[0346] 如此,对于质量mcheck的集合Mcheck的每一质量mcheck_i(i=1、2、3、…、k),执行所述检查。
[0347] 在扫描期间在离子检测器3处经由在质量分析模式中操作的第二分析仪105来检测对于其执行所述检查的质量mcheck,第一四极杆104在指派到质量mcheck的质量范围ρmass_m_check上在选择具有过滤器窗口宽度wcal的质量过滤器窗口中的质量的质量选择模式中操作为预选择分析仪,所述质量范围ρmass_m_check包括选定质量mcheck且大于第一四极杆的质量选择模式的质量过滤器窗口的过滤器窗口宽度wcal。在校准参数160的设定期间执行质量范围ρmass_m_check到选定质量mcheck的每一个的指派。
[0348] 施加到第一四极杆104的电极的RF电压的振幅通过函数RFfit(m,wcal)给出,且施加到第一四极杆的电极的DC电压通过函数DCfit(m,wcal)给出。
[0349] 如此,在扫描期间在离子检测器3处经由在质量分析模式中操作的第二分析仪105一个接一个地检测质量mcheck的集合Mcheck的每一质量mcheck_i(i=1、2、3、…、k),第一四极杆104在指派到选定质量mcheck_i的质量范围ρmass_m_check_i上在选择具有过滤器窗口宽度wcal的质量过滤器窗口中的质量的质量选择模式中操作为预选择分析仪。此质量范围ρmass_m_check_i包括选定质量mcheck_i且大于第一四极杆104的质量选择模式的质量过滤器窗口的过滤器窗口宽度wcal。在第一四极杆104的扫描期间,施加到第一四极杆的电极的RF电压的振幅通过函数RFfit(m,wcal)给出,且施加到第一四极杆104的电极的DC电压通过函数DCfit(m,wcal)给出。
[0350] 图9中由箭头172展示:在扫描期间在离子检测器103处经由在质量分析模式中操作的第二分析仪105个别地一个接一个检测质量mcheck的集合Mcheck的每一质量mcheck_i(i=1、2、3、…、k),第一四极杆104在指派到选定质量mcheck_i的质量范围ρmass_m_check_i上在选择具有过滤器窗口宽度wcal的质量过滤器窗口中的质量的质量选择模式中操作为预选择分析仪。
在步骤ii c)163之前,质量指标i设定成i=0。此指标在质量mcheck_i的检测之前增加i=i+
1。如此,首先针对质量mcheck_1(i=1)执行质量mcheck_i的检测。质量指标i随着由箭头172展示的每一重复而增加,使得质量mcheck_i的第二检测期间,针对质量mcheck_2(i=2)执行所述检测。此检测以所述方式重复直到质量mcheck_k(i=k)。如果i=k,那么不存在质量mcheck_i的检测的更多重复,且执行校准的下一步骤(步骤ii d,164)。如此,对于所有质量mcheck,含有质量Mcheck={mcheck_1,mcheck_2,…,mcheck_k}的质量mcheck的集合Mcheck,执行在扫描期间在离子检测器3处经由在质量分析模式中操作的第二分析仪105的检测,第一四极杆104在指派到选定质量mcheck_i的质量范围ρmass_m_check_i上在选择具有过滤器窗口宽度wcal的质量过滤器窗口中的质量的质量选择模式中操作为预选择分析仪。
[0351] 所述若干选定质量mcal中的至少一些(质量mcheck)在扫描期间在离子检测器103处经由在质量分析模式中操作的第二分析仪105来检测,第一四极杆104在指派到选定质量mcheck的质量范围ρmass_m_check上在选择具有过滤器窗口宽度wcal的质量过滤器窗口中的质量的质量选择模式中操作为预选择分析仪,所述质量范围ρmass_m_check包括选定质量mcheck且大于第一四极杆104的质量选择模式的质量过滤器窗口的过滤器窗口宽度wcal,施加到第一四极杆104的电极的RF电压的振幅由函数RFfit(m)给定,且施加到第一四极杆的电极的DC电压由函数DCfit(m)给定,
[0352] 如此,步骤ii c)163中没有校准质量mcal检查为质量mcheck。不超过校准质量mcal的三分之二,优选地不超过校准质量mcal的一半且特定来说不超过校准质量mcal的三分之一可在步骤ii c)163中检查为质量mcheck。
[0353] 步骤ii c)63中检查的质量mcheck的数目在2和15之间,优选地4和12之间,且特别优选地6和10之间。
[0354] 在图9中展示的第一四极杆104的校准的下一步骤中(步骤ii d,164),评估适配的函数RFfit(m,wcal)和DCfit(m,wcal)的检查。当施加具有由函数RFfit(m,wcal)给定的振幅的RF电压和由函数DCfit(m,wcal)给定的DC电压时,针对这些检测到的选定质量mcheck中的每一个评估选择具有过滤器窗口宽度wcal的质量过滤器窗口中的质量的第一四极杆104的质量选择模式的峰值位置位移Δm(mcheck)和过滤器窗口宽度偏差Δw(mcheck)。依据峰值位置位移Δm(m)和/或过滤器窗口宽度偏差Δw(m)的参数,将确定当在指派到来自所检测选定质量mcheck的预期质量峰值的选定质量mcheck的质量范围ρmass_m_check上扫描在选择具有过滤器窗口宽度wcal的质量过滤器窗口中的质量的质量选择模式中操作为预选择分析仪的第一四极杆104时,离子检测器103中所检测的选定质量mcheck的质量峰值的偏差有多大,此时此检测到的选定质量mcheck处于第一四极杆104的质量过滤器窗口的中心且过滤器质量窗口具有过滤器窗口宽度wcal。第一四极杆104的过滤器质量窗口在由第一四极杆104扫描质量范围ρmass_m_check期间由第二分析仪105的质量分析模式映射在离子检测器103上。此可以是第一四极杆104的质量过滤器窗口与在质量分析模式中操作的第二分析仪105的质量过滤器窗口的卷积。在质量分析模式中操作的第二质量分析仪105的质量过滤器窗口的过滤器窗口宽度w2为接近1u,优选地恰好为1u(具有通常针对根据现有技术水平的质量分析仪的容差)。
[0355] 当施加具有由函数RFfit(m,wcal)给定的振幅的RF电压和由函数DCfit(m,wcal)给定的DC电压时,针对质量mcheck的集合Mcheck的每一质量mcheck_i(i=1、2、3、…、k)评估选择具有过滤器窗口宽度wcal的质量过滤器窗口中的质量的第一四极杆104的质量选择模式的峰值位置位移Δm(mcheck_i)和过滤器窗口宽度偏差Δw(mcheck_i)。
[0356] 在适配函数RFfit(m,wcal)和DCfit(m,wcal)的检查的评估开始时,在质量范围ρmass_m_check上第一四极杆104的扫描(步骤ii c,163)之后,针对选定质量mcheck,评估当设定在RFfit(m,wcal)的振幅的第一函数和DC电压的第二函数DCfit(m,wcal)处以在第一四极杆104处施加RF电压和DC电压时离子检测器103正对于质量范围ρmass_m_check的哪些质量mset_m_check检测选定质量mcheck。
[0357] 根据此评估的结果,通过计算检测构件正在其处检测选定质量mcheck的经扫描的质量mset_m_check的中心处的质量mset_m_check_c和选定质量mcheck之间的差执行所检测的选定质量mcheck的峰值位置位移Δm(mcheck)的评估(步骤ii d))。
[0358] Δm(mcheck)=mset_m_check_c-mcheck
[0359] 类似于本发明方法的执行期间计算的所有差(Δm(…),Δw(…)),差Δm(mcheck)可具有正值和负值或在最佳案例中为零。根据正值或负值,经扫描的质量的中心处的质量mset_m_check_c可与期望值mcheck相比移位到较高值或较低值。
[0360] 根据质量mset_m_check的之前提及的评估的结果,通过依据检测构件正在其处检测选定质量mcheck的质量范围ρmass_m_check的质量mset_m_check评估过滤器窗口宽度wcheck(mcheck),且计算过滤器窗口宽度wcheck(mcheck)和对于其必须校准第一四极杆的过滤器窗口宽度wcal之间的差,来执行所检测的选定质量mcheck的过滤器窗口宽度偏差Δw(mcheck)的评估(步骤ii d))。
[0361] Δw(mcheck)=wcheck(mcheck)-wcal
[0362] 如果Δw(mcheck)具有正值,那么扫描第一四极杆104期间质量mcheck的所检测峰值太宽,且对于负值较窄。
[0363] 通过确定在质量范围ρmass_m_check上在扫描第一四极杆期间检测构件正在哪些质量mset_m_check处检测高于扫描期间由检测构件检测到的最高信号的百分比的信号,而确定来自质量mset_m_check的过滤器窗口宽度wcheck(mcheck)。优选地,此百分比为20%,且特别优选地此百分比为10%。
[0364] 在图10中展示的第一四极杆104的校准的下一步骤中(步骤ii e),165),必须界定关于校准的重复的决策。如果所检测的选定质量mcheck的峰值位置位移Δm(mcheck)和过滤器窗口宽度偏差Δw(mcheck)的所评估值并不符合校准的质量条件或如果满足另一重复条件,那么决定重复校准步骤ii a)到ii e)。依据此质量条件可确保,当具有由函数RFfit(m,wcal)给定的振幅的RF电压作为校准函数且由函数DCfit(m,wcal)给定的DC电压作为校准函数施加到第一四极杆104的电极时,峰值位置位移Δm(mcheck)并不超出阈值Δmmax,且过滤器窗口宽度偏差Δw(mcheck)并不超出阈值Δwmax。这些阈值Δmmax和Δwmax对于所有检测到的选定质量mcheck可能是相同的。可存在针对不同的检测到的选定质量mcheck_i的不同阈值Δmmax_i和Δwmax_i。
[0365] 因此,如果质量mcheck的集合Mcheck的质量mcheck_i(i=1、2、3、…、k)的峰值位置位移Δm(mcheck_i)和/或过滤器窗口宽度偏差Δw(mcheck_i)的所评估值并不符合校准的质量条件,那么决定重复校准步骤ii a)到ii e)。
[0366] 在校准步骤ii a)到ii e)的重复期间,在步骤ii a)中在第一四极杆104的质量选择模式中,使用函数RFfit(m,wcal)作为第一函数RF(m,w)且DCfit(m,wcal)作为第二函数DC(m,w)。
[0367] 待满足使得校准步骤ii a)到ii e)的重复停止的校准的质量条件为,所检测的选定质量mcheck的质量选择模式的峰值位置位移Δm(mcheck)的所有所评估值低于临界阈值Δmmax,且所测得的选定质量m的质量选择模式的过滤器窗口宽度的所有偏差Δw(mcheck)低于第二临界阈值Δwmax。
[0368] 根据决策执行校准步骤ii a)到ii e)的重复直至满足校准的所有质量条件,校准步骤ii a)到ii e)已经执行N次(Nrep=N)。
[0369] 界定校准运行的数目(在其之后校准完成)的数目N在校准参数160的设定期间设定。
