技术领域
[0001] 本
发明涉及产品检测技术领域，尤其涉及一种精密检测设备控制系统及控制方法。
背景技术
[0002] 目前市场的主流的产品自动检测大部分采用光学自动全检。其中，光学检测系统是利用影像撷取装置撷取待测物的影像，再将所撷取到的影像与一参考影像比较，以判断待测物是否存在
缺陷。现有的
自动光学检测系统大多是将待测物置于影像撷取装置的焦点
位置上以撷取较为清晰的影像，如此将限制自动光学检测系统的应用。
[0003] 对于光学自动全检，其控制技术及
电路要求及成本高，对操作人员的技术能
力要求相对较高。
发明内容
[0004] 有鉴于此，本发明的目的在于提供一种精密检测设备控制系统及控制方法，旨在解决
现有技术中光学自动全检控制技术及电路要求及成本高，对操作人员的技术能力要求相对较高的技术问题。
[0005] 本发明的技术方案实现如下：
[0006] 提供一种精密检测设备控制系统，包括：
[0008] 用于将所述工件推入工件运行模腔中的第一监测点处的第一电磁
阀；
[0009] 用于驱动直线
气缸阀带动微调千分尺向下运动以检测所述工件尺寸，并将所述工件从所述工件运行模腔中的第一监测点处移动至其第二监测点处的第二
电磁阀；
[0010] 用于驱动已检测推料装置以将所述工件从所述第二监测点处推入合格品箱的第三电磁阀；
[0011] 用于驱动不良品取料装置以将所述工件从所述第二监测点处推入不良品箱的第四电磁阀；以及
[0012] 用于控制所述送料机构、所述第一电磁阀、所述第二电磁阀、所述第三电磁阀以及所述第四电磁阀工作的
控制器，其分别电性连接于所述送料机构、所述第一电磁阀、所述第二电磁阀、所述第三电磁阀以及所述第四电磁阀。
[0013] 在本发明所述的控制系统中，还包括：
[0014] 用于控制所述第一电磁阀
开关的第一继电器，所述第一继电器包括第一开关及第一线圈，所述第一开关电性连接于所述第一电磁阀与所述控制器之间，所述第一线圈电性连接于所述控制器；
[0015] 用于控制所述第二电磁阀开关的第二继电器，所述第二继电器包括第二开关及第二线圈，所述第二开关电性连接于所述第二电磁阀与所述控制器之间，所述第二线圈电性连接于所述控制器；
[0016] 用于控制所述第三电磁阀开关的第三继电器，所述第三继电器包括第三开关及第三线圈，所述第三开关电性连接于所述第三电磁阀与所述控制器之间，所述第三线圈电性连接于所述控制器；
[0017] 用于控制所述第四电磁阀开关的第四继电器，所述第四继电器包括第四开关及第四线圈，所述第四开关电性连接于所述第四电磁阀与所述控制器之间，所述第四线圈电性连接于所述控制器。
[0018] 在本发明所述的控制系统中，还包括：
[0019] 用于接收与所述微调千分尺
接触的第一感触
信号的第一精密开关，其电性连接于所述控制器；
[0020] 用于接收与所述微调千分尺接触的第二感触信号的第二精密开关，其电性连接于所述控制器。
[0021] 在本发明所述的控制系统中，还包括：
[0022] 用于启动所述控制器的启动开关，所述启动开关电性连接于所述控制器；
[0023] 用于控制所述控制器停止工作的停止开关，所述停止开关电性连接于所述控制器。
[0024] 在本发明所述的控制系统中，还包括：
[0025] 用于启动所述控制系统的总开关，其连接于外部交流电源并电性连接于所述控制器。
[0026] 另一方面，提供一种精密检测设备控制方法，采用上述控制系统，包括：
[0027] S1、送料机构提供工件；
[0028] S2、第一电磁阀将所述工件推入工件运行模腔中的第一监测点处；
[0029] S3、第二电磁阀驱动直线气缸阀带动微调千分尺向下运动以检测所述工件尺寸，并将所述工件从所述工件运行模腔中的第一监测点处移动至其第二监测点处；
[0030] S4、若所述工件尺寸检测合格，执行步骤S41，若否，执行步骤S42；
[0031] S41、第三电磁阀驱动已检测推料装置以将所述工件从所述第二监测点处推入合格品箱；
[0032] S42、第四电磁阀驱动不良品取料装置以将所述工件从所述第二监测点处推入不良品箱。
[0033] 在本发明所述的控制方法中，所述步骤S3还包括：
[0034] 第一精密开关接收与所述微调千分尺接触的第一感触信号；
[0035] 第二精密开关接收与所述微调千分尺接触的第二感触信号。
[0036] 在本发明所述的控制方法中，所述步骤S4还包括：
[0037] 当接收到所述第一感触信号且未接收到所述第二感触信号时，所述工件尺寸检测合格，执行步骤S41；
[0038] 当接收到所述第一感触信号且接收到所述第二感触信号时，所述工件尺寸检测不合格，执行步骤S42；
