玻璃缺陷显影装置和玻璃缺陷检测设备专利检索-缺陷形式要求受理局第I章专利合作条约专利权专利检索查询-专利查询网

玻璃 缺陷显影装置和玻璃缺陷检测设备

阅读：339发布：2020-06-26

专利汇可以提供玻璃缺陷显影装置和玻璃缺陷检测设备专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本申请公开了玻璃缺陷显影装置和玻璃缺陷检测设备。其中，为了显影具有特定缺陷尺寸的玻璃缺陷，玻璃缺陷显影装置应被配置为同时满足以下条件：第一条件：当镜头采用远心镜头时：4L 位置均可被检出。，下面是玻璃缺陷显影装置和玻璃缺陷检测设备专利的具体信息内容。

权利要求

1.玻璃缺陷显影装置，用于显影具有特定缺陷尺寸的玻璃缺陷，包括：
条纹光源，其发射以特定周期明暗相间的光；
载台，其承载待测玻璃；和
图像采集器，其包括相机和镜头，所述相机采集条纹光源发射的光透过待测玻璃及镜头后形成的图像；
其特征是：
所述的玻璃缺陷显影装置被配置为同时满足以下条件：
第一条件：
当镜头采用远心镜头时：
4L或当镜头采用普通镜头时：
第二条件：
其中，
所述的缺陷尺寸为玻璃表面平行于条纹明暗变化方向的任意直线被所述的缺陷截得的线段之长度值集合中之任一；
L为缺陷尺寸；
T0为条纹光源明暗变化周期；
D1为待测玻璃与条纹光源之间的距离；
D2为镜头与待测玻璃之间的距离；
为采集的图像中沿条纹明暗变化方向的灰度值曲线中的平值段长度占条纹周期总长度的比例；其在T为定值时由D1决定；所述的平值段是指所述的灰度值曲线导数值近零的一段。
2.如权利要求1所述的玻璃缺陷显影装置，其特征是：所述的条纹光源相对待测玻璃转动并至少停靠于两个位置，在各位置上，条纹光源明暗相间的变化方向彼此相交。
3.玻璃缺陷显影装置，用于显影缺陷尺寸落入特定尺寸范围的玻璃缺陷，包括：
条纹光源，其发射以特定周期明暗相间的光；
载台，其承载待测玻璃；和
图像采集器，其包括相机和镜头，所述相机采集条纹光源发射的光透过待测玻璃及镜头后形成的图像；
其特征是：
所述的玻璃缺陷显影装置被配置为同时满足以下条件：
第一条件：
当镜头采用远心镜头时：
4Lmax或当镜头采用普通镜头时：
第二条件：
其中，
所述的缺陷尺寸为玻璃表面平行于条纹明暗变化方向的任意直线被所述的缺陷截得的线段之长度值集合中之任一；
Lmax为特定尺寸范围中的最大尺寸；
Lmin为特定尺寸范围中的最小尺寸；
T0为条纹光源明暗变化周期；
D1为待测玻璃与条纹光源之间的距离；
D2为镜头与待测玻璃之间的距离；
为采集的图像中沿条纹明暗变化方向的灰度值曲线中的平值段长度占条纹周期总长度的比例；其在T为定值时由D1决定；所述的平值段是指灰度值曲线中导数值近零的一段。
4.如权利要求3所述的玻璃缺陷显影装置，其特征是：所述的条纹光源相对待测玻璃转动并至少停靠于两个位置，在各位置上，条纹光源明暗相间的变化方向彼此相交。
5.玻璃缺陷显影装置，用于显影直径大于0.02mm小于0.2mm的凸点缺陷或凹点缺陷，包括：
条纹光源，其发射以特定周期明暗相间的光；
载台，其承载待测玻璃；和
图像采集器，其包括相机和镜头，所述相机采集条纹光源发射的光透过待测玻璃及镜头后形成的图像；
其特征是：
所述的镜头采用远心镜头，条纹光源明暗变化周期被配置为大于0.8mm小于1.4mm；
待测玻璃至条纹光源的距离被配置为使采集的图像中灰度值曲线中的平值段长度占条纹周期总长度的比值小于0.3；其中所述的平值段是指沿条纹明暗变化方向的灰度值曲线中导数值近零的一段。
6.如权利要求5所述的玻璃缺陷显影装置，其特征是：所述的条纹光源相对待测玻璃转动并至少停靠于两个位置，在各位置上，条纹光源明暗相间的变化方向彼此相交。
7.玻璃缺陷检测设备，其特征是，包括如权利要求1至6中任一项所述的玻璃缺陷显影装置和图像分析装置；所述的相机将采集的图像发送至图像分析装置，所述的图像分析装置通过检测收到的图像中明暗变化方向上像素灰度值的剧烈变化以检测玻璃缺陷。