[0370] 待满足使得校准步骤ii a)到ii e)的重复停止的重复条件可为,校准步骤ii a)到ii e)已重复2、3、5、7或10或20次。
[0371] 如果满足校准的所有质量条件,那么步骤ii a)到ii e)的校准完成,且然后在利用依据根据本发明的方法校准的质谱仪的测量期间将具有由函数RFfit(m,wcal)给定的振幅的RF电压作为校准函数且由函数DCfit(m,wcal)给定的DC电压作为校准函数施加到第一四极杆104的电极。如此,最后一个步骤ii b)中适配的函数RFfit(m,wcal)和DCfit(m,wcal)已经被界定为合适的校准函数,据此第一四极杆104可在选择具有过滤器窗口宽度wcal的质量过滤器窗口中的质量的质量选择模式中操作为预选择质量分析仪。
[0372] 另一方面,如果校准步骤ii a)到ii e)已经执行N次,且其后并不满足校准的所有质量条件,那么校准停止,因为其不成功。在此情况下,可再次开始用于校准质谱仪101的本发明方法,具有校准参数的不同设定,比如RF电压的振幅RFini(m,wcal)和DC电压DCini(m,wcal)的不同初始函数、用以个别地确定施加到第一四极杆104的电极的RF电压的振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的若干选定质量Mcal的新集合、对于其执行适配函数RFfit(m,wcal)和DCfit(m,wcal)的检查的质量Mcheck的新集合、使用例如经修改的适配函数或另一适配算法的新适配程序、新质量条件或校准步骤的较高数目的可能重复N。
[0373] 当校准步骤ii a)到ii e)已经执行N次之后并不满足校准的所有质量条件时,在改变校准步骤ii b)162中使用的至少一种函数以将选定质量m的函数RFfit(m,wcal)适配到对应于若干选定质量mcal的RF电压的振幅的值RFdet(mcal)且将选定质量m的函数DCfit(m,wcal)适配到对应于若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)之后,或在改变校准的质量条件中的至少一个之后,可重复第一四极杆104的校准。
[0374] 校准可在校准的N次重复之后再次开始,旨在通过改变适配到对应于若干选定质量mcal的RF电压的振幅的值RFdet(mcal)或对应于若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)的函数的种类来寻找校准函数。
[0375] 在校准步骤ii a)到ii e)已经执行N次之后并不满足校准的所有质量条件时,在质量选择模式中第一四极杆的校准开始时,在改变用于第一函数RF(m,w)的初始函数RFini(m,wcal)和用于第二函数DC(m,w)的初始函数DCini(m,wcal)的至少一个函数之后可重复第一四极杆104的校准。在此实施例中,校准在校准的N次重复之后再次开始,旨在通过以至少经改变的初始函数RFini(m,wcal)或DCini(m,wcal)再次开始校准来寻找校准函数。
[0376] 针对2u和30u之间的范围内、优选地5u和20u之间的范围内且特别优选地8u和15u之间的范围内的过滤器窗口宽度wcal的不同值可重复依据本发明方法在质量选择模式中校准第一四极杆4的步骤ii)若干次。
[0377] 用于校准图7中展示的质谱仪的第一实施例的所主张的方法的第二实施例以流程图详细说明,所述流程图详细展示第一四极杆的校准的步骤(步骤ii,22)。为了展示所述方法的大量细节的流程图更加清晰,下部图表分成三个部分(部分1、2和3),其在单独图11、12和13中展示。显然,将一个接一个执行所述方法的不同步骤,其遵循流程图的框之间的箭头。如此,不管由平行于以上展示的流程图的框延伸的箭头展示的若干步骤的重复如何,执行不同步骤,从每一图的顶部开始到图的底部,且在执行一个图的步骤之后,再次从随后图的顶部到底部执行随后的图的步骤。在执行图11的步骤之后执行图12的步骤,且在执行图12的步骤之后执行图13的步骤。举例来说,更详细地说,执行图11的底部处的步骤(步骤ii b),随后执行图12的顶部处的步骤(步骤ii c)。此还由图12中步骤ii c)的框上方的箭头
270展示,箭头270的箭头头部指向步骤ii c)的框。
[0378] 在开始第一四极杆104的校准之前,存在用于校准的校准参数260的设定。在此设定期间,设定质量过滤器窗口的过滤器窗口宽度wcal,对于所述质量过滤器窗口将校准第一四极杆104的质量选择模式。在本发明方法的第二实施例中,过滤器窗口宽度wcal设定为值10u(wcal=10u)。
[0379] 在质量选择模式中第一四极杆104的校准开始时,初始函数RFini(m,wcal)用于第一函数RF(m,wcal),且初始函数DCini(m,wcal)用于第二函数DC(m,wcal)。这些初始函数在校准参数260的设定期间设定。
[0380] 在针对将由第一四极杆104在质量选择模式中选择的8个选定质量mcal校准第一四极杆的第一步骤(步骤ii a),261)中,确定必须施加到第一四极杆104的电极的RF电压的振幅和DC电压使得由第一四极杆104在具有既定过滤器窗口宽度wcal=10u的质量过滤器窗口的中部选择质量mcal。
[0381] 此确定个别地针对若干选定质量mcal中的每一个一个接一个地执行。这些若干选定质量mcal是用于界定RF电压的振幅和DC电压的合适的值的参考点的校准质量。这些若干选定质量mcal在校准参数60的设定期间在参数集中界定。如此,若干个(8个)校准质量界定为所述若干选定质量。因此,所界定的校准质量产生含有质量m1、m2、m3、…、m8的校准质量mcal的集合Mcal。
[0382] mcal∈Mcal={m1,m2,…,m8}
[0383] 对于8个选定质量mcal中的每一个,确定RF电压的振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)。如果对应RF电压和DC电压施加到第一四极杆的电极,那么由第一四极杆104在中部具有选定质量mcal和过滤器窗口宽度wcal的质量过滤器窗口中选择质量。如此,对于校准质量mcal的集合Mcal的每一质量mj(j=1、2、3、…、8),确定RF电压的振幅的对应值RFdet(mj)和DC电压的值DCdet(mj)。
[0384] 个别地针对若干选定质量mcal中的每一个一个接一个执行所述确定,在图11中由箭头271展示。在步骤ii a)261之前,将质量指标j设定成j=0。此指标在RF电压的振幅的值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的确定之前增加j=j+1。如此,首先针对质量m1(j=1)执行所述确定。质量指标j随着由箭头271展示的每一重复而增加,使得在RF电压的振幅的值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的第二确定期间针对质量m2(j=2)执行所述确定。此确定以所述方式重复,一直到质量m8(j=8)。如果j=8,那么不存在RF电压的振幅的值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的确定的更多重复,且执行校准的下一步骤(步骤ii b,262)。如此,对于所有若干选定质量mcal,含有质量m1、m2、m3、…、m8的校准质量mcal的集合Mcal,执行RF电压的振幅的值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的确定。
[0385] 在到选定质量mcal的RF电压的振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的个别确定期间,第二质量分析仪105正过滤选定质量mcal。在此确定期间,第二四极杆105设定成通过选择具有0,75u的过滤器窗口宽度w2的质量过滤器窗口中的质量m来过滤选定质量mcal。
[0386] 在到选定质量mcal的RF电压的振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的个别确定期间,在包括选定质量mcal的质量范围ρmass上扫描第一四极杆104,针对质量范围ρmass的质量m根据第一函数RF(m,wcal)和第二函数DC(m,wcal)将RF振幅和DC电压施加到第一四极杆的电极。在质量范围ρmass上第一四极杆104的扫描之后,可评估当设定在RF的振幅的第一函数(m,wcal)和DC电压的第二函数DC(m,wcal)处以在第一四极杆104处施加RF电压和DC电压时,离子检测器103正针对质量范围ρmass的哪些质量mset检测选定质量mcal。
[0387] 当到选定质量mcal的RF电压的振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的个别确定期间选定质量mcal未由第二分析仪105发射且由离子检测器3检测到时,第一四极杆104的过滤器窗口宽度w增加。第一四极杆104的过滤器窗口宽度w加倍。
[0388] 此外,在第一四极杆104的过滤器窗口宽度w延长之后,当到选定质量mcal的RF电压的振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的个别确定期间选定质量mcal未由第二分析仪105检测到时,施加到第一四极杆104的电极的DC电压逐步地减小直至选定质量mcal由第二分析仪105检测到为止。
[0389] 确切地说,施加到第一四极杆104的电极的DC电压逐步地减小,在于:在界定DC电压的第二函数DC(m,w)中,恒定偏移值DCoffset逐步地降低直至选定质量mcal由第二分析仪105和检测构件103检测到为止。
[0390] 如果归因于这些条件选定质量mcal由第二分析仪105和离子检测器103检测到,那么第二函数DC(m,w)的恒定偏移值DCoffset逐步地增加直至第一四极杆104的过滤器窗口宽度w低于待校准的质量选择模式的过滤器窗口宽度wmin,此时选定质量mcal由第二分析仪105分析且由离子检测器103检测到,且选定质量mcal的峰值宽度w大于第一最大峰值宽度wmax。
[0391] 在离子检测器103正在质量范围ρmass的哪些质量mset处检测选定质量mcal的评估之后,确定是否检测到质量mcal的整个峰值。此仅在质量范围ρmass的两个边界处检测到无真实质量信号的情况下给定,这意味着仅信号(噪声信号)由离子检测器103检测到。如果在质量范围的边界中的一个处未检测到真实质量信号,那么质量mcal的峰值必须移位。此通过将偏移值RFoffset和DCoffset相加到RF的振幅的第一函数(m,w)和DC电压的第二函数DC(m,w)以在第一四极杆104处施加RF电压和DC电压来进行。如果在两个边界处检测到真实质量信号,那么质量mcal的峰值比质量范围ρmass广,且已经首先通过以下操作而变窄:将正偏移值DCoffset相加到DC电压的第二函数DC(m,w)以在第一四极杆104处施加DC电压。
