专利汇可以提供表面摩擦剪切应力传感器专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 涉及微 机电系统 技术领域,公开了一种集成了外部封装壳体、敏感结构、处理 电路 的表面摩擦剪切应 力 传感器 ,所述表面摩擦剪切 应力 传感器由外部封装壳体、敏感结构和处理电路三个部分组成。所述敏感结构的上表面与传感器测试表面齐平,在表面摩擦 剪切应力 的作用下产生位移,梳齿结构将位移 信号 转化为电容信号,通过处理电路,将电容信号线性转化为 电压 信号后输出。整个传感器壳体的最大直径仅为15.4mm,长度25mm。利用本发明,能够有效地测试在超高音速气体流场下的表面摩擦剪切应力,传感器整体体积具有小型化的特点,并且在环境复杂的气体流场中有效地保护了敏感结构和处理电路。,下面是表面摩擦剪切应力传感器专利的具体信息内容。
1. 一种表面摩擦剪切应力传感器,其特征在于集成了外部封装壳体(100)、敏感结构 (200)和处理电路(300),外部封装壳体(100)由上壳体(110)、下壳体(120)连接而成, 上壳体(110)分为从上到下内径逐步增大的三段腔体,敏感结构(200)固定在上层PCB 板(310)上,敏感结构(200)和上层PCB板(310)作为一个整体安装在上腔体内,敏感结 构O00)的上表面构成传感器测试表面(101),该测试表面(101)与上壳体(110)上端面 (113)齐平,且敏感结构(200)周围通过填充胶(130)填充,处理电路(300)分别设置在上 下层PCB板(310、320)上,下层PCB板(320)安装在下腔体内,上下层PCB板(310、320) 通过导线(330)连接,下壳体(120)上加工一个与外部连接的固定装置(122),测试导线 (340) 一端连接下层PCB板(320),另一端穿过下壳体(120)的通孔(121)与外部测试设备 连接;处理电路(300)包括载波发生电路(390)、差分放大电路(360)、解调电路(370)和 低通滤波电路(380),敏感结构(200)分别与载波发生电路(390)、差分放大电路(360)连 接,载波发生电路(390)、差分放大电路(360)分别与解调电路(370)连接,解调电路(370) 与低通滤波电路(380)连接,敏感结构(200)将表面摩擦剪切应力(001)转化为敏感结构 (200)的位移信号(002),梳齿结构则将位移信号(002)转化为两路电容信号(003a、00;3b), 载波信号(301)由载波发生电路(390)产生,载波信号(301)作用在敏感结构(200)上,对 电容信号(00¾进行调制(350),将两路电容信号(003a、003b)转化为两路调制过的电流 信号(004a、004b),再通过差分放大电路(360)将两路电流信号差分放大后输出电压信号(005),该电压信号(00¾通过解调电路(370)对输出的电压信号(00¾解调成解调信号(006),该解调信号(006)通过低通滤波电路(380)得到的直流电压信号(007)经过测试导 线(340)输出。
2.根据权利要求1所述的表面摩擦剪切应力传感器,其特征在于:上壳体(110)上 表面(113)含有确定传感器方向的定位半圆(111),在装配敏感结构(200)时,敏感结构 (200)的敏感轴(201)方向与定位半圆(111)所指的方向垂直。
3.根据权利要求1所述的表面摩擦剪切应力传感器,其特征在于:下层PCB板(320)通 过上壳体(110)中的凸台(112)定位,通过周围填充胶(140)固定。
4.根据权利要求1所述的表面摩擦剪切应力传感器,其特征在于:敏感结构(200)采 用MEMS技术加工,由上下两层构成,上层为制作在单晶硅片上的机械结构,下层为制作在 玻璃衬底上的金属引线(270a、270b、270c),机械结构包括质量块QlO),基座(220a、220b、 220c、220d),活动梳齿(280a、280b、280c、280d),固定梳齿(240a、240b、240c、240d),支撑 梁(230a、230b、230c、230d),固定电极(250a、250b、250c、250d),质量块(210)通过四个角 上的支撑梁(230a、230b、230c、230d)分别与基座(220a、220b、220c、220d)相连,使上层的 机械结构部分悬空在下层的玻璃衬底部分之上;活动梳齿O80a、280bJ80C、280d)沿敏感 轴(201)对称分布在质量块O10)的两侧上,并与固定梳齿(M0a、240b、M0c、240d)形成 四组检测电容,固定梳齿(240a,240b,240c,240d)通过固定电极(250a、250b、250c、250d) 固定在玻璃衬底上;当质量块(210)在表面摩擦剪切应力(001)的作用下,敏感结构(200) 沿敏感轴O01)方向产生位移信号(002),从而四组检测电容发生变化,且上下两组检测电 容构成差分检测。
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