专利汇可以提供质谱仪专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且公开了一种包括含有 模数转换 器 的离子检测器在内的飞行时间 质量 分析器。对离子检测器的输出 信号 进行数字化,并且确定与离子到达事件有关的到达时间和强度值。如果根据两个信号确定的到达时间落入同一 时间窗 内,则将到达时间以加权方式一起相加并且将强度值相组合。,下面是质谱仪专利的具体信息内容。
1.一种质谱分析方法,包括:
对从离子检测器输出的第一信号进行数字化以产生第一数字化信号;
确定或获得所述第一数字化信号的二阶微分或二阶差分;
根据所述第一数字化信号的所述二阶微分或所述二阶差分来确定一 个或多个第一离子的到达时间T1;
确定所述一个或多个第一离子的强度I1;
对从所述离子检测器输出的第二信号进行数字化以产生第二数字化 信号;
确定或获得所述第二数字化信号的二阶微分或二阶差分;
根据所述第二数字化信号的所述二阶微分或所述二阶差分来确定一 个或多个第二离子的到达时间T2;
确定所述一个或多个第二离子的强度I2;并且
确定所述一个或多个第二离子的确定到达时间T2是否落入所述一个 或多个第一离子的确定到达时间T1所落入的时间段、时间窗或存储器阵 列单元内,其中如果确定了所述一个或多个第二离子的确定到达时间T2 落入所述一个或多个第一离子的确定到达时间T1所落入的所述时间段、 时间窗或存储器阵列单元内,则所述方法还包括:(i)确定所述一个或多 个第一离子的T1和所述一个或多个第二离子的T2的平均到达时间T’;并 且/或者(ii)确定所述一个或多个第一离子的I1和所述一个或多个第二离 子的I2的组合强度I’。
2.如权利要求1所述的方法,其中所述第一和/或第二信号包括输出 信号、电压信号、离子信号、离子电流、电压脉冲或电子电流脉冲。
3.如权利要求1或2所述的方法,其中所述平均到达时间T’遵循如 下关系:
4.如权利要求1、2或3所述的方法,其中所述组合强度I’遵循如下 关系:
I′=I1+I2
5.如任一前述权利要求所述的方法,还包括用所述平均到达时间T’ 和所述组合强度I’替换所述一个或多个第一离子的确定到达时间T1和确 定强度I1并且替换所述一个或多个第二离子的确定到达时间T2和确定强 度I2。
6.如任一前述权利要求所述的方法,其中所述时间段、时间窗或存 储器阵列单元具有一宽度,其中所述宽度落入从以下范围中选择的范围 内:(i)<1ps;(ii)1-10ps;(iii)10-100ps;(iv)100-200ps;(v)200-300ps; (vi)300-400ps;(vii)400-500ps;(viii)500-600ps;(ix)600-700ps; (x)700-800ps;(xi)800-900ps;(xii)900-1000ps;(xiii)1-2ns;(xiv) 2-3ns;(xv)3-4ns;(xvi)4-5ns;(xvii)5-6ns;(xviii)6-7ns;(xix)7-8ns; (xx)8-9ns;(xxi)9-10ns;(xxii)10-100ns;(xxiii)100-500ns;(xxiv) 500-1000ns;(xxv)1-10μs;(xxvi)10-100μs;(xxvii)100-500μs;(xxviii) >500μs。
7.如任一前述权利要求所述的方法,还包括在采集时间段内获得所 述第一信号和/或所述第二信号,其中所述采集时间段的长度选自于:(i) <1μs;(ii)1-10μs;(iii)10-20μs;(iv)20-30μs;(v)30-40μs;(vi)40-50μs; (vii)50-60μs;(viii)60-70μs;(ix)70-80μs;(x)80-90μs;(xi)90-100μs; (xii)100-110μs;(xiii)110-120μs;(xiv)120-130μs;(xv)130-140μs; (xvi)140-150μs;(xvii)150-160μs;(xviii)160-170μs;(xix)170-180μs; (xx)180-190μs;(xxi)190-200μs;(xxii)200-250μs;(xxiii)250-300μs; (xxiv)300-350μs;(xxv)350-400μs;(xxvi)450-500μs;(xxvii)500-1000μs; 以及(xxviii)>1ms。