[0392] 如果检测到质量mcal的整个峰值,那么可评估选定质量mcal的峰值位置位移Δm(mcal)。选定质量mcal的峰值位置位移Δm(mcal)的评估可通过计算离子检测器103正检测选定质量mcal所处的质量mset的中心处的质量mset_c和选定质量mcal之间的差来执行。
[0393] 在到选定质量mcal的RF电压的振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的个别确定期间,通过取决于选定质量mcal的峰值位置位移Δm(mcal)改变对应于选定质量mcal的第一函数RF(mcal,wcal)的值和/或第二函数DC(mcal、wcal)的值来进行选定质量mcal的RF电压的振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压DCdet(mcal)的个别界定(步骤ii a),261)。可通过将选定质量mcal的峰值位置位移Δm(mcal)的值乘以对应于RF电压的振幅RFfactorp_shift和/或DC电压DCfactorp_shift的因子相加到对应于选定质量mcal的第一函数RF(mcal,wcal)的值和/或第二函数DC(mcal,wcal)的值来进行选定质量mcal的RF电压的振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的此个别界定。
[0394] RF(mcal,wcal)new=RF(mcal,wcal)+RFfactorp_shift*Δm(mcal)
[0395] DC(mcal,wcal)new=DC(mcal,wcal)+DCfactorp_shift*Δm(mcal)
[0396] 确切地说,可通过将选定质量mcal的峰值位置位移Δm(mcal)的值乘以第一函数RF(m,wcal)的线性因子RFlinear相加到对应于选定质量mcal的第一函数RF(mcal,wcal)的值来进行选定质量mcal的RF电压的振幅的对应值RFdet(mcal)的个别界定。
[0397] RF(mcal,wcal)new=RF(mcal,wcal)+RFlinear*Δm(mcal)
[0398] 第一函数RF(m,wcal)的线性因子RFlinear是与质量m相乘的因子,条件是不同函数的求和以及经求和函数中的一个中的函数RF(m,wcal)是线性函数。
[0399] RF(m,wcal)=RFlinear*m+f1(m)+f2(m)+…
[0400] 确切地说,可通过将选定质量mcal的峰值位置位移Δm(mcal)的值乘以第二函数DC(m,wcal)的线性因子DClinear除以第一函数RF(m,wcal)的线性因子RFlinear相加到对应于选定质量mcal的第二函数DC(mcal,wcal)的值来进行选定质量mcal的对应DC电压DCdet(mcal)的个别界定。
[0401] DC(mcal,wcal)new=DC(mcal,wcal)+DClinear/RFlinear*Δm(mcal)
[0402] 第二函数DC(m,wcal)的线性因子DClinear是与质量m相乘的因子,条件是不同函数的求和中的函数DC(m,wcal)以及经求和函数中的一个是线性函数。
[0403] DC(m,wcal)=DClinear*m+f1(m)+f2(m)+…
[0404] 在检测构件正在质量范围ρmass的哪些质量mset处检测选定质量mcal的评估之后,评估选定质量mcal的过滤器窗口宽度偏差Δw(mcal)。通过评估设定在RF的振幅的第一函数(m,wcal)和DC电压的第二函数DC(m,wcal)处以在第一四极杆104处施加RF电压和DC电压的对于其检测构件正检测选定质量mcal的质量mset的质量范围ρmassdetect(mcal),且计算质量范围ρmassdetect(mcal)和对于其必须校准第一四极杆的过滤器窗口宽度wcal之间的差Δw(mcal),来执行选定质量mcal的过滤器窗口宽度偏差Δw(mcal)的评估。
[0405] Δw(mcal)=ρmassdetect(mcal)-wcal
[0406] 通过评估设定在RF的振幅的第一函数(m,wcal)和DC电压的第二函数DC(m,wcal)处以在第一四极杆处施加RF电压和DC电压的对于其离子检测器103正检测高于由检测构件检测到的最高信号的百分比的信号的质量mset,来执行质量范围ρmassdetect(mcal)的评估。通过评估设定在RF的振幅的第一函数(m,wcal)和DC电压的第二函数DC(m,wcal)处以在第一四极杆104处施加RF电压和DC电压的对于其检测构件正检测高于由检测构件检测到的最高信号的20%的信号的质量mset,来执行质量范围ρmassdetect(mcal)的评估。
[0407] 在到选定质量mcal的RF电压的振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的个别确定期间,通过取决于选定质量mcal的过滤器窗口宽度偏差Δw(mcal)改变对应于选定质量mcal的第一函数RF(mcal,wcal)的值和第二函数DC(mcal,wcal)的值来进行选定质量mcal的RF电压的振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压DCdet(mcal)的个别界定(步骤ii a),261)。
[0408] 确切地说,通过将选定质量mcal的过滤器窗口宽度偏差Δw(mcal)的值乘以对应于RF电压Δw-factorRF和/或DC电压Δw-factorDC的因子相加到对应于选定质量mcal的第一函数RF mcal,wcal)的值和/或第二函数DC(mcal,wcal)的值来进行选定质量mcal的RF电压的振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的个别确定。
[0409] RF(mcal,wcal)new=RF(mcal,wcal)+Δw-factorRF*Δw(mcal)
[0410] DC(mcal,wcal)new=DC(mcal,wcal)+Δw-factorDC*Δw(mcal)
[0411] 确切地说,通过将选定质量mcal的过滤器窗口宽度偏差Δw(mcal)的值乘以第二函数DC(m,wcal)的线性因子DClinear除以第一函数RF(m,wcal)的线性因子RFlinear相加到对应于选定质量mcal的第一函数RF(mcal,wcal)的值来进行选定质量mcal的RF电压的振幅的对应值RFdet(mcal)的个别确定。
[0412] RF(mcal,wcal)new=RF(mcal,wcal)+DClinear/RFlinear*Δw(mcal)
[0413] 优选地针对两个选定质量mcoarse个别地确定RF电压的振幅的对应值RFdet(mcoarse)和DC电压的值DCdet(mcoarse),随后针对8个选定质量mcal个别地确定RF电压的振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)(步骤ii a,261))。确切地说,对于其在针对若干选定质量mcal个别地确定RF电压的振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)之前个别地确定RF电压的振幅的对应值RFdet(mcoarse)和DC电压的值DCdet(mcoarse)的两个选定质量mcoarse是分子16O40Ar和40Ar40Ar的质量。
[0414] 在针对两个选定质量mcoarse个别地确定RF电压的振幅的对应值RFdet(mcoarse)和DC电压的值DCdet(mcoarse)之后,选定质量m的函数RFcoarse(m,wcal)可通过改变初始函数RFini(m,wcal)的线性因子RFlinear和恒定偏移值RFoffset而适配到对应于两个选定质量mcoarse的RF电压的振幅的值RFdet(mcoarse),且选定质量m的函数DCcoarse(m,wcal)可通过改变初始函数DCini(m,wcal)的线性因子DClinear和恒定偏移值DCoffset而适配到对应于两个选定质量mcoarse的DC电压的值DCdet(mcoarse)。
[0415] 在图11中展示的第一四极杆的校准的下一步骤中(步骤ii b),262),函数适配到在之前描述的步骤中针对校准质量确定的参考点。将选定质量m的函数RFfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的RF电压的振幅的值RFdet(mcal),且将选定质量m的函数DCfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)。选定质量m的函数RFfit(m,wcal)适配到校准质量mcal的集合Mcal的每一质量mj(j=1、2、3、…、8)的RF电压的振幅的值RFdet(mj)。选定质量m的函数DCfit(m,wcal)适配到校准质量mcal的集合Mcal的每一质量mj(j=1、2、3、…、8)的DC电压的值DCdet(mj)。
[0416] 大体来说,存在将选定质量m的函数RFfit(m,wcal)适配到对应于若干选定质量mcal的RF电压的振幅的所确定值RFdet(mcal)且将选定质量m的函数DCfit(m,wcal)适配到对应于若干选定质量mcal的DC电压的所确定值DCdet(mcal)的各种方法。
[0417] 在选定质量m的函数RFfit(m,wcal)适配到对应于若干选定质量mcal的RF电压的振幅的值RFdet(mcal)以及选定质量m的函数DCfit(m,wcal)适配到对应于若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)的所使用的方法中(步骤ii b),262),函数RFfit(m,wcal)为恒定值RFoffsetfit、选定质量m的线性函数、选定质量m的二次函数和指数为选定质量m的不同线性函数的两个指数函数的求和,且函数DCfit(m,wcal)为恒定值DCoffsetfit、选定质量m的线性函数、选定质量m的二次函数和指数为选定质量m的不同线性函数的两个指数函数的求和。
[0418] 在选定质量m的函数RFfit(m,wcal)适配到对应于若干选定质量mcal的RF电压的振幅的值RFdet(mcal)以及选定质量m的函数DCfit(m,wcal)适配到对应于若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)的优选使用的方法中(步骤ii b),262),在第一步骤中恒定值RFoffsetfit和选定质量m的线性函数的求和针对函数RFfit(m,wcal)适配,且恒定值DCoffsetfit和选定质量m的线性函数的求和针对函数DCfit(m,wcal)适配,且在第二步骤中函数RFfit(m,wcal)通过将恒定值、选定质量m的二次函数和指数为选定质量m的不同线性函数的两个指数函数的求和相加到第一步骤中适配的恒定值RFoffsetfit和选定质量m的线性函数的求和来适配,且函数DCFfit(m,wcal)通过将恒定值、选定质量m的二次函数和指数为选定质量m的不同线性函数的两个指数函数的求和相加到第一步骤中适配的恒定值DCoffsetfit和选定质量m的线性函数的求和来适配。