说明书全文

玻璃缺陷显影装置和玻璃缺陷检测设备

技术领域

[0001] 本发明涉及玻璃检测领域，具体涉及玻璃缺陷显影装置和玻璃缺陷检测设备。

背景技术

[0002] 现有技术中，一般利用机器视觉分析技术分析曲面玻璃反射光形成的图像来检测玻璃缺陷，然而，以此原理检测缺陷，反射形成的高光可能会干扰玻璃缺陷的显像。

[0003] 2013年10月9日公开的中国专利申请CN103344651A公开了一种采集条形光源透过玻璃形成的图像，再将采集到的图像与无缺陷玻璃的图像进行比对，根据相位差获取玻璃
缺陷的方法。这种方法目前缺陷显像的内在规律尚不明了，但已经被实验所证实确实可行。
然而此方法在应用中受到限制，其一是这种方法在现有技术中主要应用于检测尺寸较大的
缺陷，即检测到的缺陷尺寸一般大于条纹光源条纹周期；其二是这种方法无法应用于曲面
玻璃的缺陷检测，这是因为受曲面玻璃加工精度限制，两片没有缺陷的曲面玻璃，其被条纹
光调制后的图像相位也是不一样的。因此，实践中，由于无法获得被检测曲面玻璃的无缺陷
图像，也就无法通过与无缺陷图像对比而得的相位差检测图像缺陷。

发明内容

[0004] 本发明的目的在于克服背景技术中存在的上述缺陷或问题，提供玻璃缺陷显影装置和玻璃缺陷检测设备，其能够对尺寸较小的缺陷实现全检，进一步地还可以应用于曲面
玻璃缺陷的检测。

[0005] 为达成上述目的，采用如下技术方案：

[0006] 第一技术方案涉及玻璃缺陷显影装置，用于显影具有特定缺陷尺寸的玻璃缺陷，包括：条纹光源，其发射以特定周期明暗相间的光；载台，其承载待测玻璃；和图像采集器，
其包括相机和镜头，所述相机采集条纹光源发射的光透过待测玻璃及镜头后形成的图像；
其中，所述的玻璃缺陷显影装置被配置为同时满足以下条件：第一条件：当镜头采用远心镜
头时：4L其中，所述的缺陷尺寸为玻璃表面平行于条纹明暗变化方向的任意直线被所述的
缺陷截得的线段之长度值集合中之任一；L为缺陷尺寸；T0为条纹光源明暗变化周期；D1为
待测玻璃与条纹光源之间的距离；D2为镜头与待测玻璃之间的距离；为采集的图像中沿
条纹明暗变化方向的灰度值曲线中的平值段长度占条纹周期总长度的比例；其在T为定值
时由D1决定；所述的平值段是指所述的灰度值曲线中导数值近零的一段。

[0007] 第二技术方案基于第一技术方案，其中，所述的条纹光源相对待测玻璃转动并至少停靠于两个位置，在各位置上，条纹光源明暗相间的变化方向彼此相交。

[0008] 第三技术方案涉及玻璃缺陷显影装置，用于显影缺陷尺寸落入特定尺寸范围的玻璃缺陷，包括条纹光源，其发射以特定周期明暗相间的光；载台，其承载待测玻璃；和图像采
集器，其包括相机和镜头，所述相机采集条纹光源发射的光透过待测玻璃及镜头后形成的
图像；其中，所述的玻璃缺陷显影装置还被配置为应同时满足以下条件：第一条件：当镜头
采用远心镜头时：4 Lma x< T0 <70 Lm in ；或当镜头采用普通镜头时：
第二条件：其中，所述的缺陷尺寸为玻璃表面
平行于条纹明暗变化方向的任意直线被所述的缺陷截得的线段之长度值集合中之任一；
Lmax为特定尺寸范围中的最大尺寸；Lmin为特定尺寸范围中的最小尺寸；T0为条纹光源明暗
变化周期；D2为镜头与待测玻璃之间的距离；D1为待测玻璃与条纹光源之间的距离；为采
集的图像中沿条纹明暗变化方向的灰度值曲线中的平值段长度占条纹周期总长度的比例；
其在T为定值时由D1决定；所述的平值段是指灰度值曲线中导数值近零的一段。