8.如权利要求7所述的方法,还包括将所述采集时间段细分成n个 时间段、时间窗或存储器阵列单元,其中n选自于:(i)<100;(ii)100-1000; (iii)1000-10000;(iv)10,000-100,000;(v)100,000-200,000;(vi) 200,000-300,000;(vii)300,000-400,000;(viii)400,000-500,000;(ix) 500,000-600,000;(x)600,000-700,000;(xi)700,000-800,000;(xii) 800,000-900,000;(xiii)900,000-1,000,000;以及(xiv)>1,000,000。
9.如权利要求8所述的方法,其中每个所述时间段、时间窗或存储 器阵列单元具有基本上相同的长度、宽度或持续时间。
10.如任一前述权利要求所述的方法,还包括使用模数转换器或瞬态 记录器对所述第一信号和/或所述第二信号进行数字化。
11.如权利要求10所述的方法,其中所述模数转换器或瞬态记录器 包括n位模数转换器或瞬态记录器,其中n包括8、10、12、14或16。
12.如权利要求10或11所述的方法,其中所述模数转换器或瞬态记 录器具有从以下速率中选择的采样或采集速率:(i)<1GHz;(ii)1-2GHz; (iii)2-3GHz;(iv)3-4GHz;(v)4-5GHz;(vi)5-6GHz;(vii)6-7GHz; (viii)7-8GHz;(ix)8-9GHz;(x)9-10GHz;以及(xi)>10GHz。
13.如权利要求10、11或12中任一权利要求所述的方法,其中所述 模数转换器或瞬态记录器具有基本上均匀的数字化速率。
14.如权利要求10、11或12中任一权利要求所述的方法,其中所述 模数转换器或瞬态记录器具有基本上非均匀的数字化速率。
15.如任一前述权利要求所述的方法,还包括将所述第一数字化信号 和/或所述第二数字化信号减去常数或恒定值。
16.如权利要求15所述的方法,其中在将所述第一数字化信号减去 常数或恒定值之后,如果所述第一数字化信号的一部分下降到零以下,则 所述方法还包括将所述第一数字化信号的所述部分重置为零。
17.如权利要求15或16所述的方法,其中在将所述第二数字化信号 减去常数或恒定值之后,如果所述第二数字化信号的一部分下降到零以 下,则所述方法还包括将所述第二数字化信号的所述部分重置为零。
18.如任一前述权利要求所述的方法,还包括平滑所述第一数字化信 号和/或所述第二数字化信号。
19.如权利要求18所述的方法,还包括使用移动平均、矩形波串积 分器、Savitsky Golay或Hites Biemann算法来平滑所述第一数字化信号 和/或所述第二数字化信号。
20.如任一前述权利要求所述的方法,其中所述根据所述第一数字化 信号的所述二阶微分确定一个或多个第一离子的到达时间T1的步骤包括 确定所述第一数字化信号的所述二阶微分的一个或多个过零点。
21.如权利要求20所述的方法,还包括将离子到达事件的开始时间 T1开始确定或设置为对应于紧接在所述第一数字化信号的所述二阶微分下 降到零或其它值以下的时间之前或之后的数字化间隔。
22.如权利要求20或21所述的方法,还包括将离子到达事件的结束 时间T1结束确定或设置为对应于紧接在所述第一数字化信号的所述二阶微 分上升到零或其它值以上的时间之前或之后的数字化间隔。
23.如任一前述权利要求所述的方法,还包括确定与一个或多个离子 到达事件对应的存在于所述第一数字化信号中的一个或多个峰的强度。
24.如权利要求23所述的方法,其中所述确定存在于所述第一数字 化信号中的一个或多个峰的强度的步骤包括确定由所述开始时间T1开始和/ 或由所述结束时间T1结束界定的存在于所述第一数字化信号中的一个或多 个峰的面积。
25.如任一前述权利要求所述的方法,还包括确定与一个或多个离子 到达事件对应的存在于所述第一数字化信号中的一个或多个峰的矩。
26.如权利要求25所述的方法,其中所述确定与一个或多个离子到 达事件对应的存在于所述第一数字化信号中的一个或多个峰的矩的步骤 包括确定由所述开始时间T1开始和/或由所述结束时间T1结束界定的峰的矩。
27.如任一前述权利要求所述的方法,还包括确定与一个或多个离子 到达事件对应的存在于所述第一数字化信号中的一个或多个峰的形心时 间。
28.如任一前述权利要求所述的方法,还包括确定与一个或多个离子 到达事件对应的存在于所述第一数字化信号中的一个或多个峰的平均或 代表时间。
29.如任一前述权利要求所述的方法,其中所述根据所述第二数字化 信号的所述二阶微分确定一个或多个第二离子的到达时间T2的步骤包括 确定所述第二数字化信号的所述二阶微分的一个或多个过零点。
30.如权利要求29所述的方法,还包括将离子到达事件的开始时间 T2开始确定或设置为对应于紧接在所述第二数字化信号的所述二阶微分下 降到零或其它值以下的时间之前或之后的数字化间隔。
