专利汇可以提供一种高精度激光射线同步测量一体机专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种高 精度 激光射线同步测量一体机,包括上部 铝 盒和下部铝盒;上部铝盒内部设置 X射线 发射器;下部铝盒内部设置X射线接收器;上部铝盒外部设置上部激光测试头,上部激光测试头包括上部激 光源 和第一光电探测器;下部铝盒外部设置下部激光测试头,下部激光测试头包括下部激光源和第二光电探测器;测厚 支架 整体 焊接 后加工;测厚支架的外侧设置有控制系统。测厚支架内设置上直线 电机 和下直线电机;直线电机安装面采用侧铣加工,上直线电机和下直线电机同步驱动。本发明采用一体式非 接触 式同步测量膜面 密度 和厚度,测头高速精确反复 定位 ,测量结果更加精准。,下面是一种高精度激光射线同步测量一体机专利的具体信息内容。
1.一种高精度激光射线同步测量一体机,其特征在于:包括上部铝盒(3)和下部铝盒(4);
所述上部铝盒(3)的内部设置有X射线发射器;所述下部铝盒(4)的内部设置有X射线接收器;
所述的上部铝盒(3)外部设置有上部激光测试头(31),上部激光测试头(31)包括用于发射上部激光束的上部激光源和接收上部反射光源的第一光电探测器;
所述的下部铝盒(4)外部设置有下部激光测试头(32),下部激光测试头(32)包括用于发射下部激光束的下部激光源和接收下部反射光源的第二光电探测器;
所述的第一光电探测器和第二光电探测器用于接收发射光的位置信息;
X射线发射器、X射线接收器、上部激光源、第一光电探测器、下部激光源和第二光电探测器均与测厚支架(1)一侧的控制系统连接;所述的测厚支架(1)整体焊接后加工,侧铣直线电机上下安装表面(03);
所述的控制系统预设上部激光测试头(31)至标准膜片的距离A和下部激光测试头(32)至标准膜片的距离B,得出标准膜片相应的模拟量输出值;所述的第一光电探测器和第二光电探测器将测量的反射光的位置信息发送至控制系统;控制系统根据反射光的位置信息计算出上部激光测试头(31)与膜材料上表面的距离A1以及下部激光测试头(32)与膜材料下表面的距离B1后与标准膜片对应的模拟值比较,给出膜材料的厚度值;
所述的控制系统还控制X射线发射器发出X射线,X射线穿透待测物体后被X射线接收器接收,根据X射线发射器的X射线的强度和X射线接收器接收的X射线的强度进行对比,计算出待测物体的面密度值;
所述的测厚支架(1)内设置有供膜材料通过的通道(01);所述通道(01)的上方和下方分别设置有上直线电机(7)和下直线电机(8);测厚支架(1)的直线电机安装面采用侧铣加工,一刀成型;所述的上直线电机(7)和下直线电机(8)同步驱动;所述的上直线电机(7)驱动所述的上部铝盒(3)横向反复移动;所述的下直线电机(7)驱动所述的下部铝盒(4)横向反复移动。
2.根据权利要求1所述的一种高精度激光射线同步测量一体机,其特征在于:所述的上部激光测试头(31)和所述的下部激光测试头(32)通过微调组件分别安装于所述的上部铝盒(3)和所述的下部铝盒(4)外部。
3.根据权利要求1所述的一种高精度激光射线同步测量一体机,其特征在于:所述的微调组件包括所述的微调组件包括横向调节装置和纵向调节装置;所述的横向调节装置包括固定安装在上部铝盒(3)或者下部铝盒(4)的滑轨(33)、沿滑轨(33)横向移动的滑块(34);
所述的滑块(34)通过调节螺钉与所述的滑轨(33)连接;所述的纵向调节装置固定安装在滑块(34)上;所述的纵向调节装置包括纵向移动座(35)和Z轴千分尺手调精密滑台(36);所述的Z轴千分尺手调精密滑台(36)固定安装于所述的滑块(34)上;所述的纵向移动座(35)与所述的Z轴千分尺手调精密滑台(36)连接。
4.根据权利要求1所述的一种高精度激光射线同步测量一体机,其特征在于:所述的上部铝盒(3)和下部铝盒(4)设置有导向槽;所述的上部激光测试头(31)和所述的下部激光测试头(32)上设置有导向块。
5.根据权利要求1所述的一种高精度激光射线同步测量一体机,其特征在于:所述的控制系统包括数据采集模块、数据处理模块和中央处理模块;所述的数据采集模块包括位置信息采集模块、厚度信息采集模块和面密度信息采集模块;所述的位置信息采集模块采集铝盒在滑轨上移动的位置;所述的厚度信息采集模块采集测量头的间距信息、光电探测器探测的反射光位置信息;所述的面密度信息采集模块采集X射线发射的强度信息和X射线接收器接收的X射线强度信息;所述的位置信息采集模块、厚度信息采集模块和面密度信息采集模块与数据处理模块连接,数据处理模块对接收的数据进行处理,计算出膜厚、面密度值以及测量头在导轨上行进的距离;数据处理模块将计算结果发送至中央处理模块;所述的中央处理模块比较测量头检测的多个膜厚度信息和面密度信息,检测膜厚以及面密度跳动超过预设值的位置,并在线调节膜生产设备。
6.根据权利要求1所述的一种高精度激光射线同步测量一体机,其特征在于:测厚支架(1)内还设置有导辊(2)和导辊调节组件;所述的导辊(2)通过导辊调节组件安装于所述的测厚支架(1)上,使前后导辊平行;所述的导辊调节组件包括导向光杆(21)、光杆固定座(22)、活动十字连接件(23);所述的导辊(2)固定安装在两侧的活动十字连接件(23)上;所述的活动十字连接件(23)沿所述的导向光杆(21)垂直升降;所述的导向光杆(21)通过光杆固定座(22)安装于所述的测厚支架(1)上。
7.采用权利要求1所述的高精度激光射线同步测量一体机的测试方法,其特征在于:包括如下步骤:
(1)控制系统根据膜的厚度调节上部激光测试头(31)和所述的下部激光测试头(32)之间的距离,并且控制上部铝盒和下部铝盒沿滑轨来回运动;
(2)控制系统控制上部激光源和下部激光源发射激光束至膜材料表面;同事控制射线发射器启动;当上部激光源和下部激光源发射激光束至膜材料表面时,第一光电探测器和第二激光探测器接收发射激光束;射线发射器启动后,射线接收器接收射线;
(3)根据反射激光束的位置计算膜厚,根据接收的射线的强度,计算面密度;
(4)根据测量头一个往返行程中计算的多个膜厚值和面密度值,选出跳动较大的数值,并确定跳动点的位置,
(5)控制系统根据跳动点的位置控制膜生产设备。
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