[0009] 第四技术方案基于第三技术方案，其中，所述的条纹光源相对待测玻璃转动并至少停靠于两个位置，在各位置上，条纹光源明暗相间的变化方向彼此相交。

[0010] 第五技术方案涉及玻璃缺陷显影装置，用于显影直径大于0.02mm小于0.2mm的凸点缺陷或凹点缺陷，包括条纹光源，其发射以特定周期明暗相间的光；载台，其承载待测玻
璃；和图像采集器，其包括相机和镜头，所述相机采集条纹光源发射的光透过待测玻璃及镜
头后形成的图像；其中，所述的镜头采用远心镜头，条纹光源明暗变化周期被配置为大于
0.8mm小于1.4mm；待测玻璃至条纹光源的距离被配置为使采集的图像中灰度值曲线中的平
值段长度占条纹周期总长度的比值小于0.3；其中所述的平值段是指沿条纹明暗变化方向
的灰度值曲线中导数值近零的一段。

[0011] 第六技术方案基于第五技术方案，其中，所述的条纹光源相对待测玻璃转动并至少停靠于两个位置，在各位置上，条纹光源明暗相间的变化方向彼此相交。

[0012] 第七技术方案涉及玻璃缺陷检测设备，其包括第一至第六技术方案中涉及的玻璃缺陷显影装置和图像分析装置；所述的相机将采集的图像发送至图像分析装置，所述的图
像分析装置通过检测收到的图像中明暗变化方向上像素灰度值的剧烈变化以检测玻璃缺
陷。

[0013] 相对于现有技术，上述方案具有的如下有益效果：

[0014] 首先，本申请所公开的技术方案是基于已被发现的普通光源照射玻璃后无法在图像中被发现的玻璃缺陷在经条纹光照射后形成的图像上能够显影的科学发现。该发现目前
尚没有进行更为深入的科学研究，揭示其内在规律。一般认为，条纹光能够显影缺陷，其主
要是由于条纹光在被采集时形成了灰度值的波形变化。而缺陷处于波形上升段或下降段
时，能够被显影。现有技术，缺陷在条纹光照射下被显影的现象已经应用于玻璃缺陷探查领
域，但是正如背景技术中所介绍的，现有技术中主要应用于检测尺寸较大的缺陷，即检测到
的缺陷尺寸一般大于条纹光源条纹周期。对于缺陷尺寸远小于条纹周期的情况下能否被显
影，现有技术没有给出答案。申请人对此进行了进一步的实验，发现缺陷尺寸远小于条纹周
期的情况下，缺陷尺寸是可以显影的。在进行实验时，申请人发现了一个在现有科学基础上
无法被理解的现象，即，如果经条纹光调制后形成的图像上沿明暗变化方向的灰度值曲线
的平头段和平底段(如图7所示)，仍在满足一定条件时可以显影尺寸较小的缺陷。这个条件
即是平头段占条纹周期比例小于0.3且条纹周期不超过70个缺陷尺寸，这样的发现，其原理
目前尚不被理解。难以理解之处在于，灰度值波形的平头段和平底段，事实上其光学特性与
普通光源透过玻璃形成的图像并无不同。在普通光源形成的图像无法显影的情况下，在平
头段和平底段能够被显影，是预料不到的。基于以上发现，申请人确定了本申请的第一技术
方案作为特定缺陷尺寸的缺陷能够被无遗漏全检的技术条件。这里说的全检，即是在缺陷
位于沿着明暗变化方向的灰度值波形曲线的任何地方，均能够被检得。换句话说，只要在检
测方法上予以配套，在已经确定待测缺陷尺寸范围的情况下，装置的配置决定了待测缺陷
尺寸范围内缺陷的漏检率。通过以上分析可以得到，本申请第一技术方案的技术效果即为
针对特定缺陷尺寸的缺陷，第一技术方案所提供的显影装置可以实现全检。作为一项参数
选择性的申请，本申请所作的技术贡献在于揭示了即使缺陷位于灰度值波形曲线的平头段
或平底段，在满足上述参数选择的情况下，仍能够被显影。而这是本领域技术人员所不可预
料的。