31.如权利要求29或30所述的方法,还包括将离子到达事件的结束 时间T2结束确定或设置为对应于紧接在所述第二数字化信号的所述二阶微 分上升到零或其它值以上的时间之前或之后的数字化间隔。
32.如任一前述权利要求所述的方法,还包括确定与一个或多个离子 到达事件对应的存在于所述第二数字化信号中的一个或多个峰的强度。
33.如权利要求32所述的方法,其中所述确定存在于所述第二数字 化信号中的一个或多个峰的强度的步骤包括确定由所述开始时间T2开始和/ 或由所述结束时间T2结束界定的存在于所述第二数字化信号中的一个或多 个峰的面积。
34.如任一前述权利要求所述的方法,还包括确定与一个或多个离子 到达事件对应的存在于所述第二数字化信号中的一个或多个峰的矩。
35.如权利要求34所述的方法,其中所述确定与一个或多个离子到 达事件对应的存在于所述第二数字化信号中的一个或多个峰的矩的步骤 包括确定由所述开始时间T2开始和/或由所述结束时间T2结束界定的峰的矩。
36.如任一前述权利要求所述的方法,还包括确定与一个或多个离子 到达事件对应的存在于所述第二数字化信号中的一个或多个峰的形心时 间。
37.如任一前述权利要求所述的方法,还包括确定与一个或多个离子 到达事件对应的存在于所述第二数字化信号中的一个或多个峰的平均或 代表时间。
38.如任一前述权利要求所述的方法,还包括:
对从所述离子检测器输出的一个或多个另外的信号进行数字化以产 生一个或多个另外的数字化信号;
确定或获得所述一个或多个另外的数字化信号的二阶微分或二阶差 分;
根据所述一个或多个另外的数字化信号的所述二阶微分或所述二阶 差分来确定一个或多个另外的离子的到达时间Tn;并且
确定所述一个或多个另外的离子的强度In。
39.如权利要求38所述的方法,还包括确定所述一个或多个另外的 离子的确定到达时间Tn是否落入一个或多个其它离子的确定到达时间T0 所落入的时间段、时间窗或存储器阵列单元内,其中如果确定了所述一个 或多个另外的离子的确定到达时间Tn落入所述一个或多个其它离子的确 定到达时间T0所落入的所述时间段、时间窗或存储器阵列单元内,则所 述方法还包括:(i)确定所述一个或多个另外的离子的Tn和所述一个或 多个其它离子的T0的平均到达时间Tn’;并且/或者(ii)确定所述一个或 多个另外的离子的In和所述一个或多个其它离子的I0的组合强度In’。
40.如权利要求39所述的方法,其中所述平均到达时间Tn’遵循如下 关系:
41.如权利要求39或40所述的方法,其中所述组合强度In’遵循如 下关系:
In′=In+I0
42.如权利要求39、40或41所述的方法,还包括用所述平均到达时 间Tn’和所述组合强度In’替换所述一个或多个另外的离子的确定到达时 间Tn和确定强度In并且替换所述一个或多个其它离子的确定到达时间T0 和确定强度I0。
43.如权利要求39-42中任一权利要求所述的方法,其中所述对所述 一个或多个另外的信号进行数字化的步骤包括对来自所述离子检测器的 至少5、10、15、20、25、30、35、40、45、50、55、60、65、70、75、 80、85、90、95、100、200、300、400、500、600、700、800、900、1000、 2000、3000、4000、5000、6000、7000、8000、9000或10000个信号进 行数字化,每个信号对应于单独实验运转或采集。
44.如任一前述权利要求所述的方法,还包括存储与一个或多个离子 到达事件对应的存在于所述数字化信号中的一个或多个峰的确定时间或 平均时间和/或强度。
45.如权利要求38-44中任一权利要求所述的方法,还包括将至少一 些或每个所述一个或多个另外的数字化信号减去常数或恒定值。
46.如权利要求45所述的方法,其中在将所述一个或多个另外的数 字化信号减去常数或恒定值之后,如果至少一些或每个所述一个或多个另 外的数字化信号的一部分下降到零以下,则所述方法还包括将所述一个或 多个另外的数字化信号的所述部分重置为零。
47.如权利要求38-46中任一权利要求所述的方法,还包括平滑所述 一个或多个另外的数字化信号。
48.如权利要求47所述的方法,还包括使用移动平均、矩形波串积 分器、Savitsky Golay或Hites Biemann算法来平滑所述一个或多个另外 的数字化信号。
49.如权利要求38-48中任一权利要求所述的方法,其中所述根据每 个所述一个或多个另外的数字化信号的所述二阶微分来确定所述一个或 多个另外的离子的到达时间的步骤包括确定所述一个或多个另外的数字 化信号的每个所述二阶微分的一个或多个过零点。