[0419] 选定质量m的函数RFfit(m,wcal)到对应于若干选定质量mcal的RF电压的振幅的值RFdet(mcal)的适配以及选定质量m的函数DCfit(m,wcal)到对应于若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)的适配(步骤ii b),262)可通过多项式适配、三次样条适配或非线性最小平方适配的方法进行。
[0420] 在图12中展示的第一四极杆的校准的下一步骤中(步骤ii c),263),检查以上步骤(步骤ii b),262)中适配的函数的适配。针对若干选定质量mcheck的至少一些执行此检查。这些质量mcheck属于对于其在以上步骤ii a)161中已确定RF电压和DC电压的8个质量mcal。在校准参数160的设定期间设定对于8个选定质量mcheck中的哪些执行所述检查。
[0421] 针对对于其在以上步骤ii a)261中已确定RF电压和DC电压的一些质量mcal执行所述检查。如此,对于其执行检查的质量mcheck的集合Mcheck为校准质量mcal的集合Mcal的子集。
[0422] mcheck∈Mcheck;McheckСMcal
[0423] 如果对于6个质量mcheck执行所述检查,那么质量mcheck的集合Mcheck为:
[0424] Mcheck={mcheck_1,mcheck_2,…,mcheck_6}
[0425] 如此,对于质量mcheck的集合Mcheck的每一质量mcheck_i(i=1、2、3、…、6),执行所述检查。
[0426] 在扫描期间在离子检测器103处经由在质量分析模式中操作的第二分析仪105来检测对于其执行所述检查的质量mcheck,第一四极杆104在指派到质量mcheck的质量范围ρmass_m_check上在选择具有过滤器窗口宽度wcal的质量过滤器窗口中的质量的质量选择模式中操作为预选择分析仪,所述质量范围ρmass_m_check包括选定质量mcheck且大于第一四极杆的质量选择模式的质量过滤器窗口的过滤器窗口宽度wcal。在校准参数260的设定期间执行质量范围ρmass_m_check到选定质量mcheck的每一个的指派。
[0427] 施加到第一四极杆104的电极的RF电压的振幅通过函数RFfit(m,wcal)给出,且施加到第一四极杆的电极的DC电压通过函数DCfit(m,wcal)给出。
[0428] 如此,在扫描期间在离子检测器3处经由在质量分析模式中操作的第二分析仪105一个接一个地检测质量mcheck的集合Mcheck的每一质量mcheck_i(i=1、2、3、…、6),第一四极杆104在指派到选定质量mcheck_i的质量范围ρmass_m_check_i上在选择具有过滤器窗口宽度wcal的质量过滤器窗口中的质量的质量选择模式中操作为预选择分析仪。此质量范围ρmass_m_check_i包括选定质量mcheck_i且大于第一四极杆104的质量选择模式的质量过滤器窗口的过滤器窗口宽度wcal。在第一四极杆104的扫描期间,施加到第一四极杆的电极的RF电压的振幅通过函数RFfit(m,wcal)给出,且施加到第一四极杆104的电极的DC电压通过函数DCfit(m,wcal)给出。
[0429] 图9中由箭头272展示:在扫描期间在离子检测器103处经由在质量分析模式中操作的第二分析仪105个别地一个接一个检测质量mcheck的集合Mcheck的每一质量mcheck_i(i=1、2、3、…、6),第一四极杆104在指派到选定质量mcheck_i的质量范围ρmass_m_check_i上在选择具有过滤器窗口宽度wcal的质量过滤器窗口中的质量的质量选择模式中操作为预选择分析仪。
在步骤ii c)263之前,质量指标i设定成i=0。此指标在质量mcheck_i的检测之前增加i=i+
1。如此,首先针对质量mcheck_1(i=1)执行质量mcheck_i的检测。质量指标i随着由箭头272展示的每一重复而增加,使得质量mcheck_i的第二检测期间,针对质量mcheck_2(i=2)执行所述检测。此检测以所述方式重复直到质量mcheck_6(i=6)。如果i=6,那么不存在质量mcheck_i的检测的更多重复,且执行校准的下一步骤(步骤ii d,264)。如此,对于所有质量mcheck,含有质量Mcheck={mcheck_1,mcheck_2,…,mcheck_6}的质量mcheck的集合Mcheck,执行在扫描期间在离子检测器3处经由在质量分析模式中操作的第二分析仪105的检测,第一四极杆104在指派到选定质量mcheck_i的质量范围ρmass_m_check_i上在选择具有过滤器窗口宽度wcal的质量过滤器窗口中的质量的质量选择模式中操作为预选择分析仪。
[0430] 所述若干选定质量mcal中的至少一些(质量mcheck)在扫描期间在离子检测器103处经由在质量分析模式中操作的第二分析仪105来检测,第一四极杆104在指派到选定质量mcheck的质量范围ρmass_m_check上在选择具有过滤器窗口宽度wcal的质量过滤器窗口中的质量的质量选择模式中操作为预选择分析仪,所述质量范围ρmass_m_check包括选定质量mcheck且大于第一四极杆104的质量选择模式的质量过滤器窗口的过滤器窗口宽度wcal,施加到第一四极杆104的电极的RF电压的振幅由函数RFfit(m)给定,且施加到第一四极杆的电极的DC电压由函数DCfit(m)给定,
[0431] 如此,步骤ii c)263中并非所有校准质量mcal检查为质量mcheck。
[0432] 在图12中展示的第一四极杆104的校准的下一步骤中(步骤ii d,264),评估适配的函数RFfit(m,wcal)和DCfit(m,wcal)的检查。当施加具有由函数RFfit(m,wcal)给定的振幅的RF电压和由函数DCfit(m,wcal)给定的DC电压时,针对这些检测到的6个选定质量mcheck中的每一个评估选择具有过滤器窗口宽度wcal的质量过滤器窗口中的质量的第一四极杆104的质量选择模式的峰值位置位移Δm(mcheck)和过滤器窗口宽度偏差Δw(mcheck)。依据峰值位置位移Δm(m)和/或过滤器窗口宽度偏差Δw(m)的参数,将确定当在指派到来自所检测选定质量mcheck的预期质量峰值的选定质量mcheck的质量范围ρmass_m_check上扫描在选择具有过滤器窗口宽度wcal的质量过滤器窗口中的质量的质量选择模式中操作为预选择分析仪的第一四极杆104时,离子检测器103中所检测的选定质量mcheck的质量峰值的偏差有多大,此时此检测到的选定质量mcheck处于第一四极杆104的质量过滤器窗口的中心且过滤器质量窗口具有过滤器窗口宽度wcal。第一四极杆104的过滤器质量窗口在由第一四极杆104扫描质量范围ρmass_m_check期间由第二分析仪105的质量分析模式映射在离子检测器103上。此可以是第一四极杆104的质量过滤器窗口与在质量分析模式中操作的第二分析仪105的质量过滤器窗口的卷积。在质量分析模式中操作的第二质量分析仪105的质量过滤器窗口的过滤器窗口宽度w2为0,75u。
[0433] 当施加具有由函数RFfit(m,wcal)给定的振幅的RF电压和由函数DCfit(m,wcal)给定的DC电压时,针对质量mcheck的集合Mcheck的每一质量mcheck_i(i=1、2、3、…、6)评估选择具有过滤器窗口宽度wcal的质量过滤器窗口中的质量的第一四极杆104的质量选择模式的峰值位置位移Δm(mcheck_i)和过滤器窗口宽度偏差Δw(mcheck_i)。
[0434] 在适配函数RFfit(m,wcal)和DCfit(m,wcal)的检查的评估开始时,在质量范围ρmass_m_check上第一四极杆104的扫描(步骤ii c,263)之后,针对选定质量mcheck,评估当设定在RFfit(m,wcal)的振幅的第一函数和DC电压的第二函数DCfit(m,wcal)处以在第一四极杆104处施加RF电压和DC电压时离子检测器103正对于质量范围ρmass_m_check的哪些质量mset_m_check检测选定质量mcheck。
[0435] 根据此评估的结果,通过计算检测构件正在其处检测选定质量mcheck的经扫描的质量mset_m_check的中心处的质量mset_m_check_c和选定质量mcheck之间的差执行所检测的选定质量mcheck的峰值位置位移Δm(mcheck)的评估(步骤ii d))。
[0436] Δm(mcheck)=mset_m_check_c-mcheck
[0437] 类似于本发明方法的执行期间计算的所有差(Δm(…),Δw(…)),差Δm(mcheck)可具有正值和负值或在最佳案例中为零。根据正值或负值,经扫描的质量的中心处的质量mset_m_check_c可与期望值mcheck相比移位到较高值或较低值。
[0438] 根据质量mset_m_check的之前提及的评估的结果,通过依据检测构件正在其处检测选定质量mcheck的质量范围ρmass_m_check的质量mset_m_check评估过滤器窗口宽度wcheck(mcheck),且计算过滤器窗口宽度wcheck(mcheck)和对于其必须校准第一四极杆的过滤器窗口宽度wcal之间的差,来执行所检测的选定质量mcheck的过滤器窗口宽度偏差Δw(mcheck)的评估(步骤ii d),264)。
[0439] Δw(mcheck)=wcheck(mcheck)-wcal
[0440] 如果Δw(mcheck)具有正值,那么扫描第一四极杆104期间质量mcheck的所检测峰值太宽,且对于负值较窄。
[0441] 通过确定在质量范围ρmass_m_check上在扫描第一四极杆期间检测构件正在哪些质量mset_m_check处检测高于扫描期间由检测构件检测到的最高信号的20%的信号,而确定来自质量mset_m_check的过滤器窗口宽度wcheck(mcheck)。
[0442] 在图13中展示的第一四极杆104的校准的下一步骤中(步骤ii e),265),必须界定关于校准的重复的决策。如果所检测的6个选定质量mcheck的峰值位置位移Δm(mcheck)和过滤器窗口宽度偏差Δw(mcheck)的所评估值并不符合校准的质量条件或如果满足另一重复条件,那么决定重复校准步骤ii a)到ii e)。依据此质量条件可确保,当具有由函数RFfit(m,wcal)给定的振幅的RF电压作为校准函数且由函数DCfit(m,wcal)给定的DC电压作为校准函数施加到第一四极杆104的电极时,峰值位置位移Δm(mcheck)并不超出阈值Δmmax,且过滤器窗口宽度偏差Δw(mcheck)并不超出阈值Δwmax。这些阈值Δmmax和Δwmax对于所有检测到的6个质量mcheck是相同的。其具有值Δmmax=0,2u和Δwmax=0,4u。
