专利汇可以提供热成像摄像机专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且在红外测量设备(1)中设置了至少一个对红外线敏感的 传感器 元件(29),所述传感器元件生成与入射到至少一个传感器元件(29)上的射线有关的输出 信号 (12)。其中建议:该 输出信号 (12)能够通过积分持续时间被变到一个预定的入射射线,并检测施加到所述至少一个传感器元件(29)上的瞬时 温度 ,将其用于改变积分持续时间,从而补偿温度 波动 对所述至少一个传感器元件(29)的输出信号(12)的影响。,下面是热成像摄像机专利的具体信息内容。
1.一种带有红外线探测器(2)的红外测量设备(1),所述红外线探测器具有至少一个传感器元件(29),所述传感器元件对红外线敏感,其中所述至少一个传感器元件(29)连接到分析电子器件(9,11,30)上,通过所述分析电子器件能够得到所述至少一个传感器元件(29)的与积分持续时间有关的输出信号(12),其特征在于,所述红外线探测器(2)与至少一个温度传感器(16)热耦合,并设置有用于通过所述至少一个温度传感器(16)的输出信号(17,27)来影响积分持续时间的装置(11,20,21),该装置被设置为使得红外线探测器(2)的由温度引起的漂移至少部分地得以补偿。
2.根据权利要求1的红外测量设备,其特征在于,所述红外测量设备(1)被构造为高温计。
3.根据权利要求1或2的红外测量设备,其特征在于,所述红外测量设备被构造为热成像摄像机(1)。
4.根据权利要求1至3中任一项的红外测量设备,其特征在于,所述传感器元件是热辐射计(29)。
5.根据权利要求1至4中任一项的红外测量设备,其特征在于,所述红外线探测器(2)具有网格状排列(3)的传感器元件(29),这些传感器元件连接到所述分析电子器件(9,22,30)。
6.根据权利要求1至5中任一项的红外测量设备,其特征在于,为了检测与积分持续时间有关的输出信号(12),设置有用于检测在积分持续时间内流过所述传感器元件的电荷量的装置,尤其是用于确定在积分持续时间内经由所述至少一个传感器元件(29)以预定电压(14,15)聚集到一个电容上的电荷量的装置。
7.根据权利要求1至6中任一项的红外测量设备,其特征在于,所述至少一个传感器元件(29)、尤其是网格状排列(3)的所有传感器元件(29)被固定在一个基板上,并能够用所述至少一个温度传感器来检测所述基板的温度。
8.根据权利要求1至7中任一项的红外测量设备,其特征在于,设置有第二温度传感器(16),利用所述第二温度传感器能够检测红外线探测器(2)的外壳的温度,并且设置有用于通过所述第二温度传感器(16)的输出信号(17)影响积分持续时间的装置(11,20,21),该装置被设置为使得红外线探测器(2)的由温度引起的漂移至少部分地得到补偿。
9.根据权利要求1至8中任一项的红外测量设备,其特征在于,积分持续时间通过时钟发生器(20)来确定。
10.根据权利要求1至9中任一项的红外测量设备,其特征在于,所述分析电子器件(9,11,30)具有模/数转换器(9),该模/数转换器将所述至少一个传感器元件(29)和/或至少一个温度传感器(16)的输出信号(12,7)以数字形式提供给控制器(11)。
11.根据权利要求1至10中任一项的红外测量设备,其特征在于,所述控制器(11)具有用于影响积分持续时间的装置,尤其是用于控制(18,26)所述时钟发生器(20,31)的装置(13,21)。
12.根据权利要求1至11中任一项的红外测量设备,其特征在于,设置有一电子电路(13),该电子电路被设置为用于以恒定的控制电压(14)控制所述至少一个传感器元件(9)。
13.一种用于补偿红外测量设备(1)的红外线探测器(2)的由温度引起的漂移的方法,其中所述红外线探测器(2)具有至少一个传感器元件(29),其中所述至少一个传感器元件(29)连接到分析电子器件(9,11,30)上,其中所述分析电子器件(9,11,30)得到所述至少一个传感器元件(29)的与积分持续时间有关的输出信号(17),其特征在于,所述红外线探测器(2)与至少一个温度传感器(16)热耦合,所述温度传感器(16)的输出信号(17,27)影响积分持续时间,使得红外线探测器(2)的由温度引起的漂移至少部分地得以补偿。
14.根据权利要求13的方法,其特征在于,所述红外线探测器(2)具有网格状排列(3)的传感器元件(29),这些传感器元件由所述分析电子器件(9,11,30)进行分析。
15.根据权利要求13或14的方法,其特征在于,为了检测与积分持续时间有关的输出信号(12),确定在积分持续时间内流过所述传感器元件的电荷量,尤其是确定在积分持续时间内经由所述传感器元件以预定电压(14,15)聚集到一个电容上的电荷量。
16.根据权利要求13至15中任一项的方法,其特征在于,用所述至少一个温度传感器检测所述至少一个传感器元件(29)的温度,尤其是检测网格状排列(3)的传感器元件(29)中的多个传感器元件或者甚至是所有传感器元件(29)的平均温度。
17.根据权利要求13至16中任一项的方法,其特征在于,使用第二温度传感器(16)来检测红外线探测器(2)的外壳的温度,并且所述第二温度传感器(16)的输出信号(17)影响积分持续时间,使得红外线探测器的由温度引起的漂移至少部分地得到补偿
18.根据权利要求13至17中任一项的方法,其特征在于,积分持续时间通过时钟发生器(20,21)来确定。
19.根据权利要求13至18中任一项的方法,其特征在于,所述分析电子器件(9,11,30)具有模/数转换器(9),该模/数转换器将所述至少一个传感器元件(29)和/或所述至少一个温度传感器(16)的输出信号(7,17,27)转换成数字形式并提供给控制器(11)。
20.根据权利要求13至19中任一项的方法,其特征在于,所述控制器(11)影响积分持续时间,尤其是控制所述时钟发生器(20,21)。
21.根据权利要求13至20中任一项的方法,其特征在于,用恒定的控制电压(14)来驱动所述至少一个传感器元件(29)。
本发明涉及一种带有红外线探测器的红外(IP)测量设备,所述红外线探测器具有至少一个传感器元件,所述传感器元件对红外线敏感,其中所述至少一个传感器元件连接到分析电子器件上,通过所述分析电子器件能够得到所述至少一个传感器元件的与积分持续时间有关的输出信号。
本发明还涉及一种用于补偿红外测量设备的红外线探测器的由温度引起的漂移的方法。
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