50.如权利要求49所述的方法,还包括将离子到达事件的开始时间 Tn开始确定或设置为对应于紧接在一个或多个另外的数字化信号的二阶微 分下降到零或其它值以下的时间之前或之后的数字化间隔。
51.如权利要求49或50所述的方法,还包括将离子到达事件的结束 时间Tn结束确定或设置为对应于紧接在所述一个或多个另外的数字化信号 的二阶微分上升到零或其它值以上的时间之前或之后的数字化间隔。
52.如权利要求38-51中任一权利要求所述的方法,其中所述确定与 离子到达事件有关的所述一个或多个另外的数字化信号的强度的步骤包 括确定由所述开始时间Tn开始和/或所述结束时间Tn结束界定的输出信号峰、 电压信号峰、离子信号峰、离子电流峰或电压脉冲的面积。
53.如权利要求38-52中任一权利要求所述的方法,还包括确定与离 子到达事件有关的所述一个或多个另外的数字化信号的矩。
54.如权利要求53所述的方法,其中所述确定与离子到达事件有关 的所述一个或多个另外的数字化信号的矩的步骤包括确定由所述开始时 间Tn开始和/或所述结束时间Tn结束界定的输出信号峰、电压信号峰、离子 信号峰、离子电流峰或电压脉冲的矩。
55.如权利要求38-54中任一权利要求所述的方法,还包括确定与离 子到达事件有关的所述一个或多个另外的数字化信号的形心时间。
56.如权利要求38-55中任一权利要求所述的方法,还包括确定与离 子到达事件有关的所述一个或多个另外的数字化信号的平均或代表时间。
57.如权利要求38-56中任一权利要求所述的方法,还包括存储与离 子到达事件有关的所述一个或多个另外的数字化信号的平均或代表时间 和/或强度。
58.如权利要求38-57中任一权利要求所述的方法,还包括组合与有 关离子到达事件的峰的时间和强度有关的数据。
59.如权利要求58所述的方法,还包括使用移动平均积分器算法、 矩形波串积分器算法、Savitsky Golay算法或Hites Biemann算法来组合 与有关离子到达事件的峰的时间和强度有关的数据。
60.如权利要求58或59所述的方法,还包括提供连续时间谱或质谱。
61.如权利要求60所述的方法,还包括确定或获得所述连续时间谱 或质谱的二阶微分或二阶差分。
62.如权利要求61所述的方法,还包括根据所述连续时间谱或质谱 的所述二阶微分或所述二阶差分来确定一个或多个离子、峰或质量峰的到 达时间或质量或质荷比。
63.如权利要求62所述的方法,其中所述根据所述连续时间谱或质 谱的所述二阶微分来确定一个或多个离子、峰或质量峰的到达时间或质量 或质荷比的步骤包括确定所述连续时间谱或质谱的所述二阶微分的一个 或多个过零点。
64.如权利要求63所述的方法,还包括将峰或质量峰的开始点M开 始确定或设置为对应于紧接在所述连续时间谱或质谱的所述二阶微分下降 到零或其它值以下的时间点之前或之后的步进间隔。
65.如权利要求63或64所述的方法,还包括将峰或质量峰的结束点 M结束确定或设置为对应于紧接在所述连续时间谱或质谱的所述二阶微分 上升到零或其它值以上的时间点之前或之后的步进间隔。
66.如权利要求60-65中任一权利要求所述的方法,还包括根据所述 连续时间谱或质谱确定峰或质量峰的强度。
67.如权利要求66所述的方法,其中所述根据所述连续时间谱或质 谱确定峰或质量峰的强度的步骤包括确定由所述开始点M开始和/或所述结 束点M结束界定的峰或质量峰的面积。
68.如权利要求60-67中任一权利要求所述的方法,还包括根据所述 连续时间谱或质谱确定峰或质量峰的矩。
69.如权利要求68所述的方法,其中所述根据所述连续时间谱或质 谱确定峰或质量峰的矩的步骤包括确定由所述开始点M开始和/或所述结束 点M结束界定的峰或质量峰的矩。
70.如权利要求60-69中任一权利要求所述的方法,还包括根据所述 连续时间谱或质谱确定峰或质量峰的形心时间或质量。
71.如权利要求60-70中任一权利要求的方法,还包括根据所述连续 时间谱或质谱确定峰或质量峰的平均或代表时间或质量。
72.如任一前述权利要求所述的方法,还包括将时间数据转换成质量 或质荷比数据。
73.如任一前述权利要求所述的方法,还包括显示或输出质谱,其中 所述质谱包括多个质谱数据点,其中每个数据点视为代表一种离子,且其 中每个数据点包括强度值和质量或质荷比值。
74.如任一前述权利要求所述的方法,其中所述离子检测器包括微通 道板、光电倍增器或电子倍增器装置。
75.如任一前述权利要求所述的方法,其中所述离子检测器还包括响 应于一个或多个离子到达所述离子检测器而产生电压脉冲的电流电压转 换器或放大器。
76.如任一前述权利要求所述的方法,还包括提供质量分析器。