[0443] 因此,如果质量mcheck的集合Mcheck的质量mcheck_i(i=1、2、3、…、6)的峰值位置位移Δm(mcheck_i)和过滤器窗口宽度偏差Δw(mcheck_i)的所评估值并不符合校准的质量条件,那么决定重复校准步骤ii a)到ii e)。
[0444] 在校准步骤ii a)到ii e)的重复期间,在步骤ii a)中在第一四极杆104的质量选择模式中,使用函数RFfit(m,wcal)作为第一函数RF(m,w)且DCfit(m,wcal)作为第二函数DC(m,w)。
[0445] 待满足使得校准步骤ii a)到ii e)的重复停止的校准的质量条件为,所检测的选定质量mcheck的质量选择模式的峰值位置位移Δm(mcheck)的所有所评估值低于临界阈值Δmmax,且所测得的选定质量m的质量选择模式的过滤器窗口宽度的所有偏差Δw(mcheck)低于第二临界阈值Δwmax。
[0446] 根据决策执行校准步骤ii a)到ii e)的重复直至满足校准的所有质量条件,校准步骤ii a)到ii e)已经执行10次(Nrep=10)。界定校准运行的数目(在其之后校准完成)的数目N在校准参数260的设定期间设定为值N=10。
[0447] 如果满足校准的所有质量条件,那么步骤ii a)到ii e)的校准完成,且然后在利用依据根据本发明的方法校准的质谱仪的测量期间将具有由函数RFfit(m,wcal)给定的振幅的RF电压作为校准函数且由函数DCfit(m,wcal)给定的DC电压作为校准函数施加到第一四极杆104的电极。如此,最后一个步骤ii b)262中适配的函数RFfit(m,wcal)和DCfit(m,wcal)已经被界定为合适的校准函数,据此第一四极杆104可在选择具有过滤器窗口宽度wcal的质量过滤器窗口中的质量的质量选择模式中操作为预选择质量分析仪。
[0448] 另一方面,如果校准步骤ii a)到ii e)已经执行6次,且其后并不满足校准的所有质量条件,那么校准停止,因为其不成功。在此情况下,可再次开始用于校准质谱仪101的本发明方法,具有校准参数的不同设定,比如RF电压的振幅RFini(m,wcal)和DC电压DCini(m,wcal)的不同初始函数、用以个别地确定施加到第一四极杆104的电极的RF电压的振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的若干选定质量Mcal的新集合、对于其执行适配函数RFfit(m,wcal)和DCfit(m,wcal)的检查的质量Mcheck的新集合、使用例如经修改的适配函数或另一适配算法的新适配程序、新质量条件或校准步骤的较高数目的可能重复N。
[0449] 当校准步骤ii a)到ii e)已经执行6次之后并不满足校准的所有质量条件时,在改变校准步骤ii b)262中使用的至少一种函数以将选定质量m的函数RFfit(m,wcal)适配到对应于若干选定质量mcal的RF电压的振幅的值RFdet(mcal)且将选定质量m的函数DCfit(m,wcal)适配到对应于若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)之后,或在改变校准的质量条件中的至少一个之后,可重复第一四极杆4的校准。
[0450] 校准可在校准的6次重复之后再次开始,旨在通过改变适配到对应于若干选定质量mcal的RF电压的振幅的值RFdet(mcal)或对应于若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)的函数的种类来寻找校准函数。
[0451] 在校准步骤ii a)到ii e)已经执行6次之后并不满足校准的所有质量条件时,在质量选择模式中第一四极杆的校准开始时,在改变用于第一函数RF(m,w)的初始函数RFini(m,wcal)和用于第二函数DC(m,w)的初始函数DCini(m,wcal)的至少一个函数之后可重复第一四极杆104的校准。在此实施例中,校准在校准的6次重复之后再次开始,旨在通过以至少经改变的初始函数RFini(m,wcal)或DCini(m,wcal)再次开始校准来寻找校准函数。
[0452] 针对2u和30u之间的范围内、优选地5u和20u之间的范围内且特别优选地8u和15u之间的范围内的过滤器窗口宽度wcal的不同值可重复依据本发明方法在质量选择模式中校准第一四极杆4的步骤ii)22若干次。
[0453] 以下是本申请的示例:
[0454] 示例1.一种用于校准质谱仪的方法,所述质谱仪包括离子源、作为第一四极杆的第一质量分析仪、第二质量分析仪和用以检测离子的检测构件,其中从所述离子源射出的离子可在轨道上移动到所述检测构件,通过两个质量分析仪,其中其首先通过所述第一四极杆且然后通过所述第二质量分析仪或反之亦然,所述第一四极杆在选择具有过滤器窗口宽度w的质量过滤器窗口中的质量的质量选择模式中可操作为预选择质量分析仪,其中RF电压和DC电压施加到所述第一四极杆的电极,所述RF电压的振幅为选定质量m和所述过滤器窗口宽度w的第一函数RF(m,w),且所述DC电压为所述选定质量m和所述过滤器窗口宽度w的第二函数DC(m,w),所述方法包括以下步骤:
[0455] i)在第一时间t1校准所述第二质量分析仪,
[0456] ii)在比在质量分析模式中操作所述第二质量分析仪的所述第一时间t1稍后的第二时间t2处在选择具有所述过滤器窗口宽度wcal的所述质量过滤器窗口中的质量的所述质量选择模式中校准所述第一四极杆,包括以下步骤:
[0457] ii a)个别地针对若干选定质量mcal中的每一个确定施加到所述第一四极杆的所述电极的所述RF电压的振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal),
[0458] ii b)将所述选定质量m的函数RFfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的所述值RFdet(mcal),且将所述选定质量m的函数DCfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的DC电压的所述值DCdet(mcal),
[0459] ii c)对于一些质量和/或所述若干选定质量mcheck中的至少一些,在扫描期间在所述检测构件处经由在质量分析模式中操作的所述第二分析仪来检测所述选定质量mcheck,所述第一四极杆在指派到所述质量mcheck的质量范围ρmass_m_check上在选择具有所述过滤器窗口宽度wcal的所述质量过滤器窗口中的质量的所述质量选择模式中操作为预选择分析仪,所述质量范围ρmass_m_check包括所述质量mcheck且大于所述第一四极杆的所述质量选择模式的所述质量过滤器窗口的所述过滤器窗口宽度wcal,施加到所述第一四极杆的所述电极的所述RF电压的所述振幅由所述函数RFfit(m,wcal)给定,且施加到所述第一四极杆的所述电极的所述DC电压由所述函数DCfit(m,wcal)给定,
[0460] ii d)当施加具有由所述函数RFfit(m,wcal)给定的所述振幅的所述RF电压和由所述函数DCfit(m,wcal)给定的所述DC电压时,针对这些检测到的质量mcheck中的每一个评估选择具有所述过滤器窗口宽度wcal的所述质量过滤器窗口中的质量的所述第一四极杆的所述质量选择模式的峰值位置Δm(mcheck)和/或过滤器窗口宽度偏差Δw(mcheck),
[0461] ii e)如果所述所检测质量mcheck的所述峰值位置位移Δm(mcheck)和/或所述过滤器窗口宽度Δw偏差(mcheck)的所述所评估值并不符合所述校准的质量条件,或如果满足另一重复条件,那么重复校准步骤ii a)到ii e),在步骤ii a)中在所述第一四极杆的所述质量选择模式中使用所述函数RFfit(m,wcal)作为第一函数RF(m,w),且DCfit(m,wcal)作为第二函数DC(m,w),直至满足所述校准的所有质量条件且不满足重复条件或所述校准步骤ii a)到ii e)已经执行N次。
[0462] 示例2.根据示例1所述的方法,其中所述第一四极杆还可在非选择性发射模式中操作。
[0463] 示例3.根据示例1所述的方法,其中所述质谱仪的所述检测构件是与所述第二质量分析仪分离的检测器。
[0464] 示例4.根据示例1所述的方法,其中所述检测构件正检测由所述离子引发的图像电流。
[0465] 示例5.根据示例3所述的方法,其中所述第二质量分析仪是第二四极杆。
[0466] 示例6.根据示例5所述的方法,其中所述第二四极杆还可在非选择性发射模式中操作。
[0467] 示例7.根据示例5所述的方法,其中所述质谱仪包括第三四极杆。
[0468] 示例8.根据示例7所述的方法,其中在所述质量选择模式中所述第一四极杆的所述校准期间,所述第三四极杆在发射模式中操作。
[0469] 示例9.根据示例7所述的方法,其中所述第三四极杆可在质量选择模式中操作。
[0470] 示例10.根据示例3所述的方法,其中所述第二质量分析仪是飞行时间质量分析仪。
[0471] 示例11.根据示例1所述的方法,其中所述第二质量分析仪是离子阱。
[0472] 示例12.根据示例11所述的方法,其中所述第二质量分析仪是轨道阱。
[0473] 示例13.根据示例11所述的方法,其中所述第二质量分析仪是离子回旋共振单元。
[0474] 示例14.根据示例3所述的方法,其中所述第二质量分析仪是磁性和/或电扇区分析仪。
[0475] 示例15.根据示例1所述的方法,其中所述质谱仪包括反应单元,所述反应单元位于所述第一四极杆和所述第二质量分析仪之间且由从离子源射出的所述离子通过,所述离子可在轨道上移动到所述检测构件。
[0476] 示例16.根据示例15所述的方法,其中所述反应单元是碰撞和/或分段单元。
[0477] 示例17.根据示例15所述的方法,其中所述反应单元中的反应是电子俘获解离或电子转移解离。
[0478] 示例18.根据示例15所述的方法,其中所述反应单元包括四极杆。
[0479] 示例19.根据示例15所述的方法,其中所述反应单元包括六极杆、八极杆、高阶多极杆装置或堆叠环状离子导引件。
[0480] 示例20.根据示例1所述的方法,其中在所述第二质量分析仪的所述校准期间(步骤i)),所述第一四极杆在其中离子未质量选定的发射模式中操作。
[0481] 示例21.根据示例20所述的方法,其中在所述第一四极杆的所述发射模式中,仅所发射质量mtrans的具有由函数RFtrans(mtrans)给定的振幅的RF电压施加到所述第一四极杆。
[0482] 示例22.根据示例18所述的方法,其中在所述第二质量分析仪的所述校准期间(步骤i)),所述反应单元的所述四极杆在发射模式中操作。
[0483] 示例23.根据示例22所述的方法,其中在所述反应单元的所述四极杆的所述发射模式中,仅所发射质量mtrans的具有由函数RFRC,trans(mtrans)给定的振幅的RF电压施加到所述反应单元的所述四极杆。
