显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统
专利汇可以提供显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 申请 实施例 公开了一种 显示面板 的 缺陷 检测方法及缺陷检测系统，该缺陷检测方法应用于缺陷检测系统，缺陷检测系统包括拍照装置，拍照装置在平行于显示面板表面的检测面上平动，缺陷检测方法包括：获取待拍照点的 位置 ；根据待拍照点的位置确定目标焦距；将拍照装置的焦距调整为目标焦距；将拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测显示面板的缺陷，其中，目标拍照点在显示面板上的投影与待拍照点重合。本申请根据待拍照点的位置直接确定拍照装置的焦距，能够避免在每个待拍照点都自动聚焦，从而降低聚焦时间，提高拍照效率；并且可以在将拍照装置移动至目标拍照点的过程中或之前调整焦距，提高拍照效率。，下面是显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统专利的具体信息内容。
1.一种显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，应用于缺陷检测系统，所述缺陷检测系统包括拍照装置，所述拍照装置在平行于所述显示面板表面的检测面上平动，所述缺陷检测方法包括：
获取所述待拍照点的位置；
根据所述待拍照点的位置确定目标焦距；
将所述拍照装置的焦距调整为所述目标焦距；
将所述拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测所述显示面板的缺陷，其中，所述目标拍照点在所述显示面板上的投影与所述待拍照点重合。
2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述显示面板的表面被划分为多个区域，所述多个区域对应不同的焦距，所述根据所述待拍照点的位置确定目标焦距，包括：
获取预存的区域和焦距的对应关系；
根据所述待拍照点的位置确定目标区域，其中，所述目标区域为所述待拍照点所处的区域；
根据所述目标区域、所述预存的区域和焦距的对应关系，确定所述目标焦距。
3.根据权利要求1或2所述的缺陷检测方法，其特征在于，
所述获取所述待拍照点的位置，包括：
在所述显示面板的表面建立直角坐标系，所述直角坐标系包括横轴和纵轴；
扫描所述显示面板，以获取所述显示面板上缺陷点的横坐标和纵坐标；
将所述显示面板上缺陷点的横坐标和纵坐标，作为所述待拍照点的横坐标和纵坐标，以确定所述待拍照点的位置。
4.根据权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述将所述拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，包括：
获取所述拍照装置的当前横坐标和当前纵坐标；
根据所述拍照装置的当前横坐标和当前纵坐标、所述待拍照点的横坐标和纵坐标，得到横轴移动距离和纵轴移动距离；
将所述拍照装置沿所述横轴移动所述横轴移动距离，将所述拍照装置沿所述纵轴移动所述纵轴移动距离。
5.一种缺陷检测系统，其特征在于，所述缺陷检测系统包括拍照装置和控制器，所述拍照装置在平行于所述显示面板表面的检测面上平动，所述拍照装置用于拍照，所述控制器用于：
获取所述待拍照点的位置；
根据所述待拍照点的位置确定目标焦距；
将所述拍照装置的焦距调整为所述目标焦距；
将所述拍照装置移动至所述目标拍照点进行拍照，以检测所述显示面板的缺陷，其中，所述目标拍照点在所述显示面板上的投影与所述待拍照点重合。
6.根据权利要求5所述的缺陷检测系统，其特征在于，所述控制器具体用于：
获取预存的区域和焦距的对应关系；
根据所述待拍照点的位置确定目标区域，其中，所述目标区域为所述待拍照点所处的区域；
根据所述目标区域、所述预存的区域和焦距的对应关系，确定所述目标焦距。
7.根据权利要求6所述的缺陷检测系统，其特征在于，所述缺陷检测系统还包括扫描装置，所述扫描装置用于：
在所述显示面板的表面建立直角坐标系，所述直角坐标系包括横轴和纵轴；
扫描所述显示面板，以获取所述显示面板上缺陷点的横坐标和纵坐标；
所述控制器具体用于将所述显示面板上缺陷点的横坐标和纵坐标，作为所述待拍照点的横坐标和纵坐标，以确定所述待拍照点的位置。
8.根据权利要求7所述的缺陷检测系统，其特征在于，所述缺陷检测系统还包括第一驱动装置以及第二驱动装置，