77.如权利要求76所述的方法,其中所述质量分析器包括:(i)飞 行时间(“TOF”)质量分析器;(ii)正交加速飞行时间(“oaTOF”)质量 分析器;或(iii)轴向加速飞行时间质量分析器。
78.如权利要求76所述的方法,其中所述质量分析器选自于:(i) 磁式扇形质谱仪;(ii)Paul或3D四极质量分析器;(iii)2D或线性四极 质量分析器;(iv)Penning阱质量分析器;(v)离子阱质量分析器;以及 (vi)四极质量分析器。
79.一种设备,包括:
布置成对从离子检测器输出的第一信号进行数字化以产生第一数字 化信号的装置;
布置成确定或获得所述第一数字化信号的二阶微分或二阶差分的装 置;
布置成根据所述第一数字化信号的所述二阶微分或二阶差分来确定 一个或多个第一离子的到达时间T1的装置;
布置成确定所述一个或多个第一离子的强度I1的装置;
布置成对从所述离子检测器输出的第二信号进行数字化以产生第二 数字化信号的装置;
布置成确定或获得所述第二数字化信号的二阶微分或二阶差分的装 置;
布置成根据所述第二数字化信号的所述二阶微分或二阶差分来确定 一个或多个第二离子的到达时间T2的装置;
布置成确定所述一个或多个第二离子的强度I2的装置;以及
布置成确定所述一个或多个第二离子的确定到达时间T2是否落入所 述一个或多个第一离子的确定到达时间T1所落入的时间段、时间窗或存 储器阵列单元内的装置,其中如果确定了所述一个或多个第二离子的确定 到达时间T2落入所述一个或多个第一离子的确定到达时间T1所落入的所 述时间段、时间窗或存储器阵列单元内,则所述设备还:(i)确定所述一 个或多个第一离子的T1和所述一个或多个第二离子的T2的平均到达时间 T’;并且/或者(ii)确定所述一个或多个第一离子的I1和所述一个或多个 第二离子的I2的组合强度I’。
80.如权利要求79所述的设备,其中所述平均到达时间T’遵循如下 关系:
81.如权利要求79或80所述的设备,其中所述组合强度I’遵循如下 关系:
I′=I1+I2
82.如权利要求79、80或81所述的设备,还包括布置成用所述平均 到达时间T’和所述组合强度I’替换所述一个或多个第一离子的确定到达 时间T1和确定强度I1并且替换所述一个或多个第二离子的确定到达时间 T2和确定强度I2的装置。
83.如权利要求79-82中任一权利要求所述的设备,还包括用以对所 述第一信号和/或所述第二信号进行数字化的模数转换器或瞬态记录器。
84.如权利要求83所述的设备,其中所述模数转换器或瞬态记录器 包括n位模数转换器或瞬态记录器,其中n包括8、10、12、14或16。
85.如权利要求83或84所述的设备,其中所述模数转换器或瞬态记 录器具有从以下速率中选择的采样或采集速率:(i)<1GHz;(ii)1-2GHz; (iii)2-3GHz;(iv)3-4GHz;(v)4-5GHz;(vi)5-6GHz;(vii)6-7GHz; (viii)7-8GHz;(ix)8-9GHz;(x)9-10GHz;以及(xi)>10GHz。
86.如权利要求83、84或85中任一权利要求所述的设备,其中所述 模数转换器或瞬态记录器具有基本上均匀的数字化速率。
87.如权利要求83、84或85中任一权利要求所述的设备,其中所述 模数转换器或瞬态记录器具有基本上非均匀的数字化速率。
88.一种质谱仪,包括如权利要求79-87中任一权利要求所述的设备。
89.如权利要求88所述的质谱仪,还包括从以下离子源中选择的离 子源:(i)电喷雾电离(“ESI”)离子源;(ii)大气压光电离(“APPI”) 离子源;(iii)大气压化学电离(“APCI”)离子源;(iv)基质辅助激光解 吸电离(“MALDI”)离子源;(v)激光解吸电离(“LDI”)离子源;(vi) 大气压电离(“API”)离子源;(vii)硅上解吸电离(“DIOS”)离子源; (viii)电子冲击(“EI”)离子源;(ix)化学电离(“CI”)离子源;(x) 场电离(“FI”)离子源;(xi)场解吸(“FD”)离子源;(xii)感应耦合 等离子体(“ICP”)离子源;(xiii)快原子轰击(“FAB”)离子源;(xiv) 液体二次离子质谱学(“LSIMS”)离子源;(xv)解吸电喷雾电离(“DESI”) 离子源;(xvi)镍-63放射性离子源;(xvii)大气压基质辅助激光解吸电 离离子源;以及(xviii)热喷雾离子源。
90.如权利要求88或89所述的质谱仪,还包括连续或脉冲式离子源。
91.如权利要求88、89或90中任一权利要求所述的质谱仪,还包括 质量分析器。
92.如权利要求91所述的质谱仪,其中所述质量分析器包括:(i) 飞行时间(“TOF”)质量分析器;(ii)正交加速飞行时间(“oaTOF”)质 量分析器;或(iii)轴向加速飞行时间质量分析器。