[0484] 示例24.根据示例19所述的方法,其中仅所发射质量mtrans的具有由函数RFRC,trans(mtrans)给定的振幅的RF电压施加到所述反应单元的所述六极杆、所述八极杆、所述高阶多极杆装置或所述堆叠环状离子导引件。
[0485] 示例25.根据示例1所述的方法,其中在所述质量选择模式中校准所述第一四极杆以具有2u和30u之间的过滤器窗口宽度wcal。
[0486] 示例26.根据示例25所述的方法,其中在所述质量选择模式中校准所述第一四极杆以具有5u和20u之间的过滤器窗口宽度wcal。
[0487] 示例27.根据示例25所述的方法,其中在所述质量选择模式中校准所述第一四极杆以具有8u和15u之间的过滤器窗口宽度wcal。
[0488] 示例28.根据示例25所述的方法,其中针对2u和30u之间的范围内的所述过滤器窗口宽度wcal的不同值重复在所述质量选择模式中校准所述第一四极杆的所述步骤ii)若干次。
[0489] 示例29.根据示例26所述的方法,其中针对5u和20u之间的范围内的所述过滤器窗口宽度wcal的不同值重复在所述质量选择模式中校准所述第一四极杆的所述步骤ii)若干次。
[0490] 示例30.根据示例27所述的方法,其中针对8u和15u之间的范围内的所述过滤器窗口宽度wcal的不同值重复在所述质量选择模式中校准所述第一四极杆的所述步骤ii)若干次。
[0491] 示例31.根据示例1所述的方法,其中在所述质量选择模式中所述第一四极杆的所述校准开始时,使用初始函数RFini(m,wcal)用于所述第一函数RF(m,wcal),且初始函数DCini(m,wcal)用于所述第二函数DC(m,wcal)。
[0492] 示例32.根据示例1所述的方法,其中针对两个选定质量mcoarse个别地确定所述RF电压的所述振幅的对应值RFdet(mcoarse)和DC电压的值DCdet(mcoarse),随后针对若干选定质量mcal个别地确定所述RF电压的所述振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)(步骤ii a))。
[0493] 示例33.根据示例32所述的方法,其中对于其在针对若干选定质量mcal个别地确定所述RF电压的所述振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)之前个别地确定所述RF电压的所述振幅的对应值RFdet(mcoarse)和DC电压的值DCdet(mcoarse)的所述两个选定质量16 40 40 40
mcoarse是分子 O Ar和 Ar Ar的质量。
[0494] 示例34.根据示例32所述的方法,其中在针对两个选定质量mcoarse个别地确定所述RF电压的所述振幅的对应值RFdet(mcoarse)和DC电压的值DCdet(mcoarse)之后,作为恒定值RFoffset2_fit和所述选定质量m的线性函数的求和的函数RFcoarse(m,wcal)适配到对应于所述两个选定质量mcoarse的所述RF电压的所述振幅的值RFdet(mcoarse),和/或作为恒定值DCoffset2_fit和所述选定质量m的线性函数的求和的函数DCcoarse(m,wcal)适配到对应于所述两个选定质量mcoarse的DC电压的值DCdet(mcoarse)。
[0495] 示例35.根据示例31和32所述的方法,其中在针对所述两个选定质量mcoarse个别地确定所述RF电压的所述振幅的对应值RFdet(mcoarse)和DC电压的值DCdet(mcoarse)之后,所述选定质量m的函数RFcoarse(m,wcal)通过改变所述初始函数RFini(m,wcal)的线性因子RFlinear和/或恒定偏移值RFoffset而适配到对应于所述两个选定质量mcoarse的所述RF电压的所述振幅的值RFdet(mcoarse),和/或所述选定质量m的函数DCcoarse(m,wcal)通过改变所述初始函数DCini(m,wcal)的线性因子DClinear和/或恒定偏移值DCoffset而适配到对应于所述两个选定质量mcoarse的DC电压的值DCdet(mcoarse)。
[0496] 示例36.根据示例1所述的方法,其中对于其个别地确定所述RF电压的所述振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)(步骤ii a))的所述若干选定质量mcal为4到18个选定质量mcal。
[0497] 示例37.根据示例36所述的方法,其中对于其个别地确定所述RF电压的所述振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)(步骤ii a))的所述若干选定质量mcal为8到15个选定质量mcal。
[0498] 示例38.根据示例36所述的方法,其中对于其个别地确定所述RF电压的所述振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)(步骤ii a))的所述若干选定质量mcal为9到12个选定质量mcal。
[0499] 示例39.根据示例1所述的方法,其中在到选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的所述对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的所述个别确定期间,所述第二质量分析仪正过滤所述选定质量mcal。
[0500] 示例40.根据示例5所述的方法,其中在到选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的所述对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的所述个别确定期间,所述第二四极杆经设定以通过选择具有0,5u和1u之间的过滤器窗口宽度w2的质量过滤器窗口中的质量m来过滤所述选定质量mcal。
[0501] 示例41.根据示例40所述的方法,其中在到选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的所述对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的所述个别确定期间,所述第二四极杆经设定以通过选择具有0,6u和0,9u之间的过滤器窗口宽度w2的质量过滤器窗口中的质量m来过滤所述选定质量mcal。
[0502] 示例42.根据示例41所述的方法,其中在到选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的所述对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的所述个别确定期间,所述第二四极杆经设定以通过选择具有0,65u和0,85u之间的过滤器窗口宽度w2的质量过滤器窗口中的质量m来过滤所述选定质量mcal。
[0503] 示例43.根据示例39所述的方法,其中在到所述选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的所述对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的所述个别确定期间,当所述选定质量mcal未由所述第二分析仪发射且由所述检测构件检测到时,那么所述第一四极杆的所述过滤器窗口宽度w增加。
[0504] 示例44.根据示例43所述的方法,其中所述第一四极杆的所述过滤器窗口宽度w至少加倍。
[0505] 示例45.根据示例43所述的方法,其中在所述第一四极杆的所述过滤器窗口宽度w延长之后,当到所述选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的所述对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的所述个别确定期间所述选定质量mcal未由所述第二分析仪检测到时,那么施加到所述第一四极杆的所述电极的所述DC电压逐步地减小直至所述选定质量mcal由所述第二分析仪检测到为止。
[0506] 示例46.根据示例45所述的方法,其中施加到所述第一四极杆的所述电极的所述DC电压逐步地减小,其中在界定所述DC电压的所述第二函数DC(m,w)中,恒定偏移值DCoffset逐步地降低直至所述选定质量由所述第二分析仪检测到。
[0507] 示例47.根据示例43所述的方法,其中当所述选定质量mcal由所述第二分析仪分析且由所述检测构件检测到且所述选定质量mcal的峰值宽度w大于第一最大峰值宽度wmax时,所述第二函数DC(m,w)的所述恒定偏移值DCoffset逐步地增加直至所述第一四极杆的所述过滤器窗口宽度w低于待校准的所述质量选择模式的过滤器窗口宽度wmin为止。
[0508] 示例48.根据示例39所述的方法,其中在到选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的所述对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的所述个别确定期间,在包括所述选定质量mcal的质量范围ρmass上扫描所述第一四极杆,针对所述质量范围ρmass的所述质量m根据所述第一函数RF(m,wcal)和所述第二函数DC(m,wcal)将所述RF振幅和所述DC电压施加到所述第一四极杆的所述电极。
[0509] 示例49.根据示例48所述的方法,其中在所述质量范围ρmass上所述第一四极杆的所述扫描之后,评估当设定在所述RF的所述振幅的所述第一函数(m,wcal)和所述DC电压的所述第二函数DC(m,wcal)处以在所述第一四极杆处施加所述RF电压和DC电压时所述检测构件正针对所述质量范围ρmass的哪些质量mset检测所述选定质量mcal。
[0510] 示例50.根据示例49所述的方法,其中在所述检测构件正在所述质量范围ρmass的哪些质量mset处检测所述选定质量mcal的所述评估之后,评估所述选定质量mcal的所述峰值位置位移Δm(mcal)。
[0511] 示例51.根据示例50所述的方法,其中通过计算所述检测构件正检测所述选定质量mcal所处的所述质量mset的中心处的质量mset_c和所述选定质量mcal之间的差来执行所述选定质量mcal的所述峰值位置位移Δm(mcal)的所述评估。
[0512] 示例52.根据示例50所述的方法,其中在到选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的所述对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的所述个别确定期间,通过取决于所述选定质量mcal的所述峰值位置位移Δm(mcal)改变对应于所述选定质量mcal的所述第一函数RF(mcal,wcal)的值和/或所述第二函数DC(mcal、wcal)的值来进行所述选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅RFdet(mcal)的对应值和DC电压DCdet(mcal)的所述个别界定(步骤ii a))。