[0015] 第二技术方案、第四技术方案和第六技术方案则是基于申请人发现的另一个规律，即沿着明暗变化方向，玻璃缺陷更易于显像，也就是说，过玻璃缺陷沿明暗变化方向取
一像素条，要比过玻璃缺陷垂直于明暗变化方向取一像素条，玻璃缺陷所在位置与周围的
像素相比，灰度值变化更剧烈。这个规律首先要基于以像素条作为主要分析对象，其次，要
基于对像素条中缺陷所在位置灰度值的变化进行分析才能发现。而第二技术方案正是基于
申请人所发现的上述未被现有技术批露的自然规律。在第二技术方案中，将条纹光源相对
载台转动的关键技术手段，使条纹光源以不同的明暗变化方向照射待测玻璃，从而使一些
具有方向性的玻璃缺陷即使在一个明暗变化方向上不易被显像，也会在明暗变化方向发生
变化后被显像，从而降低了缺陷漏检率。另外，由于在本申请中缺陷尺寸被定义为玻璃表面
平行于条纹明暗变化方向的任意直线被所述的缺陷截得的线段之长度值集合中之任一，因
此通过转动条纹光源，该集合中的值的数量也能够增加，从而即使在某一方向上缺陷的尺
寸未落入显影范围，而在另一方向上，缺陷的尺寸则可能落入显影范围，从而提高缺陷的检
出率。

[0016] 第三技术方案是对第一技术方案合乎逻辑的扩展，即如果要全检其缺陷尺寸落入特定缺陷尺寸范围内的所有缺陷，只需满足第三技术方案所限定的技术条件。

[0017] 第五技术方案是第三技术方案的一个具体应用。众所周知，在检测手机表面玻璃时，凸点和凹点的显影是个难点，且该缺陷尺度较小，集中在0.02至0.2mm范围内，因此，第
五技术方案所限定的条件，专门针对这样的凸点和凹点缺陷，可以实现缺陷的全检。

[0018] 第七技术方案则是限定了一个检测设备，尤其重要的是其限定了该检测设备主要分析图像中明暗变化方向上像素灰度值的剧烈变化。由此，可从机器视觉角度检出被显影
的缺陷。
附图说明

