点阵式热传导测温检测工件缺陷法
专利汇可以提供点阵式热传导测温检测工件缺陷法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且点阵式热传导测温检测 工件 缺陷 法，涉及一种工件内部缺陷检测方法。上述方法步骤如下：在待测试件 正面 上方分别设置有一 激光器 和红外热像仪A，在待测试件背面下方设有一红外热像仪B，将一束激光定功率照射在待测试件正面上，令工件照射点 温度 快速升高，红外热像仪A和红外热像仪B同时检测激光光斑上下处的温升曲线，检测最高值，根据最高值判断激光光斑处工件内部是否有缺陷。本方法应用面广阔，不仅对工件内部缺陷有较高的检出率，更可描绘出其 位置 、形状、深浅等三维信息。本检测方法简便直观，无损，检测过程无需中间介质，对工件无不良影响，检测结果直观准确。，下面是点阵式热传导测温检测工件缺陷法专利的具体信息内容。
1.点阵式热传导测温检测工件缺陷法，其特征在于所述方法步骤如下：
在待测试件正面上方分别设置有一激光器和红外热像仪A，在待测试件背面下方设有一红外热像仪B，将一束激光定功率照射在待测试件正面上0.1-2秒，令工件照射点温度快速升高，红外热像仪A和红外热像仪B同时检测激光光斑处上下方的温升曲线，检测最高值，根据最高值判断激光光斑处工件内部是否有缺陷。
2.根据权利要求1所述的点阵式热传导测温检测工件缺陷法，其特征在于所述红外热像仪A的检测区位于激光光斑的正上方，红外热像仪B的检测区位于激光光斑的正下方。
3.根据权利要求1或2所述的点阵式热传导测温检测工件缺陷法，其特征在于所述检测过程中，红外热像仪A和红外热像仪B的检测区大小一致且保持不变。
4.根据权利要求1所述的点阵式热传导测温检测工件缺陷法，其特征在于所述检测过程中，将整块待测工件表面依据X-Y坐标划分为n个待测点阵，在待测点阵上进行逐点检测。
5.根据权利要求1所述的点阵式热传导测温检测工件缺陷法，其特征在于所述工件内部缺陷判断方法如下：
当激光光斑处工件内部无缺陷时，红外热像仪B所测温度略小于红外热像仪A所测温度；当激光光斑下工件中存在缺陷时，红外热像仪A所测温升最高值高于正常值，红外热像仪B所测温度大大低于正常值。
点阵式热传导测温检测工件缺陷法
技术领域
背景技术
第二，加工制造阶段产生的缺陷；
第三，设备在使用中发生的缺陷。
此法是利用涡流裂纹探测器进行的。其原理是探测器接触裂纹时，使探测器线圈的阻抗减弱而取得电压上的变化，即在仪器刻度盘上显示出相应数值或发出报警声。同样还能利用涡流法来测量裂纹的深度值。此方法对非金属及非铁磁性金属无法检测。
但此法费用较高，对操作者有危害。
发明内容
图3为无缺陷温度升高曲线示意图，T0为室温，Ta为红外热像仪A的温升曲线，Tb为红外热像仪B的温升曲线；
图4为有缺陷温度升高曲线示意图，T0为室温，Ta为红外热像仪A的温升曲线，Tb为红外热像仪B的温升曲线；
图5为工件缺陷检测原理图，1：待测试件，7：内部缺陷，3-1-2：红外热像仪A检测异常高温点，3-2-2：红外热像仪B检测异常低温点。
具体实施方式
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2 缺陷检测方法