[0513] 示例53.根据示例52所述的方法,其中通过将所述选定质量mcal的所述峰值位置位移Δm(mcal)的值乘以对应于所述RF电压的所述振幅RFfactorp_shift和/或DC电压DCfactorp_shift的因子相加到对应于所述选定质量mcal的所述第一函数RF(mcal,wcal)的值和/或所述第二函数DC(mcal,wcal)的值来进行所述选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的对应值RFdet(mcal)和所述DC电压的值DCdet(mcal)的所述个别界定。
[0514] 示例54.根据示例53所述的方法,其中通过将所述选定质量mcal的所述峰值位置位移Δm(mcal)的值乘以所述第一函数RF(m,wcal)的线性因子RFlinear相加到对应于所述选定质量mcal的所述第一函数RF(mcal,wcal)的值来进行所述选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的对应值RFdet(mcal)的所述个别界定。
[0515] 示例55.根据示例53所述的方法,其中通过将所述选定质量mcal的所述峰值位置位移Δm(mcal)的值乘以所述第二函数DC(m,wcal)的线性因子DClinear除以所述第一函数RF(m,wcal)的线性因子RFlinear相加到对应于所述选定质量mcal的所述第二函数DC(mcal,wcal)的值来进行所述选定质量mcal的对应DC电压DCdet(mcal)的所述个别界定。
[0516] 示例56.根据示例50所述的方法,其中在所述检测构件正在所述质量范围ρmass的哪些质量mset处检测所述选定质量mcal的所述评估之后,评估所述选定质量mcal的所述过滤器窗口宽度偏差Δw(mcal)。
[0517] 示例57.根据示例56所述的方法,其中通过评估设定在所述RF的所述振幅的所述第一函数(m,wcal)和所述DC电压的所述第二函数DC(m,wcal)处以在所述第一四极杆处施加所述RF电压和DC电压的对于其所述检测构件正检测所述选定质量mcal的质量mset的质量范围ρmassdetect(mcal),且计算所述质量范围ρmassdetect(mcal)和对于其必须校准所述第一四极杆的所述过滤器窗口宽度wcal之间的差Δw(mcal),来执行所述选定质量mcal的所述过滤器窗口宽度偏差Δw(mcal)的所述评估。
[0518] 示例58.根据示例57所述的方法,其中通过评估设定在所述RF的所述振幅的所述第一函数(m,wcal)和所述DC电压的所述第二函数DC(m,wcal)处以在所述第一四极杆处施加所述RF电压和DC电压的对于其所述检测器构件正检测高于最小检测值的信号的质量mset,来执行所述质量范围ρmassdetect(mcal)的所述评估。
[0519] 示例59.根据示例57所述的方法,其中通过评估设定在所述RF的所述振幅的所述第一函数(m,wcal)和所述DC电压的所述第二函数DC(m,wcal)处以在第一第一四极杆处施加所述RF电压和DC电压的对于其所述检测构件正检测高于由所述检测构件检测到的最高信号的百分比的信号的质量mset,来执行所述质量范围ρmassdetect(mcal)的所述评估。
[0520] 示例60.根据示例59所述的方法,其中通过评估设定在所述RF的所述振幅的所述第一函数(m,wcal)和所述DC电压的所述第二函数DC(m,wcal)处以在所述第一四极杆处施加所述RF电压和DC电压的对于其所述检测构件正检测高于由所述检测构件检测到的最高信号的40%的信号的质量mset,来执行所述质量范围ρmassdetect(mcal)的所述评估。
[0521] 示例61.根据示例59所述的方法,其中通过评估设定在所述RF的所述振幅的所述第一函数(m,wcal)和所述DC电压的所述第二函数DC(m,wcal)处以在所述第一四极杆处施加所述RF电压和DC电压的对于其所述检测构件正检测高于由所述检测构件检测到的最高信号的50%的信号的质量mset,来执行所述质量范围ρmassdetect(mcal)的所述评估。
[0522] 示例62.根据示例56所述的方法,其中在到选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的所述对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的所述个别确定期间,通过取决于所述选定质量mcal的所述过滤器窗口宽度偏差Δw(mcal)改变对应于所述选定质量mcal的所述第一函数RF(mcal,wcal)的值和/或所述第二函数DC(mcal、wcal)的值来进行所述选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅RFdet(mcal)的对应值和DC电压DCdet(mcal)的所述个别界定(步骤ii a))。
[0523] 示例63.根据示例62所述的方法,其中通过将所述选定质量mcal的所述过滤器窗口宽度偏差Δw(mcal)的值乘以对应于所述RF电压Δw-factorRF和/或DC电压Δw-factorDC的因子相加到对应于所述选定质量mcal的所述第一函数RF mcal,wcal)的值和/或所述第二函数DC(mcal,wcal)的值来进行所述选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的对应值RFdet(mcal)和所述DC电压的值DCdet(mcal)的所述个别确定。
[0524] 示例64.根据示例62所述的方法,其中通过将所述选定质量mcal的所述过滤器窗口宽度偏差Δw(mcal)的值乘以所述第二函数DC(m,wcal)的线性因子DClinear除以所述第一函数RF(m,wcal)的线性因子RFlinear相加到对应于所述选定质量mcal的所述第一函数RF(mcal,wcal)的值来进行所述选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的对应值RFdet(mcal)的所述个别确定。
[0525] 示例65.根据示例63所述的方法,其中在所述校准步骤ii a)到ii e)的重复期间,与所述选定质量mcal的所述过滤器窗口宽度偏差Δw(mcal)的值相乘且接着相加到所述选定质量mcal的所述第二函数DC(mcal,wcal)的值以个别地确定所述选定质量mcal的所述DC电压DC(mcal,wcal)的因子Δw-factorDC改变。
[0526] 示例66.根据示例65所述的方法,其中所述校准步骤ii a)到ii e)的重复期间所述因子Δw-factorDC的所述改变指示所述选定质量mcal的所述DC电压DC(mcal,wcal)的所述确定收敛。
[0527] 示例67.根据示例65所述的方法,其中在所述校准步骤ii a)到ii e)的所述重复期间,仅在所述校准步骤ii a)到ii e)的所述重复期间观察到相比于先前校准步骤所述选定质量mcal的所述过滤器窗口宽度偏差Δw(mcal)尚未改变的情况下,所述因子Δw-factorDC改变,使得所述选定质量mcal的所述过滤器窗口宽度偏差Δw(mcal)收敛。
[0528] 示例68.根据示例1所述的方法,其中通过将偏移相加到对应于所述选定质量mcal的所述第一函数RF(mcal,wcal)的值和/或所述第二函数DC(mcal,wcal)的值来进行到所述选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的所述对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的所述个别确定(步骤ii a))。
[0529] 示例69.根据示例1所述的方法,其中当所述选定质量m的函数RFfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的值RFdet(mcal)时(步骤ii b)),所述函数RFfit(m,wcal)为恒定RFoffsetfit和所述选定质量m的线性函数的求和。
[0530] 示例70.根据示例1所述的方法,其中当所述选定质量m的函数DCfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)时(步骤ii b)),所述函数DCfit(m,wcal)为恒定值DCoffsetfit和所述选定质量m的线性函数的求和。
[0531] 示例71.根据示例1所述的方法,其中当所述选定质量m的函数RFfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的值RFdet(mcal)时(步骤ii b)),所述函数RFfit(m,wcal)为包括所述选定质量m的线性函数的函数的总和。
[0532] 示例72.根据示例1所述的方法,其中当所述选定质量m的函数RFfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的值RFdet(mcal)时(步骤ii b)),所述函数RFfit(m,wcal)为包括所述选定质量m的二次函数的函数的总和。
[0533] 示例73.根据示例1所述的方法,其中当所述选定质量m的函数RFfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的值RFdet(mcal)时(步骤ii b)),所述函数RFfit(m,wcal)为包括所述选定质量m的指数函数的函数的总和。
[0534] 示例74.根据示例73所述的方法,其中当所述选定质量m的函数RFfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的值RFdet(mcal)时(步骤ii b)),所述函数RFfit(m,wcal)为包括指数为所述选定质量m的线性函数的指数函数的函数的总和。
[0535] 示例75.根据示例74所述的方法,其中当所述选定质量m的函数RFfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的值RFdet(mcal)时(步骤ii b)),所述函数RFfit(m,wcal)为包括指数为所述选定质量m的不同线性函数的至少两个指数函数的函数的总和。
[0536] 示例76.根据示例75所述的方法,其中当所述选定质量m的函数RFfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的值RFdet(mcal)时(步骤ii b)),所述函数RFfit(m,wcal)为含有指数为所述选定质量m的不同线性函数的仅两个指数函数的函数的总和。
