首页 / 专利库 / 物理 / 孔径分布 / 基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法

基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法

阅读:869发布:2020-05-12

专利汇可以提供基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种基于二维数字图像连续 孔径分布 的计算方法,能提高孔径测量的准确性,该方法包括以下步骤:S1,获取待测材料的原始数字图像,并对原始数字图像进行 阈值 分割以得到包括至少一个孔隙的二值图像,其中,原始数字图像为二维图像;S2,计算二值图像中每个孔隙内的每个 像素 点到该孔隙边界的欧氏距离;S3,提取到该孔隙边界的欧氏距离相等的像素点以在每个孔隙内构成至少一个封闭的等值线;S4,获取预设欧氏距离值,并将数值等于预设欧氏距离值的等值线向外扩展预设欧氏距离值以形成对应的扩展线;S5,计算所有扩展线中的圆弧所构成的弓形的总面积;S6,根据总面积计算孔径为预设欧氏距离值的孔隙的面积,以得到待测材料的连续孔径分布。,下面是基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法专利的具体信息内容。

1.一种基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1,获取待测材料的原始数字图像,并对所述原始数字图像进行阈值分割以得到包括至少一个孔隙的二值图像,其中,所述原始数字图像为二维图像;
S2,计算所述二值图像中每个所述孔隙内的每个像素点到该孔隙边界的欧氏距离;
S3,提取到该孔隙边界的欧氏距离相等的像素点以在每个所述孔隙内构成至少一个封闭的等值线;
S4,获取预设欧氏距离值,并将数值等于所述预设欧氏距离值的等值线向外扩展所述预设欧氏距离值以形成对应的扩展线;
S5,计算所有所述扩展线中的圆弧所构成的弓形的总面积;
S6,根据所述总面积计算孔径为所述预设欧氏距离值的孔隙的面积,以得到所述待测材料的连续孔径分布。
2.根据权利要求1所述的基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法,其特征在于,所述步骤S6具体包括:
S61,将所述预设欧氏距离值以预设增量为步长由0增大到所述步骤S2中计算得到的欧氏距离的最大值,并依次根据步骤S4-S5计算每个所述预设欧氏距离值对应的所述总面积;
S62,确定第一预设欧氏距离值和第二预设欧氏距离值,其中,所述第二预设欧氏距离值由所述第一预设欧氏距离值增大所述预设增量得到;
S63,计算所述第一预设欧氏距离值所对应的总面积与所述第二预设欧氏距离值所对应的总面积之差以得到孔径为所述第一预设欧氏距离值的孔隙的面积;
S64,根据步骤S62-S63得到所述待测材料的连续孔径分布。
3.根据权利要求1所述的基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法,其特征在于,通过透射电子显微镜TEM、扫描电子显微镜SEM或环境扫描电子显微镜ESEM获取所述待测材料的原始数字图像。
4.根据权利要求2所述的基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法,其特征在于,所述预设增量为所述二值图像中相邻像素之间的距离。
5.根据权利要求4所述的基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法,其特征在于,所述预设增量为1μm。

说明书全文

基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法

技术领域

[0001] 本发明涉及图像处理技术领域,特别涉及一种基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法。

背景技术

[0002] 目前,主要通过物理压汞试验来确定试样内部的孔隙半径分布特征,通过压汞试验虽然能够得到连续孔径分布,但是相比于数字图像其只能得到最终的测试数据,不能够
像图像处理可以得到直观和可视化的结果,同时如果样本中含有“墨瓶型”等特殊孔隙,
常规的压汞试验则会严重影响孔径测量的准确性。除此之外,压汞法通过较高的压将汞
压入试样内部,高压势必会破坏试样内部的孔隙结构,从而使得测试结果产生偏差,尤其是
对于一些强度较低的试样,可能压汞法就彻底不能使用,而图像处理法则可以完全避免该
问题。