[0019] 为了更清楚地说明实施例的技术方案，下面简要介绍所需要使用的附图：

[0020] 图1为玻璃缺陷显影装置实施例的结构示意图；

[0021] 图2为实施例一中缺陷一处于灰度值曲线下降段中间位置时的放大图像；

[0022] 图3为实施例一中缺陷一处于灰度值曲线下降段中间位置时的灰度值曲线图；

[0023] 图4为实施例一中缺陷一处于灰度值曲线平头段边缘位置时的放大图像；

[0024] 图5为实施例一中缺陷一处于灰度值曲线平头段边缘位置时的灰度值曲线图；

[0025] 图6为实施例一中缺陷一处于灰度值曲线平头段中间位置时的放大图像；

[0026] 图7为实施例一中缺陷一处于灰度值曲线平头段中间位置时的灰度值曲线图；

[0027] 图8为实施例一中缺陷一处于灰度值曲线平底段边缘位置时的放大图像；

[0028] 图9为实施例一中缺陷一处于灰度值曲线平底段边缘位置时的灰度值曲线图；

[0029] 图10为实施例一中缺陷一处于灰度值曲线平底段中间位置时的放大图像；

[0030] 图11为实施例一中缺陷一处于灰度值曲线平底段中间位置时的灰度值曲线；

[0031] 图12为实施例二中缺陷一处于灰度值曲线平头段中间位置时的放大图像；

[0032] 图13为实施例二中缺陷一处于灰度值曲线平头段中间位置时的灰度值曲线图；

[0033] 图14为实施例二中缺陷一处于灰度值曲线平底段中间位置时的放大图像；

[0034] 图15为实施例二中缺陷一处于灰度值曲线平底段中间位置时的灰度值曲线图；

[0035] 图16为实施例三中缺陷一处于灰度值曲线平头段中间位置时的放大图像；

[0036] 图17为实施例三中缺陷一处于灰度值曲线平头段中间位置时的灰度值曲线图；

[0037] 图18为实施例三中缺陷一处于灰度值曲线平底段中间位置时的放大图像；

[0038] 图19为实施例三中缺陷一处于灰度值曲线平底段中间位置时的灰度值曲线图；

[0039] 图20为实施例四中缺陷一处于灰度值曲线平头段中间位置时的放大图像；

[0040] 图21为实施例四中缺陷一处于灰度值曲线平头段中间位置时的灰度值曲线图；

[0041] 图22为实施例四中缺陷一处于灰度值曲线平底段中间位置时的放大图像；

[0042] 图23为实施例四中缺陷一处于灰度值曲线平底段中间位置时的灰度值曲线图；

[0043] 图24为对比例一中缺陷一处于灰度值曲线平头段中间位置时的放大图像；

[0044] 图25为对比例一中缺陷一处于灰度值曲线平头段中间位置时的灰度值曲线图；

[0045] 图26为对比例一中缺陷一处于灰度值曲线平底段中间位置时的放大图像；

[0046] 图27为对比例一中缺陷一处于灰度值曲线平底段中间位置时的灰度值曲线图；

[0047] 图28为对比例二中缺陷一处于灰度值曲线平头段中间位置时的放大图像；

[0048] 图29为对比例二中缺陷一处于灰度值曲线平头段中间位置时的灰度值曲线图；

[0049] 图30为对比例二中缺陷一处于灰度值曲线平底段中间位置时的放大图像；

[0050] 图31为对比例二中缺陷一处于灰度值曲线平底段中间位置时的灰度值曲线图；

[0051] 图32为对比例二中缺陷一处于灰度值曲线平头段中间位置时的放大图像；

[0052] 图33为对比例二中缺陷一处于灰度值曲线平头段中间位置时的灰度值曲线图；

[0053] 图34为对比例二中缺陷一处于灰度值曲线平底段中间位置时的放大图像；

[0054] 图35为对比例二中缺陷一处于灰度值曲线平底段中间位置时的灰度值曲线图；

[0055] 图36为实施例一中条纹光源相对载台处于第一位置时条纹光源与待测玻璃位置关系示意图；

[0056] 图37为实施例一中条纹光源相对载台处于第一位置时图像在第二缺陷所在位置的放大图；

[0057] 图38为实施例一中条纹光源相对载台处于第一位置时灰度值曲线；

[0058] 图39为实施例一中条纹光源相对载台处于第二位置时条纹光源与待测玻璃位置关系示意图；

[0059] 图40为实施例一中条纹光源相对载台处于第二位置时图像在第二缺陷所在位置的放大图；

[0060] 图41为实施例一中条纹光源相对载台处于第二位置时灰度值曲线；

[0061] 主要附图标记说明：

[0062] 条纹光源1；载台2；图像采集器3；镜头31；相机32；待测玻璃4。

具体实施方式

[0063] 权利要求书和说明书中，除非另有限定，术语“第一”、“第二”或“第三”等，都是为了区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。

[0064] 权利要求书和说明书中，除非另有限定，术语“中心”、“横向”、“纵向”、“水平”、“垂直”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系乃基于附图所示的方位和位置关系，且仅是为了便于简化描述，而不是暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位或以特定的方位构造和操作。

[0065] 权利要求书和说明书中，除非另有限定，术语“固接”或“固定连接”，应作广义理解，即两者之间没有位移关系和相对转动关系的任何连接方式，也就是说包括不可拆卸地
固定连接、可拆卸地固定连接、连为一体以及通过其他装置或元件固定连接。

[0066] 权利要求书和说明书中，除非另有限定，术语“包括”、“具有”以及它们的变形，意为“包含但不限于”。

[0067] 下面将结合附图，对实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。

[0068] 参见图1，图1示出了本申请中的玻璃缺陷显影装置的结构。如图1所示，玻璃缺陷显影装置包括机架(图中未示出)、条纹光源1、载台2和图像采集器3。机架作为整台玻璃缺
陷图像采集装置的基础，相对大地固定地安装于工作位置。条纹光源1包括普通光源和光
栅，其中光栅置于普通光源的发光面，从而使条纹光源1发射明暗相间的光。载台2设有一阶
梯孔，阶梯孔的大孔朝上，也使阶梯孔的阶梯面朝上以承载待测玻璃4。阶梯孔的大孔与待
测玻璃4的外缘相匹配，用于定位待测玻璃4。将待测玻璃置于阶梯孔内时，待测玻璃相对载
台固定不动。载台2可以与机架固接，并使阶梯孔位于条纹光源1的上方。图像采集器3用于
采集条纹光源1发射的光透过待测玻璃4后形成的图像。图像采集器3位于待测玻璃4的上
方，其包括用于成像的镜头31和用于采集图像的相机32，其中，镜头31正对待测玻璃4，相机
32位于镜头31的上方。