[0537] 示例77.根据示例1所述的方法,其中当所述选定质量m的函数DCfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)时(步骤ii b)),所述函数DCfit(m,wcal)为包括所述选定质量m的线性函数的函数的总和。
[0538] 示例78.根据示例1所述的方法,其中当所述选定质量m的函数DCfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)时(步骤ii b)),所述函数DCfit(m,wcal)为包括所述选定质量m的二次函数的函数的总和。
[0539] 示例79.根据示例1所述的方法,其中当所述选定质量m的函数DCfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)时(步骤ii b)),所述函数DCfit(m,wcal)为包括所述选定质量m的指数函数的函数的总和。
[0540] 示例80.根据示例79所述的方法,其中当所述选定质量m的函数DCfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)时(步骤ii b)),所述函数DCfit(m,wcal)为包括指数为所述选定质量m的线性函数的指数函数的函数的总和。
[0541] 示例81.根据示例80所述的方法,其中当所述选定质量m的函数DCfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)时(步骤ii b)),所述函数DCfit(m,wcal)为包括指数为所述选定质量m的不同线性函数的至少两个指数函数的函数的总和。
[0542] 示例82.根据示例81所述的方法,其中当所述选定质量m的函数DCfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)时(步骤ii b)),所述函数DCfit(m,wcal)为含有指数为所述选定质量m的不同线性函数的仅两个指数函数的函数的总和。
[0543] 示例83.根据示例70所述的方法,其中当所述选定质量m的函数RFfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的值RFdet(mcal)以及所述选定质量m的函数DCfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)时(步骤ii b)),所述函数RFfit(m,wcal)为恒定值RFoffsetfit、所述选定质量m的线性函数、所述选定质量m的二次函数和指数为所述选定质量m的不同线性函数的两个指数函数的求和,且所述函数DCfit(m,wcal)为恒定值DCoffsetfit和所述选定质量m的线性函数的求和。
[0544] 示例84.根据示例71所述的方法,其中当所述选定质量m的函数RFfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的值RFdet(mcal)以及所述选定质量m的函数DCfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)时(步骤ii b)),所述函数RFfit(m,wcal)为恒定值RFoffsetfit、所述选定质量m的线性函数、所述选定质量m的二次函数和指数为所述选定质量m的不同线性函数的两个指数函数的求和,且所述函数DCfit(m,wcal)为恒定值DCoffsetfit、所述选定质量m的线性函数、所述选定质量m的二次函数和指数为所述选定质量m的不同线性函数的两个指数函数的求和。
[0545] 示例85.根据示例69所述的方法,其中当所述选定质量m的函数RFfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的值RFdet(mcal)以及所述选定质量m的函数DCfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)时(步骤ii b)),所述函数RFfit(m,wcal)为恒定值RFoffsetfit和所述选定质量m的线性函数的求和,且所述函数DCfit(m,wcal)为恒定值DCoffsetfit和所述选定质量m的线性函数的求和。
[0546] 示例86.根据示例84所述的方法,其中当所述选定质量m的函数RFfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的值RFdet(mcal)以及所述选定质量m的函数DCfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)时(步骤ii b)),在第一步骤中恒定值RFoffsetfit和所述选定质量m的线性函数的求和针对所述函数RFfit(m,wcal)适配,且恒定值DCoffsetfit和所述选定质量m的线性函数的求和针对所述函数DCfit(m,wcal)适配,且在第二步骤中所述函数RFfit(m,wcal)通过将恒定值、所述选定质量m的二次函数和指数为所述选定质量m的不同线性函数的两个指数函数的求和相加到所述第一步骤中适配的恒定值RFoffsetfit和所述选定质量m的线性函数的所述求和来适配,且所述函数DCFfit(m,wcal)通过将恒定值、所述选定质量m的二次函数和指数为所述选定质量m的不同线性函数的两个指数函数的求和相加到所述第一步骤中适配的恒定值DCoffsetfit和所述选定质量m的线性函数的所述求和来适配。
[0547] 示例87.根据示例1所述的方法,其中所述选定质量m的函数RFfit(m,wcal)到对应于所述若干选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的值RFdet(mcal)的所述适配以及所述选定质量m的函数DCfit(m,wcal)到对应于所述若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)的适配(步骤ii b))通过多项式适配、三次样条适配或非线性最小平方适配的方法进行。
[0548] 示例88.根据示例1所述的方法,其中当在扫描期间在所述检测构件处经由在质量分析模式中操作的所述第二分析仪检测到一些质量和/或所述若干选定质量mcheck中的至少一些时,所述第一四极杆在指派到所述质量mcheck的质量范围ρmass_m_check上在选择具有所述过滤器窗口宽度wcal的所述质量过滤器窗口中的质量的所述质量选择模式中操作为预选择分析仪,所述质量范围ρmass_m_check包括所述质量mcheck且大于所述第一四极杆的所述质量选择模式的所述质量过滤器窗口的所述过滤器窗口宽度wcal,施加到所述第一四极杆的所述电极的所述RF电压的所述振幅由函数RFfit(m)给定,且施加到所述第一四极杆的所述电极的所述DC电压由函数DCfit(m)给定)(步骤ii c)),对于其个别地确定所述RF电压的所述振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的值DCdet(mcal)的所有所述若干选定质量mcal利用所述第一四极杆扫描且在所述检测构件处检测到。
[0549] 示例89.根据示例1所述的方法,其中在所述质量范围ρmass_m_check上所述第一四极杆的所述扫描之后(步骤ii c),评估设定在所述振幅的所述第一函数RFfit(m,wcal)和所述DC电压的所述第二函数DCfit(m,wcal)处以在所述第一四极杆处施加所述RF电压和DC电压时所述检测构件正针对所述质量范围ρmass_m_check的哪些质量mset_m_check检测所述质量mcheck。
[0550] 示例90.根据示例89所述的方法,其中通过计算所述检测构件正检测所述质量mcheck所处的所述经扫描的质量mset_m_check的中心处的质量mset_m_check_c和所述质量mcheck之间的差来执行所述所检测质量mcheck的所述峰值位置位移Δm(mcheck)的所述评估(步骤ii d)。
[0551] 示例91.根据示例89所述的方法,其中通过评估所述检测构件正在其处检测所述质量mcheck的来自所述质量范围ρmass_m_check的质量mset_m_check的过滤器窗口宽度wcheck(mcheck)且计算所述过滤器窗口宽度wcheck(mcheck)和对于其必须校准所述第一四极杆的所述过滤器窗口宽度wcal之间的差来执行所述所检测质量mcheck的所述过滤器窗口宽度偏差Δw(mcheck)的所述评估(步骤ii d))。
[0552] 示例92.根据示例1所述的方法,其中待满足使得所述校准步骤ii a)到ii e)的所述重复停止的重复条件为,所述校准步骤ii a)到ii e)已重复一次。
[0553] 示例93.根据示例1所述的方法,其中待满足使得所述校准步骤ii a)到ii e)的所述重复停止的所述校准的所述质量条件为,所述所检测的质量mcheck的所述质量选择模式的峰值位置位移Δm(mcheck)的所有所评估值低于临界阈值Δmmax,且所述所测得的选定质量m的所述质量选择模式的所述过滤器窗口宽度的所有偏差Δw(mcheck)低于第二临界阈值Δwmax。
[0554] 示例94.根据示例93所述的方法,其中如果未满足所述质量条件,那么重复所述校准步骤ii a)到ii e):在步骤ii a)中在所述第一四极杆的所述质量选择模式中使用所述函数RFfit(m,wcal)作为所述第一函数RF(m,w)且DCfit(m,wcal)作为所述第二函数DC(m,w),仅针对所述所检测的质量mcheck中的对于其所述质量选择模式的所述峰值位置位移Δm(mcheck)的所述所评估值不低于临界阈值Δmmax或所述质量选择模式的所述过滤器窗口宽度偏差Δw(mcheck)不低于第二临界阈值Δwmax的此类质量个别地确定所述RF电压的所述振幅的对应值RFdet(mcal)和DC电压的对应值DCdet(mcal)。
[0555] 示例95.根据示例1所述的方法,其中当所述校准步骤ii a)到ii e)已经执行N次之后并不满足所述校准的所有质量条件时,在改变校准步骤ii b)中使用的至少一种函数以将所述选定质量m的函数RFfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的所述RF电压的所述振幅的值RFdet(mcal)且将所述选定质量m的函数DCfit(m,wcal)适配到对应于所述若干选定质量mcal的DC电压的值DCdet(mcal)之后,或在改变所述校准的所述质量条件中的至少一个之后,重复所述第一四极杆的所述校准。
[0556] 示例96.根据示例32或示例95所述的方法,其中在所述校准步骤ii a)到ii e)已经执行N次之后并不满足所述校准的所有质量条件时,在所述质量选择模式中所述第一四极杆的所述校准开始时,在改变用于所述第一函数RF(m,w)的所述初始函数RFini(m,wcal)和用于所述第二函数DC(m,w)的所述初始函数DCini(m,wcal)的至少一个函数之后,重复第一第一四极杆的所述校准。