曲轴R处内部缺陷的超声波相控阵检测方法
专利汇可以提供曲轴R处内部缺陷的超声波相控阵检测方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 公开了 曲轴 R处内部 缺陷 的 超 声波 相控阵 检测方法，在曲轴 无损检测 传统工艺的 基础 上，将加有合适楔 块 的具有自动偏转和聚焦的一维线阵 探头 的相控阵检测方法应用到曲轴检测上。本发明的有益效果是解决了传统工艺检测的不足之处，本方法只采用一种探头即可对轴颈和R 角 处的内部缺陷进行检测，最大限度地提高检测可靠性和检测效率；本方法可以检测轴颈内部及R角处当量尺寸1mm以上的裂纹、夹杂、气孔等缺陷，可以方便有效地检测出曲轴R角圆弧的内部缺陷。，下面是曲轴R处内部缺陷的超声波相控阵检测方法专利的具体信息内容。
1.曲轴R处内部缺陷的超声波相控阵检测方法，将加有楔块的相控阵探头到曲轴上，其特征在于方法步骤如下：
（1）对曲轴表面进行处理；
（2）选择相控阵探头和楔块，楔块使之与曲轴轴颈的曲率一致；
（3）根据曲轴的参数选择阵列探头的检测位置和阵列探头的检测角度；
（4）对超声波相控阵探头进行调试和校准；
（5）通过超声波相控阵探头进行扫查；
（6）待检缺陷的判定。
2.根据权利要求1所述的曲轴R处内部缺陷的超声波相控阵检测方法，其特征在于：
所述对曲轴轴颈表面进行处理，所述曲轴表面的粗糙度Ra的值要求不大于6.3μm。
3.根据权利要求1所述的曲轴R处内部缺陷的超声波相控阵检测方法，其特征在于：
所述调试，其过程包括声速和零点校验、探头延迟检验、ACG校准以及TCG校准。
4.根据权利要求1所述的曲轴R处内部缺陷的超声波相控阵检测方法，其特征在于：
所述扫查，其方式为阵列探头的扇形扫查和无需前后移动只需沿着轴颈周向机械扫查。
5.根据权利要求1所述的曲轴R处内部缺陷的超声波相控阵检测方法，其特征在于：
所述扫查，其使用的耦合剂为机油或者是化学浆糊。
6.根据权利要求1所述的曲轴R处内部缺陷的超声波相控阵检测方法，其特征在于：
所述扫查，其速度维持在V≤150mm/s。
曲轴R处内部缺陷的超声波相控阵检测方法
技术领域
背景技术
发明内容
（1）对曲轴表面进行处理使之达到相关标准的要求；
（2）选择合适的相控阵探头和楔块，楔块使之与曲轴轴颈的曲率一致；
（3）根据曲轴的参数选择阵列探头的检测位置和阵列探头的检测角度；
（4）对超声相控阵探头进行调试和校准；
（5）通过超声波相控阵探头对R处进行扫查；
（6）曲轴待检缺陷的判定，参照相应的标准。
（2）给生产解决质量问题提供更加全面及可靠的无损检测数据；
（3）避免了因前期无损检测工艺的不足，造成的成本浪费和使用的不良影响，将缺陷控制在检测阶段；
（4）操作简单，方便高效，实用性强；
（5）本方法可以检测轴颈内部及R角处当量尺寸1mm以上的裂纹、夹杂、气孔等缺陷，可以方便有效地检测出曲轴R角圆弧的内部缺陷。
附图说明
具体实施方式
（2）选择探头和楔块，生产实践中，根据不同规格的曲轴选择相应的楔块，保证探头与曲轴轴颈之间的耦合，由于检测面为曲面，为保证耦合良好，宜选择晶片面积较小的探头，选择8或16阵元的一维线阵列探头为宜，并选择合适的楔块；
（3）对探头进行调试，调试的过程包括声速和零点、延迟、灵敏度校准，ACG校准（角度增益补偿），TCG校准（时间增益校准）；
（4）根据曲轴的规格选择扫查角度（需要避开油孔，并且能够扫查到整个R处）；
（5）通过超声相控阵探头1对曲面3上的待检缺陷2进行横波扇形扫查；扫查位置位于连杆轴颈外表面；所述扫查的方式为平行式扫查（只需沿着轴颈作周向机械扫查）；扫查使用的耦合剂为机油；所述扫查的速度维持在V≤150mm/s。
高效检索全球专利专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台，是提供专利分析，专利查询，专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。
我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据，免费查、免费专利分析。
专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析，涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度，系统通过AI智能系统对图表进行解读，只需1分钟，一键生成行业专利分析报告。
-
2 缺陷检测方法