所述控制器用于获取所述拍照装置的当前横坐标和当前纵坐标；根据所述拍照装置的当前横坐标和当前纵坐标、所述待拍照点的横坐标和纵坐标，得到横轴移动距离和纵轴移动距离；
所述第一驱动装置用于将所述拍照装置沿所述横轴移动所述横轴移动距离，所述第二驱动装置用于将所述拍照装置沿所述纵轴移动所述纵轴移动距离。
9.根据权利要求8所述的缺陷检测系统，其特征在于，所述缺陷检测系统还包括第一导轨以及第二导轨，
所述第一导轨沿所述横轴延伸，所述第二导轨沿所述纵轴延伸，所述第一导轨与所述第二导轨活动连接，所述拍照装置设置在所述第二导轨上，所述第一驱动装置用于驱动所述第二导轨在所述第一导轨上沿所述横轴滑动，以使所述拍照装置沿所述横轴滑动；
所述拍照装置与所述第二导轨活动连接，所述第二驱动装置用于驱动所述拍照装置在所述第二导轨上沿所述纵轴滑动。
10.根据权利要求9所述的缺陷检测系统，其特征在于，所述缺陷检测系统包括承载平台，所述承载平台用于承载所述显示面板，所述第一导轨的数量为两个，两个所述第一导轨位于所述承载平台的两侧，所述第二导轨的两端分别与所述第一导轨的两端活动连接。
显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统
技术领域
背景技术
拍照。若在对多个不同的待拍照点进行拍照时，需要针对每个拍照点重复进行聚焦动作，拍
照倍率越高，聚焦时间越长，增加整体聚焦时间，影响设备效率及节拍时间。
的检测面上平动，所述缺陷检测方法包括：
轴移动距离；
动所述第二导轨在所述第一导轨上沿所述横轴滑动，以使所述拍照装置沿所述横轴滑动；
两端分别与所述第一导轨的两端活动连接。
测方法包括：获取待拍照点的位置；根据待拍照点的位置确定目标焦距；将拍照装置的焦距
调整为目标焦距；将拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测显示面板的缺陷，其中，
目标拍照点在显示面板上的投影与待拍照点重合。本申请根据待拍照点的位置直接确定拍
照装置的焦距，能够避免在每个待拍照点都自动聚焦，从而降低聚焦时间，提高拍照效率；
并且可以在将拍照装置移动至目标拍照点的过程中或之前调整焦距，提高拍照效率。
附图说明
本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附
图。
具体实施方式
本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施
例，都属于本申请保护的范围。
因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解
为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、
“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个特征。在本申请的描述中，“多个”
的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
何技术人员能够实现和使用本申请，给出了以下描述。在以下描述中，为了解释的目的而列
出了细节。应当明白的是，本领域普通技术人员可以认识到，在不使用这些特定细节的情况
下也可以实现本申请。在其它实例中，不会对公知的结构和过程进行详细阐述，以避免不必
要的细节使本申请的描述变得晦涩。因此，本申请并非旨在限于所示的实施例，而是与符合
本申请所公开的原理和特征的最广范围相一致。
括：获取待拍照点的位置；根据待拍照点的位置确定目标焦距；将拍照装置的焦距调整为目
标焦距；将拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测显示面板的缺陷，其中，目标拍照
点在显示面板上的投影与待拍照点重合。
拍照点的位置；根据待拍照点的位置确定目标焦距；将拍照装置的焦距调整为目标焦距；将
拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测显示面板的缺陷，其中，目标拍照点在显示面
板上的投影与待拍照点重合。
一驱动装置14以及第二驱动装置15耦接，以发送指令或者获取信息。
件，能够把光学影像转化为数字信号。CCD上有许多排列整齐的电容，能感应光线，并将影像
转变成数字信号。经由外部电路的控制，每个小电容能将其所带的电荷转给它相邻的电容。
CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor，互补金属氧化物半导体)是指制造大
