统；106...切断装置；107...回收装置；108...贴合装置；110...判断装置；P...液晶面板(贴合对象物)；Fa...未处理膜(光学膜)；Fb...处理完成膜(光学膜)。 |
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