[0039] 当未接收到所述第一感触信号且未接收到所述第二感触信号时，所述工件尺寸检测不合格，执行步骤S42。
[0040] 在本发明所述的控制方法中，还包括：
[0041] 启动所述控制器；
[0042] 控制所述控制器停止工作。
[0043] 在本发明所述的控制方法中，还包括：
[0044] 启动所述控制系统。
[0045] 因此，本发明的有益效果是，将精密的
计算机数字控制机床对刀仪感应开关应用于精密的产品尺寸检测，并实现的全自动检测，降低了光学检测成本。
附图说明
[0046] 下面将结合附图及
实施例对本发明作进一步说明，附图中：
[0047] 图1为本发明提供的一种精密检测设备控制系统的结构示意图；
[0048] 图2为本发明提供的一种精密检测设备控制方法的
流程图。
具体实施方式
[0049] 为了对本发明的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，以下将对照附图详细说明本发明的具体实施方式。应当理解，以下说明仅为本发明实施例的具体阐述，不应以此限制本发明的保护范围。
[0050] 本发明提供一种精密检测设备控制系统100及控制方法，本发明的
基础是以PLC(即：可编程逻辑控制器11)及精密对刀仪开关为基础，增加配套机构及自动送料机构1，以实现产品的全自动检测。将精密的CNC(计算机数字控制机床简称CNC，是一种装有程序控制系统100的自动化机床。该控制系统100能够逻辑地处理具有控制编码或其他符号指令规定的程序，并将其译码，从而使机床动作并加工零件)感应开关应用于精密的产品尺寸检测，从而基于低成本的部件，对整体的检测调整转变为全自动无人化的全检，以实现产品单一尺寸的OPPM(即：目标绩效的过程化管理)。
[0051] 参见图1，图1为本发明提供的一种精密检测设备控制系统100的结构示意图，该精密检测设备控制系统100包括：
[0052] 用于提供工件的送料机构1；
[0053] 用于将所述工件推入工件运行模腔中的第一监测点处的第一电磁阀2；第一电磁阀2也为未检测推料电磁阀，未检测推料电磁阀工作，在将工件推入工件运行模腔中的第一监测点处检测点后，KM1常开断开，未检测推料电磁阀断电，未检测推料装置退回。
[0054] 用于驱动直线气缸阀带动微调千分尺向下运动以检测所述工件尺寸，并将所述工件从所述工件运行模腔中的第一监测点处移动至其第二监测点处的第二电磁阀3；第二电磁阀3也为直线气缸电磁阀，直线气缸电磁阀带动微调千分尺往下运动。
[0055] 用于驱动已检测推料装置以将所述工件从所述第二监测点处推入合格品箱的第三电磁阀4；第三电磁阀4也为已检测推料装置电磁阀，其将工件推入合格品箱中。
[0056] 用于驱动不良品取料装置以将所述工件从所述第二监测点处推入不良品箱的第四电磁阀5。第四电磁阀5也为不良品取料装置电磁阀，可使不良品取料装置往工件位置模腔第二监测点处。
[0057] 用于控制所述送料机构1、所述第一电磁阀2、所述第二电磁阀3、所述第三电磁阀4以及所述第四电磁阀5工作的控制器11(一般采用PLC控制器11)，其分别电性连接于所述送料机构1、所述第一电磁阀2、所述第二电磁阀3、所述第三电磁阀4以及所述第四电磁阀5。
[0058] 用于控制所述第一电磁阀2开关的第一继电器KM1，所述第一继电器KM1包括第一开关21及第一线圈22，所述第一开关21电性连接于所述第一电磁阀2与所述控制器11之间，所述第一线圈22电性连接于所述控制器11；控制器11
输出信号到KM1线圈，KM1常开闭合，从而使第一电磁阀2开始工作；KM1常开断开，未检测推料电磁阀断电，未检测推料装置退回。
[0059] 用于控制所述第二电磁阀3开关的第二继电器KM2，所述第二继电器KM2包括第二开关31及第二线圈32，所述第二开关31电性连接于所述第二电磁阀3与所述控制器11之间，所述第二线圈32电性连接于所述控制器11；控制器11输出讯号给KM2线圈，KM2常开闭合，直线气缸电磁阀工作；KM2常开断开直线气缸电磁阀断电回原位。
[0060] 用于控制所述第三电磁阀4开关的第三继电器KM3，所述第三继电器KM3包括第三开关41及第三线圈42，所述第三开关41电性连接于所述第三电磁阀4与所述控制器11之间，所述第三线圈42电性连接于所述控制器11；控制器11输出讯号给KM3线圈，KM3常开闭合，已检测推料装置电磁阀工作并将工件推入合格品箱，KM3常开断开，KM3线圈断电，已检测推料装置电磁阀断开，已检测推料装置退回原位。
