一种判别光学异构体旋光性的近红外光谱分析方法
专利汇可以提供一种判别光学异构体旋光性的近红外光谱分析方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种判别光学异构体旋光性的 近红外 光谱 分析方法，先在一定的测量条件下采集光学异构体各左旋体样品和右旋体样品的 近红外光谱 ，所得光谱不进行预处理或进行化学计量学预处理，从所得光谱数据中选择建模光谱范围，对所选光谱范围的数据进行 降维 后，采用化学计量学方法建立并验证光学异构体的旋光性判别模型；然后取未知旋光性的光学异构体样品，按照前述相同方法采集近红外光谱并进行光谱数据的多步骤处理，最后应用所建模型进行光学异构体的旋光性判别。本发明基于光学异构体的近红外光谱，结合化学计量学技术，判别光学异构体的旋光性，具有准确、简便、快速、无损的优点。，下面是一种判别光学异构体旋光性的近红外光谱分析方法专利的具体信息内容。
1.一种判别光学异构体旋光性的近红外光谱分析方法，其特征在于，包括以下步骤：
(1)设置近红外光谱仪的分辨率和扫描次数，在10000～4000cm-1扫描范围内分别采集光学异构体各左旋体样品和右旋体样品的近红外光谱；
(2)对步骤(1)所得光谱，不进行预处理或进行化学计量学预处理；
(3)在步骤(2)所得光谱数据中选择建模光谱范围；
(4)对步骤(3)所选光谱范围的数据进行降维；
(5)对步骤(4)所得数据，采用化学计量学方法建立并验证光学异构体的旋光性判别模型；
(6)取未知旋光性的光学异构体样品，按照步骤(1)所述方法采集近红外光谱，按照步骤(2)～(4)所述方法进行光谱的多步骤处理，然后应用步骤(5)所建模型进行光学异构体的旋光性判别。
2.根据权利要求1所述的判别光学异构体旋光性的近红外光谱分析方法，其特征在于，步骤(1)中所述近红外光谱仪的分辨率设置为2cm-1、4cm-1、8cm-1或16cm-1，扫描次数设置为
32、64或128次。
3.根据权利要求1所述的判别光学异构体旋光性的近红外光谱分析方法，其特征在于，步骤(2)中所述化学计量学预处理的方法为多元信号修正、标准正态变换、导数和平滑中的一种或多种组合。
4.根据权利要求1所述的判别光学异构体旋光性的近红外光谱分析方法，其特征在于，步骤(4)中采用主成分分析法对步骤(3)所选光谱范围的数据进行降维。
5.根据权利要求4所述的判别光学异构体旋光性的近红外光谱分析方法，其特征在于，建模主成分数的选择依据为其累计方差贡献率大于85％以及步骤(5)所建判别模型的校正集正判率和验证集正判率均大于95％。
6.根据权利要求1所述的判别光学异构体旋光性的近红外光谱分析方法，其特征在于，步骤(5)中所述化学计量学建模方法为判别分析法。
7.根据权利要求1所述的判别光学异构体旋光性的近红外光谱分析方法，其特征在于，步骤(5)中所建判别模型的性能由校正集正判率和验证集正判率进行评价。
8.根据权利要求1至7任一项所述的判别光学异构体旋光性的近红外光谱分析方法，其特征在于，所述光学异构体为莫达非尼光学异构体。
9.根据权利要求8所述的判别光学异构体旋光性的近红外光谱分析方法，其特征在于，包括以下步骤：
(1)设置近红外光谱仪的分辨率为4cm-1、扫描次数为64次，在10000～4000cm-1扫描范围内分别采集莫达非尼各左旋体样品和右旋体样品的近红外漫反射光谱；
(2)采用多元信号修正的方法对步骤(1)所得光谱进行预处理；
(3)在步骤(2)所得光谱数据中选择6700～6600cm-1、6000～5900cm-1和5050～4850cm-1为建模光谱范围；
(4)采用主成分分析法对步骤(3)所选光谱范围的数据进行降维；
(5)对步骤(4)所得数据，以建模主成分数为2、采用判别分析法建立并验证莫达非尼光学异构体的旋光性判别模型，所建模型的性能由校正集正判率和验证集正判率进行评价；
(6)取未知旋光性的莫达非尼光学异构体样品，按照步骤(1)所述方法采集近红外漫反射光谱，按照步骤(2)～(4)所述方法进行光谱的多步骤处理，然后应用步骤(5)所建模型进行莫达非尼光学异构体的旋光性判别。
一种判别光学异构体旋光性的近红外光谱分析方法
技术领域
背景技术
发明内容
具体实施方式
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