一种复合式真空吸笔 |
|||||||
| 申请号 | CN201710285875.4 | 申请日 | 2017-04-27 | 公开(公告)号 | CN107127730A | 公开(公告)日 | 2017-09-05 |
| 申请人 | 上海理工大学; | 发明人 | 张坤; 柴俊宇; | ||||
| 摘要 | 本 发明 提供了一种新型复合式 真空 吸笔，具有这样的特征，包括：中空气囊部，具有第一气囊区以及与该第一气囊区连通的第二气囊区，第一气囊区呈圆台型，具有上底与下底，整体呈上宽下窄结构，第二气囊区呈半球型，该半球型的直径为1～2cm；中空针柱部，上端与第一气囊区的下底卡合连接，中空针柱部与第一气囊区连通；以及 吸盘 部，具有与中空针柱部的下端连通的中空固定件以及多个按照预定间距依次套设在中空固定件上的不同尺寸的吸盘。该复合式真空吸笔中空气囊部设计有2种尺寸以适用于不同手掌尺寸的使用者，同时中空连接部的长度也可提供2种尺寸，可以满足不同的适用场所，使得本发明的新型复合式真空吸笔的更加方便、适用性也更广。 | ||||||
| 权利要求 | 1.一种复合式真空吸笔，其特征在于，包括： |
||||||
| 说明书全文 | 一种复合式真空吸笔技术领域[0001] 本发明涉及一种真空吸笔，具体涉及一种新型复合式真空吸笔。 背景技术[0002] 随着电子、光学等行业的飞速发展，针对各种相关器件的测试技术也日益发展。然而各种器件的尺寸差异很大；以手机为例，1.1M0603封装的贴片电阻尺寸为(1.60±0.15mm)×(0.80±0.15mm)×(0.40±0.10mm)，74HC595PW移位寄存器的宽度为4.40mm，触屏手机屏幕很多达到5寸以上。因而集成电路、光学镜片和手机屏幕等行业人员需要更加方便的，适应性更强的真空吸笔，以满足对不同器件的吸取。 [0003] 然而传统的真空吸笔结构存在一些固有的问题，传统真空吸笔中空气囊部分整体呈圆柱形结构，虽然结构较为简单但是只是提供了通用型号降低了真空吸笔使用的舒适感；中空针柱部分没有针对特定测试环境和测试方式提供不同方案，在测试过程中存在很多不便；头部吸盘部分结构为单一吸盘设计，仅能适用于器件表面略大于吸盘的芯片。对尺寸相差较大的芯片，则需要更换真空吸笔才能吸取，操作者就需要携带多种型号的真空吸笔，这样不仅增加了操作者的负担，也影响了操作的进度。 发明内容[0004] 本发明是为了解决上述问题而进行的，目的在于提供一种新型复合式真空吸笔。 [0005] 本发明提供了一种新型复合式真空吸笔，具有这样的特征，包括：中空气囊部，具有第一气囊区以及与该第一气囊区连通的第二气囊区，第一气囊区呈圆台型，具有上底与下底，整体呈上宽下窄结构，第二气囊区呈半球型，该半球型的直径为1～2cm；中空针柱部，上端与第一气囊区的下底卡合连接，中空针柱部与第一气囊区连通；以及吸盘部，具有与中空针柱部的下端连通的中空固定件以及多个按照预定间距依次套设在中空固定件上的不同尺寸的吸盘。 [0006] 在本发明提供的新型复合式真空吸笔中，还可以具有这样的特征：其中，中空气囊部的材料为弹性材料。 [0007] 在本发明提供的新型复合式真空吸笔中，还可以具有这样的特征：其中，中空针柱部上端与第一气囊区的下底的卡合连接处为倾斜结构。 [0008] 在本发明提供的新型复合式真空吸笔中，还可以具有这样的特征：其中，中空针柱部的长度为2～5cm。 [0009] 在本发明提供的新型复合式真空吸笔中，还可以具有这样的特征：其中，预定间距的范围为0～1cm。 [0010] 在本发明提供的新型复合式真空吸笔中，还可以具有这样的特征：其中，吸盘部具有第一吸盘、第二吸盘以及第三吸盘，第一吸盘与第二吸盘之间以及第二吸盘与第三吸盘的之间的预定间距为0，第一吸盘设置在中空固定件上，直径为3～5mm，第二吸盘设置在中空固定件上且位于第一吸盘的外层，直径为6～8mm，第三吸盘设置在中空固定件上且位于第二吸盘的外层，直径为9～11mm。 [0011] 在本发明提供的新型复合式真空吸笔中，还可以具有这样的特征：其中，中空气囊部与针柱部卡合连接处的尺寸以及中空针柱部与吸盘部的卡合连接处的尺寸均为固定尺寸。 [0012] 发明的作用与效果 [0013] 根据本发明所涉及的一种新型复合式真空吸笔，因为中空气囊部呈上宽下窄，使得半球型的直径处空气量很大，使用人员只需轻轻按压便可对实现真空效果，且上部较宽使得吸笔不易滑落并具有良好的舒适感，另外，中空针柱部与中空气囊部的连接处进行了倾斜设计，避免了吸取重量较大器件时针柱与气囊脱离的现象，此外，吸盘部针对测试过程中需要吸取不同尺寸，不同重量器件，进行了多尺寸吸盘复合式设计。复合3种尺寸满足从芯片到手机屏幕等范围内的小器件吸取要求，这种多尺寸吸盘解决了使用者需要携带多个真空吸笔的问题，减轻了使用者的负担，加快了使用者的操作进度。附图说明 [0014] 图1是本发明的实施例中新型复合式真空吸笔的剖面图； [0015] 图2是本发明的实施例中中空气囊部的剖面图； [0016] 图3是本发明的实施例中中空针柱部的剖面图； [0017] 图4是本发明的实施例中吸盘部的剖面图。 具体实施方式[0018] 为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，以下实施例结合附图对本发明新型复合式真空吸笔作具体阐述。 [0019] 图1是本发明的实施例中新型复合式真空吸笔的剖面图。 [0020] 如图1所示，新型复合式真空吸笔100包括中空气囊部10、中空针柱部20以及吸盘部30。新型复合式真空吸笔100适用于多尺寸器件的吸取。 [0021] 图2是本发明的实施例中中空气囊部的剖面图。 [0022] 如图2所示，中空气囊部10具有第一气囊区以及与该第一气囊区连通的第二气囊区，第一气囊区呈圆台型，具有上底与下底，整体呈上宽下窄结构，第二气囊区呈半球型，a、b两点为该半球型的直径两个端点，Dab的长度为1～2cm，以适应不同使用者的手掌尺寸，c、d两点为第一气囊区下底的两个端点。在本实施例中，Dab的长度1.5cm，Dcd的长度1cm。 [0023] 图3是本发明的实施例中中空针柱部的剖面图。 [0024] 如图3所示，中空针柱部20的上端与中空气囊部10的第一气囊区的下底卡合连接，连接部分为倾斜结构，使得中空针柱部20与中空气囊部10连接的更加牢固。中空针柱部20与第一气囊区连通，长度为2～5cm。在本实施例中，中空针柱部20的长度为5cm。 [0025] 图4是本发明的实施例中吸盘部的剖面图。 [0026] 如图4所示，吸盘部30具有中空固定件31、按照预定间距依次套设在中空固定件31上的第一吸盘32、第二吸盘33以及第三吸盘34。预定间距的范围为0～1cm。在本实施例中，预定间距为0cm。 [0027] 中空固定件31与中空针柱部20的下端连接，具有中空头部311。 [0029] 第二吸盘33固定在固定件31上且位于第一吸盘32的外层，直径为6～8mm。在本实施中，第二吸盘33的直径为6mm，最大吸附能力为18g。 [0030] 第三吸盘34固定在固定件31上且位于第二吸盘33的外层，直径为9～11mm。在本实施中，第三吸盘34的直径为9mm，最大吸附能力为40g。 [0031] 本实施例中，中空气囊部10与中空针柱部20之间连接部分的尺寸以及中空针柱部20与吸盘部30之间的连接部分的尺寸均为固定尺寸，当新型复合式真空吸笔100的任意一个零件损坏时，可以随时且方便地更换损坏零件，提高了新型复合式真空吸笔100的利用率。 [0032] 本实施例新型复合式真空吸笔100的使用背景是在芯片封测过程中最终测试阶段。 [0033] 新型复合式真空吸笔100的工作过程为：芯片进行机器测试时，测试人员需要将手伸入到机台内部吸取芯片，中空气囊部10呈半纺锤状，整体上宽下窄的结构，手部在机台内部操作幅度应可能小，该半球型的ab最宽，使得ab处空气量最大，只需食指与拇指轻轻按压ab两侧就可达到真空效果，芯片最终测试阶段直接操作人员与间接人员，如设备工程师、产品工程师等都需要真空吸笔吸取芯片。而不同测试人员的手掌大小不一，为了增加使用人员的舒适度，进行了2种尺寸的设计。 [0034] 针对手掌较大的测试人员，4指并拢的宽度在8-10cm，而对气囊进行按压的一般仅为食指和中指，宽度在5-7cm，因为在满足舒适的同时，吸笔尺寸不宜过大，所以手指握持中空气囊部分长度，即ab到cd处的长度为5cm，且Dab为2cm大于传统尺寸1.2cm，Dcd的长度1cm为固定尺寸。 [0035] 针对手掌中小型的测试人员，4指并拢的宽度在6-8cm，食指加中指宽度在4-5cm，手指握持中空气囊部分长度，即ab到cd处的长度为5cm，且Dab为1.5cm，形成上宽下窄结构。中空气囊部10的厚度为1mm。 [0036] 芯片最终测试阶段主要分为手动测试与机器测试两种测试形式，综合考虑这两种形式的测试环境与测试方法，分别进行了两种尺寸设计。 [0037] 针对手动测试的设计：手动测试环境相对简单，测试主要在桌面平台上进行，测试人员用真空吸笔从粹盘吸取待测芯片放入到单一测试座或测试座阵列中进行测试，然后取出已测芯片。整体流程中，测试环境不涉及高温，大型机器，中空针柱部分设计应该以小巧、方便为主，因而针柱长度不易过大，需用略小于传统针柱长度，中空针柱部20的长度为2cm。 [0038] 针对机器测试的设计：机器测试环境相对复杂，机台输入手臂从粹盘吸取待测芯片放入到输入承载座，输入承载座将待测芯片送到测试手臂处，测试手臂将输入承载座上待测芯片放入测试机测试座进行测试，而后再将已测芯片放入到输出承载座，输出手臂根据测试结果将输出承载座的芯片放入规定的位置。机器测试过程中，任何步骤出现报警，测试人员都需要停机进行处理，而输入、输出和测试手臂均会把芯片测试输送到机台的中部，尤其是芯片很可能卡在测试座中，此时测试人员需要更长针柱的真空吸笔，以满足较长距离的吸取芯片。此外，针对芯片的测试可能处于高温环境，此时测试人员取件时，需要尽量不触碰机台防止烫伤，因而也需要长针柱的真空吸笔，所以中空针柱部20的长度为5cm。 [0039] 中空针柱部20与中空气囊部10之间连接部分为倾斜结构，增大针柱与气囊的接触面积，防止取件时出现针柱与气囊脱离。 [0040] 芯片最终测试过程中测试的芯片的尺寸千差万别，从几毫米到几厘米均有可能。单一的尺寸的吸盘仅能够吸取芯片表面略大于吸盘面积的芯片；芯片表面小于吸盘尺寸时，吸盘与芯片表面处无法形成真空，造成吸取不成功，芯片表面大于吸盘尺寸很大时，吸盘吸取芯片输送过程中，可能由于芯片质量过大造成脱落。为此设计了三种不同尺寸的吸盘以适应不同尺寸，不同质量芯片的吸取。第一吸盘32为小尺寸吸盘，第一吸盘32的直径为 3.6mm，最大吸附能力为3g，满足较小尺寸芯片的吸取。第二吸盘33为中间尺寸吸盘，第二吸盘33的直径＝6mm，最大吸附能力为18g，可满足大多数芯片的吸取。第三吸盘34为大尺寸吸盘，第三吸盘34的直径为9mm，最大吸附能力为40g，满足较大尺寸芯片的吸取。 [0041] 实施例的作用与效果 [0042] 根据本发实施例中的一种新型复合式真空吸笔，因为中空气囊部呈上宽下窄，使得半球型的直径处空气量很大，使用人员只需轻轻按压便可对实现真空效果，且上部较宽使得吸笔不易滑落并具有良好的舒适感，另外，中空针柱部与中空气囊部的连接处进行了倾斜设计，避免了吸取重量较大器件时针柱与气囊脱离的现象，此外，吸盘部针对测试过程中需要吸取不同尺寸，不同重量器件，进行了多尺寸吸盘复合式设计。复合3种尺寸满足从芯片到手机屏幕等范围内的小器件吸取要求，这种多尺寸吸盘解决了使用者需要携带多个真空吸笔的问题，减轻了使用者的负担，加快了使用者的操作进度。同时，中空气囊部与中空针柱部之间连接部分的尺寸以及中空针柱部与吸盘部之间连接部分的尺寸均为固定尺寸，当部分零件损坏时，可以更加方便的更换。 [0043] 另外，本实施例中的新型复合式真空吸笔中空气囊部可以有2种尺寸以适用于不同手掌尺寸的使用者，同时中空针柱部的长度也要2种尺寸，可以满足不同的适用场所，这样的设计综合考虑了使用者、使用环境、使用方法以及被吸取器件的尺寸，使得本发明的新型复合式真空吸笔的更加方便、适用性也更广。 [0044] 上述实施方式为本发明的优选案例，并不用来限制本发明的保护范围。 |
||||||
QQ群二维码
意见反馈
意见反馈