[0069] 进一步地，本申请中的玻璃缺陷显影装置还包括旋转驱动机构，旋转驱动机构为伺服电机，该伺服电机的固定部固接于机架，伺服电机的旋转轴垂直于大地，其输出端朝
上。条纹光源1固接于伺服电机的输出端，从而使条纹光源1可以相对机架沿垂直的旋转轴
转动。由于条纹光源1由伺服电机驱动，因此，在条纹光源1相对载台2转动时，可以对于转动
的停靠角度进行精确控制，即可以停靠于人为设定的任意位置。

[0070] 在上述基本玻璃缺陷显影装置的结构中，在条纹光源1给定的情况下，待测玻璃4与条纹光源1之间的距离D1决定了沿明暗变化方向的灰度值曲线中的平值段长度占条纹周
期总长度的比例。其中，平值段是指上述灰度值曲线中导数值近零的一段。

[0071] 本申请还公开了一种玻璃缺陷检测设备，其包括上述的玻璃缺陷显影装置和图像分析装置；其中相机将采集的图像发送至图像分析装置，而图像分析装置通过检测收到的
图像中明暗变化方向上像素灰度值的剧烈变化以检测玻璃缺陷。具体而言，图像检测装置
沿明暗变化方向将图像中的待测区域分解成若干条形像素区域，该条形像素区域的特点是
其长边平行于条纹的明暗变化方向，由于该条形像素区域是由像素构成的，我们定义长边
为像素列，定义其垂直于像素列的方向即垂直于明暗变化方向的为像素行，像素行包含一
个像素。条形像素区域的集合必须全面覆盖待测区域。由此，我们将对图像待测区域的处理
简化为对条形像素区域的处理。当然，任一条形像素区域沿长边方向存在灰度值的剧烈变
化则该剧烈变化所对应的位置即可检出玻璃缺陷。条形像素区域具体检测灰度值剧烈变化
的方法可以为：沿像素列方向对灰度值求导，得到灰度值的导数值；沿像素列方向，对导数
值按阈值分割法将行灰度值的波形曲线分为彼此相接的上升段、平头段、下降段、平底段中
的一段或多段；如在上升段中出现负导数值或在下降段中出现正导数值或在平头段或平底
段中出现灰度值与该段灰度值的平均值之差值的绝对值大于图像噪声值的特定倍数(本申
请中倍数值采用2)，则可以确定该条形像素区域中明暗变化方向上像素灰度值存在剧烈变
化。

[0072] 基于上述玻璃缺陷显影装置的结构、玻璃缺陷检测设备和上述玻璃缺陷的检测方法，申请人给出了四个实施例和三个对比例。上述四个实施例和三个对比例中，以下技术条
件是给定不变的：

[0073] 相机32采用acA1600-60gm；其分辨率为1600*1200；每个像素尺寸为4.5微米*4.5微米；镜头31采用0.30×SilverTL Telecentric Lens远心镜头，像素精度为15微米/pix。
噪声灰度值差5pix。

[0074] 以下通过表1来对比上述四个实施例和三个对比例，相关的图像见图2至图35。

[0075] 表1：实施例与对比例的相关技术参数和缺陷检出情况

[0076]

[0077]