[0061] 用于控制所述第四电磁阀5开关的第四继电器KM4，所述第四继电器KM4包括第四开关51及第四线圈52，所述第四开关51电性连接于所述第四电磁阀5与所述控制器11之间，所述第四线圈52电性连接于所述控制器11。控制器11输出先给讯号给KM4线圈，KM4常开闭合，不良品取料装置电磁阀启动。KM4常开闭合，不良品取料装置电磁阀启动，不良品取料装置移往工件位置模腔第二监测点处。
[0062] 用于接收与所述微调千分尺接触的第一感触信号的第一精密开关8，其电性连接于所述控制器11；当微调千分尺与精密感应开关接触时第一精密开关8断开，即产生第一感触信号。
[0063] 用于接收与所述微调千分尺接触的第二感触信号的第二精密开关9，其电性连接于所述控制器11。当微调千分尺与精密感应开关接触时第二精密开关9断开，即产生第二感触信号。
[0064] 用于启动所述控制器11的启动开关6，所述启动开关6电性连接于所述控制器11；开启启动开关6，PLC控制器11启动，PLC控制器11启动后即可控制该系统其余部件工作。
[0065] 用于控制所述控制器11停止工作的停止开关7，所述停止开关7电性连接于所述控制器11。
[0066] 用于启动所述控制系统100的总开关10，其连接于外部交流电源并电性连接于所述控制器11。
[0067] 参见图2，图2为本发明提供的一种精密检测设备控制方法的流程图，该方法采用上述控制系统100，包括：
[0068] S0、总开关10启动所述控制系统100。按下总开关10时，送料机
马达M启动，自动送料启动。
[0069] S1、送料机构1提供工件；
[0070] S2、第一电磁阀2将所述工件推入工件运行模腔中的第一监测点处；
[0071] S3、第二电磁阀3驱动直线气缸阀带动微调千分尺向下运动以检测所述工件尺寸，并将所述工件从所述工件运行模腔中的第一监测点处移动至其第二监测点处；第一精密开关8接收与所述微调千分尺接触的第一感触信号；第二精密开关9接收与所述微调千分尺接触的第二感触信号。
[0072] S4、若所述工件尺寸检测合格，执行步骤S41，若否，执行步骤S42；
[0073] S41、第三电磁阀4驱动已检测推料装置以将所述工件从所述第二监测点处推入合格品箱；
[0074] S42、第四电磁阀5驱动不良品取料装置以将所述工件从所述第二监测点处推入不良品箱。
[0075] 其中，当接收到所述第一感触信号且未接收到所述第二感触信号时，所述工件尺寸检测合格，执行步骤S41；
[0076] 当接收到所述第一感触信号且接收到所述第二感触信号时，所述工件尺寸检测不合格，执行步骤S42；
[0077] 当未接收到所述第一感触信号且未接收到所述第二感触信号时，所述工件尺寸检测不合格，执行步骤S42。
[0078] 具体的，工件被判断是否为合格品的原理如下：
[0079] 当微调千分尺与第一感应开关接触时第一精密开关8断开，微调千分尺与第二精密开关9不接触(即第二精密开关9不断开)，工件为合格品，KM2常开断开直线气缸电磁阀断电回原位，PLC控制器11输出讯号给KM3线圈，KM3常开闭合，已检测推料装置电磁阀工作并将工件推入合格品箱，KM3常开断开，KM3线圈断电，已检测推料装置电磁阀断开，已检测推料装置退回原位；当工件为不合格品时，会有两种情况产生：如果工件小于设定公差，则微调千分尺与第一精密开关8接触(第一精密开关8常闭断开)，微调千分尺与第二精密感应开关也接触(第二精密开关9常闭断开)，PLC控制器11输出先给讯号给KM4线圈，KM4常开闭合，不良品取料装置电磁阀启动，不良品取料装置往工件位置模腔第二监测点处，PLC控制器11再给讯号KM3线圈，KM3常开闭合，已检测推料装置电磁阀工作并将工件推入第二检测点处，由不良品取料装置回原位时将不合格品取回至不良品箱；如果工件大于设定公差，则微调千分尺与第一精密开关8及微调千分尺与第二精密感应开关均不接触，PLC控制器11输出先给讯号给KM4线圈，KM4常开闭合，不良品取料装置电磁阀启动，不良品取料装置往工件位置模腔第二监测点处，PLC控制器11再给讯号KM3线圈，KM3常开闭合，已检测推料装置电磁阀工作并将工件推入第二监测点处，由不良品取料装置回原位时将不合格品取回至不良品箱。
[0080] 此外，该方法还包括以下：
[0081] 启动开关6启动所述控制器11。
[0082] 停止开关7控制所述控制器11停止工作。
[0083] 本发明所提供的精密检测设备控制方法可往复运行，若要停止运行，先按停止开关7，再按启动开关6即可。
[0084] 本发明虽然以较佳实施例公开如上，但其并不是用来限定本发明，任何本领域技术人员在不脱离本发明的精神和范围内，都可以做出可能的变动和
修改，因此本发明的保护范围应当以本发明
权利要求所界定的范围为准。