93.如权利要求91所述的质谱仪,其中所述质量分析器选自于:(i) 磁式扇形质谱仪;(ii)Paul或3D四极质量分析器;(iii)2D或线性四极 质量分析器;(iv)Penning阱质量分析器;(v)离子阱质量分析器;以及 (vi)四极质量分析器。
94.如权利要求88-93中任一权利要求所述的质谱仪,还包括碰撞、 裂解或反应装置。
95.如权利要求94所述的质谱仪,其中所述碰撞、裂解或反应装置 被布置成通过碰撞诱发解离(“CID”)使离子裂解。
96.如权利要求94所述的质谱仪,其中所述碰撞、裂解或反应装置 选自于:(i)表面诱发解离(“SID”)裂解装置;(ii)电子转移解离裂解 装置;(iii)电子捕获解离裂解装置;(iv)电子碰撞或冲击解离裂解装置; (v)光诱发解离(“PID”)裂解装置;(vi)激光诱发解离裂解装置;(vii) 红外辐射诱发解离装置;(viii)紫外辐射诱发解离装置;(ix)喷嘴-分液 器接口裂解装置;(x)内源裂解装置;(xi)离子源碰撞诱发解离裂解装 置;(xii)热或温度源裂解装置;(xiii)电场诱发裂解装置;(xiv)磁场 诱发裂解装置;(xv)酶消化或酶降解裂解装置;(xvi)离子-离子反应 裂解装置;(xvii)离子-分子反应裂解装置;(xviii)离子-原子反应裂 解装置;(xix)离子-亚稳离子反应裂解装置;(xx)离子-亚稳分子反应 裂解装置;(xxi)离子-亚稳原子反应裂解装置;(xxii)用于使离子反应 以形成加合或产物离子的离子-离子反应装置;(xxiii)用于使离子反应 以形成加合或产物离子的离子-分子反应装置;(xxiv)用于使离子反应 以形成加合或产物离子的离子-原子反应装置;(xxv)用于使离子反应以 形成加合或产物离子的离子-亚稳离子反应装置;(xxvi)用于使离子反 应以形成加合或产物离子的离子-亚稳分子反应装置;以及(xxvii)用于 使离子反应以形成加合或产物离子的离子-亚稳原子反应装置。
97.一种质谱分析方法,包括:
对从离子检测器输出的第一信号进行数字化;
确定或获得所述第一数字化信号的二阶微分或二阶差分;
根据所述第一数字化信号的所述二阶微分或所述二阶差分来确定一 个或多个第一离子的质量或质荷比m1;
确定所述一个或多个第一离子的强度I1;
对从所述离子检测器输出的第二信号进行数字化;
确定或获得所述第二数字化信号的二阶微分或二阶差分;
根据所述第二数字化信号的所述二阶微分或二阶差分来确定一个或 多个第二离子的质量或质荷比m2;
确定所述一个或多个第二离子的强度I2;并且
确定所述一个或多个第二离子的确定质量或质荷比m2是否落入所述 一个或多个第一离子的确定质量或质荷比m1所落入的质量窗或预定存储 器位置内,其中如果确定了所述一个或多个第二离子的确定质量或质荷比 m2落入所述一个或多个第一离子的确定质量或质荷比m1所落入的质量窗 或预定存储器位置内,则所述方法还包括:(i)确定所述一个或多个第一 离子的m1和所述一个或多个第二离子的m2的平均质量或质荷比m’;并 且/或者(ii)确定所述一个或多个第一离子的I1和所述一个或多个第二离 子的I2的组合强度I’。
98.如权利要求97所述的方法,其中所述平均质量或质荷比m’遵循 如下关系:
99.如权利要求97或98所述的方法,其中所述组合强度I’遵循如下 关系:
I′=I1+I2
100.如权利要求97、98或99所述的方法,还包括用所述平均质量 或质荷比m’和所述组合强度I’替换所述一个或多个第一离子的确定质量 或质荷比m1和确定强度I1并且替换所述一个或多个第二离子的确定质量 或质荷比m2和确定强度I2。
101.一种设备,包括:
布置成对从离子检测器输出的第一信号进行数字化的装置;
布置成确定或获得所述第一数字化信号的二阶微分或二阶差分的装 置;
布置成根据所述第一数字化信号的所述二阶微分或二阶差分来确定 一个或多个第一离子的质量或质荷比m1的装置;
布置成确定所述一个或多个第一离子的强度I1的装置;
布置成对从所述离子检测器输出的第二信号进行数字化的装置;
布置成确定或获得所述第二数字化信号的二阶微分或二阶差分的装 置;
布置成根据所述第二数字化信号的所述二阶微分或二阶差分来确定 一个或多个第二离子的质量或质荷比m2的装置;
布置成确定所述一个或多个第二离子的强度I2的装置;以及
布置成确定所述一个或多个第二离子的确定质量或质荷比m2是否落 入所述一个或多个第一离子的确定质量或质荷比m1所落入的质量窗或预 定存储器位置内的装置,其中如果确定了所述一个或多个第二离子的确定 质量或质荷比m2落入所述一个或多个第一离子的确定质量或质荷比m1 所落入的质量窗或预定存储器位置内,则所述设备还:(i)确定所述一个 或多个第一离子的m1和所述一个或多个第二离子的m2的平均质量或质 荷比m’;并且/或者(ii)确定所述一个或多个第一离子的I1和所述一个 或多个第二离子的I2的组合强度I’。