[0078] 其中，L指缺陷尺寸；

[0079] T0指条纹光源明暗变化周期；

[0080] T指采集的图像中的条纹周期；

[0081] W/T指采集的图像中条纹周期中的平值段长度占条纹周期总长度的比例；其由D1决定；

[0082] 所述的平值段是指沿明暗变化方向的灰度值曲线中导数值近零的一段；

[0083] 平头段指平值段中灰度值较高的一段；

[0084] 平底段指平值段中灰度值较低的一段；

[0085] 下降段指灰度值下降的一段；

[0086] 上升段指灰度值上升的一段；

[0087] 平头段中指缺陷位于平头段中部；

[0088] 平头段边指缺陷位于平头段边缘；

[0089] 平底段中指缺陷位于平底段中部；

[0090] 平底段边指缺陷位于平底段边缘。

[0091] 清晰对于平值段来说，是指缺陷灰度值与该段灰度值的平均值之差值的绝对值大于图像噪声值2倍。

[0092] 不清晰对于平值段来说，是指缺陷灰度值与该段灰度值的平均值之差值的绝对值小于图像噪声值2倍。

[0093] 全检是指缺陷位于图像中任一位置，均能被清晰显影而被检出。

[0094] 从表1可知，实施例一中，T/L＝68.8；W/T＝0.29；此时，缺陷位于沿明暗变化方向的灰度值曲线的任何一个位置，均能清晰显影，因此该实施例实现了对指定缺陷的全检。

[0095] 实施例二中，T/L＝4.2，而由于条纹光源周期很小，因此不存在平值段，此时也能实现全检(在平值段能够检出，在上升段和下降段就一定能检出)，但已经接近检出的极限。

[0096] 实施例三中，由于D1很大，所以不存在平值段，此时噪声已经很大，但也能实现全检，但已经到了检出的极限。

[0097] 实施例四中，由于D1很小，所以W/T达到0.29，此时也能实现全检。

[0098] 对比例一中，T/L＝72.6，且W/T＝0.42，此时缺陷处于平头段时不清晰，平底段时清晰，因此无法实现缺陷位于任何位置时均能检出。

[0099] 对比例二中，T/L＝80.2，且W/T＝0.3，此时缺陷处于平头段时不清晰，平底段时清晰，因此无法实现缺陷位于任何位置时均能检出。

[0100] 对比例三中，T/L＝53.6，但W/T＝0.42，此时缺陷处于平头段或平底段时均不清晰，因此无法实现缺陷位于任何位置时均能检出。

[0101] 由以下四个实施例和三个对比例可以总结出，当在一个像素条中，缺陷尺寸给定时，只有在同时满足4L头时，T＝T0；当采用普通镜头时，T＝D2*T0/(D1+D2)；D2为镜头31与待测玻璃4之间的距离；
D1为待测玻璃4与条纹光源1之间的距离.

[0102] 从上述四个实施例和三个对比例还可以根据逻辑推断出，当需要全检一个特定尺寸范围内的缺陷时，如需要实现全检，则需要同时满足：4LmaxLmax为特定尺寸范围中的最大尺寸；Lmin为特定尺寸范围中的最小尺寸。

[0103] 从上述四个实施例和三个对比例还可以根据逻辑推断出，当需要显影直径大于0.02mm小于0.2mm的凸点缺陷或凹点缺陷时，则代入上述全检条件，可得实际条件为所述的
镜头采用远心镜头，条纹光源明暗变化周期被配置为大于0.8mm小于1.4mm且待测玻璃至条
纹光源的距离被配置为使采集的图像中灰度值曲线中的平值段长度占条纹周期总长度的
比值小于0.3。

[0104] 由于本申请中，缺陷尺寸被定义为玻璃表面平行于条纹明暗变化方向的任意直线被所述的缺陷截得的线段之长度值集合中之任一。因此，特定的条纹明暗变化方向将直接
影响一个实际缺陷的缺陷尺寸的集合。同时，由于沿条纹明暗变化方向检测灰度值剧烈变
化具有更好的显影性。因此，本申请中，通过转动条纹光源1来提高全检率。

[0105] 以上内容通过图36至图41证实：

[0106] 图36是条纹光源1转至第一位置时，条纹光源1与待测玻璃4的位置关系示意图。图37和图38给出了条纹光源1在第一位置时缺陷二的图像和灰度值曲线。由图37和图38可知，
缺陷二在条纹光源1处于第一位置时未被清晰显影。而图39是条纹光源1转至第二位置时，
条纹光源1与待测玻璃4的位置关系示意图。可见，在第二位置时的条纹明暗变化方向与在
第一位置时的条纹明暗变化方向垂直。图40和图41给出了条纹光源1在第二位置时缺陷二
的图像和灰度值曲线。由图40和图41可知，缺陷二在条纹光源1处于第二位置时被清晰显
影。

[0107] 因此，转动条纹光源1，能够提高实际缺陷的检出率。

[0108] 上述说明书和实施例的描述，用于解释本发明保护范围，但并不构成对本发明保护范围的限定。

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玻璃缺陷显影装置和玻璃缺陷检测设备

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