规模集成电路芯片用的一种技术或用这种技术制造出来的芯片，是电脑主板上的一块可读
写的芯片。
17固定在承载平台161上，避免显示面板17移动。
12设置在第二导轨163上。第一驱动装置14用于驱动第二导轨163在第一导轨162上沿横轴
滑动，以使拍照装置12沿横轴滑动。拍照装置12与第二导轨163活动连接，第二驱动装置15
用于驱动拍照装置12在第二导轨163上沿纵轴滑动。第一驱动装置14为气缸、液压缸以及电
机中的任一种，第二驱动装置15为气缸、液压缸以及电机中的任一种，本申请对此不作限
定。
二导轨163，能够提高第二导轨163的稳定性，能够避免拍照装置12晃动，提高拍照精度。
身底座相对显示面板17的垂直距离，从而避免调焦误差和调节自身底座误差叠加，可以减
小整体误差。
效率。第二导轨163的数量也可以为2个、3个或者更多个，多个第二导轨163沿横轴X依次排
布，多个第二导轨163能够使其上拍照装置12同时对显示面板17的各个区域的多个待拍照
点进行拍照，提高检测效率。
显示面板的区域和焦距的对应关系，将样品显示面板的区域和焦距的对应关系确定为预存
的区域和焦距的对应关系。预存的区域和焦距的对应关系可以应用于与样品显示面板同一
批次或同型号的显示面板17中。区域的大小、形状以及排布方式可以根据具体情况设置，例
如，区域形状可以为三角形、矩形以及四边形等形状，多个区域以阵列的方式排布。本申请
对此不作限定。
示。
例中，随机选取区域中多个待拍照点，分别对多个待拍照点进行拍照，获取各个待拍照点的
最优焦距，将各个待拍照点的最优焦距的平均值确定为区域对应的焦距。
例中显示面板17的缺陷检测方法可以包括以下步骤：
限定。
17上缺陷点的横坐标和纵坐标。例如，扫描装置13扫描显示面板17，标记出显示面板17上的
缺陷点位置，并根据坐标系确定获取显示面板17上缺陷点的横坐标和纵坐标。扫描装置13
将显示面板17上缺陷点的横坐标和纵坐标发送至控制器11。控制器11接收显示面板17上缺
陷点的横坐标和纵坐标，将显示面板17上缺陷点的横坐标和纵坐标，作为待拍照点的横坐
标和纵坐标，以确定待拍照点的位置。
确定目标区域，其中，目标区域为待拍照点所处的区域。根据目标区域、预存的区域和焦距
的对应关系，确定目标焦距。将待拍照点所处目标区域的焦距确定目标焦距，能够能够加快
目标焦距的确认速度，提高聚焦速度。当然在其他实施例中，也可以根据位置坐标点与焦距
的对应关系确定焦距，本申请对此不作限定。
的焦距为58mm。则根据目标区域、预存的区域和焦距的对应关系，确定目标焦距为58mm。
点的位置直接确定拍照装置12的焦距，能够避免在每个待拍照点都自动聚焦，从而降低聚
焦时间，提高拍照效率。
拍照装置12上设置的传感器获取拍照装置12的当前横坐标和当前纵坐标，本申请对此不作
限定。控制器11根据拍照装置12的当前横坐标和当前纵坐标、待拍照点的横坐标和纵坐标，
得到横轴移动距离和纵轴移动距离。例如，拍照装置12的当前位置在显示面板17上的投影
为原点0，待拍照点A的横坐标为0.8，纵坐标为1.9。则可得到，横轴移动距离为0.8，纵轴移
动距离为1.9。拍照装置12对待拍照点A拍照完毕后，拍照装置12的横坐标为0.8，纵坐标为
1.9；下一个待拍照点B的横坐标为2.4，纵坐标为1.9。则可得到，横轴移动距离为1.6，纵轴
移动距离为0。
距离，将拍照装置12沿横轴移动横轴移动距离；第二驱动装置15接收纵轴移动距离，将拍照
装置12沿纵轴移动纵轴移动距离。例如，横轴移动距离为0.8，纵轴移动距离为1.9，将拍照
装置12沿横轴移动0.8的距离，将拍照装置12沿横轴移动1.9的距离。
缺陷检测方法包括：获取待拍照点的位置；根据待拍照点的位置确定目标焦距；将拍照装置
的焦距调整为目标焦距；将拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测显示面板的缺陷，
其中，目标拍照点在显示面板上的投影与待拍照点重合。本申请根据待拍照点的位置直接
确定拍照装置的焦距，能够避免在每个待拍照点都自动聚焦，从而降低聚焦时间，提高拍照
效率；并且可以在将拍照装置移动至目标拍照点的过程中或之前调整焦距，提高拍照效率。
实施例，在此不再赘述。
例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依
据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容
不应理解为对本申请的限制。
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2 缺陷检测方法