102.如权利要求101所述的设备,其中所述平均质量或质荷比m’ 遵循如下关系:
103.如权利要求101或102所述的设备,其中所述组合强度I’遵循 如下关系:
I′=I1+I2
104.如101、102或103所述的设备,还包括布置成用所述平均质量 或质荷比m’和所述组合强度I’替换所述一个或多个第一离子的确定质量 或质荷比m1和确定强度I1并且替换所述一个或多个第二离子的确定质量 或质荷比m2和确定强度I2的装置。
105.如权利要求101-104中任一权利要求所述的设备,还包括用以 对所述第一信号和/或所述第二信号进行数字化的模数转换器或瞬态记录 器。
106.如权利要求105所述的设备,其中所述模数转换器或瞬态记录 器包括n位模数转换器或瞬态记录器,其中n包括8、10、12、14或16。
107.如权利要求105或106所述的设备,其中所述模数转换器或瞬 态记录器具有从以下速率中选择的采样或采集速率:(i)<1GHz;(ii) 1-2GHz;(iii)2-3GHz;(iv)3-4GHz;(v)4-5GHz;(vi)5-6GHz;(vii) 6-7GHz;(viii)7-8GHz;(ix)8-9GHz;(x)9-10GHz;以及(xi)>10GHz。
108.如权利要求105、106或107中任一权利要求所述的设备,其中 所述模数转换器或瞬态记录器具有基本上均匀的数字化速率。
109.如权利要求105、106或107中任一权利要求所述的设备,其中 所述模数转换器或瞬态记录器具有基本上非均匀的数字化速率。
110.一种质谱仪,包括如权利要求101-109中任一权利要求所述的 设备。
111.如权利要求110所述的质谱仪,还包括从以下离子源中选择的 离子源:(i)电喷雾电离(“ESI”)离子源;(ii)大气压光电离(“APPI”) 离子源;(iii)大气压化学电离(“APCI”)离子源;(iv)基质辅助激光解 吸电离(“MALDI”)离子源;(v)激光解吸电离(“LDI”)离子源;(vi) 大气压电离(“API”)离子源;(vii)硅上解吸电离(“DIOS”)离子源; (viii)电子冲击(“EI”)离子源;(ix)化学电离(“CI”)离子源;(x) 场电离(“FI”)离子源;(xi)场解吸(“FD”)离子源;(xii)感应耦合 等离子体(“ICP”)离子源;(xiii)快原子轰击(“FAB”)离子源;(xiv) 液体二次离子质谱学(“LSIMS”)离子源;(xv)解吸电喷雾电离(“DESI”) 离子源;(xvi)镍-63放射性离子源;(xvii)大气压基质辅助激光解吸电 离离子源;以及(xviii)热喷雾离子源。
112.如权利要求110或111所述的质谱仪,还包括连续或脉冲式离 子源。
113.如权利要求110、111或112所述的质谱仪,还包括质量分析器。
114.如权利要求113所述的质谱仪,其中所述质量分析器包括:(i) 飞行时间(“TOF”)质量分析器;(ii)正交加速飞行时间(“oaTOF”)质 量分析器;或(iii)轴向加速飞行时间质量分析器。
115.如权利要求113所述的质谱仪,其中所述质量分析器选自于: (i)磁式扇形质谱仪;(ii)Paul或3D四极质量分析器;(iii)2D或线性 四极质量分析器;(iv)Penning阱质量分析器;(v)离子阱质量分析器; 以及(vi)四极质量分析器。
116.如权利要求110-115中任一权利要求所述的质谱仪,还包括碰 撞、裂解或反应装置。
117.如权利要求116所述的质谱仪,其中所述碰撞、裂解或反应装 置被布置成通过碰撞诱发解离(“CID”)使离子裂解。
118.如权利要求116所述的质谱仪,其中所述碰撞、裂解或反应装 置选自于:(i)表面诱发解离(“SID”)裂解装置;(ii)电子转移解离裂 解装置;(iii)电子捕获解离裂解装置;(iv)电子碰撞或冲击解离裂解装 置;(v)光诱发解离(“PID”)裂解装置;(vi)激光诱发解离裂解装置; (vii)红外辐射诱发解离装置;(viii)紫外辐射诱发解离装置;(ix)喷 嘴-分液器接口裂解装置;(x)内源裂解装置;(xi)离子源碰撞诱发解 离裂解装置;(xii)热或温度源裂解装置;(xiii)电场诱发裂解装置;(xiv) 磁场诱发裂解装置;(xv)酶消化或酶降解裂解装置;(xvi)离子-离子 反应裂解装置;(xvii)离子-分子反应裂解装置;(xviii)离子-原子反 应裂解装置;(xix)离子-亚稳离子反应裂解装置;(xx)离子-亚稳分子 反应裂解装置;(xxi)离子-亚稳原子反应裂解装置;(xxii)用于使离子 反应以形成加合或产物离子的离子-离子反应装置;(xxiii)用于使离子 反应以形成加合或产物离子的离子-分子反应装置;(xxiv)用于使离子 反应以形成加合或产物离子的离子-原子反应装置;(xxv)用于使离子反 应以形成加合或产物离子的离子-亚稳离子反应装置;(xxvi)用于使离 子反应以形成加合或产物离子的离子-亚稳分子反应装置;以及(xxvii) 用于使离子反应以形成加合或产物离子的离子-亚稳原子反应装置。