发明内容

[0003] 本发明旨在至少在一定程度上解决目前基于二维数字图像提取孔径分布时无法得到连续孔径分布、压汞实验难以避免特殊孔隙及较高汞压对测量准确性的影响的技术问
题。为此,本发明的一个目的在于提出一种基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法,能
够方便有效且准确直观地表征待测材料的孔径分布,并能够避免“墨水瓶型”等特殊孔隙对
测量结果的影响,大大提高孔径测量的准确性。
[0004] 为达到上述目的,本发明实施例提出的基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法,包括以下步骤:S1,获取待测材料的原始数字图像,并对所述原始数字图像进行阈值
割以得到包括至少一个孔隙的二值图像,其中,所述原始数字图像为二维图像;S2,计算所
述二值图像中每个所述孔隙内的每个像素点到该孔隙边界的欧氏距离;S3,提取到该孔隙
边界的欧氏距离相等的像素点以在每个所述孔隙内构成至少一个封闭的等值线;S4,获取
预设欧氏距离值,并将数值等于所述预设欧氏距离值的等值线向外扩展所述预设欧氏距离
值以形成对应的扩展线;S5,计算所有所述扩展线中的圆弧所构成的弓形的总面积;S6,根
据所述总面积计算孔径为所述预设欧氏距离值的孔隙的面积,以得到所述待测材料的连续
孔径分布。
[0005] 根据本发明实施例的基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法,通过获取孔隙的二值图像,并确定二值图像中每个孔隙内的每个像素点到孔隙边界的欧氏距离,以此得
到孔隙内的等值线,然后以某一等值线为中心,向外扩展该等值线对应数值的距离,然后计
算扩展后得到的圆弧所包含区域的面积,并据此计算得到连续孔径分布。由此,能够方便有
效且准确直观地表征待测材料的孔径分布,并能够避免“墨水瓶型”等特殊孔隙对测量结果
的影响,大大提高了孔径测量的准确性。
[0006] 另外,根据本发明上述实施例提出的基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法还可以具有如下附加的技术特征:
[0007] 进一步地,所述步骤S6具体包括:S61,将所述预设欧氏距离值以预设增量为步长由0增大到所述步骤S2中计算得到的欧氏距离的最大值,并依次根据步骤S4-S5计算每个所
述预设欧氏距离值对应的所述总面积;S62,确定第一预设欧氏距离值和第二预设欧氏距离
值,其中,所述第二预设欧氏距离值由所述第一预设欧氏距离值增大所述预设增量得到;
S63,计算所述第一预设欧氏距离值所对应的总面积与所述第二预设欧氏距离值所对应的
总面积之差以得到孔径为所述第一预设欧氏距离值的孔隙的面积;S64,根据步骤S62-S63
得到所述待测材料的连续孔径分布。
[0008] 根据本发明的一个实施例,通过TEM、SEM或ESEM获取所述待测材料的原始数字图像。
[0009] 根据本发明的一个实施例,所述预设增量为所述二值图像中相邻像素之间的距离。
[0010] 优选地,所述预设增量为1μm。附图说明
[0011] 图1为根据本发明实施例的基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法的流程图;
[0012] 图2为根据本发明一个实施例的孔隙的二值图像示意图;
[0013] 图3为根据本发明一个实施例的孔隙边界的示意图;
[0014] 图4为根据本发明一个实施例的等值线的示意图;
[0015] 图5为根据本发明一个具体实施例的孔隙的示意图。

