专利汇可以提供一种面板缺陷检查装置专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本实用新型涉及面板光学检测装置结构技术领域,具体地指一种面板 缺陷 检查装置。包括沿Z向分置于待检测面板两侧的 显微镜 和 光源 ,其特征在于:还包括X向滑移机构和Y向滑移机构;所述的Y向滑移机构滑动连接于所述X向滑移机构;所述的显微镜与光源滑动连接于所述Y向滑移机构;所述的Y向滑移机构上设置有在显微镜与光源沿Y向移动过程中保持显微镜与光源始终处于两两相对的同步状态的联动机构;所述的X向、Y向和Z向两两垂直相交。本实用新型的微观缺陷查看装置结构简单,操作方便,同步光源与显微镜能够最大程度将灯箱的造价,减少了 电能 的消耗,提高了面板的检查效率,具有极大的推广价值。(ESM)同样的 发明 创造已同日 申请 发明 专利,下面是一种面板缺陷检查装置专利的具体信息内容。
1.一种面板缺陷检查装置,包括沿Z向分置于待检测面板两侧的显微镜(1)和光源(2),其特征在于:还包括X向滑移机构和Y向滑移机构;所述的Y向滑移机构滑动连接于所述X向滑移机构;所述的显微镜(1)与光源(2)滑动连接于所述Y向滑移机构;所述的Y向滑移机构上设置有在显微镜(1)与光源(2)沿Y向移动过程中保持显微镜(1)与光源(2)始终处于两两相对的同步状态的联动机构;所述的X向、Y向和Z向两两垂直相交。
2.如权利要求1所述的一种面板缺陷检查装置,其特征在于:所述的联动机构包括固定在Y向滑移机构上的光源滑轨(3);所述的光源滑轨(3)沿Y向水平布置;所述的光源(2)滑动连接于光源滑轨(3)上,通过第一电机驱动沿光源滑轨(3)移动。
3.如权利要求2所述的一种面板缺陷检查装置,其特征在于:所述的光源(2)与光源滑轨(3)之间设置有在光源(2)滑移到超出面板检测范围时控制第一电机停止驱动光源(2)移动的到位机构。
4.如权利要求3所述的一种面板缺陷检查装置,其特征在于:所述的到位机构包括固定在光源(2)X向侧部的感应片(4)和固定在光源滑轨(3)上与感应片(4)同侧的底座(5);所述的底座(5)上安装有两片沿X向间隔布置的竖板(6);所述的两块竖板(6)之间布置有传感器;所述的感应片(4)在跟随光源(2)滑移到超出面板检测范围时穿过两片竖板(6)之间的间隙。
5.如权利要求1所述的一种面板缺陷检查装置,其特征在于:所述的X向滑移机构包括两条分置于待检测面板Y向两侧的X向导轨(7),光源滑轨(3)可沿X向移动地布置于两条X向导轨(7)之间。
6.如权利要求5所述的一种面板缺陷检查装置,其特征在于:所述的Y向滑移机构包括龙门架(8);所述的龙门架(8)Y向两端滑动连接于X向导轨(7)上,龙门架(8)上设置有沿Y向水平布置的Y向导轨(9);所述的光源滑轨(3)固定在龙门架(8)上;所述的显微镜(1)滑动连接于Y向导轨(9)上通过第二电机驱动沿Y向移动;所述的第二电机与第一电机同步。
7.如权利要求6所述的一种面板缺陷检查装置,其特征在于:所述的显微镜(1)包括滑动连接于Y向导轨上的支架(10)和物镜;所述的支架(10)上安装有沿Z向布置的Z向轨道(11);所述的Z向轨道(11)上设置有沿水平X向布置的X向轨道(12);所述的X向轨道(12)滑动连接于Z向轨道(11);所述的物镜滑动连接于X向轨道(12)。
8.如权利要求7所述的一种面板缺陷检查装置,其特征在于:所述的显微镜(1)包括多个不同倍率的物镜。
9.如权利要求1所述的一种面板缺陷检查装置,其特征在于:所述的光源(2)为可调节亮度的可调光源,调节光源亮度的旋钮(13)位于光源(2)Y向侧部。
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