119.一种质谱分析方法,包括:
对从离子检测器输出的第一信号进行数字化以产生第一数字化信号;
确定一个或多个第一离子的到达时间T1;
确定所述一个或多个第一离子的强度I1;
对从所述离子检测器输出的第二信号进行数字化以产生第二数字化 信号;
确定一个或多个第二离子的到达时间T2;
确定所述一个或多个第二离子的强度I2;并且
确定所述一个或多个第二离子的确定到达时间T2是否落入所述一个 或多个第一离子的确定到达时间T1所落入的时间段、时间窗或存储器阵 列单元内,其中如果确定了所述一个或多个第二离子的确定到达时间T2 落入所述一个或多个第一离子的确定到达时间T1所落入的所述时间段、 时间窗或存储器阵列单元内,则所述方法还包括:(i)确定所述一个或多 个第一离子的T1和所述一个或多个第二离子的T2的平均到达时间T’;并 且/或者(ii)确定所述一个或多个第一离子的I1和所述一个或多个第二离 子的I2的组合强度I’。
120.一种设备,包括:
布置成对从离子检测器输出的第一信号进行数字化以产生第一数字 化信号的装置;
布置成确定一个或多个第一离子的到达时间T1的装置;
布置成确定所述一个或多个第一离子的强度I1的装置;
布置成对从所述离子检测器输出的第二信号进行数字化以产生第二 数字化信号的装置;
布置成确定一个或多个第二离子的到达时间T2的装置;
布置成确定所述一个或多个第二离子的强度I2的装置;以及
布置成确定所述一个或多个第二离子的确定到达时间T2是否落入所 述一个或多个第一离子的确定到达时间T1所落入的时间段、时间窗或存 储器阵列单元内的装置,其中如果确定了所述一个或多个第二离子的确定 到达时间T2落入所述一个或多个第一离子的确定到达时间T1所落入的所 述时间段、时间窗或存储器阵列单元内,则所述设备还:(i)确定所述一 个或多个第一离子的T1和所述一个或多个第二离子的T2的平均到达时间 T’;并且/或者(ii)确定所述一个或多个第一离子的I1和所述一个或多个 第二离子的I2的组合强度I’。
121.一种质谱分析方法,包括:
对从离子检测器输出的第一信号进行数字化;
确定一个或多个第一离子的质量或质荷比m1;
确定所述一个或多个第一离子的强度I1;
对从所述离子检测器输出的第二信号进行数字化;
确定一个或多个第二离子的质量或质荷比m2;
确定所述一个或多个第二离子的强度I2;并且
确定所述一个或多个第二离子的确定质量或质荷比m2是否落入所述 一个或多个第一离子的确定质量或质荷比m1所落入的质量窗或预定存储 器位置内,其中如果确定了所述一个或多个第二离子的确定质量或质荷比 m2落入所述一个或多个第一离子的确定质量或质荷比m1所落入的质量窗 或预定存储器位置内,则所述方法还包括:(i)确定所述一个或多个第一 离子的m1和所述一个或多个第二离子的m2的平均质量或质荷比m’;并 且/或者(ii)确定所述一个或多个第一离子的I1和所述一个或多个第二离 子的I2的组合强度I’。
122.一种设备,包括:
布置成对从离子检测器输出的第一信号进行数字化的装置;
布置成确定一个或多个第一离子的质量或质荷比m1的装置;
布置成确定所述一个或多个第一离子的强度I1的装置;
布置成对从所述离子检测器输出的第二信号进行数字化的装置;
布置成确定一个或多个第二离子的质量或质荷比m2的装置;
布置成确定所述一个或多个第二离子的强度I2的装置;以及
布置成确定所述一个或多个第二离子的确定质量或质荷比m2是否落 入所述一个或多个第一离子的确定质量或质荷比m1所落入的质量窗或预 定存储器位置内的装置,其中如果确定了所述一个或多个第二离子的确定 质量或质荷比m2落入所述一个或多个第一离子的确定质量或质荷比m1 所落入的质量窗或预定存储器位置内,则所述设备还:(i)确定所述一个 或多个第一离子的m1和所述一个或多个第二离子的m2的平均质量或质 荷比m’;并且/或者(ii)确定所述一个或多个第一离子的I1和所述一个 或多个第二离子的I2的组合强度I’。
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