具体实施方式

[0016] 下面详细描述本发明的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附
图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。
[0017] 下面结合附图来描述本发明实施例的基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法。
[0018] 图1为根据本发明实施例的基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法的流程图。
[0019] 如图1所示,本发明实施例的基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法,包括以下步骤:
[0020] S1,获取待测材料的原始数字图像,并对原始数字图像进行阈值分割以得到包括至少一个孔隙的二值图像,其中,原始数字图像为二维图像。
[0021] 在本发明的一个实施例中,可通过TEM(Transmission electron microscope,透射电子显微镜)、SEM(Scanning Electron Microscope,扫描电子显微镜)或ESEM
(Environmental Scanning Electron Microscope,环境扫描电子显微镜)等获取待测材料
的原始数字图像。
[0022] S2,计算二值图像中每个孔隙内的每个像素点到该孔隙边界的欧氏距离。
[0023] 孔隙边界为孔隙与基质的交界线,对于二维图像,其孔隙为二维孔隙,包括该二维孔隙的二值图像可如图2所示,该二维孔隙的孔隙边界可如图3所示。
[0024] S3,提取到该孔隙边界的欧氏距离相等的像素点以在每个孔隙内构成至少一个封闭的等值线。
[0025] 如图4所示,在二维孔隙的内部可构成至少一个封闭的等值线,每条等值线上的像素到孔隙边界的欧氏距离相等。
[0026] S4,获取预设欧氏距离值,并将数值等于预设欧氏距离值的等值线向外扩展预设欧氏距离值以形成对应的扩展线。
[0027] S5,计算所有扩展线中的圆弧所构成的弓形的总面积。
[0028] S6,根据总面积计算孔径为预设欧氏距离值的孔隙的面积,以得到待测材料的连续孔径分布。
[0029] 进一步地,步骤S6具体包括:
[0030] S61,将预设欧氏距离值以预设增量为步长由0增大到步骤S2中计算得到的欧氏距离的最大值,并依次根据步骤S4-S5计算每个预设欧氏距离值对应的总面积。
[0031] 在以预设增量为步长由0增大到最大值时,可得到多个预设欧氏距离值。对于二维图像而言,对于每个预设欧氏距离值,均将数值等于该预设欧氏距离值的等值线向外扩展
该预设欧氏距离值以形成对应的扩展线,实际上对于每个孔隙而言,该扩展线即为该孔隙
的孔隙边界。然后计算所有扩展线中的圆弧所构成的弓形的总面积,即得到该预设欧氏距
离值对应的总面积。
[0032] 应当理解,由于等值线是根据像素点的欧氏距离生成的,因此,预设增量为二值图像中相邻像素之间的距离的整数倍,且最小取值为二值图像中相邻像素之间的距离。在本
发明的一个具体实施例中,预设增量为1μm。
[0033] S62,确定第一预设欧氏距离值和第二预设欧氏距离值,其中,第二预设欧氏距离值由第一预设欧氏距离值增大预设增量得到。
[0034] 也即确定在步骤S61预设欧氏距离值增大的过程中相邻的两个预设欧氏距离。
[0035] S63,计算第一预设欧氏距离值所对应的总面积与第二预设欧氏距离值所对应的总面积之差以得到孔径为第一预设欧氏距离值的孔隙的面积。
[0036] 由于第一预设欧氏距离值小于第二预设欧氏距离值,第一预设欧氏距离值所对应的总面积包括孔径为第一预设欧氏距离值的孔隙的面积、孔径为第二预设欧氏距离值的孔
隙的面积和孔径大于第二预设欧氏距离值的孔隙的面积,第二预设欧氏距离值所对应的总
面积包括孔径为第二预设欧氏距离值的孔隙的面积和孔径大于第二预设欧氏距离值的孔
隙的面积,因此,第一预设欧氏距离值所对应的总面积与第二预设欧氏距离值所对应的总
面积之差即为孔径为第一预设欧氏距离值的孔隙的面积。
[0037] S64,根据步骤S62-S63得到待测材料的连续孔径分布。
[0038] 计算出以每个预设欧氏距离值为孔径的孔隙的面积,即得到待测材料的连续孔径分布。
[0039] 此外,根据以上方法不难理解,上述的预设增量越小,得到的连续孔径分布的准确度越高,因此,可根据对连续孔径分布的准确度需求设定预设增量的值。
[0040] 为便于理解,下面列举简单示例对上述实施例的基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法进行说明。
[0041] 在本发明的一个具体实施例中,假设二值图像中包括图5所示的a、b两个孔隙,其中,a为不规则孔隙。
[0042] 如图5所示,a孔隙中包括两个1μm等值线、一个2μm等值线和一个3μm等值线,b孔隙中包括一个1μm等值线和一个2μm等值线。在本发明的一个实施例中,可将最大值的等值线
的值视作最大孔隙的半径。
[0043] 假设预设增量为1μm,则以预设增量为步长由0增大到最大值,共有0、1μm、2μm和3μm四个预设欧氏距离值。0对应的总面积为孔隙a和孔隙b的面积之和,1μm对应的总面积为孔
隙a和孔隙b的总面积为孔隙a和孔隙b的面积之和,2μm对应的总面积为孔隙a的a2部分和孔
隙b的面积之和,3μm对应的总面积为孔隙a的a2部分的面积。由此可得孔径为1μm的孔隙的
面积为孔隙a的a2部分的面积,孔径为2μm的孔隙的面积为孔隙b的面积,孔径为3μm的孔隙
的面积为孔隙a的a2部分的面积。由此,对于两个孔隙可得到三种孔径的孔径分布。
[0044] 根据本发明实施例的基于二维数字图像连续孔径分布的计算方法,通过获取孔隙的二值图像,并确定二值图像中每个孔隙内的每个像素点到孔隙边界的欧氏距离,以此得
到孔隙内的等值线,然后以某一等值线为中心,向外扩展该等值线对应数值的距离,然后计
算扩展后得到的圆弧所包含区域的面积或体积,并据此计算得到连续孔径分布。由此,能够
方便有效且准确直观地表征待测材料的孔径分布,并能够避免“墨水瓶型”等特殊孔隙对测
量结果的影响,大大提高了孔径测量的准确性。
[0045] 在本发明的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必
须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
[0046] 此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者
隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,
除非另有明确具体的限定。
[0047] 在本发明中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连
接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内
部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情
况理解上述术语在本发明中的具体含义。
[0048] 在本发明中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在
第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示
第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第
一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
[0049] 在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特
点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不
必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任
一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,在不相互矛盾的情况下,本领域的技
术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结
合和组合。
[0050] 尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本发明的限制,本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述
实施例进行变化、修改、替换和变型。
高效检索全球专利

专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台,是提供专利分析,专利查询,专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。

我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据,免费查、免费专利分析。

申请试用

分析报告

专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析,涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度,系统通过AI智能系统对图表进行解读,只需1分钟,一键生成行业专利分析报告。

申请试用

QQ群二维码
意见反馈