专利汇可以提供一种富Hf矿物或岩石进行Hf同位素分析方法及系统专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 属于 地质学 同位素检测技术领域,公开了一种富Hf矿物或 岩石 进行Hf同位素分析方法及系统,首先进行同位素 分馏 的校正计算,同位素分馏校正系数计算原理遵从瑞利分馏法则;然后用测试过程中β(Yb)的平均值来进行干扰校正;进而计算εHf(0)、εHf(t)、THf1、THf2和fLu/Hf值,用来解释样品的地质成因。本发明省却了地质工作中手动计算的繁重工作,可为地质学工作提供更好的服务。,下面是一种富Hf矿物或岩石进行Hf同位素分析方法及系统专利的具体信息内容。
1.一种富Hf矿物或岩石进行Hf同位素分析方法,其特征在于,所述富Hf矿物或岩石进行Hf同位素分析方法包括:进行同位素分馏的校正计算,同位素分馏校正系数计算原理遵从瑞利分馏法则;β(Yb)的平均值干扰校正;计算εHf(0)、εHf(t)、THf1、THf2和fLu/Hf值。
2.如权利要求1所述的富Hf矿物或岩石进行Hf同位素分析方法,其特征在于,进行同位素分馏的校正计算,同位素分馏校正系数计算原理遵从瑞利分馏法则,公式如下:
β=ln(Rm/Rt)/ln(MA/MB);
其中,β为质量歧视校正系数,Rm为实际测量比值,Rt为真实比值,M为同位素质量数,采用179Hf/177Hf=0.7325对Hf同位素比值进行指数归一化质量歧视校正,采用173Yb/172Yb=1.35274,对Yb同位素比值进行指数归一化质量歧视校正,测试过程中直接测定Yb信号,计算出β(Yb)值。
3.如权利要求1所述的富Hf矿物或岩石进行Hf同位素分析方法,其特征在于,用测试过程中β(Yb)的平均值来进行干扰校正;干扰扣除计算公式如下:
176Hf=176Hfm-[175Lum×(176Lu/175Lu)t(M176/M175.)β(Lu)+172Ybm×(176Yb/172Yb)t(M176/M172.)β(Yb)];
其中,t代表真值,m代表测量值。
4.如权利要求1所述的富Hf矿物或岩石进行Hf同位素分析方法,其特征在于,计算εHf(0)、εHf(t)、THf1、THf2和fLu/Hf值方法如下:
εHf(0)=((176Hf/177Hf)S/(176Hf/177Hf)CHUR,0-1)×10000
εHf(t)=((176Hf/177Hf)S-(176Lu/177Hf)S×(eλt-1))/((176Hf/177Hf)CHUR,0-(176Lu/177Hf)CHUR×(eλt-1))-1)×10000
THf1=1/λ×ln[1+((176Hf/177Hf)S-(176Hf/177Hf)DM/((176Lu/177Hf)S-(176Lu/177Hf)DM)]THf2=THf1-(THf1-t)((fcc-fs)/(fcc-fDM))
fLu/Hf=(176Lu/177Hf)S/(176Lu/177Hf)CHUR-1;
其中,(176Lu/177Hf)S和(176Hf/177Hf)S为样品待测值,(176Lu/177Hf)CHUR=0.0332,(176Hf/177Hf)CHUR,0=0.282772;(176Lu/177Hf)DM=0.0384,(176Hf/177Hf)DM=0.28325;fcc,fs,fDM分别为大陆地壳、样品和亏损地幔的fLu/Hf;T为样品形成时间,λ=1.867×10-11year-1。
5.一种实现权利要求1~4任意一项所述富Hf矿物或岩石进行Hf同位素分析方法的计算机程序。
6.一种搭载有权利要求5所述计算机程序的信息数据处理终端。
7.一种计算机可读存储介质,包括指令,当其在计算机上运行时,使得计算机执行如权利要求1-4任意一项所述富Hf矿物或岩石进行Hf同位素分析方法。
8.一种如权利要求1所述富Hf矿物或岩石进行Hf同位素分析方法的富Hf矿物或岩石进行Hf同位素分析系统,其特征在于,所述富Hf矿物或岩石进行Hf同位素分析系统包括:
Hf模块,用于元素分馏和干扰校正计算,具有筛选提示异常数据的功能;
Filter模块,用于自动化处理异常数据,将异常数据的异常circle数据滤除,滤除原则为将与均值之差大于两倍标准误差的circle数据删除,对于异常circle很多的数据,当剩余circle数少于等于50时将停止删除,并将提示用户手动查看数据,并分析异常原因;
Hf result table模块,用于计算εHf(0)、εHf(t)、THf1、THf2和fLu/Hf值,并将结果格式化。
9.一种安装有权利要求8所述富Hf矿物或岩石进行Hf同位素分析系统的计算机。
10.一种计算机可读存储介质,包括指令,当其在计算机上运行时,使得计算机执行如权利要求9所述富Hf矿物或岩石进行Hf同位素分析系统。
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